JPH0323555Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 イ 技術の利用分野 本考案は、熱重量分析に使用する熱天びん、よ
り詳しくは試料の温度を検出する温度検出器に関
する。

ロ 従来技術 熱重量分析は、試料の温度を一定の速度で変化
させながら、試料の質量変化を温度の関数として
試料の性状を調べる手法である。

この試料温度の測定は、熱電対等の温度センサ
を試料容器に近接させて配設し、試料容器からの
熱を温度センサ自体で受けているので、受熱面積
が小さいために検出感度が低いばかりでなく、温
度センサーの位置により測定値にバラツキが生じ
るという問題があつた。

ハ 目的 本考案はこのような問題に鑑み、感度が高く、
しかも均一な測定結果を得ることができる試料温
度検出器を提供することを目的とする。

ニ 考案の構成 すなわち、本考案が特徴とするところは、温度
センサーに均熱板を取付けた点にある。

ホ 実施例 そこで、以下に本考案の詳細を図示した実施例
に基づいて説明する。

第１図は、本考案の一実施例を示すものであつ
て、図中符号１は、つり下げ天びんを形成するビ
ーム２の一端に垂設された試料容器で、加熱炉３
の中央部に位置するように構成されている。４
は、本考案の特徴部分をなす温度検出器で、第２
図に示したように熱電対素線５，５をＬ字状に曲
げて試料容器１の下部で接合部５ａを形成し、接
合部分５ａに試料容器１の底面積程度を持つ金属
板からなる均熱板６を載置して構成されている。
なお、図中符号６ａは、熱電対の接合部に嵌合す
る受け部を示す。

この実施例において、試料容器１にサンプルを
充填して装置を作動すると、予じめ設定されたプ
ログラムに従つて加熱炉３の温度が昇温し、これ
につれて試料容器内の温度が上昇する。均熱板６
は、試料容器１底面全体と同等の熱を受け、これ
を平均化しつつ試料容器１の温度変化に速やかに
追従する。均熱板６の熱は、熱電対の接合部５ａ
に伝導してサンプルの温度として検出される。も
とより均熱板は試料容器の底面に非接触であるか
ら、重量測定に何等影響を与えることにはならな
い。

一方、加熱炉３の昇温によつて必然的に生じる
対流は、均熱板６により阻止され、試料容器１を
揺動させることはない。

第３図は、本考案の第２の実施例を示すもので
あつて、均熱板の周囲にリング状に側壁７を形成
したもので、この実施例によれば、試料容器１の
熱を高い効率で集熱できるばかりでなく、試料容
器側方からの風に対しても障壁として作用するこ
とができる。

なお、この実施例においては、温度センサーと
して熱電対を使用しているが、抵抗温度検出素子
や半導体温度検出素子等の温度センサーを測定レ
ンジに応じて適宜選択することができる。

ヘ 効果 以上、説明したように本考案によれば、試料容
器の下方に均熱板を配設し、これに温度検出素子
を設けたので、試料容器全体の熱を高い効率で集
めることができ、サンプルの温度を高い感度で均
一に測定できるばかりでなく、均熱板が対流に対
する遮へい板として作用するため、見かけの質量
変化を防止できて質量を高い精度により測定する
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の一実施例を示す装置の斜視
図、第２図は、同上装置における温度検出器の拡
大斜視図、及び第３図は、本考案の他の実施例を
示す斜視断面図である。 １……試料容器、２……ビーム、３……加熱
炉、４……温度検出器、５，５……熱電対素線、
６……均熱板、６ａ……受け部材、７……側壁。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 熱天びん機構を構成するビームの一端に垂設さ
   れた試料容器を加熱炉内に配設してなる熱天びん
   において、前記試料容器の底面に非接触で、かつ
   前記試料容器からの熱を受ける程度の距離を維持
   させて前記試料容器の底面とほぼ同等の面積を有
   する熱良導体からなる均熱板を配置するととも
   に、前記均熱板に温度検出器を取り付けたことを
   特徴とする熱天びん。