JPH03226656A - Icp発光分光分析装置の抵抗加熱気化器 - Google Patents

Icp発光分光分析装置の抵抗加熱気化器

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JPH03226656A
JPH03226656A JP2342390A JP2342390A JPH03226656A JP H03226656 A JPH03226656 A JP H03226656A JP 2342390 A JP2342390 A JP 2342390A JP 2342390 A JP2342390 A JP 2342390A JP H03226656 A JPH03226656 A JP H03226656A
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JP
Japan
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vaporizer
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head
evaporator
sample
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JP2342390A
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Kensuke Daiho
健介 大穂
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Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、液体の試料を抵抗加熱用のフィラメントjこ
滴下し、このフィラメントを加熱することで試料を気化
してプラズマトーチに導入するICP(高周波誘導結合
プラズマ)発光分光分析装置の抵抗加熱気化器に関する
〈従来の技術〉 従来、ICP発光分光分析装置においては、少量の液体
の試料をプラズマトーチに導入して発光させるために、
第2図に示すような抵抗加熱気化器1oが使用されてい
る。この抵抗加熱気化器l。
は、気化器本体2を有する。この気化器本体2は、ガラ
ス製の中空胴体3の内部に試料を気化するための抵抗加
熱用のフィラメント4が設けらでおり、また、中空胴体
3の周側部にはキャリアガスの導入用のボート5が形成
されている。さらに、中空胴体3の下部にはフィラメン
ト4を支持するベース6が嵌着されている。一方、この
気化器本体2に対してはガラス製で内部に中空先細り状
の搬送路IOが形成された気化器ヘッド8゜が着脱自在
に設けられている。そして、この気化器ヘッド6の上部
に図外のプラズマトーチに導く導入管12が接続されて
いる。
この抵抗加熱気化器l。を使用して試料を図外のプラズ
マトーチに導入する場合には、フィラメント4に液体の
試料を滴下し、溶媒を蒸発、乾燥させた後、気化器ヘッ
ド8゜を気化器本体2に接続し、次に、コンデンサ放電
等によってフィラメント4を通電加熱する。これによっ
て試料か瞬時に気化される。そして、気化した試料かポ
ート5から気化器2本体内に供給されたキャリアガスに
よって気化器ヘッド8゜の搬送路lOから導入管12を
経てプラズマトーチ内に導入される。これにより、試料
かプラズマ中で励起、発光する。
〈発明が解決しようとする課題〉 ところで、試料をフィラメント4に滴下する際、気化器
ヘッド8゜が接続されたままでは操作がやりにくいので
、気化器ヘッド8゜を気化器本体2から一旦取り外して
気化器本体2の上部開口部から試料を注入し、その後、
気化器ヘッド8゜を装着する。その接続時に、従来のも
のでは、気化器へラド8゜の内部に周囲の空気か巻き込
まれるので、気化器ヘッド8゜を気化器本体2に接続し
1こときには、この巻き込んだ空気中の酸素がキャリア
ガスによって導入管12からプラズマトーチに導入され
ることになる。酸素がプラズマ中に入ると、Arガスが
導入されている状態から急にインピーダンス整合がとれ
なくなるため、プラズマが消えてしまう等の不具合を生
じることがあった。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、気化器ヘッドを気化器本体に接続する際に、空気が
不意にプラズマトーチに導入されないようにすることを
目的とする。
く課題を解決するための手段〉 そのため、本発明は、試料を気化するための抵抗加熱用
のフィラメントが設けられた気化器本体を備え、この気
化器本体に対しては前記フィラメントで加勢気化された
試料をプラズマトーチに導く搬送路が形成された気化器
ヘッドが着脱自在に設けられているiCP発光分光分析
装着の抵抗加熱気化器において、 前記気化器ヘッドには、前記搬送路に連通ずるパーツ用
ガス流路を設けfこことを特徴としている。
〈作用〉 上記構成において、パージ用ガス流路からパージ用ガス
を流して搬送路内をパージすることにより、気化器ヘッ
ド内に空気が混入するのを未然に防ぐことができる。し
たがって、この気化器ヘッドを気化器本体に接続する際
にも、空気が不意にプラズマトーチまで導入されること
がなくなる。
〈実施例〉 第1図は本発明の実施例に係るICP発光分光分析装置
の抵抗加熱気化器の正面断面図であり、第2図に示した
従来例に対応する部分には同一の符号を付す。 第1図
において、■は抵抗加熱気化器、2は気化器本体、3は
中空胴体、4はフィラメント、5はポート、6はベース
、lOは導入管であり、これらの構成は従来例の場合と
同様である。
本発明の実施例の特徴は、気化器本体2に着脱される気
化器ヘッド8の形状が従来のものと異なっている。すな
わち、この気化器ヘッド8は、その内部に中空先細り状
の搬送路10が形成されており、また、その周側部には
外部から搬送路10に連通するパージ用ガス流路】4が
設けられ、二のべ一ノ用ガス流路14の途中に該流路1
4を開閉するバルブ16が設けられていることである。
上記構成において、試料を図外のプラズマトーチに導入
する場合には、気化器ヘッド8を気化器本体2から一旦
取り外して気化器本体2の上部開口部から試料を滴下し
てフィラメント4に試料を保持させる。そして、溶媒が
蒸発、乾燥した後、気化器ヘッド8を気化器本体2に接
続するが、この場合、予めバルブI6を開いて気化器ヘ
ッド8のパージ用ガス流路14からArガス等のパージ
用ガスを搬送路10に向けて流して搬送路10をパージ
しておく。これにより、気化器ヘッド8の上下の開口部
から搬送路lO内部に空気が入り込むのを防ぐことがで
きる。また、気化器本体2のポート5からは常時キャリ
アガスが供給されているので、内部に空気か混入するこ
とはない。
そして、気化器ヘッド8を気化器本体2に接続した後、
コンデンサ放電等によってフィラメント4を通電加熱す
る。これによって試料が瞬時に気化される。そして、気
化した試料がポート5から気化器本体2内に供給されf
コキャリアガスによつて気化器ヘッド8から導入管12
を経てプラズマトーチ内に導入される。これにより、試
料がプラズマ中で励起、発光する。
〈発明の効果〉 本発明によれば、気化器ヘッドに搬送路に連通ずるパー
ジ用ガス流路を設けにので、このパーツ用ガス流路から
パージ用ガスを流して搬送路内をパーツすることにより
、気化器ヘット内に空気が、導入するのを未然に防ぐこ
とかできる。したかって、この気化器ヘッドを気化器本
体に接続する際にも、空気が不意にプラズマトーチまで
導入されてプラズマが消える等の不具合発生を確実に防
ぐことができるようになる等の優れた効果か発揮される
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係るICP発光分光分析装置
の抵抗加熱気化器の正面断面図、第2図は従来のICP
発光分光分析装置の抵抗加熱気化器の正面断面図である
。 1  ■CP発光分光分析装置の抵抗加熱気化器、2・
・気化器本体、4・・・フィラメント、8・・・気化器
ヘッド、IO・・・搬送路、14・・パージ用ガス流路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料を気化するための抵抗加熱用のフィラメント
    が設けられた気化器本体を備え、この気化器本体に対し
    ては前記フィラメントで加熱気化された試料をプラズマ
    トーチに導く搬送路が形成された気化器ヘッドが着脱自
    在に設けられているICP発光分光分析装着の抵抗加熱
    気化器において、前記気化器ヘッドには、前記搬送路に
    連通するパージ用ガス流路を設けたことを特徴とするI
    CP発光分光分析装置の抵抗加熱気化器。
JP2023423A 1990-01-31 1990-01-31 Icp発光分光分析装置の抵抗加熱気化器 Expired - Lifetime JPH0827236B2 (ja)

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Publication Number Publication Date
JPH03226656A true JPH03226656A (ja) 1991-10-07
JPH0827236B2 JPH0827236B2 (ja) 1996-03-21

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57192843A (en) * 1981-05-22 1982-11-27 Seiko Instr & Electronics Ltd Luminous spectral analyzing method for powder sample
JPS58106443A (ja) * 1981-12-18 1983-06-24 Seiko Instr & Electronics Ltd 高周波誘導プラズマ発光分析装置用試料導入装置
JPS58101164U (ja) * 1981-12-29 1983-07-09 セイコーインスツルメンツ株式会社 発光分光分析装置に於る試料導入装置

Patent Citations (3)

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JPS58101164U (ja) * 1981-12-29 1983-07-09 セイコーインスツルメンツ株式会社 発光分光分析装置に於る試料導入装置

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JPH0827236B2 (ja) 1996-03-21

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