JPH03223913A - ワンチップマイクロプロセッサ - Google Patents

ワンチップマイクロプロセッサ

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JPH03223913A
JPH03223913A JP2277690A JP27769090A JPH03223913A JP H03223913 A JPH03223913 A JP H03223913A JP 2277690 A JP2277690 A JP 2277690A JP 27769090 A JP27769090 A JP 27769090A JP H03223913 A JPH03223913 A JP H03223913A
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JP
Japan
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clock
supplied
input
speed
low
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Pending
Application number
JP2277690A
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English (en)
Inventor
Yutaka Okumoto
奥本 豊
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 高速クロックと低速クロツタの2系統のクロックにより
動作を行わせるICカード等に使用するワンチップマイ
クロプロセッサに関し、外部端子を増加することな(、
簡単な構成で高速クロックと低速クロックを切り換えて
内蔵された電池の消耗を極力防止することを目的とし第
1のクロックおよび第2のクロックの何れにおいても動
作し得るプロセッサを有するワンチップマイクロプロセ
ッサであって、外部より供給される前記第1のクロック
を検出する外部クロック検出手段と、前記第2のクロッ
クを発生する内部クロック発生手段と、前記外部クロッ
ク検出手段の出力に応じて前記プロセッサに供給するク
ロッ(3) りを切り換えるクロック切換手段とを具備するように構
成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明はワンチップマイクロプロセッサに関し、特に、
高速クロックと低速クロックの2系統のクロックにより
動作を行わせるICカード等に使用するワンチップマイ
クロプロセッサに関する。
〔従来の技術〕
従来、例えば、ICカードとして使用されるワンチップ
マイクロプロセッサは、内部に動作プログラムを書き込
んだROMを有しており、このワンチップマイクロプロ
セッサつまりICカードを適宜の表示器とキーボードを
備えた端末機器に挿入し、キーボードを操作することに
より該ICカードの内容を確認したり、データーの修正
、削除および追加等の処理を行うようになっている。
ところで、最近は、技術の進歩により該ICカードその
ものに対しても表示器や入力用キーボー(4) ド等が設けられるようになり、ICカードそのものでも
ワンチップマイクロプロセッサの内容を確認し、修正、
追加、削除並びに演算処理等を行うことができるように
なっている。すなわち、かかるICカード等は、ICカ
ードそれ自身でも上記のような使用方法が可能であると
共に、従来のように端末機器に挿入して使用することも
可能である。
一方、従来よりICカード等をコンピューター等の端末
機器に挿入して処理する場合、その動作速度(動作クロ
ック)に関して国際的に規格が定められており、クロッ
ク数が5 MHzの高速クロックで動作するように設計
される必要がある。このような高速クロックは、コンピ
ュータ等の端末機器より供給されるが、ICカードを端
末機器から外した状態で使用する場合には該ICカード
内に内蔵された電池(例えば、薄型バッテリー或いはは
太陽電池等)を使用することになる。そして、このよう
なICカードに内蔵される電池は、その容量に限度があ
るために、高速でICカードを構(5) 成するワンチップマイクロプロセッサ等を動作させると
所要の電流が大きくなり、電池の寿命は極めて短くなる
。そのため、ICカード等を端末機器より分離して使用
する場合には、例えば32KHz程度の低速で動作させ
る必要があり、従ってICカード等には少くとも高速ク
ロックモードと低速クロックモードのいづれによっても
作動するよう速さの異なる2系統のクロックを設けるこ
とが必要となっていた。そのため、かかるICカード等
には、使用形態によって高速クロックを選択する場合と
低速クロックを選択する場合とを切り換えるための選択
手段が必要とされている。
従来においては、例えば、ICカードそのものに、高速
クロックと低速クロックの2系統のクロックを設けてお
き、これをソフトウェア的手段により適宜切り換えて使
用するという考え方はあったが、速さの異なる2系統の
クロックをICカードに内蔵させることは、回路が複雑
となるだけでなく電池容量も大きくしなければならず、
極薄型のカードには不向きであり且つコスト増大の原因
(6) でもあった。また、他の方法としては、ワンチップマイ
クロプロセッサを備えたICカード等が端末機器に挿入
されて動作中の場合には、高速クロックが端末側つまり
ICカード等の外部側から選択的に供給されるものがあ
る。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述したように、ICカードそのものに2系統のクロッ
クを内蔵させるものは、回路が複雑となるだけでなく電
池容量も大きくしなければならず、極薄型のカードには
不向きであり且つコストの面でも問題があった。また、
ワンチップマイクロプロセッサ(ICカード等)が端末
機器に挿入されて動作中の場合には、高速クロックが端
末側から選択的に供給されるものは、該ICカード等が
端末機器から排出されるとクロックの供給が途絶えるた
め、それ以降の動作が不能となる。従って、クロックの
切り換えはICカード等が端末に接続されている間に行
われなければならない。そのため、これまでは端末機器
から切換信号を受けて(7) (入力ボートまたは外部割込み)切り換えるか、或いは
、切換命令を通信手段により受は取って切り換えるよう
になっている。しかし、前者ではインタフェース信号が
増えて、ICカードの端子も増大することになる。また
、後者では特別の命令を備えた端末しか利用することが
できない、すなわち、かかる切換信号は標準規格になっ
ていないため汎用性がない。
本発明は、上述した従来技術が有する課題に鑑み、外部
端子を増加することなく、簡単な構成で高速クロックと
低速クロックを切り換えて内蔵された電池の消耗を極力
防止することを目的とする。
〔課題の解決するための手段〕
第1図は本発明に係るワンチップマイクロプロセッサの
原理を示すブロック図である。
本発明によれば、第1のクロックS1および第2のクロ
ックS2の何れにおいても動作し得るプロセッサ6を有
するワンチップマイクロプロセッサであって、外部より
供給される前記第1のクロック(8) Slを検出する外部クロック検出手段4と、前記第2の
クロックS2を発生する内部クロック発生手段3と、前
記外部クロック検出手段4の出力S4に応じて前記プロ
セッサ6に供給するクロックS5を切り換えるクロック
切換手段5とを具備するワンチップマイクロプロセッサ
が提供される。
〔作 用〕
本発明のワンチップマイクロプロセッサによれば、外部
クロック検出手段4で外部より供給される第1のクロッ
クS1を検出し、該外部クロック検出手段4の出力S4
に応じてクロック切換手段5がプロセッサ6に供給する
クロックS5を切り換える。
すなわち、外部クロック検出手段4によって外部からの
第1のクロックSlが検出された場合には、クロック切
換手段5からプロセッサ6に供給されるクロックS5が
第1のクロックS1に切り換えられ、それ以外の場合に
は、該ワンチップマイクロプロセッサに設けられた内部
クロック発生手段3により発生される第2のクロックS
2に切り換えられる(9) ようになっている。
これによって、外部端子を増加することな(、簡単な構
成で高速クロックと低速クロックを切り換えて内蔵され
た電池の消耗を極力防止することができる。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明に係るワンチップマイクロ
プロセッサの基本的構成および実施例を説明する。
第1図は本発明に係るワンチップマイクロプロセッサの
原理を示すブロック図である。同図において、参照符号
6は少なくとも2系統のクロックにより動作するプロセ
ッサ、■はワンチップマイクロプロセッサ、10はIC
カードを示している。
ICカード10等に内蔵されるワンチップマイクロプロ
セッサ1は、該ICカード10の表面に設けられた外部
クロック入力端子20に接続される外部クロック入力端
子2と、該ICカード10に内蔵される水晶発振子30
等の発振子に接続される内部り(10) ロック発生回路3とを有している。高速クロックS1は
、外部クロック検出回路4に入力され、後に詳述するよ
うな回路により高速クロックの入力有無が識別され、そ
の出力S4がクロック切換回路5に入力される。そして
、外部クロック検出回路4の出力が高速クロックが入力
されていることを示す場合には、該切換回路5を高速ク
ロック側に切り換え高速クロックをプロセッサ6に供給
し、又該出力が高速クロックが入力されていないことを
示す場合には該切換回路5を低速クロック側に切り換え
て低速クロックをプロセッサ6に供給するようにするも
のである。
本発明において、高速クロックは、端末等の外部機器に
設けらた高速クロック発生回路から供給されるようにな
っており、ICカード10等が当該端末に挿入された場
合にICカード10の表面に設けられた外部端子20を
介してワンチップマイクロプロセッサ1の入力端子2か
ら人力される。ここで、外部から供給される高速クロッ
クは、例えば、5 MHz程度の周波数のクロックであ
る。
(11) 一方、低速クロック発生回路3はICカード等の内部に
設けられており、例えば、水晶発振子30等の周知の発
振子を用いた発振器を使用するものであって、−船釣に
は、高速クロックの100分の1程度、通常は32KH
2程度の周波数とされている。
また、外部クロック検出回路4は、特に限定されるもの
ではないが、高速クロックのクロックパルス数を数えて
所定の値と比較するか、クロックパルスの入力電圧をキ
ャパシターに充電させてその充電電位を所定の電位レベ
ル値と比較する等、様々な回路構成を使用することがで
きる。
以上において、外部から供給されるクロック(S1)は
、例えば、電話回線等を介して通信する等の場合には、
内部クロック発生回路3のクロック周波数よりも低い場
合(例えば、通信レイトが300ボーや600ボーの場
合)もあり得るが、このように外部から供給されるクロ
ック(S1)の方が内部クロック(S2)よりもさらに
低速の場合にも、該外部クロック(S1)に切り換えら
れるようになっている。
次に、本発明に係るワンチップマイクロプロセ(12) ッサの第1の実施例を第2図および第3図を参照して説
明する。本実施例は、外部から供給される外部クロック
(高速クロック)の有無を、予め充電されているキャパ
シターを該外部クロックで制御されるNチャネルトラン
ジスタにより放電し、その電位を所定の電位レベルと比
較することによって外部クロックを検出するようになっ
ている。
第2図は本発明のワンチップマイクロプロセッサの第1
の実施例を示す回路図である。同図に示されるように、
ワンチップマイクロプロセッサ1は、例えば、ICカー
ド10として使用されるもので、内部クロック(低速ク
ロック)発生回路3.外部クロック検出回路4.クロッ
ク切換回路5およびプロセッサ6を備えている。また、
ワンチップマイクロプロセッサ1には、高速クロック入
力端子2が設けられていて、ICカード10の表面に設
けられた外部端子20を介して、例えば、端末機器内に
設けられた外部クロック(高速クロック)発生回路10
0に接続されるようになっている。さらに、ワンチップ
マイクロプロセッサ1に設けられた低(13) 速クロック発生回路3は、ICカード10に内蔵される
水晶発振子30と接続されている。この低速クロック発
生回路3は、例えば、32KHz程度の低速クロックを
発生するもので、ICカード10を端末機器より分離し
て使用する場合に消費電力を少なくして該ICカード1
0に内蔵される電池の寿命を長くするようになっている
低速クロック発生回路3からの出力である低速クロック
S2は、後述するクロック切換回路5に入力され、また
、高速クロック入力端子2から入力される高速クロック
S1は、外部クロック検出回路4に入力されると共にク
ロック切換回路5に入力されるようになっている。外部
クロック検出回路4において、入力された高速クロック
S1は、抵抗41を介して基準電位に接続されると共に
、Nチャネルトランジスタ44のゲートに供給されてい
る。
Nチャネルトランジスタ44のソースは、基準電位に接
続され、ドレインは抵抗42および容量43に接続され
ると共に、インバータ45の入力に接続されている。抵
抗42および容量43の他方は、共に電源(14) 電位に接続されている。インバータ45の出力S4は、
外部クロック検出回路4の出力であって、高速クロック
S1および低速クロックS2を切り換えるクロック切換
回路5に入力されている。
クロック切換回路5において、入力されたインバータ4
5の出力34は、インバータ51を介してN A N 
Dゲート53の一方の入力へ供給されると共Gこ、N 
A N I)ゲート52の一方の人力へ供給されている
。さらに、NANDゲート52の他方の入力には、高速
クロックS1が供給され、また、NANDゲート53の
他方の入力には低速クロックS2が供給されている。そ
して、両方のNANDゲー1−52および53の出力は
、共にNANDゲート54の各人力に供給され、さらに
、NANDゲート54の出力はブロセッザ6に供給され
ている。
第3図は第2図のワンチップマイクロプロセッサにおけ
る動作を説明するための各部の信号波形を示す図であり
、同図を参照して本発明の第1の実施例の動作を説明す
る。
まず、ICカード10が時刻t3で端末に挿入されて高
速クロックS1がICカード10に入力され、(15) さらに、時刻tcでICカード10が端末から取り出さ
れた場合を考える。ここで、ICカード10内では内蔵
電池により低速クロック発生回路3が低速クロックS2
を常時発生させている。
時刻t8以前では、低速クロックS2が使用されており
、この時、Nチャネルトランジスタ44のゲート電位は
、プルダウン抵抗41により低レベル′“L”となり該
Nチャネルトランジスタ44はオフとなっている。従っ
て、クロック入力判定レベル(インバータ45の入力)
S3は、プルアンプ抵抗42およびレベル保持用容量4
3により、高レベル“′H′。
となっている。
次に、時刻L3高速クロックS1がICカード10(ワ
ンチップマイクロプロセッサ1)内に入って来ると、N
チャネルトランジスタ44は高速クロックS1が高レベ
ル” H”の間だけオン状態となり、クロック入力判定
レベルS3に充電されていた電位が放電される。ここで
、プルアンプ抵抗42の抵抗値を該Nチャネルトランジ
スタ44の導通抵抗よりも十分大きくしておくと、高速
クロックS1が低しく16) ヘル″L′′の間に該抵抗42により再充電される電荷
よりも高速クロックS1が高レベル゛H”の間に放電さ
れる電荷の方が多くなり、従って、クロック入力判定レ
ベルS3の電位レベルが下がって行く。
そして、クロック入力判定レベルS3の電位レベルが所
定の電位、すなわち、インバータ45の反転電位を下ま
わった時刻t、で該インバータ45の出力である外部ク
ロック検出回路4の出力S4は反転して高レベル“H”
となる。
さらに、時刻り、でICカードIOが端末から取り出さ
れると、高速クロックSLの供給は止まり、プルダウン
抵抗41によりNチャネルトランジスタ44のゲート電
位は低レベル” L ”となり、該Nチャネルトランジ
スタ44はオフ状態となる。従って、クロック入力判定
レベルS3は、プルアップ抵抗42により充電され、該
クロック入力判定レベルS3の電位がインバータ45の
反転電位を上回った時刻も。
で該インバータ45の出力S4は低レベル°゛L′”と
なる。つまり、インバータ45の出力S4が高レベル”
 H”となっている間は高速クロックS1が入力さ(1
7) れていると判断され、また、インバータ45の出力S4
が低レベル“L”°となっている間は高速クロックS1
が入力されていないと判断される。そして、外部クロッ
ク検出回路4の出力S4は、クロック切換回路5に人力
される。
まず、外部クロック検出回路4の出力S4が高レベル“
′H゛であるとすると、該高レベルの出力S4は、クロ
ック切換回路5のNANDゲート52の一方の入力に供
給されると共に、インバータ51を介してNANDゲー
ト53の一方の入力に供給される。この時、NANDゲ
ート53の一方の入力に供給される信号は低レベル“°
L゛であるため、該NANDゲート53他方の入力に供
給される信号、すなわち、低速クロック(内部クロック
)S2は該NANDゲート53を通過せず、従って、N
ANDゲート53の出力は高レベル“H′″に保持され
る。これに対して、NANI)ゲート52の一方の入力
に供給される信号は高レベル“H”であるため、該NA
NDゲート52他方の人力に供給される信号、すなわち
、高速クロック(外部クロック)Slは該NANDゲー
ト52を通過する。
(18) 従って、この場合には、高速クロックS1がNANDゲ
ート52を通過して出力され、また、NANDゲート5
3の出力は高レベル“′Hパに保持されているので、N
ANDゲート59からは高速クロックS1に対応した信
号がクロック切換回路5の出力S5としてプロセッサ6
に供給されることになる。
一方、外部クロック検出回路4の出力S4が低レベル゛
L”であるとすると、上記と逆の動作が行われることに
なり、低速クロックS2がNANDゲート53および5
4を通過し、該低速クロックS2に対応した信号がクロ
ック切換回路5の出力S5としてプロセッサ6に供給さ
れることになる。従って、外部クロック検出回路4の出
力S4によって、クロック切換回路5がプロセッサ6に
供給するクロックを高速クロックまたは低速クロックに
切り換えることができる。
尚、本実施例において、ハード的には低速クロックは時
刻Laから供給されるものであるが、ソフト的には時刻
tCから供給されていると見なしてもよい。つまり、時
刻1cと時刻1.の間は低(19) 速クロックS2の高レベル“H゛か低レベル“′L′の
何れかであり、第3図の場合には、低速クロックS2は
高レベル“H++となっている。
以上において、外部から供給されるクロックS1は、内
部クロック発生回路3により発生されるクロックS2よ
りも高い周波数の高速クロックとして説明されているが
、例えば、ICカード10を通信回線の端末に接続して
使用する場合等において、外部クロックS1の方が内部
クロックS2よりも遅い低速パルスの場合にも、クロッ
ク切換回路5は、同様に、外部クロックS1と内部クロ
ックS2との切り換えを行うことができる。
次に、本発明のワンチップマイクロプロセッサの第2の
実施例を第4図および第5図を参照して説明する。本実
施例において、外部クロック検出回路4は、高速クロッ
クのクロックパルス数を数えて所定の値と比較するよう
になっており、本実施例は、外部から供給されるクロッ
クが内部クロックよりも高速の場合においてのみ適用さ
れるものである。
(20) 第4図は本発明のワンチップマイクロプロセッサの第2
の実施例を示す回路図である。同図に示されるように、
ワンチップマイクロプロセッサ101は、上述したワン
チップマイクロプロセッサ1と同様に、内部クロック(
低速クロック)発生回路103゜外部クロック検出回路
104.クロック切換回路105およびプロセッサ10
6を備えている。
低速クロック発生回路103は、ワンチップマイクロプ
ロセッサ101の外部に設けられた水晶発振子130に
接続され、該低速クロック発生回路103からの出力5
102は2つに分割され、一方は分周期132に入力さ
れ低速クロック5102の1/2分周された低速1/2
クロツク5121が出力され後述する外部クロック検出
回路104に入力される。また、他方の出力5102は
インバータ131を介して他の分周器133に入力され
、ここで上記低速1/2クロツク5121と1/4位相
がずれた低速1/2クロツク5122が発生され、これ
は後述する外部クロック検出回路104と、クロック切
換回路105に入力される。一方、高速クロック入力端
子102から入力された高速り(21) ロック5101は、外部クロック検出回路104に入力
されると共に、クロック切換回路105に入力される。
外部クロック検出回路104において、入力された高速
クロック5101は、NANDゲート141の一方の入
力およびインバータ144を介してNORゲート145
の一方の入力に供給されている。また、NANDゲート
141およびNORゲート145の他方の入力には、前
述した低速1/2クロツク5121が入力されている。
また、NANDゲート141の出力5111は、シフタ
ー142のクロック端子(C)に供給され、該シフター
142のリセット端子(R)には前記した低速1/2ク
ロツク5L21が供給されている。さらに、NORゲー
ト145の出力は、シフター146のクロック端子(C
)に供給されており、該シフター146のリセット端子
(R)には上述の低速1/2クロツク5121が供給さ
れている。
そして、シフター142の出力(Q)は、Pチャネル型
MO3)ランジスタ143aとNチャネル型MOSトラ
ンジスタ143bとが対向して接続されたトラ(22) ンスファゲート143に供給され、その出力はNORゲ
ート148の一方の入力に供給されている。また、トラ
ンスファゲート143の、Pチャネル1−ランジスタ1
43aのゲートには低速1/2クロツク5122が供給
され、そして、Nチャネルトランジスタ143bのゲー
トには同じ低速1/2クロツク5122がインバータ1
34を介して供給されている。一方、シフタ146の出
力(Q) L−!:、Pチャネル型MO3I−ランジス
タ147aとNチャネル型MO3)ランジスタ147 
bとが対向して設けられたトンランスフアゲ−1〜14
7に供給され、その出力ばNORゲート148の他方の
入力に供給されている。J:た、トランスフアゲ−1−
147の、Pチャネル1−ランジスタ147aのゲート
には低連1/2クロツク5122がインバータ134を
介して供給され、そして、Nチャネルトランジスタ14
7bのゲートには同じ低速1/2クロツク5122が直
接に供給されている。さらに、NORゲート148の出
力は、該外部クロック検出回路104の出力5i04と
して高速クロックと低速クロックとを切り換えるクロッ
ク切換回路105に入力されている。
(23) クロック切換回路105において、入力されたNORゲ
ート148の出力5104は、インバータ151を介し
てNANDゲート152の一方の人力へ供給されると共
に、NANDゲート153の一方の入力へ供給されてい
る。また、NANDゲート152の他方の入力には、高
速クロック5101が供給され、そして、NANDゲー
ト153の他方の入力には低速1/2クロツク5122
がインバータ134を介して供給されている。さらに、
両NANDゲート152および153の出力は、共にN
ANDゲート154の各入力に供給され、該NANDゲ
ート154の出力5105は、適宜のプロセッサ106
に供給されるようになっている。
第5図は第4図のワンチップマイクロプロセッサにおけ
る動作を説明するための各部の信号波形を示す図である
。同図を参照して、本発明の第2の実施例の動作を説明
する。
まず、ICカード(ワンチップマイクロプロセッサ10
1)が時刻t1で端末に挿入され高速クロック5101
がICカードに入力され、時刻t13でICカードが端
末からとり出された場合を考える。
(24) ICカード内では内蔵電池により低速クロック発生回路
103が低速クロック5102を常時発生させており、
従って、その172分周低速クロック5121と、該低
速クロック5121と174位相差を有する172分周
低速クロック5122が発生されている。
時刻t1以前では、低速クロックが使用されている。ま
ず、時刻t、で高速クロック5101がICカード(ワ
ンチップマイクロプロセッサ101)内に入って来たと
すると、NANDゲート141では、低速1/2クロツ
ク5121が時刻t5で高レベル゛H”となるため、高
速クロック5101はNANDゲート141を通過して
入力パルスを反転した形のパルス5111がシフター1
42に供給される。
シフター142では、R端子に低速1/2クロツク51
21の高レベル”H”°が入力されているため該シフタ
ーは作動し、高速クロックの入力パルスをカウントする
。この時、シフターを所定の数のパルスをカウントした
場合にカウントアツプしてQ出力より高レベル“′Hパ
の信号を出すようにしておく。具体的に、本実施例では
、例えば、5パルス(25) 入力されるとカウントアツプするようにしておくと、時
刻t5から5パルス数えた時点t6でシフター142の
Q出力は高レベル” H”となり、トランスファーゲー
ト143に該高レベル“H” (3112)が供給され
る。この時、低速1/2クロツク5122は低レベル゛
L′”なので、MOS)ンラジスタ143aおよび14
3bはオンとなり、シフター142の出力5112はト
ランスファーゲート143を通過して、該トランスファ
ーゲート143の出力5113ば高レベル“H゛′とな
る。
次に、時刻t7で低速1/2クロツク5122が高レベ
ル“°H”となるので、トランスファーゲート143は
オフとなり、また、時刻t8で低速1/2クロツク51
21が低レベル“L”°となるため、シフター142は
リセットされる。このとき、トランスファーゲート14
3は、容量としての役割を果し、次に、時刻tlOで1
72分周低速クロック5122が低レベル′“L′”と
なってオンするまで上記した出力5113の高レベル”
 H”の状態を保持することになる。この間の期間は、
低速1/2クロツク5122の半周期に(26) 相当し、この間、シフター146はリッセトされている
ので該シフター146からの出力5115はない。
次に、低速1/2クロツク5121の他の半周期では、
時刻t2もしくは時刻t8において、該クロック512
1が低レベル“Lo”となるため、シフター142はリ
セットされるがシフター146はオンとなってカウント
を開始する。ここで、シフター146は、前述のシフタ
ーと同じ条件に設定されているものとする。
また、時刻t2においては、NORゲート145の一方
の入力5121が低レベル゛′Lパとなっているので、
インバータ144で反転された高速クロック3101の
さらに反転された信号が3114としてNORゲート1
45から出力される。上述と同様に、高速クロックパル
スを5個数えた後、シフター146のQ出力より時刻t
3において高レベル“H”である出力信号5115が出
力され同時にトランスファーゲート147から高レベル
゛H°゛の出力5116が出力される。
何故ならば時刻t3では、低速1/2クロツク(27) S122は高レベル“Ho”であり、トランスファーゲ
ート147はオンとなっているからである。さらに、該
トランスファーゲート147の出力5116は、トラン
スファーゲート143の出力5113と同様に、トラン
スファーゲート147の作用によって時刻L7まで高レ
ベル“Hoが維持されることになり、その結果、出力5
113と出力5116とが高レベル状態となる場合が、
時刻t6とj?+時刻も、とtl。、および3時刻t+
zとtl3の間でオーバーラツプされることになる。
従って、高速クロックが入力されている間は低速クロッ
クの周期に応じて、出力5113および出力116が共
に高レベル“H”となる場合と、何れかが高レベル“H
”となる場合とが交互に形成されるので、NORゲート
148の出力5104は、その間常に低レベル“L“と
なる。ここで、NORゲー日4日出8出力時刻t3で低
レベル“°L゛となり、時刻t+sで高レベル“′H°
゛に戻る。すなわち、時刻tI3で高速クロック510
1の入力が停止されてシフター142の出力5112も
時刻t14で低レベル“L”(28) となるが、信号5122が高レベル“Hパとなっている
ためトランスファーゲート143はオフとなって容量と
しての役割を果す。これにより、次に信号5122が低
レベル“Loとなって、トランスファーゲート143が
オンとなる時刻t15まで出力5113が維持される。
つまり、NORゲート148の出力が低レベル“L”と
なっている間は、高速クロックが入力されていると判断
され、また、NORゲート148の出力が高レベル“H
o”となっている間は、高速クロックが入力されていな
いと判断されることになる。そして、外部クロック検出
回路104の出力5104がクロック切換回路5に入力
される。
まず、外部クロック検出回路104の出力5104が低
レベル“L”であるとすると、該出力5104はクロッ
ク切換回路105におけるNANDゲート153の一方
の入力に供給されると共に、インバータ151を介して
NAND152の一方の入力に供給される。この時、N
ANDゲート153の一方の入力に供給される信号は、
低レベル“L”であるため他方の入力に供(29) 給される信号、すなわち、低速1/2クロツク5L22
をインバータ134で反転した信号はNANDゲート1
53を通過せず、該NANDゲート153の出力は高レ
ベル゛H”となる。一方、NANDゲート152の一方
の入力に供給される信号は、高レベル゛′H”であるた
め、該NANDゲート152の他方の入力に供給される
信号、すなわち、高速クロック8101は該NANDゲ
ート152を通過することになる。
従って、この場合には高速クロック5101がNAND
ゲート152を通過して、NANDゲー目54の一方の
入力に供給され、該NANDゲート154の他方の入力
に供給される信号(NANDゲート153の出力)が高
レベル“°H゛であるため、該NANDゲート154の
出力5105は高速クロック信号5101に対応した信
号となる。すなわち、プロセッサ106には、高速クロ
ック5101に対応した信号が供給されることになる。
次に、外部クロック検出回路の出力5104が高レベル
゛H++である場合には、クロック切換回路105にお
いて、上記と逆の動作が行われ、低速クロック5122
に対応した低速クロックがインバータ134゜(30) NANDゲー) 153.154を介して、7” 口(
! ・ンサ106 ヘ動作クロック5105として供給
される。つまり、外部クロック検出回路104の出力に
よって、プロセッサ106に供給するクロックを高速ク
ロックまたは低速クロックに切り換えることができる。
尚、本発明のワンチップマイクロプロセッサの第2の実
施例において、ハード的には低速クロックは時刻t+s
から供給されるものであるが、ソフト的には時刻t13
から低速クロックが供給されていると見なしてもよいの
は、第1の実施例と同様である。
〔効 果〕
以上説明したように本発明によれば、カード自身で高速
クロックの供給停止を検知しクロックの切り換えを行う
ことができ、カードの端子数を増やすことなく標準IC
カードと端子配列の互換性をとったカードを実現するこ
とができる。更に特別な端末を用いなくても良くなるた
め、カードの普及やトータルシステムのコスト低減に効
果が大(31) である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るワンチップマイクロプロセッサの
原理を示すブロック図、 第2図は本発明のワンチップマイクロプロセッサの第1
の実施例を示す回路図、 第3図は第2図のワンチップマイクロプロセッサにおけ
る動作を説明するための各部の信号波形を示す図、 第4図は本発明のワンチップマイクロプロセッサの第2
の実施例を示す回路図、 第5図は第4図のワンチップマイクロプロセッサにおけ
る動作を説明するだめの各部の信号波形を示す図である
。 (符号の説明) 1.101・・・ワンチップマイクロプロセッサ2.1
02・・・ワンチップマイクロプロセッサの外部クロッ
ク入力端子、 3.103・・・内部クロック発生手段、4.104・
・・外部クロック検出手段、(32) 5.105・・・クロック切換手段、 i 、 106・・・プロセッサ、 10・・・ICカード、 20・・・ICカードの外部クロック入力端子、30、
130・・・水晶発振子、 100・・・外部クロック発生手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、第1のクロック(S1)および第2のクロック(S
    2)の何れにおいても動作し得るプロセッサ(6)を有
    するワンチップマイクロプロセッサであって、外部より
    供給される前記第1のクロックを検出する外部クロック
    検出手段(4)と、 前記第2のクロックを発生する内部クロック発生手段(
    3)と、 前記外部クロック検出手段の出力(S4)に応じて前記
    プロセッサに供給するクロック(S5)を切り換えるク
    ロック切換手段(5)とを具備するワンチップマイクロ
    プロセッサ。 2、前記外部クロック検出手段(4)は、前記第1のク
    ロックが制御電極に供給され、第1の電極が基準電位に
    接続されたNチャネルトランジスタと、該トランジスタ
    の第2の電極と電源電位との間に接続された抵抗手段お
    よび/または容量手段とを具備し、前記抵抗手段は前記
    トランジスタの導通抵抗より十分大きな抵抗値を有し、
    前記トランジスタの第2の電極が予め定められた電位よ
    り高いか低いかを判別することにより、前記第1のクロ
    ックを検出するようになっている請求項第1項に記載の
    ワンチップマイクロプロセッサ。3、前記抵抗手段およ
    び前記容量手段は、制御電極が前記基準電位に接続され
    、前記Nチャネルトランジスタの導通抵抗より十分大き
    な導通抵抗を有するPチャネルトランジスタで構成され
    ている請求項第2項に記載のワンチップマイクロプロセ
    ッサ。 4、前記外部から供給される第1のクロックは、前記内
    部で発生される第2のクロックよりも高速のクロックと
    され、前記外部クロック検出手段が該第1のクロックを
    検出した場合、前記クロック切換手段は該第1のクロッ
    クを前記プロセッサに供給するようになっている請求項
    第1項に記載のワンチップマイクロプロセッサ。 5、前記外部クロック検出手段は、前記第2のクロック
    の1周期中に前記第1のクロックが予め定めた所定のカ
    ウント数を越えたかどうかを判別することにより、該第
    1のクロックを検出するようになっている請求項第4項
    に記載のワンチップマイクロプロセッサ。
JP2277690A 1989-12-21 1990-10-18 ワンチップマイクロプロセッサ Pending JPH03223913A (ja)

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JP32967189 1989-12-21
JP1-329671 1989-12-21

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JPH03223913A true JPH03223913A (ja) 1991-10-02

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JP (1) JPH03223913A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010272297A (ja) * 2009-05-20 2010-12-02 Mitsubishi Electric Corp 回路遮断器及びその動作制御方法
JP2012163446A (ja) * 2011-02-07 2012-08-30 Kawamura Electric Inc 電流測定器

Cited By (2)

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JP2010272297A (ja) * 2009-05-20 2010-12-02 Mitsubishi Electric Corp 回路遮断器及びその動作制御方法
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