JPH03214716A - 電極の形成方法およびそれを用いた電子部品 - Google Patents
電極の形成方法およびそれを用いた電子部品Info
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- JPH03214716A JPH03214716A JP1132990A JP1132990A JPH03214716A JP H03214716 A JPH03214716 A JP H03214716A JP 1132990 A JP1132990 A JP 1132990A JP 1132990 A JP1132990 A JP 1132990A JP H03214716 A JPH03214716 A JP H03214716A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は各種電子部品に用いられる電極の形成方法およ
びそれを用いた電子部品に関するものである。
びそれを用いた電子部品に関するものである。
従来の技術
従来より、導電性粒子と樹脂および溶剤、場合によって
はそれに微量のフリット、金属酸化物お2 \−ノ よび有機金属酸化物を加えたものからなる導電性塗料が
、各種部品の電極材料として広範囲に使用されている。
はそれに微量のフリット、金属酸化物お2 \−ノ よび有機金属酸化物を加えたものからなる導電性塗料が
、各種部品の電極材料として広範囲に使用されている。
その導電性粒子としては、金・銀・白金・パラジウムな
どの高価な貴金属が用いられておシ、電極材料のコスト
低減のため、貴金属の卑金属材料への置換あるいは使用
量削減などの検討がなされている。
どの高価な貴金属が用いられておシ、電極材料のコスト
低減のため、貴金属の卑金属材料への置換あるいは使用
量削減などの検討がなされている。
そして、卑金属材料としては、銅およびニッケlレなど
が用いられているが、いずれも空気中の焼付けあるいは
放置などにより、酸化物が形成され導電性が低下する問
題点を有している。最近、実用化され始めた銅電極材料
の場合(例えば、特開昭61 −1 4481 3号公
報)、酸化銅電極を用い、空気中で脱バインダーし、水
素還元した後、中性あるいは還元雰囲気中にて焼成する
方法が用いられているが、銅の融点が1083度である
ことから、高温で焼成するセラミソク材料には適用でき
ない欠点がある。ここで、融点の高い材料としてニッケ
ルが挙げられているが、酸化ニッケルは酸化鋼と比べて
還元されに<<、例えば誘電体3 ・ 材料と組み合わせて使用する場合に、還元処理によって
誘電体材料の電気特性に影響を与える場合がある。
が用いられているが、いずれも空気中の焼付けあるいは
放置などにより、酸化物が形成され導電性が低下する問
題点を有している。最近、実用化され始めた銅電極材料
の場合(例えば、特開昭61 −1 4481 3号公
報)、酸化銅電極を用い、空気中で脱バインダーし、水
素還元した後、中性あるいは還元雰囲気中にて焼成する
方法が用いられているが、銅の融点が1083度である
ことから、高温で焼成するセラミソク材料には適用でき
ない欠点がある。ここで、融点の高い材料としてニッケ
ルが挙げられているが、酸化ニッケルは酸化鋼と比べて
還元されに<<、例えば誘電体3 ・ 材料と組み合わせて使用する場合に、還元処理によって
誘電体材料の電気特性に影響を与える場合がある。
一方、貴金属の使用量削減については、卑金属を基体物
質としてこれに貴金属を被覆する方法が試みられている
(例えば、特公昭46−40593号公報、特開昭60
−100679号公報)。しかし、この方法においては
貴金属被覆粉末を高温で焼付ける際に、基体物質の被覆
金属への熱拡散を完全に抑えることは基本的にできない
ため、上記の卑金属への全面置換と同様な問題が生じる
ことは容易に考えられる。また、基体物質に酸化ケイ素
,酸化アノレミニウム,酸化ジルコニウム,二酸化チタ
ン、あるいはチタン酸バリウムなどの酸化物を用いる方
法が検討されているが、これらはいずれも絶縁体である
ため、電極材料としての導電性を保持するには被覆厚み
を厚くしなければならず、やはり大幅なコスト削減は期
待できない。
質としてこれに貴金属を被覆する方法が試みられている
(例えば、特公昭46−40593号公報、特開昭60
−100679号公報)。しかし、この方法においては
貴金属被覆粉末を高温で焼付ける際に、基体物質の被覆
金属への熱拡散を完全に抑えることは基本的にできない
ため、上記の卑金属への全面置換と同様な問題が生じる
ことは容易に考えられる。また、基体物質に酸化ケイ素
,酸化アノレミニウム,酸化ジルコニウム,二酸化チタ
ン、あるいはチタン酸バリウムなどの酸化物を用いる方
法が検討されているが、これらはいずれも絶縁体である
ため、電極材料としての導電性を保持するには被覆厚み
を厚くしなければならず、やはり大幅なコスト削減は期
待できない。
発明が解決しようとする課題
上記した構成の卑金属材料を用いた導電性粒子さらには
卑金属あるいは酸化物に貴金属被覆を施した導電性粒子
については、高温での熱処珈による高温酸化、あるいは
組み合わせる材料との相互反応、およびそれに伴う導電
性の低下、耐ハンダ濡れ特性の低下などの問題があり、
これに加えて複雑な雰囲気制飢プロセスが要求されるた
め、多額の設備投資を必要とし、電極形成コストを大幅
に削減できないという問題がある。
卑金属あるいは酸化物に貴金属被覆を施した導電性粒子
については、高温での熱処珈による高温酸化、あるいは
組み合わせる材料との相互反応、およびそれに伴う導電
性の低下、耐ハンダ濡れ特性の低下などの問題があり、
これに加えて複雑な雰囲気制飢プロセスが要求されるた
め、多額の設備投資を必要とし、電極形成コストを大幅
に削減できないという問題がある。
本発明は、酸化ニソケノレを用いて安価に種々の電子部
品用電極を形成するにあたり、焼成時の熱拡散、および
還元処理工程において、電子部品としての特性が損なわ
れるという問題を解決することを目的としてなされたも
のである。
品用電極を形成するにあたり、焼成時の熱拡散、および
還元処理工程において、電子部品としての特性が損なわ
れるという問題を解決することを目的としてなされたも
のである。
課題を解決するだめの手段
上記課題を解決するため、本発明の電極の形成方法は、
酸化ニソケルに還元性を高めるために酸化銅を0.1〜
20.○mo1%添加し、さらに組み合わせる材料との
相互反応を防止するために、5.0〜16.○重量係の
貴金属被覆を施し、空気中で焼成後、それを水素雰囲気
中にて還元することを特6 徴とするものである。
酸化ニソケルに還元性を高めるために酸化銅を0.1〜
20.○mo1%添加し、さらに組み合わせる材料との
相互反応を防止するために、5.0〜16.○重量係の
貴金属被覆を施し、空気中で焼成後、それを水素雰囲気
中にて還元することを特6 徴とするものである。
ここで、酸化銅の添加量を0.1〜20,o mol%
と規定したのは、酸化銅の添加量がo.1mo1%より
少ないと、還元温度が低い場合に酸化ニノケノレの還元
性にほとんど影響を与えないからであり、また添加量が
20 ,O mo1%より多くなると、NiOCu20
系の融点の低下に応じて焼成温度を下げなければならず
、機械的強度の点で問題が生じるためである。一方、貴
金属の被覆量を6.0〜15.0重量%と規定したのは
、コストの低減を図るには貴金属使用量を可能な限り少
なくすることが必要なためである。ここで、被覆貴金属
は基体物質である酸化鋼添加酸化ニノケノレ粒子全体を
一様に覆う必要はなく、基体物質の拡散がセラミソク部
品の特性に影響を与えない程度に抑制されていれば良く
、6.0重量係でも実用上充分な拡散防止の効果を得る
ことは可能である。また、被覆貴金属量が15.o重量
チを超えると、使用量削減の効果が小さくなる。
と規定したのは、酸化銅の添加量がo.1mo1%より
少ないと、還元温度が低い場合に酸化ニノケノレの還元
性にほとんど影響を与えないからであり、また添加量が
20 ,O mo1%より多くなると、NiOCu20
系の融点の低下に応じて焼成温度を下げなければならず
、機械的強度の点で問題が生じるためである。一方、貴
金属の被覆量を6.0〜15.0重量%と規定したのは
、コストの低減を図るには貴金属使用量を可能な限り少
なくすることが必要なためである。ここで、被覆貴金属
は基体物質である酸化鋼添加酸化ニノケノレ粒子全体を
一様に覆う必要はなく、基体物質の拡散がセラミソク部
品の特性に影響を与えない程度に抑制されていれば良く
、6.0重量係でも実用上充分な拡散防止の効果を得る
ことは可能である。また、被覆貴金属量が15.o重量
チを超えると、使用量削減の効果が小さくなる。
そして、還元温度は電極と共に焼成する材料の6 ・
電気特性に影響を与えない範囲であれば、上限はない。
作用
本発明は上記した構成により、酸化銅添加酸化ニソケノ
レ電極の焼成中の熱拡散を抑制し、さらにはその焼結膜
を低温で還元して金属化することができるものである。
レ電極の焼成中の熱拡散を抑制し、さらにはその焼結膜
を低温で還元して金属化することができるものである。
従って、電極形成される部品(セラミソクコンデンサ,
フェライ1・,抵抗体,アノレミナ基板,多層配線基板
など)の電気特性を損なうことなく、安価な方法で電極
を形成することが可能となる。
フェライ1・,抵抗体,アノレミナ基板,多層配線基板
など)の電気特性を損なうことなく、安価な方法で電極
を形成することが可能となる。
実施例
以下、本発明について実施例により詳細に説明する。
(実施例1)
市販の酸化ニソケル粉末に酸化銅粉末をそれぞれ0,0
6,0,1 ,0,5 , 1,0 , 5,0 ,
10.0 ,20 ,0 , 30 ,0 , 50
,O mo1%添加し、1100℃で4時間仮焼を行
うことにより固溶させ、さらにボー/レミノレで粉砕す
ることにより、粒径約0.5ミア クロンの粉末を得た。
6,0,1 ,0,5 , 1,0 , 5,0 ,
10.0 ,20 ,0 , 30 ,0 , 50
,O mo1%添加し、1100℃で4時間仮焼を行
うことにより固溶させ、さらにボー/レミノレで粉砕す
ることにより、粒径約0.5ミア クロンの粉末を得た。
上記酸化鋼添加酸化ニッケル粉末、および比較試料とし
て市販の酸化ニッケル粉末(粒径約0.5μm)をそれ
ぞれ中性タイプのパラジウムイオンを含む活性化処理液
に上記粉末を浸漬し、粉末の活性化処理を行った。別途
、塩化パラジウムを濃アンモニア水に溶かし、これに塩
酸を加えてpH8.5に調整したパラジウムメッキ液を
作製した。このパラジウムメッキ液にヒドラジンを加え
、上記活性化処理を行った粉末を投.入し、撹拌するこ
とによって粉末表面にパラジウムをメッキした。
て市販の酸化ニッケル粉末(粒径約0.5μm)をそれ
ぞれ中性タイプのパラジウムイオンを含む活性化処理液
に上記粉末を浸漬し、粉末の活性化処理を行った。別途
、塩化パラジウムを濃アンモニア水に溶かし、これに塩
酸を加えてpH8.5に調整したパラジウムメッキ液を
作製した。このパラジウムメッキ液にヒドラジンを加え
、上記活性化処理を行った粉末を投.入し、撹拌するこ
とによって粉末表面にパラジウムをメッキした。
上記粒子に対し、それぞれs,owt%のポリビニノレ
アノレコール水溶液を加えてよく混合し、加圧力2t/
caでプレス成形した。この成形体を926゜Cで2時
間空気中で焼成した後、2 0 0℃ , 250゜C
,300゜Cでそれぞれ4時間純水素中で還元を行った
。
アノレコール水溶液を加えてよく混合し、加圧力2t/
caでプレス成形した。この成形体を926゜Cで2時
間空気中で焼成した後、2 0 0℃ , 250゜C
,300゜Cでそれぞれ4時間純水素中で還元を行った
。
以上のようにして得られた焼結体の還元前後の質量変化
からそれぞれの還元率を求めた結果を下記のく表1〉に
示す。
からそれぞれの還元率を求めた結果を下記のく表1〉に
示す。
く表1
〉
シK
下
,全
{)
9、7
〈表1〉の結果から、酸化鋼添加により還元性が高めら
れていることが解る。
れていることが解る。
(実施例2)
実施例1と同様にして得られたパラジウム被覆酸化銅5
,O mo1 %添加酸化ニッケル粉末と、パラジウム
被覆酸化ニソケル粉末各々5gに対し、それぞれガラス
フリットとしてホウケイ酸鉛ガラス:2ρwt%、バイ
ンダーとしてエチルセノレローズ(4scps):1,
owt% 、溶媒としてテレピノーノレ:1,5ccを
加えて三本ローノレにてよく混練してペーストとする。
,O mo1 %添加酸化ニッケル粉末と、パラジウム
被覆酸化ニソケル粉末各々5gに対し、それぞれガラス
フリットとしてホウケイ酸鉛ガラス:2ρwt%、バイ
ンダーとしてエチルセノレローズ(4scps):1,
owt% 、溶媒としてテレピノーノレ:1,5ccを
加えて三本ローノレにてよく混練してペーストとする。
このようにして得られたペーストをスクリーン印刷にて
96%アノレミナ基板上に印刷して、105゜Cで10
分間乾燥の後、950゜Cで2時間空気中で焼成し、さ
らに250゜Cで4時間純水素中で還元を行った。
96%アノレミナ基板上に印刷して、105゜Cで10
分間乾燥の後、950゜Cで2時間空気中で焼成し、さ
らに250゜Cで4時間純水素中で還元を行った。
以上のようにして得られた電極の比抵抗は、酸化銅を添
加したものが6..2X10−’Ω・α、酸化ニソケノ
レのみのものが1.1kΩ・αであった。つまり、本発
明によって得られる電極の電気抵抗は十分に低いのに対
して、酸化銅を添加しない粉末で10.;−; は、250℃では還元が容易に行われず、実用上、低抵
抗を要求される電極材料としては好ましくないことが明
らかである。また、・・ンダ付け性、ノ・ンダ濡れ性を
調べだが本発明の方法による電極材料の場合は良好な結
果が得られた。
加したものが6..2X10−’Ω・α、酸化ニソケノ
レのみのものが1.1kΩ・αであった。つまり、本発
明によって得られる電極の電気抵抗は十分に低いのに対
して、酸化銅を添加しない粉末で10.;−; は、250℃では還元が容易に行われず、実用上、低抵
抗を要求される電極材料としては好ましくないことが明
らかである。また、・・ンダ付け性、ノ・ンダ濡れ性を
調べだが本発明の方法による電極材料の場合は良好な結
果が得られた。
(実施例3)
実施例2にて用いたパラジウム被覆酸化銅添加酸化ニソ
ケノレ粉末、および比較材料として市販の酸化ニソケル
粉末それぞれ6gに対して、バインダーとしてエチルセ
ルローズ(4scps)を1.OWtq6、溶媒として
テレピノール1.1ccを加えて三本ロールにてよく混
練して、それぞれの電極ペーストを作製した。
ケノレ粉末、および比較材料として市販の酸化ニソケル
粉末それぞれ6gに対して、バインダーとしてエチルセ
ルローズ(4scps)を1.OWtq6、溶媒として
テレピノール1.1ccを加えて三本ロールにてよく混
練して、それぞれの電極ペーストを作製した。
一方、BaTiO5を主成分とする誘電体材料2種(焼
成温度1260℃および1320゜C)をグリーンシ一
トに加工するため、誘電体粉末2009に対してポリビ
ニノレブチラーノレ15g、プチルベンジルフタレート
9.L }/レエン120cc,エタノーノレ70c
cを加えて撹拌後、ボーノレミノレ中で16時間混合し
、スラリーを作製した。
成温度1260℃および1320゜C)をグリーンシ一
トに加工するため、誘電体粉末2009に対してポリビ
ニノレブチラーノレ15g、プチルベンジルフタレート
9.L }/レエン120cc,エタノーノレ70c
cを加えて撹拌後、ボーノレミノレ中で16時間混合し
、スラリーを作製した。
次に、上記のようにして得られたスラリーを用いて、ド
クターブレード法にて有機フ・イルム上に造膜して、厚
さ約40ミクロンのグリーンシ一トを得た。次いで、上
記の電極ペーストを、それぞれ上記加工済みのグリーン
シ一ト上にスクリーン印刷して電極パターンを形成した
。同様にして作製された電極形成済みシートを、シート
上の電極がグリーンシ一トを介して対向電極として構成
されるように積層した。
クターブレード法にて有機フ・イルム上に造膜して、厚
さ約40ミクロンのグリーンシ一トを得た。次いで、上
記の電極ペーストを、それぞれ上記加工済みのグリーン
シ一ト上にスクリーン印刷して電極パターンを形成した
。同様にして作製された電極形成済みシートを、シート
上の電極がグリーンシ一トを介して対向電極として構成
されるように積層した。
次に、これらの積層体を熱プレスによってラミネートし
た後、所定の寸法【切断した。この積層型チップコンデ
ンサを空気中にて600゜C−10時間保持して脱バイ
ンダー処理を施した。この脱バインダーされた素子をそ
れぞれの最適焼成温度にて空気中で焼成し、さらに3!
50℃−4時間純水素中にて内部電極の還元を行った。
た後、所定の寸法【切断した。この積層型チップコンデ
ンサを空気中にて600゜C−10時間保持して脱バイ
ンダー処理を施した。この脱バインダーされた素子をそ
れぞれの最適焼成温度にて空気中で焼成し、さらに3!
50℃−4時間純水素中にて内部電極の還元を行った。
その後、外部電極を構成するために金属銅ペーストを塗
布し、600度の窒素雰囲気中にて焼付けた。
布し、600度の窒素雰囲気中にて焼付けた。
これら4種のコンデンサの誘電率を測定したところ、1
250℃で焼成を行ったものは、電極材料にかかわらず
ε−12000の特性が得られた。
250℃で焼成を行ったものは、電極材料にかかわらず
ε−12000の特性が得られた。
しかし、1320゜Cで焼成を行ったものは、パラジウ
ム被覆を施したものはε=12QOoの特性が得られた
が、酸化ニッケルのみの試料は、誘電体と酸化ニッケル
が拡散を起こしており、誘電率が約3分の2に低下して
いた。この結果から、パラジウム被覆の拡散抑制効果が
明らかとなった。
ム被覆を施したものはε=12QOoの特性が得られた
が、酸化ニッケルのみの試料は、誘電体と酸化ニッケル
が拡散を起こしており、誘電率が約3分の2に低下して
いた。この結果から、パラジウム被覆の拡散抑制効果が
明らかとなった。
本実施例ではチップコンデンサの内部電極として用いた
例を示したが、外部電極に用いても良い結果が得られ、
さらにはディスク型のセラミソクコンデンサの両面電極
として用いても良い結果が得られることは容易に考えら
れる。また、誘電体材料としてBaTiOs以外にもS
rTi05 ,PbOを主成分とするペロブスカイト型
構造を有する高誘電率材料に限らず、TiOz系の容量
セラミソクコンデンサの電極にも用いることができるの
は言うまでもない。
例を示したが、外部電極に用いても良い結果が得られ、
さらにはディスク型のセラミソクコンデンサの両面電極
として用いても良い結果が得られることは容易に考えら
れる。また、誘電体材料としてBaTiOs以外にもS
rTi05 ,PbOを主成分とするペロブスカイト型
構造を有する高誘電率材料に限らず、TiOz系の容量
セラミソクコンデンサの電極にも用いることができるの
は言うまでもない。
(実施例4)
実施例2にて用いたパラジウム被覆酸化銅添加酸化ニッ
ケル粉末6gに対し、ガラスフリットと13 して軟化点;830゜Cを有するホウケイ酸鉛ガラス;
s,owt%、バインダーとしてエチルセノレローズ
;1.OWt%、溶媒としてテレピノール;1,2CC
を加えて三本ローノレにてよく混練してペーストとする
〇 一方、抵抗体は粒子制御されたタングステンシリサイド
系粉末を有機ビヒクノレを用いてペースト化し、上記電
極ペーストにて抵抗用電極ノクソドを形成したアノレミ
ナ基板上にスクリーン印刷する。
ケル粉末6gに対し、ガラスフリットと13 して軟化点;830゜Cを有するホウケイ酸鉛ガラス;
s,owt%、バインダーとしてエチルセノレローズ
;1.OWt%、溶媒としてテレピノール;1,2CC
を加えて三本ローノレにてよく混練してペーストとする
〇 一方、抵抗体は粒子制御されたタングステンシリサイド
系粉末を有機ビヒクノレを用いてペースト化し、上記電
極ペーストにて抵抗用電極ノクソドを形成したアノレミ
ナ基板上にスクリーン印刷する。
その後、105゜C−10分間の乾燥の後、950゜C
−10分間空気中焼付けを行い、さらに250’03時
間純水素中で還元を行った。このようにして得られたチ
ップ抵抗器は安定した抵抗特性を示し、本発明方法によ
る端子電極の構成により、安価で高性能なチップ抵抗器
が得られた。
−10分間空気中焼付けを行い、さらに250’03時
間純水素中で還元を行った。このようにして得られたチ
ップ抵抗器は安定した抵抗特性を示し、本発明方法によ
る端子電極の構成により、安価で高性能なチップ抵抗器
が得られた。
(実施例6)
実施例2にて用いたパラジウム被覆酸化鋼添加酸化ニソ
ケノレ5gに対して、ガラスフリソトをo.cswt
% 、ハインダーとしてエチルセノレローズを1,OW
t%、溶媒としてテレピノー)V 1 ,2 CCを加
え14・\一/ で三本ローノレでよく混練し、印刷ペーストとする。
ケノレ5gに対して、ガラスフリソトをo.cswt
% 、ハインダーとしてエチルセノレローズを1,OW
t%、溶媒としてテレピノー)V 1 ,2 CCを加
え14・\一/ で三本ローノレでよく混練し、印刷ペーストとする。
このようにして得られたペーストをアノレミナ基板上に
スクリーン印刷にて所望の回路・くターンに印刷し乾燥
する。その後、930℃−10分の焼成条件にて焼き付
けし、400℃−2時間純水素中で還元を行った。
スクリーン印刷にて所望の回路・くターンに印刷し乾燥
する。その後、930℃−10分の焼成条件にて焼き付
けし、400℃−2時間純水素中で還元を行った。
以上のようにして得られた回路パターンの電極は抵抗も
低く、ノ・ンダ付け性も良好であ9た。この電極は混成
集積回路の導体電極、チップ部品のランド電極に実用で
きた。
低く、ノ・ンダ付け性も良好であ9た。この電極は混成
集積回路の導体電極、チップ部品のランド電極に実用で
きた。
(実施例6)
実施例2にて用いたパラジウム被覆酸化銅添加酸化ニッ
ケル粉末6gをバインダーとしてエチノレセルローズ、
テレピノーノレを用いてペースト化する。次に、磁性粒
子として粒径1〜3μmのNi−Znフェライト粉を上
記方法にてペースト化し、磁性体ペーストとする。その
後、このようにして得られた磁性体ペーストと電極ペー
ストとを交互に印刷して、電極がスパイラル状になるよ
う構成する。すなわち、スパイラル状に構成された電極
16 、 7 を磁性粒子が埋め込んだ構造とする。
ケル粉末6gをバインダーとしてエチノレセルローズ、
テレピノーノレを用いてペースト化する。次に、磁性粒
子として粒径1〜3μmのNi−Znフェライト粉を上
記方法にてペースト化し、磁性体ペーストとする。その
後、このようにして得られた磁性体ペーストと電極ペー
ストとを交互に印刷して、電極がスパイラル状になるよ
う構成する。すなわち、スパイラル状に構成された電極
16 、 7 を磁性粒子が埋め込んだ構造とする。
以上のような方法にて印刷された積層体を1200℃−
2時間空気中の焼成条件にて焼結した後、220゜C−
4時間純水素中で還元した。
2時間空気中の焼成条件にて焼結した後、220゜C−
4時間純水素中で還元した。
このようにして得られたインダクタ部品はインダクタン
ス1oomgの特性を有することを確認した。
ス1oomgの特性を有することを確認した。
発明の効果
以上のように、本発明にかかる電極は、空気中での焼成
時の熱拡散が抑制され、且つ容易に還元できるため、誘
電体材料,磁性体材料,抵抗体材料,絶縁体材料などと
組み合わせることによって、安価で且つ高性能な電子部
品を提供することができるものである。
時の熱拡散が抑制され、且つ容易に還元できるため、誘
電体材料,磁性体材料,抵抗体材料,絶縁体材料などと
組み合わせることによって、安価で且つ高性能な電子部
品を提供することができるものである。
Claims (3)
- (1)酸化銅を0.1〜20.0mol%添加した酸化
ニッケル粉末に5.0〜15.0重量%のパラジウムを
被覆し、空気中焼成の後、水素雰囲気中にて還元するこ
とを特徴とする電極の形成方法。 - (2)200℃以上の水素雰囲気中にて還元することを
特徴とする請求項1記載の電極の形成方法。 - (3)請求項1により得られた電極を用いてなる電子部
品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1132990A JPH03214716A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 電極の形成方法およびそれを用いた電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1132990A JPH03214716A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 電極の形成方法およびそれを用いた電子部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03214716A true JPH03214716A (ja) | 1991-09-19 |
Family
ID=11774994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1132990A Pending JPH03214716A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 電極の形成方法およびそれを用いた電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03214716A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0690035A1 (en) * | 1994-06-30 | 1996-01-03 | AT&T Corp. | Metallization of ferrites comprising surface reduction |
EP0698590A3 (en) * | 1994-08-23 | 1997-04-16 | At & T Corp | Metallization of ceramic materials by applying an adhesive, reducible layer |
US20220310332A1 (en) * | 2021-03-25 | 2022-09-29 | Korea Institute Of Energy Research | Electrochemical device and method for manufacturing the same |
-
1990
- 1990-01-19 JP JP1132990A patent/JPH03214716A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0690035A1 (en) * | 1994-06-30 | 1996-01-03 | AT&T Corp. | Metallization of ferrites comprising surface reduction |
EP0698590A3 (en) * | 1994-08-23 | 1997-04-16 | At & T Corp | Metallization of ceramic materials by applying an adhesive, reducible layer |
US5725938A (en) * | 1994-08-23 | 1998-03-10 | Lucent Technologies Inc. | Metallization of ceramic through application of an adherent reducible layer |
US20220310332A1 (en) * | 2021-03-25 | 2022-09-29 | Korea Institute Of Energy Research | Electrochemical device and method for manufacturing the same |
US11804337B2 (en) * | 2021-03-25 | 2023-10-31 | Korea Institute Of Energy Research | Method for manufacturing electrochemical device having exposed metal layer outside packaging |
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