JPH03236468A - スパッタ装置 - Google Patents
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Abstract
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Description
加したターゲットの表面からマグネトロンスパッタリン
グにより試料原子を真空中に放出させて基板の表面に薄
膜を形成する装置に関する。
膜製造に広く使用されている。スパッタリングは大きく
分けて次の2種類、即ち、ターゲットに直流電圧を印加
して行なうDCスパッタとターゲットに高周波電圧を印
加して行なうRFスパッタに分類される。更に、このD
C及びRFスパッタは、夫々コンベンショナルモードと
マグネトロンモードに分類される。つまり、合計4種類
のスパッタリングが知られている。
ードは、ターゲットに磁場を印加し、不活性ガスに高電
圧を加えて発生させたプラズマを磁場内に閉じ込めるこ
とにより、スパッタ効率を上げて成膜速度を速くすると
共に薄膜が形成される基板の温度上昇を抑えることが出
来る。このため、量産ではDC及びRFスパッタの何れ
においても、マグネトロンモードを採用するのが普通で
ある。
説明する。第2図に示すスパッタ装置10は2極スパツ
タ装置であり、2枚の平板の一方をスパッタされるター
ゲット(陰極)12とし、他方の平板を膜形成用の基板
14を保持する基板ホルダー16とする。参照番号18
はターゲット12に高周波電圧を印加するための電極で
ある。
8及び基板ホルダー16は夫々円板状である。ターゲッ
ト12に隣接する磁石20は環状であり、他の円柱状磁
石22を囲むように配置されている。破線24は図示の
装置を内部に収容する容器を示し、この容器24の外部
には、容器内部を真空にする装置、ターゲット電極、ア
ルゴンガス等の不活性ガス供給源、真空計等か設けられ
ている。尚、26は不活性ガスイオン、28はプラズマ
、30はスパッタ原子、32はシャッタを示す。
の装置以外にも種々提案されている。しがし、この種の
従来の装置には次のような欠点がある。
ターゲツト面上の磁場分布が一様でないためターゲツト
面上のプラズマ強度が均一にならない。つまり、ターゲ
ットの表面の消耗が不均一なためにターゲットの使用効
率が極めて悪く、例えば使用効率は約10%から約30
%(体積比)であった。更に、ターゲットが強磁性体の
場合には特に磁束漏洩が発生しにくく、ターゲットが消
耗し始めると消耗箇所に益々磁束が集中して局部的にタ
ーゲットの厚みが減少し、消耗箇所が漏斗状となり使用
効率が極端に低下するという問題があった。この様子を
第3図及び第4図に示す。
、ターゲット12が環状に不均一に侵食されたV字形溝
40を示している。この溝40は環状の永久磁石20(
第2図)の外側に漏れた磁束に起因する。このターゲッ
ト表面の不均一消耗のため上述のようにターゲットの使
用効率が極端に制限される。尚、第4図は第3図のター
ゲット12の中心を通る断面を示す図である。
に配置した磁石を移動させてターゲットを出来るだけ均
一に消耗させようとする装置が提案されている(例えば
、特開昭61−69964号、特開昭61−14787
3号、特開昭62−7854号)。しかし、これらの方
法によってもターゲット使用効率は高々的40%(体積
比)であり、磁気回路を移動させるので装置の複雑化と
信頼性に問題があった。更に、ターゲットか磁性体の場
合には、ターゲットの表面全体に亘って縦・横方向にス
リットを入れて漏洩磁束か一箇所に集中しないようにす
る方法も提案されているが、ターゲット使用効率は30
%程度であり、しかもターゲットの製作費が高いという
問題があった。
装置の欠点であるターゲット表面の不均一消耗(侵食)
を解決し、ターゲットの使用効率を上げると共に成膜速
度を上げることができる装置を提供することである。
ゲットの表面に対して略々平行方向の磁場を発生させ、
この均一性の良好な平行磁場をターゲットの表面近傍に
形成することによって上記の目的を達成している。
からマグネトロンスパッタリングにより試料原子を真空
中に放出させて基板の表面に薄膜を形成する装置におい
て:上記ターゲットの表面に対して略々平行方向の磁場
を上記ターゲットの表面近傍に印加する磁場発生手段手
段を有することを特徴とするスパッタ装置である。
水平−様磁場の印加によって、何故ターゲットの表面消
耗が均一化され成膜速度が上昇するかについて説明する
。尚、本明細書において水平−様磁場とは、ターゲット
の表面に対して平行方向の均一磁場を指す。
流或いは高周波電圧により放電した不活性ガスの電子が
磁束をよぎるように移動する。DCスパッタではプラズ
マ中の電子は一方向に移動するためプラズマ発生はター
ゲットの端部に偏ってしまい、水平−様磁場を印加して
もターゲット消耗は一様にはならない。しかし、RFス
パッタでは高周波電圧によりプラズマが発生するため、
水平−様磁場によりターゲツト面上に均一なプラズマが
発生する。つまり、ターゲット表面は一様に消耗するこ
とになる。更に、本発明に係る水平−様磁場は、ターゲ
ット12の裏側(ターゲット12の上側(図面上))か
ら磁場を印加している従来の方法(第2図参照)1ト比
較し、ターゲット12の表面に水平−様磁場を印加でき
るので、成膜速度はDCマグネトロンスパッタと同等以
上になる。
ット12(第2図と同じ)を示し、他の部分は例えば第
2図に示した従来例と同様なので図示を省略しである。
び環状永久磁石20を取り除き、ターゲット12の周囲
を囲むようにしてダイポールリング型磁気回路50(第
1図)を配置すればよい。
型磁気回路(以下単に磁気回路という場合がある)50
は、8個の異方性永久磁石(異方性セグメント永久磁石
)52a乃至52hを環状に配置し、架台54と複数の
セグメント磁石調節具56により支持されている。この
調節具56により対応するセグメント磁石を磁気回路1
0の径方向に移動させて磁場調節を行なう。尚、図面を
見易くするため、調節具56の番号は全部には付けてい
ない。セグメント永久磁石52a乃至52h内の矢印は
夫々磁石の磁化方向を示している。
おり、リングを一周する間に磁化方向は2回転する。白
抜きの矢印58は磁気回路50の内部に形成された均一
磁界の磁化方向を示している。
長さを延ばしたり、或いは、複数のリングを用いるなど
により、均一磁場発生空間の調節を容易にすることであ
る。セグメント永久磁石の数は、4個以上の偶数個であ
れば良い。一般的には、セグメント永久磁石数が多い程
磁場均−性が良好になるが、実用的には8個から16個
の間で製作される。
マ中の電子がターゲツト面上に生じた磁束に拘束される
ので、ターゲツト面上の磁束強度と磁場均一性が重要と
なる。水平−様磁場の一様性は良好であればある程良い
が、実用的には5%以下であれば良い。磁場強度が50
G(ガウス)以下では成膜速度が遅くなるので、50G
を超える磁場が必要である。一般的には300G程度の
磁場が好ましい。即ち、磁場が強いほど成膜速度が上昇
するが、強すぎると放電条件が厳しくなるという問題が
ある。
基板は26X60mmのガラス基板を使用した。スパッ
タ条件としては、ターゲットと基板間距離を100mm
、アルゴンガス流量を毎分50cc、アルゴンガス圧を
5X10−”To r r。
示すように、磁気回路の中心に位置するようにし、ター
ゲツト面上2mmでの水平磁場は平均300Gであった
。面内の磁場強度のばらつきは5%以下に納まっていた
。磁気回路のセグメント永久磁石はSm系希土類磁石で
あった。結果は、成膜速度が毎分900Aでターゲット
の表面の消耗は略々均一であった。比較のため、従来の
装置で且つ上記のターゲット寸法、スパッタ条件等を同
一にして行なった実験では、成膜速度が毎分600Aで
ターゲットの表面は第3図及び第4図に示したように不
均一に消耗していた。
を−様に消耗させることが出来るので、ターゲットの使
用効率を従来例に比べて飛躍的に上げることができる。
ツト面上に常に−様な磁場が形成されるので上述の効果
を得ることができる。更に、本発明は、成膜速度を上げ
ることが出来るので、ターゲットの使用効率と共にスパ
ッタ装置の稼動効率を上げることが可能である。
生できるので、厚膜ターゲットも使用可能である。従来
の装置では、ターゲットの一方の側から他方の側に磁束
を漏出させていたので、非常に大型(肉厚)の磁石が必
要とされ、ターゲットの厚さも制限されていた。しかし
、本発明によれば厚いターゲットも使用可能なので、ス
パッタ装置の稼働効率及びターゲット使用効率の両面か
ら極めて効果がある。
第4図は夫々従来例を説明するため図である。 図中、工2はターゲット、50はグイポール型磁気回路
、52a乃至52hはセグメント永久磁石を示す。
Claims (3)
- (1)高周波電圧を印加したターゲット表面からマグネ
トロンスパッタリングにより試料原子を真空中に放出さ
せて基板の表面に薄膜を形成する装置において、 上記ターゲットの表面に対して略々平行方向の磁場を上
記ターゲットの表面近傍に印加する磁場発生手段 を有することを特徴とするスパッタ装置。 - (2)上記磁場発生手段はダイポールリング型磁気回路
を有する特許請求の範囲第1項記載のスパッタ装置。 - (3)上記ターゲットの表面上の空間5mmに於ける上
記平行方向の磁場の強さは50ガウス以上である特許請
求の範囲第1項又は第2項の何れかに記載のスパッタ装
置。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP3109390A JP2835462B2 (ja) | 1990-02-12 | 1990-02-12 | スパッタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03236468A true JPH03236468A (ja) | 1991-10-22 |
JP2835462B2 JP2835462B2 (ja) | 1998-12-14 |
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ID=12321785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3109390A Expired - Lifetime JP2835462B2 (ja) | 1990-02-12 | 1990-02-12 | スパッタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2835462B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0661728A1 (en) * | 1993-12-28 | 1995-07-05 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Dipole ring magnet for use in magnetron sputtering or magnetron etching |
US5444207A (en) * | 1992-03-26 | 1995-08-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Plasma generating device and surface processing device and method for processing wafers in a uniform magnetic field |
US5660744A (en) * | 1992-03-26 | 1997-08-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Plasma generating apparatus and surface processing apparatus |
WO2003015124A1 (en) * | 2001-08-02 | 2003-02-20 | N.V. Bekaert S.A. | Sputtering magnetron arrangements with adjustable magnetic field strength |
-
1990
- 1990-02-12 JP JP3109390A patent/JP2835462B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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EP0661728A1 (en) * | 1993-12-28 | 1995-07-05 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Dipole ring magnet for use in magnetron sputtering or magnetron etching |
WO2003015124A1 (en) * | 2001-08-02 | 2003-02-20 | N.V. Bekaert S.A. | Sputtering magnetron arrangements with adjustable magnetic field strength |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2835462B2 (ja) | 1998-12-14 |
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