JPH03225254A - 微小押込み形材料物性試験装置 - Google Patents

微小押込み形材料物性試験装置

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JPH03225254A
JPH03225254A JP2126390A JP2126390A JPH03225254A JP H03225254 A JPH03225254 A JP H03225254A JP 2126390 A JP2126390 A JP 2126390A JP 2126390 A JP2126390 A JP 2126390A JP H03225254 A JPH03225254 A JP H03225254A
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JP
Japan
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indenter
indentation
detector
arm
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Pending
Application number
JP2126390A
Other languages
English (en)
Inventor
Keiai Suzuki
鈴木 敬愛
Motonori Inamura
稲村 元則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Tobacco Inc
Original Assignee
Japan Tobacco Inc
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Publication date
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Publication of JPH03225254A publication Critical patent/JPH03225254A/ja
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、各種の固体材料の表面近傍の機械的特性等の
物性を測定する装置に関する。さらに特定すれば、本発
明は校正を自動的かつ正確におこなうことができ、高い
精度を維持することができる微小押込み形材料物性試験
装置に関するものである。
[従来の技術] 各種の産業分野において、固体材料の表面近傍の数μm
の部分の機械的特性等の物性を測定することが要望され
ている。たとえば、原子力産業の分野では、材料の表面
の放射線による劣化、特性の変化等を把握するために、
この材料の表面近傍の物性を測定することが必要である
。また、この他にも、薄い合成樹脂フィルムの物性を測
定したり、被膜、塗料等の物性を測定する場合にもこの
ようなflF+定が必要である。また、半導体産業の分
野でも、チップの表面に被膜した回路パターンの薄膜の
物性をA11j定することが必要である。
従来、このような試験材料の表面近傍の物性を/111
1定するために、微小硬度計が使用される。この微小硬
度計は、基本的には従来の硬度計と同じであるが、圧子
に作用させる荷重を数十mgとし、この圧子の押込み深
さを極めて浅くし、試験材料の表面近傍の物性のみを測
定できるようにしたものである。
しかし、このように圧子の押込み深さが極めて浅くなる
と、測定された硬度の精度が大きく低下する。すなわち
、この圧子が試験材料の表面に接触を開始した初期の段
階では、この表面の変形は圧子の形状に依存し弾性変形
が主成分であり、この圧子に対応した圧痕が小さくなり
、見掛は上硬度が極めて高くなるという誤差を生じる。
また、表面荒さもこのような1illl定誤差の原因と
なる。この圧子の押込み深さが上記のように極めて浅い
場合には、これらの誤差の影響が極めて大きくなり、正
確な測定ができない。
このような誤差を少なくするため、「特開昭62−69
141号」および「特開昭62−231136号」に開
示されているような微小硬度計がある。これらのものは
、圧子の押込み荷重を変化させながら圧子を押込み、各
荷重と押込み深さとの関係を連続的または段階的に−P
1定し、誤差を少なくすることを目的としたものである
。しかし、これらのものは、圧子の荷重と押込み深さが
略比例すること、すなわち試験材料の表面が圧子の押込
みに対応して塑性変形することを前提としている。した
がって、これらのものは、材料の表面の数μmないし数
十μmの範囲の711+定を対象としている。
しかし、最近では、材料の表面近傍の物性の81)定を
さらに高精度にすることが要望されている。
このようなΔIIJ定の高精度化の要求に対応するには
、材料の表面の1μmまたはこれ以下の極めて浅い部分
のみの物性を測定することが要求される。このような極
めて浅い部分圧子を押し込む場合には、材料の弾性変形
および表面荒さの影響が極めて大きくなり、圧子の荷重
と押込み深さとの関係は複雑となり、精度が大幅に低下
する不具合を生じる。
このような不具合を改善するために、圧子に作用する荷
重を変化させながらこの圧子を試験材料表面の極めて浅
い頭載に押込み、またこの荷重を変化させながらこの圧
子を引抜き、この押込み過程と引抜き過程において圧子
の荷重と押込み深さとの関係を連続的にlp1定・記録
し、これらの荷重と深さの関係からこの材料の引張り強
さやヤング率等の物性をM1定する方法が開発された。
しかし、このような方法で使用される測定装置は、圧子
の押込み荷重が数十mg程度、押込み深さも数百nm程
度である。したがって、従来の押込み形の硬度計では精
度が十分でなく、上記のような精密なδllj定には適
していなかった。このため、上記のような精密な測定に
使用できるような精度の高い測定装置が開発された。し
かし、このような精密な測定装置は、温度変化等の経時
変化の影響を受けやすく、精度が低下することかある。
このような不具合を防止するには、この測定時の前、ま
たは所定の間隔で頻繁に校正を行なわなければならない
。しかし、このように頻繁に校正作業を行うとflll
J定作業の能率が低下し、また正確な校正を行うには熟
練を要する等の不具合があった。
[発明が解決しようとする課題] 本発明は以上の事情に基づいてなされたもので、校正を
自動的かつ熟練を要することなく能率的に行うことがで
きる微小押込み形材料物性試験装置を提供するものであ
る。
[課題を解決するための手段] 本考案は、圧子を保持する圧子アームに作用する荷重を
検出する荷重検出器を設け、また、自動的に校正を行う
測定・制御装置を設けたものである。このA11j定・
制御装置は、押込み荷重機構を制御して上記の荷重アー
ムに加える押込み荷重を変化させ、この荷重の変化に対
応する上記の荷重検出器からの信号を受け、これらの信
号からこの押込み荷重機構の校正を行うものである。
[作用コ 本発明によれば、上記の押込み荷重機構の校正を自動的
かつ正確に行うことができ、またこの校正作業に熟練を
要することがなく、能率的に校正作業を行うことができ
る。
[実施例] 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図には、この測定装置全体を概略的に示す。
図中の1は71PI定機であり、この測定機は気密容器
2内に収容されている。またこの4111定機1には、
HP)定・制御装置3が接続されており、このa1定・
制御装置3は上記の気密容器2の外側に配置されでいる
また、第2図には、上記の測定・制御装置3の構成を示
す。この測定・制御装置3内には、測定・制御回路90
が設けられており、この回路は後に説明するようにこの
4111定機1の制御、校正および71p1定結果の処
理をなすものである。この測定・制御回路90は、前述
した負荷電流供給装置53に制御信号を送り、上記の押
し込み荷重機構40のソレノイド42に供給する電流を
制御し、所定のパターンで上記の圧子36の押圧荷重を
制御する。また、この負荷電流供給装置43から供給さ
れる負荷電流は、電流検出器94によって検出され、A
/D変換器93でデジタル信号に変換されたのち上記の
tp1定・制御回路90にフィードバックされる。また
、上記の押し込み深さ検出器50および荷重検出器60
からの信号も、それぞれ増幅機92.96で増幅され、
A/D変換器91゜95でデジタル信号に変換された後
、上記の測定・制御回路90に送られるように構成され
ている。
また、この測定・制御回路90は、以下のようにして押
し込み荷重機構40の校正をなすようにプログラムされ
ている。まず、測定に先立って、または定期的に、上記
の荷重検出器60を下方に移動し、その接触子62を圧
子アーム30の突子37に接触させる。そして、このδ
−1定・制御装置3を作動させると、このapl定・制
御回路90から上記の負荷電流供給装置43に制御信号
が出力され、この負荷電流供給装置43からソレノイド
42に供給される電流iは第3図に示すように、一定の
時間Δtごとに一定のΔiずつ段階的に増加される。こ
のソレノイド42が付勢されることにより、上記の圧子
アーム30にトルクが発生し、突子37か荷重検出器6
0の接触子62を押圧し、その荷重が検出される。この
突子37は、上記の圧子36と軸受は機構70に対して
対称の位置に配置されているので、この突子37に作用
する荷重は/iF+定の際に圧子36に実際に作用する
押し込み荷重と等しい。そして、この荷重検出器60に
よって検出される荷重Wは、上記の負荷電流iの増加に
対応してΔWずつ段階的に増加する。そして、上記の測
定・制御回路90は、各段階ごとに第4図に示すような
負荷電流ITI−n)および第5図に示すような荷重w
 、 、 、、、、 )をそれぞれ記録し、これらの電
流と荷重との関係を第6図に示すようにw−3−i+T
の式に近似させる。なお、S。
Tはそれぞれ定数である。この第6図から明らかなよう
に、上記の定数Sは、この負荷電流lの増加分に対する
荷’1JfTすなわち押し込み荷重の増加分であり、こ
のSはソレノイド42のコイル感度で、ある。したがっ
て、このようにして、このSおよびTの値を算出してお
くことにより、任意の押し込み荷重に対応する負荷電流
iを正確に決定することができる。なお上記のような演
算は上記の413定・制御回路90内で自動的におこな
われ、自動的に記憶されるとともに、必要に応じてこの
結果がデイスプレィ表示またはプリントアウトされる。
なお、本考案は上記の実施例には限定されない。
[効果] 上述の如く、本発明によれば、この/1111定・制御
装置と荷重検出器を用いて自動的に押込み荷重機構の感
度の校正ができ、この校正作業が能率的であるとともに
、校正作業に熟練を要することがなく、常に正確な校正
をおこなうことができる等、その効果は大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の装置全体の概略図、第夢図は測定・制
御装置の概略構成図、第3図は供給される負荷78流の
変化を示す線図、第4図は7u流検出器で検出された電
流の状態を示す線図、第5図は荷重検出器で検出された
荷重の状態を示す線図、第6図は負荷電流と荷重との関
係を示す線図モ命咎である。 1・・・IIFI定機、2・・・気密容器、3・・・測
定・制御装置、30・・・圧子アーム、31・・・圧子
アーム部、32・・・駆動アーム部、33・・・荷重ア
ーム部、6・・・圧子、 7・・・突子、 0 ・・ 押込み荷重機構、 0・・・押込み深さ検出器、 ・・・荷重検出器、 0・・・軸受は機構。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)フレームと、このフレームに回転自在に支承され
    た圧子アームと、この圧子アームの先端部に取り付けら
    れた圧子と、この圧子アームにトルクを与え上記の圧子
    に押込み荷重を加える押込み荷重機構と、上記の圧子ア
    ームに作用する荷重を検出する荷重検出器と、上記の押
    込み荷重機構を制御するとともに上記の荷重検出器から
    の信号を受ける測定・制御装置とを備え、この測定・制
    御装置は上記の押込み荷重機構を制御して上記の圧子ア
    ームに加える荷重を変化させるとともに、この荷重に対
    応した上記の荷重検出器からの信号を受け、これらの信
    号から上記の押込み荷重機構の校正を行うことができる
    ものであることを特徴とする微小押込み形材料物性試験
    装置。
  2. (2)上記の圧子アームには突子が突設されており、こ
    の突子からこの圧子アームの回転中心までの距離は上記
    の圧子からこの圧子アームの回転中心までの距離と等し
    いかもしくは所定の比率で設定され、この圧子が上記の
    荷重検出器に接触することを特徴とする請求項1記載の
    微小押込み形材料物性試験装置。
JP2126390A 1990-01-31 1990-01-31 微小押込み形材料物性試験装置 Pending JPH03225254A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009139283A (ja) * 2007-12-07 2009-06-25 Mitsutoyo Corp 硬さ試験機及び硬さ試験機の校正方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0119152B2 (ja) * 1980-04-19 1989-04-10 Fujitsu Ten Ltd
JPH01187434A (ja) * 1988-01-22 1989-07-26 Mc Sci:Kk 熱機械分析装置

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