JPH0320769B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0320769B2
JPH0320769B2 JP57502487A JP50248782A JPH0320769B2 JP H0320769 B2 JPH0320769 B2 JP H0320769B2 JP 57502487 A JP57502487 A JP 57502487A JP 50248782 A JP50248782 A JP 50248782A JP H0320769 B2 JPH0320769 B2 JP H0320769B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
current
voltage
base
transistors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP57502487A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58501341A (ja
Inventor
Jerarudo Furanshisu Magurinkii
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advanced Micro Devices Inc
Original Assignee
Advanced Micro Devices Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advanced Micro Devices Inc filed Critical Advanced Micro Devices Inc
Publication of JPS58501341A publication Critical patent/JPS58501341A/ja
Publication of JPH0320769B2 publication Critical patent/JPH0320769B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/30Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities

Description

請求の範囲 1 トランジスタのベース・エミツタ電圧によつ
て形成される第1の電圧と、異なつた電流密度で
動作する2つのトランジスタのベース・エミツタ
電圧における差によつて形成される第2の電圧と
を発生する手段と、 第1の電流で動作する第1のダイオード接続さ
れたトランジスタと、第2の電流でで動作する第
2のダイオード接続されたトランジスタとの、ベ
ース・エミツタ電圧における差に応答し、かつ、
温度に依存しない相互コンダクタンスを有する、
差動増幅器とを備え、 前記差動増幅器は、前記第1および前記第2の
ダイオード接続されたトランジスタのベース・エ
ミツタ電圧における前記差に比例する出力電流を
発生し、 前記出力電流に応答して、修正電圧を発生する
手段と、 前記第1および前記第2の電圧と前記修正電圧
と結合する手段とをさらに備え、前記結合された
電圧は、2次の温度依存性が補償されたバンドギ
ヤンプ電圧基準を与える、電圧基準回路。 2 前記第1の電流は、異なつた電流密度で動作
する2つのトランジスタのベース・エミツタ電圧
の差に比例し、それによつて、前記第1の電流は
温度に1次依存し、また前記第2の電流は一定で
あり、それによつて前記第2の電流は温度に依存
しない、請求の範囲第1項範囲の回路。 3 前記差動増幅器は、第1および第2のトラン
ジスタをさらに含み、前記第1および第2のトラ
ンジスタのエミツタ端子は互いに第3の電流源に
接続され、前記第1および第2のトランジスタの
ベース端子は前記差動増幅器に対する第1および
第2の入力端子をそれぞれ形成し、前記第1の入
力端子は前記第1のダイオード接続されたトラン
ジスタのベース端子に接続され、前記第2の入力
端子は前記第2のダイオード接続されたトランジ
スタのベース端子に接続され、 前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続
される入力端子と、前記第2のトランジスタのコ
レクタ端子に接続される出力端子と、前記第1の
トランジスタのコレクタ端子に接続される出力端
子とを有するカレントミラー手段をさらに含み、
前記カレントミラー手段は、前記第2のトランジ
スタのコレクタ電流に応答して、前記出力端子を
通じてミラー電流を発生し、 前記第1のトランジスタの前記コレクタ端子に
接続される増幅器出力端子をさらに含み、前記増
幅器出力電流は、前記第1のトランジスタコレク
タ電流と前記ミラー電流との間の差によつて決定
される、請求の範囲第2項記載の回路。 4 前記第3の電流源の電流は、異なつた電流密
度で動作する2つのトランジスタのベース・エミ
ツタ電圧の差に比例し、それによつて、前記差動
増幅器の相互コンダクタンスは温度に依存しな
い、請求の範囲第3項記載の回路。 5 前記カレントミラー手段は、第3および第4
のトランジスタをさらに含み、前記第3および第
4のトランジスタのエミツタ端子は電圧源と接続
され、前記第4のトランジスタのベース端子は前
記第4のトランジスタのコレクタ端子と接続さ
れ、前記第4のトランジスタのコレクタ端子は前
記カレントミラー手段の入力端子を形成し、前記
第3のトランジスタのベース端子は前記第4のト
ランジスタのベース端子と接続され、前記第3の
トランジスタのコレクタ端子は前記カレントミラ
ー手段の出力端子を形成する、請求の範囲第4項
記載の回路。 6 前記第2の電流は、温度に依存しない発生器
によつて発生され、前記発生器は、 第1のトランジスタを含み、前記第1のトラン
ジスタのエミツタ電極は固定された電圧源端子に
接続され、前記第1のトランジスタのコレクタ電
極は、第1の抵抗手段によつて、前記電圧基準回
路の出力端子と接続され、 第2のトランジスタをさらに含み、前記第2の
トランジスタのエミツタ電極は、第2の抵抗手段
によつて前記固定された電圧源端子と接続され、
前記第2のトランジスタの前記エミツタ電極は前
記第1のトランジスタのベース電極とさらに接続
され、前記第2のトランジスタのベース電極は前
記第1のトランジスタのコレクタ電極と接続さ
れ、それによつて、第1の発生器電流が前記第1
の抵抗手段から導出され、第2の発生器電流が前
記第2の抵抗手段を通じて導出され、 結合された前記第1および前記第2の発生器電
流に応答して、前記第2の電流を発生する手段を
さらに含む、請求の範囲第3項記載の回路。 7 前記第2の電流を発生する手段は、 第3のトランジスタをさらに含み、前記第3の
トランジスタのエミツタ電極は前記固定された電
圧源端子に接続され、前記第3のトランジスタの
ベース端子は前記第1のトランジスタのベース端
子と接続され、それによつて、前記第1の発生器
電流と等しい電流が前記第3のトランジスタのコ
レクタ電極を通じて導出され、 前記第2のトランジスタのコレクタ電極と前記
第3のトランジスタのコレクタ電極とに接続され
る入力端子を有し、前記等しい第1の発生器電流
および前記第2の発生器電流に対し出力端子を通
じてカレントミラーを発生する手段をさらに含
み、それによつて前記出力端子電流は前記第2の
電流を規定する、請求の範囲第6項記載の回路。 発明の背景 1 発明の分野 この発明は電圧基準回路に関し、より特定的に
は、温度補償されたバンドギヤツプ電圧基準回路
に関する。 2 先行技術の説明 電圧基準回路は、トランジスタのベース・エミ
ツタ電圧(VBE)に基づいて設計されてきてお
り、そのVBEは以下のように展開される。 VBE=VGO(1−T/TO)+VBEO+nkT/qln(TO/T
)+ kT/qln(IC/ICO) ここで、qは電子の電荷、 kはボルツマン定数 Tは絶対温度 VGOは半導体バンドギヤツプ電圧の絶
対温度0度に対する外挿値、VGOはシ
リコンでは1.240Vと等しい、VBEO
任意に選択された基準温度、TOでの
および対応する基準コレクタ電流ICO
でのベース・エミツタ電圧、 nはトランジスタのタイプおよびトラ
ンジスタの製造過程に依存するパラメ
ータである。 上のように展開されかつ温度依存の構成項にま
とめられたこの電圧は、絶対温度0度に外挿され
た半導体バンドギヤツプ電圧である温度に依存し
ない項VGOと、1次温度依存性(T)を有する項
と、2次温度依存性(TlnT)を有する項とを備
える。1次温度依存性の項は、2次温度依存性の
項よりも非常に大きい項であり、異なつた電流密
度で動作する2つのトランジスタのベース・エミ
ツタ電圧における差(ΔVBE)を用いて消去され
る。 ΔVBE=kT/qlnJ1/J2 ここで、J1は第1のトランジスタのベース・エ
ミツタ接合を流れる電流の電流密度であり、また
J2は第2のトランジスタのベース・エミツタ接合
を流れる電流の電流密度である。 上の式を調べると、ΔVBEは、電流密度の比
J1/J2が温度に依存しないようにされるとき、1
次の温度依存性を持つということが理解される。 異なつた電流密度で動作する2つのトランジス
タのベース・エミツタ電圧における差とベース・
エミツタ電圧とを結合することによつて、温度に
依存しない項と2次の項とを持つ電圧基準が実現
される。従来、このような電圧基準の2次依存性
は無視されてきたが、ごく最近になつて、温度依
存性のない電圧基準を達成するために、このよう
な2次の温度依存性を消去する試みが行なわれて
きた。 そのような試みの1つが、Robert J.Wildlarに
よる、温度補償されたバンドギヤツプIC電圧基
準という名称の、1981年2月3日に発行された米
国特許第4249122号に示されている。この特許に
おける電圧基準回路は、トランジスタのベース・
エミツタ電圧の第1の電圧と、異なつた電流密度
で動作する2つのトランジスタのベース・エミツ
タ電圧の差に基づく第2の電圧とを持つ。この第
1および第2の電圧は、結合されて、1次の温度
依存性が補償された電圧を結果として得る。2次
の温度依存性を補償するために、温度に依存する
付加的な回路が、ベース・エミツタ電圧における
差を発生する2つのトランジスタの電流密度を修
正するために用いられる。 Adrian P.Brokawによる、曲率が修正された
バンドギヤツプ基準という名称の、1981年2月10
日に発行された米国特許第4250445号は、1次を
越える温度依存性の補償を有する他の電圧基準回
路を説明している。この回路は、ベース・エミツ
タの差の電圧を形成するために、異なつた電流密
度で動作する2つのトランジスタを用いる。この
電圧は、トランジスタのベース・エミツタ電圧と
結合されて、上述したような1次の温度依存性が
補償された基準を達成する。改良点は、或る温度
依存特性を有する抵抗に存在し、その抵抗は1次
の温度依存性が補償された回路と直列に接続され
て、2次温度依存電圧構成部分が補償され、その
結果として得られる電圧基準は1次の温度依存性
の補償よりも良好なものである。これらは、2次
の温度依存性が補償された電圧基準を達成するた
めごく最近の試みの一例である。 発明の概要 この発明は、バンドギヤツプ電圧基準による温
度依存性が補償された電圧基準のこの問題を解決
し、そこにおいては、2次の温度依存性が、上述
の最近の試みを越えて新規かつ確実な方法で十分
に補償される。 このことを達成するために、この発明に係る電
圧基準回路は、トランジスタのベース・エミツタ
電圧によつて形成される第1の電圧および異なつ
た電流密度で動作する2つのトランジスタのベー
ス・エミツタ電圧における差によつて形成される
第2の電圧を発生する手段と、第1の電流で動作
する第1のダイオード接続されたトランジスタと
第2の電流で動作する第2のダイオード接続され
たトランジスタとのベース・エミツタ電圧におけ
る差に応答しかつ温度に依存しない相互コンダク
タンスを有する差動増幅器とを備える。差動増幅
器は、第1および第2のダイオード接続されたト
ランジスタのベース・エミツタ電圧における前記
差に比例する出力電流を発生する。 この電圧基準回路は、この出力電流に応答して
修正電圧を発生する手段と、第1および第2の電
圧と修正電圧とを結合する手段とをさらに備え
る。結合された電圧は、2次の温度依存性が補償
されたバンドギヤプ電圧基準を与える。 第1の電流は、異なつた電流密度で動作する2
つのトランジスタのベース・エミツタ電圧の差に
比例し、それによつて、第1の電流は温度に1次
依存し、また第2の電流は一定であり、それによ
つて第2の電流は温度に依存しない。 したがつて、差動増幅器の出力電流は2次の関
係(TlnT)で温度に依存するようにされる。 修正電圧は出力電流と同じ2次の温度依存性を
有する。修正電圧が第1および第2の電圧と結合
されると、2次の温度依存性の構成電圧が相殺さ
れ、2次の温度依存性が補償された電圧が結果と
して得られる。 ここにおける電圧基準は、集積回路において最
良に実現され、また集積回路技術の特別の特徴の
利点を十分に得て設計される。
【図面の簡単な説明】
この発明は、以下の図面を参照して発明の詳細
な説明を読むことにより、さらに理解されよう。
第1図は、2次補償された温度依存性を有するこ
の発明の一実施例の回路図である。第2図は、第
1図に示された回路の一部に用いられる、新規な
温度依存性のない電流の発生器の回路図である。
第3図は、第1図に示された回路に用いられる、
温度依存電流を発生する回路を示す回路図であ
る。
【発明の詳細な説明】
以下の説明において、トランジスタのベース電
流は大部分無視する。このことは、大きなβを有
するトランジスタと矛盾せず、そのようなトラン
ジスタは集積回路において容易にかつ共通に製造
される。また臨界の回路領域において、詳細な解
析は、トランジスタベース電流が、無視され得る
小さな剰余電流エラーを作り出して、互いにほと
んど相殺されるということを示す。したがつて、
動作中のトランジスタのほとんどの電流はそのエ
ミツタ・コレクタ電流経路を流れ、そのベース電
流からの寄与はほとんどない。回路における抵抗
の温度変化は、すべての電圧が抵抗値の比に依存
し、抵抗値の比は温度に依存しないので、無視さ
れる。 第1図は、この発明の一実施例の回路図であ
る。トランジスタQ10およびQ11は、1次の
温度依存性が補償された電圧基準を作り出す。2
つのトランジスタQ10,Q11のコレクタは電
流源30と接続され、電流源30は、電圧Vccに
保たれた電圧源端子と接続され、Vccはここでは
プラス5ボルトとして示される。電流源30は、
等しい抵抗素子20および21を通じて、2つの
トランジスタQ10およびQ11の各々に等しい
電流を供給する。2つのトランジスタQ10およ
びQ11のベースは互いに接続されており、それ
らのベース・エミツタ電圧における差ΔVBEは、
抵抗素子24の両端に現われる。この関係は以下
のとおりである。 ΔVBE=VBE10−VBE11 =I11R24 ここで、VBE10はトランジスタQ10のベー
ス・エミツタ電圧、 VBE11はトランジスタQ11のベー
ス・エミツタ電圧、 I11はトランジスタQ11のコレクタ
電流、 R24は素子24の抵抗値である。 ベース・エミツタ電圧における差は、2つのト
ランジスタQ10,Q11が動作する電流密度を
設定することによつて決定される。この実施例に
おいては、このことは、トランジスタQ11の寸
法をトランジスタQ10の寸法よりも10倍大きく
することによつて行なわれる。トランジスタQ1
1は10倍大きい領域を持つているのでそのトラン
ジスタQ11の電流密度J11は、トランジスタQ
10の電流密度J10よりも10倍小さくなる。した
がつて、上の式は次のように変形される。 I11R24=kT/qlnJ10/J11 I11=kT/qR24ln10 トランジスタQ11を流れる電流I11はトラン
ジスタQ10を流れる電流I10と等しいので、抵
抗素子25にかかる電圧は、2I11掛ける素子25
の抵抗値である。これは2kT/qR25/R24ln10と表わ され、ここでR24およびR25は、それぞれ素子2
4および25の抵抗値である。VBE10は第1の電
圧に相当し、抵抗素子25の両端に発生される電
圧は第2の電圧に相当する。 トランジスタQ10のベース電極の電圧V(I)
は、トランジスタQ10のベース・エミツタ電圧
VBE10、および、抵抗素子25の両端に発生され
るトランジスタQ10およびQ11のベース・エ
ミツタにおける差である。この電圧和V(I)は、次
のとおりである。 V(I)=VBE10+2kT/qR25/R24ln10 VBEを代入し、次式を得る。 V(I)=VGO(1−T/TO)+VBEO(T/TO) +nkT/qln(TO/T)+kT/qln(I10/ICO10) +2kT/qR25/R24ln10 ここで、 I11=kT/qR24ln10であり、I10=I11であるから、任 意の温度Tで、 I10=kT/qR24ln10 となる。また、ICO10は任意に選択された基準温度
TOでのトランジスタQ10のコレクタ電流であ
るから、 ICO10=kTO/qR24ln10 となる。また、 kT/qlnI10/ICO10=kT/qln(T/TO) したがつて、V(I)の式は、温度依存のゼロ、1
次および2次の項に分けられ得る。 V(I)=VGO−(VGO−VBEO)(T/TO) +nkT/qln(TO/T)+kT/qln(T/TO +2kT/qR25/R24ln10 =VGO−(VGO−VBEO)(T/TO) +(n−1)kT/qln(TO/T) +2kT/qR25/R24ln10 ここで、C1=n−1とすると、 V(I)=VGO−(VGO−VBEO)(T/TO) +C1kT/qln(TO/T) +2kT/qR25/R24ln10 ここでR25は2k/qR25/R24ln10をVGO−VBE0/TOと等
し くするように選択され、また定数C1は、構成プ
ロセス係数nおよびkT/qln(I10/ICO10)の項からの
パ ラメータを含む。 2つの素子24および25の比は、1次の温度
の項が互いに相殺されるように設定される。この
発明の一実施例において、抵抗比はメタルリンク
ヒユーズによつて短絡された抵抗により抵抗25
を形成することによつて設定される。メタルリン
クヒユーズは溶けて素子25の抵抗値を整え、そ
れによつて抵抗比が所望の値に設定される。 電圧基準回路が特定の処理ステツプを経る集積
回路の形式に実現されるとき、C1の値は実験的
に容易に決定される。他の間のばらつきは一群の
処理された集積回路に対して10パーセントよりも
小さく、C1の繰返した決定は必要とされない。 したがつてV(I)は1次温度依存性が補償され、
次のようになる。 V(I)=VGO+C1kT/qln(TO/T) この電圧は節点46に現われ、2次温度依存修
正電圧によつて修正される。この修正電圧はC1
kT/qln(TO/T)項を相殺するように決定され、そ れによつて節点46の電圧を温度に依存しないよ
うにする。 修正電圧は、節点46に接続されたライン42
を流れる電流によつて供給される。2次の関係
(TlnT)による電流が、温度に依存して、節点
46に与えられ、または接点46から導出され
る。 この電流は、長方形の点線で囲まれた差動増幅
器41によつて発生される。差動増幅器41に対
する入力信号は、トランジスタQ12,Q13の
ベース電極によつて受けられ、それらのトランジ
スタはダイオード接続されたトランジスタQ1
6,Q17とそれぞれ接続され、トランジスタQ
16,Q17のエミツタは接地ライン43と接続
されている。トランジスタQ16が第1のダイオ
ード接続されたトランジスタに相当し、トランジ
スタQ17が第2のダイオード接続されたトラン
ジスタに相当する。等しい寸法のトランジスタQ
16,Q17のベース電極間の電圧の差は、差動
増幅器41に対する入力信号である。この差の入
力電圧ΔVINは、トランジスタQ16のベース・
エミツタ電圧とトランジスタQ17のベース・エ
ミツタ電圧との差である。 ΔVIN=VBE16−VBE17 しかしトランジスタQ16にベース・エミツタ
電圧は、トランジスタが動作している電流、すな
わち電流源32によつて発生されるコレクタ電流
I32に関連する。同様に、トランジスタQ17の
ベース・エミツタ電圧は、電流源33からのコレ
クタ電流I33に関連する。 電流I32が第1の電流に相当し、電流I33が第2
の電流に相当する。 したがつて、トランジスタに対する上述のベー
ス・エミツタ電圧の式により、およびトランジス
タQ16,Q17に対する定数ICOにおける同様
のものにより、次式を得る。 ΔVIN=kT/qlnI32/ICO・ICO/I33=kT/qlnI32
I33 電流源32は、後述する第3図に示されるよう
にその出力電流I32が1次の温度依存性を持つよ
うに設計される。 I32=2kT/qR74ln10 R74は、第3図の回路に含まれる抵抗素子74
の抵抗値である。 これに対して、電流源33は、後述する第2図
に示されるように、その出力電流I33が温度に依
存しないように設計される。 I33=VREF/R26 ここで、VREFは定数であり、回路の予め定めら
れた出力電圧基準である。R26は第2図の回路に
含まれる抵抗素子26の抵抗値である。ΔVINは、
次のようになる。 ΔIN=kT/qln[2kT/qR74ln(10)R26/VREF] =kT/qln[2k/qVREFln10(R26/R74)T] これらの2つの電流源の設計は、後に説明す
る。重要なことは、差動増幅器41に対する入力
信号が、2次の温度依存性の項であるTlnTの形
態のものであるということである。 差動増幅器41において、トランジスタQ12
のエミツタ電極はトランジスタQ13のエミツタ
電極と接続され、トランジスタQ13のベース電
極はトランジスタQQ17のベース電極と接続さ
れる。2つのトランジスタQ12およびQ13の
エミツタ電極は、電流I31を発生する電流源31
と接続される。この電流源は、VDDに維持される
電圧源端子とさらに接続される。この実施例にお
いては、VDDはマイナス5ボルトである。電流源
31によつて供給される電流は、2つのトランジ
スタQ12,Q13の間で共用される。 トランジスタQ13およびQ17のベース電極
は互いに接続されているので、トランジスタQ1
3は電流I33に応答して電流I13で動作する。トラ
ンジスタQ13のコレクタ電極は2つのPNPト
ランジスタQ14およびQ15によつて形成され
るカレントミラーの入力端子に接続され、トラン
ジスタQ14およびQ15のベース電極は接続さ
れている。2つのトランジスタQ14およびQ1
5のエミツタ電極は回路の出力ライン44に接続
され、ダイオード接続されたトランジスタQ15
のコレクタ電極はトランジスタQ13のコレクタ
電極と接続される。動作において、トランジスタ
Q14のコレクタ電極を通つて導出される電流
は、トランジスタQ15のコレクタ電流に追随す
る。したがつて、カレントミラーの出力電流、す
なわちトランジスタQQ14のコレクタ電極を流
れる電流は、I13に等しい。 一方、トランジスタQ12は、1次に依存する
電流I32で動作するトランジスタQ16に応答す
る。差動増幅器41の出力、節点47でトランジ
スタQ14およびQ12のコレクタ電極と接続さ
れる出力ライン42の電流IOUTは、トランジスタ
Q12およびQ13のベース電極の電圧における
差ΔVINに依存する。最初に、回路が300℃の室温
であり、両電流I32およびI33は等しいと仮定する。
両電流が等しいので、同一の電圧がトランジスタ
Q16およびQ17によつて発生され、したがつ
てΔVINは0に等しくなる。トランジスタQ12
およびQ13は、電流I31を等しく共用する。こ
こで、回路の周囲温度が、ΔVINが0と等しくな
いように変化すると仮定する。トランジスタQ1
2は差動の対の一部であるので、その入力電圧に
おけるこの変化は、ΔVIN/2であると考えられ
る。トランジスタの相互コンダクタンスgmは、 gm=IC/kT/q であることはよく知られており、ここで、エミツ
タ電流IEはコレクタ電流ICとほぼ同一であると仮
定すると、これらのトランジスタQ12,Q13に対
して、 gm=IE/kT/q gm=I31/kT/q トランジスタQ12に対する入力電圧における
変化は、コレクタ電流における変化を引出す。 ΔIC=gm(ΔVIN/2) ここで、入力信号の他の部分は、トランジスタ
Q13のベース電極に基づく。トランジスタQ1
2に対するのと同様の解折によつて、トランジス
タQ13のコレクタ電流における変化は、次のよ
うに表わされる。 ΔIC=gm(ΔVIM/2) しかし、トランジスタQ14およびQ15によ
つて形成されるカレントミラーによつて、同じ強
さの電流がトランジスタQ15のコレクタ電極上
と同様に、トランジスタQ14のコレクタ電極に
現われる。したがつて、トランジスタQ12およ
びQ13に対するコレクタ電極における2つの変
化の和は、出力ライン42上に現われなければな
らない付加的な電流IOUTであり、差動増幅器の入
力・出力関係は全体として次のとおりである。 IOUT=2ΔIC=gΔVIN IOUT=(I31/kT/q)ΔVIN I31を発生する電流源31は、それが1次の温
度依存性をもつて、増幅器41の相互コンダクタ
ンスを温度に依存しなくなるようにするように設
計される。このことは、前に説明したように、異
なつた電流密度で動作する2つのトランジスタの
間のベース・エミツタ電圧における差を用いるこ
とによつて達成される。 I31=6/5kT/qR74ln10 IOUTに対する式に、I31,I32,I33に対する項を代
入して、次式を得る。 IOUT =6/101/R74ln10kT/qln[2kTln10/qVREF(R
26/R74)] IOUT=C2/R74kT/qlnT/TO ここで、(R26/R74)は、括弧内のパラメータ
が選択された特定のTOと等しくなるように設定
され、またC2は6/10k/qln10を表わす。 電流IOUTが、トランジスタのベース・エミツタ
電圧における2次の項のものと似た2次の温度依
存性、TlnT温度依存性を持つ、ということに注
意されるべきである。出力ライン42は、総和節
点46に接続される。したがつて、この電流IOUT
は、2つのトランジスタQ10およびQ11のベ
ース電極によつて供給される原電圧を、抵抗2
2,23を通じる小さな付加的な電流を駆動する
ことによつて修正し、小さな修正電圧を発生す
る。 テブナンの等価回路解析によつて、修正電圧は
簡単に以下のようになる。 2つの抵抗素子22および23により形成され
る回路部分、増幅器40および増幅器の入力回路
を分離して考えると、電流IOUTの形式の入力信号
が節点46において出会う等価抵抗は、並列に接
続された抵抗素子22および23の並列合成抵抗
である。したがつて、修正電圧はIOUTRXとなる。 IOUTRX=C2RX/R74kT/qlnT/TO ここで、RXは並列に接続された素子22およ
び23の抵抗値である。 節点46での真の電圧は、次式で与えられる。 V(I)+IOUTRX =VGO+C1kT/qln(TO/T) +C2Rx/R74ln(T/TO) =VGO−C1kT/qln(T/TO) +C2RX/R74kT/qln(T/TO) C1=C2RX/R74と設定することによつて、節点
46の電圧はVGOであり、温度に依存しない定数
となる。IOUTの大きさを決定するパラメータは、
2つのトランジスタQ10およびQ11によつて
発生される2次の温度依存の項に対するのと同じ
であるように設定される。この方法において、節
点46の電圧は、十分に温度補償される。 厳密な意味において、修正電圧は、回路に対す
る反復したフイードバツク計算を必要として、ト
ランジスタQ10,Q11のベース電極の電圧を
修正する。しかし、修正電圧は、トランジスタQ
10,Q11からの1次温度依存性が補償された
電圧と比較して非常に小さい。たとえば、差動増
幅器41に対する最大出力電流は、およそ240μA
である。このことは、トランジスタQ10,Q1
1からの1.2Vの電圧に比較して、75mVの最大修
正電圧を意味する。修正電圧および1次の温度依
存性補償電圧は、互いに依存しないと考えること
ができ、その2つの電圧は加法的に結合される。 この実施例に対して、電圧基準は、(シリコン
トランジスタに対し1.240Vと等しい)外挿され
たバンドギヤツプ電圧VGOにはセツトされず、
VGOのおよそ2倍にセツトされるのが望ましい。
このことは、フイードバツク差動増幅器40とと
もに抵抗素子22,23を用いることによつて行
なわれ、フイードバツク差動増幅器40の入力端
子は、トランジスタQ10およびQ11のコレク
タ電極とそれぞれ接続される。増幅器40は、2
つのコレクタ電流I10およびI11を、上述の説明に
おいて仮定したように等しくする。2つの抵抗素
子22,23は、逆電圧分割回路、電圧乗算回路
を形成する。節点46での電圧1.240Vは、(630
+620)/620と乗算され、ここで630オームおよ
び620オームは、それぞれ素子23および22に
対する抵抗値である。この乗算された電圧は、増
幅器40の出力電圧である。 この方法において、回路の出力端子45は、2
次の温度依存性が補償されたおよそ+2.5ボルト
の電圧基準VREFを達成する。 第2図は、温度に依存しない電流の発生器23
の詳細な回路図である。トランジスタQ50のエ
ミツタ電極は接地ライン43と接続され、またそ
のコレクタ電極は抵抗素子26を介して出力ライ
ン44と接続される。第2のトランジスタQ51
は第2の抵抗27を介して接地ライン43とまた
接続され、さらにトランジスタQ50のベース電
極と接続される。トランジスタQ51のベース電
極はトランジスタQ50のコレクタ電極と接続さ
れ、トランジスタQ50は抵抗素子26を流れる
電流I50を決定する。この電流I50は(VREF
2VBE)/R26であり、ここでR26は素子26の抵
抗値である。さらに、抵抗素子27を流れる第2
の電流I51が存在し、抵抗素子27の抵抗値R27
素子26の抵抗値R26の正確に2分の1である。 I51=VBE/R27=2VBE/R26 ここでR27=R26/2 トランジスタQ52のエミツタ電極は接地ライ
ン43と接続され、またそのベース電極はトラン
ジスタQ50のベース電極と接続されて、それに
よつて、トランジスタQ52のベース・エミツタ
電圧がトランジスタQ50のベース・エミツタ電
圧と等しくなるようにする。したがつてトランジ
スタQ52はトランジスタQ50に追随して、そ
れによつてトランジスタQ52のコレクタ電流は
トランジスタQ50を流れる電流I50と等しい。
このことは、第2図において、矢印によつて示さ
れている。トランジスタQ51のコレクタ電極
は、トランジスタQ52のコレクタ電極とまた接
続される。 2つの電流I50およびI51が、2つのPNPトラン
ジスタQ53,Q54によつて形成されるカレン
トミラーの入力端子を通つて流れる。カレントミ
ラーの入力端子は、トランジスタQ54のコレク
タ電極によつて形成され、トランジスタQ54は
ダイオード接続されたモードにあり、そのベース
電極とコレクタ電極とは接続されている。トラン
ジスタQ54のエミツタは、出力ライン44と接
続される。トランジスタQ54のベース電極は、
トランジスタQ53のベース電極と接続され、ト
ランジスタQ53のエミツタ電極は出力ライン4
4と接続され、またそのコレクタ電極は電流源3
3の出力端子55と接続される。出力電流I33は、
カレントミラーの入力端子を流る2つの電流の和
である。したがつて、電流源33の出力電流は、
VREF/R26であり、ここでR26は、素子26の抵抗
値である。出力電流I33は、温度に依存しない。 電流源31,32の特定の回路実現例が、第3
図に示されている。これらの1次温度依存性の電
流源は、2つのトランジスタのベース・エミツタ
電圧における差に基づく、2つのPNPトランジ
スタQ60,Q61は、そのベース電極が互いに
接続された2つのNPNトランジスタQ62,Q
63のコレクタ電極に等しい電流を供給する。ト
ランジスタQ62は、ダイオード接続されたモー
ドにあるトランジスタQ63よりも10倍大きい。
第1図におけるトランジスタQ10,Q11の動
作に関して前述したように、トランジスタQ62
のエミツタ電極に直接に接続された抵抗素子74
を流れる電流I74は、2つのトランジスタQ62,
Q63のベース・エミツタ電圧における差に比例
する。この電流は、以下のように表わされる。 I74=1/R74T/Tqln10 ここで、R74は素子74の抵抗値であり、I74
およそ200μAであるように設定される。 トランジスタQ63はトランジスタQ62と並
列に接続されているので、トランジスタQ63に
もまた、およそ200μAの電流が流れる。2つのト
ランジスタQ62,Q63から2つのトランジス
タQ64,Q65への全電流は、したがつて2I74
である。 2つのPNPトランジスタQ64,Q65の並
列接続されたエミツタ電極は、(素子74を介し
て)トランジスタQ62のエミツタ電極およびト
ランジスタQ63と接続される。トランジスタQ
64,Q65のベース電極は互いに接続されて、
バイアス電圧VBIASと接続され、それによつて2
つのトランジスタのベース・エミツタ電圧は等し
くなる。(最適動作に対し、VBIASは、Vccから3
つのダイオードの電圧降下したもの、すなわち+
2.9ボルトである。)電流2I74は、トランジスタQ
64,Q65の間で等しく共用される。トランジ
スタQ65のコレクタ電極は、PNPトランジス
タQ78のエミツタ電極と接続される。電流の他
の半分I74は、トランジスタQ64のコレクタ電
極を流れる。 ダイオード接続されたトランジスタQ66のコ
レクタ電極は、トランジスタQ64のコレクタ電
極と接続される。しかし、PNPトランジスタは
NPNトランジスタよりもかなり低いβを持つて
おり、またPNPトランジスタのエミツタ電流の
かなりの部分はトランジスタのベース電流に転換
される。PNPトランジスタQ64のベース電極
を流れる電流の損失を補償するために、PNPト
ランジスタQ78は、ダイオード接続されたトラ
ンジスタが全電流I74を正確に受けるように、ト
ランジスタQ66のコレクタ電極にそのベース電
流を注入する。トランジスタQ66のエミツタ電
極は、抵抗素子75を介して、VDDの第2の電圧
源と接続される。 3つのトランジスタQ67,Q68,Q69
は、同様にトランジスタQ66と接続される。そ
れらの各ベース電極はトランジスタQ66のベー
ス電極と接続され、またそれらの各エミツタ電極
は抵抗素子を介して第2の電圧源と接続される。
これらのトランジスタを介して発生される電流
は、したがつて、トランジスタQ66の動作電流
I74に依存する。 2つのトランジスタQ67,Q68のエミツタ
電極は、抵抗素子73を共用する。素子73の抵
抗値は、素子75の抵抗値の2分1である。この
ことは、両トランジスタQ67,Q68を流れる
電流の総和が、トランジスタQ66を流れる電流
の2倍であることを意味する。しかし、トランジ
スタQ67,Q68は、互いに関して寸法におけ
る大きさが決定される(トランジスタQ67は回
路の標準的トランジスタ寸法の6倍であるが、ト
ランジスタQ68は標準寸法の4倍である)。2
つのトランジスタが、それらのベース・エミツタ
電圧、したがつて動作電流密度が等しいように結
合されるので、トランジスタQ67,Q68は、
それぞれ全電流総和の6/1私および4/10を持つ。
トランジスタQ68のコレクタ電極は、接地ライ
ン43と接続され、トランジスタQ67のコレク
タ電極は、電流源31の出力端子76に接続され
る。 I31=6/10・2I74 I31=6/5kT/R74qln10 これは、上述の説明におけるI31に対し用いら
れる値を確立する。 素子72の抵抗値は素子75の抵抗値の2分の
1であるので、トランジスタQ69は、トランジ
スタQ66を流れる電流の2倍の電流I32で動作
する。2つのPNPトランジスタQ70,Q71
によつて形成されるカレントミラーは、トランジ
スタQ69のコレクタ電極を通つて流れている電
流と同じ大きさの電流が、電流源32の出力端子
77を通じて発生されるということを確実にす
る。上述したように、この電流I32は、次式で表
わされる。 I32=2I74 I32=2kT/qR74ln10 この発明のこの実施例は、PNPトランジスタ
によつて形成されるカレントミラーを除外して、
NPNトランジスタに関して説明されてきたが、
トランジスタの極性を逆転しかつ特定の電圧を修
正することによつて、この発明を再設計すること
は当業者の能力の範囲内に含まれるということが
認識されるべきである。 したがつて、この発明は好ましい実施例に関し
て特定的に示されかつ説明されてきたが、形式お
よび詳細な点における変更はこの発明の精神から
逸脱することなくなされ得るということが当業者
によつて理解される。したがつて、この発明の権
利範囲は添付の請求範囲の内容によつてのみ限定
されることを意図する。
JP57502487A 1981-08-24 1982-07-12 電圧基準回路 Granted JPS58501341A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US295952 1981-08-24
US06/295,952 US4443753A (en) 1981-08-24 1981-08-24 Second order temperature compensated band cap voltage reference

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58501341A JPS58501341A (ja) 1983-08-11
JPH0320769B2 true JPH0320769B2 (ja) 1991-03-20

Family

ID=23139936

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57502487A Granted JPS58501341A (ja) 1981-08-24 1982-07-12 電圧基準回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4443753A (ja)
EP (1) EP0088767B1 (ja)
JP (1) JPS58501341A (ja)
DE (1) DE3277246D1 (ja)
WO (1) WO1983000756A1 (ja)

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8301138A (nl) * 1983-03-31 1984-10-16 Philips Nv Stroombronschakeling.
JPS6065557A (ja) * 1983-09-21 1985-04-15 Fujitsu Ltd 集積回路装置
NL8400636A (nl) * 1984-02-29 1985-09-16 Philips Nv Stroombronschakeling.
US4577296A (en) * 1984-03-01 1986-03-18 Advanced Micro Devices, Inc. Compensation current generator
ATE38104T1 (de) * 1984-04-19 1988-11-15 Siemens Ag Schaltungsanordnung zur erzeugung einer temperatur- und versorgungsspannungsunabhaengigen referenzspannung.
US4524318A (en) * 1984-05-25 1985-06-18 Burr-Brown Corporation Band gap voltage reference circuit
US4603291A (en) * 1984-06-26 1986-07-29 Linear Technology Corporation Nonlinearity correction circuit for bandgap reference
US4596961A (en) * 1984-10-01 1986-06-24 Motorola, Inc. Amplifier for modifying a signal as a function of temperature
US4612496A (en) * 1984-10-01 1986-09-16 Motorola, Inc. Linear voltage-to-current converter
US4588941A (en) * 1985-02-11 1986-05-13 At&T Bell Laboratories Cascode CMOS bandgap reference
ATE66756T1 (de) * 1985-09-30 1991-09-15 Siemens Ag Trimmbare schaltungsanordnung zur erzeugung einer temperaturunabhaengigen referenzspannung.
GB8630980D0 (en) * 1986-12-29 1987-02-04 Motorola Inc Bandgap reference circuit
US4924113A (en) * 1988-07-18 1990-05-08 Harris Semiconductor Patents, Inc. Transistor base current compensation circuitry
DE4005756A1 (de) * 1989-04-01 1990-10-04 Bosch Gmbh Robert Praezisions-referenzspannungsquelle
EP0424264B1 (fr) * 1989-10-20 1993-01-20 STMicroelectronics S.A. Source de courant à faible coefficient de température
US5121049A (en) * 1990-03-30 1992-06-09 Texas Instruments Incorporated Voltage reference having steep temperature coefficient and method of operation
US5087831A (en) * 1990-03-30 1992-02-11 Texas Instruments Incorporated Voltage as a function of temperature stabilization circuit and method of operation
IT1245237B (it) * 1991-03-18 1994-09-13 Sgs Thomson Microelectronics Generatore di tensione di riferimento variabile con la temperatura con deriva termica prestabilita e funzione lineare della tensione di alimentazione
EP0513928B1 (en) * 1991-05-17 1996-08-21 Rohm Co., Ltd. Constant voltage circuit
US5382916A (en) * 1991-10-30 1995-01-17 Harris Corporation Differential voltage follower
US5300877A (en) * 1992-06-26 1994-04-05 Harris Corporation Precision voltage reference circuit
JP2953226B2 (ja) * 1992-12-11 1999-09-27 株式会社デンソー 基準電圧発生回路
US5384739A (en) * 1993-06-10 1995-01-24 Micron Semiconductor, Inc. Summing circuit with biased inputs and an unbiased output
DE69426104T2 (de) * 1993-08-30 2001-05-10 Motorola Inc Krümmungskorrekturschaltung für eine Spannungsreferenz
US5459430A (en) * 1994-01-31 1995-10-17 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Resistor ratioed current multiplier/divider
US5545978A (en) * 1994-06-27 1996-08-13 International Business Machines Corporation Bandgap reference generator having regulation and kick-start circuits
GB9417267D0 (en) * 1994-08-26 1994-10-19 Inmos Ltd Current generator circuit
US5712590A (en) * 1995-12-21 1998-01-27 Dries; Michael F. Temperature stabilized bandgap voltage reference circuit
US5760639A (en) * 1996-03-04 1998-06-02 Motorola, Inc. Voltage and current reference circuit with a low temperature coefficient
JP2001510609A (ja) * 1997-12-02 2001-07-31 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 温度補償された出力基準電圧を有する基準電圧源
US6002243A (en) * 1998-09-02 1999-12-14 Texas Instruments Incorporated MOS circuit stabilization of bipolar current mirror collector voltages
US6121824A (en) * 1998-12-30 2000-09-19 Ion E. Opris Series resistance compensation in translinear circuits
US6255807B1 (en) 2000-10-18 2001-07-03 Texas Instruments Tucson Corporation Bandgap reference curvature compensation circuit
US6384586B1 (en) * 2000-12-08 2002-05-07 Nec Electronics, Inc. Regulated low-voltage generation circuit
US20030117120A1 (en) * 2001-12-21 2003-06-26 Amazeen Bruce E. CMOS bandgap refrence with built-in curvature correction
US6791307B2 (en) * 2002-10-04 2004-09-14 Intersil Americas Inc. Non-linear current generator for high-order temperature-compensated references
US6933769B2 (en) * 2003-08-26 2005-08-23 Micron Technology, Inc. Bandgap reference circuit
US7164259B1 (en) 2004-03-16 2007-01-16 National Semiconductor Corporation Apparatus and method for calibrating a bandgap reference voltage
US7091713B2 (en) * 2004-04-30 2006-08-15 Integration Associates Inc. Method and circuit for generating a higher order compensated bandgap voltage
WO2006038057A1 (en) * 2004-10-08 2006-04-13 Freescale Semiconductor, Inc Reference circuit
CN103026311B (zh) 2011-05-20 2015-11-25 松下知识产权经营株式会社 基准电压生成电路及基准电压源
US9568928B2 (en) * 2013-09-24 2017-02-14 Semiconductor Components Indutries, Llc Compensated voltage reference generation circuit and method
CN108646845A (zh) * 2018-05-31 2018-10-12 东莞赛微微电子有限公司 基准电压电路
CN114237339A (zh) * 2021-12-01 2022-03-25 重庆吉芯科技有限公司 带隙基准电压电路及带隙基准电压的补偿方法
CN114578890B (zh) * 2022-03-10 2023-06-20 中国电子科技集团公司第五十八研究所 一种具有分段线性补偿的基准电压源电路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4088941A (en) * 1976-10-05 1978-05-09 Rca Corporation Voltage reference circuits
US4064448A (en) * 1976-11-22 1977-12-20 Fairchild Camera And Instrument Corporation Band gap voltage regulator circuit including a merged reference voltage source and error amplifier
US4249122A (en) * 1978-07-27 1981-02-03 National Semiconductor Corporation Temperature compensated bandgap IC voltage references
US4313083A (en) * 1978-09-27 1982-01-26 Analog Devices, Incorporated Temperature compensated IC voltage reference
US4250445A (en) * 1979-01-17 1981-02-10 Analog Devices, Incorporated Band-gap voltage reference with curvature correction
US4325018A (en) * 1980-08-14 1982-04-13 Rca Corporation Temperature-correction network with multiple corrections as for extrapolated band-gap voltage reference circuits

Also Published As

Publication number Publication date
EP0088767A1 (en) 1983-09-21
US4443753A (en) 1984-04-17
EP0088767B1 (en) 1987-09-09
DE3277246D1 (en) 1987-10-15
JPS58501341A (ja) 1983-08-11
EP0088767A4 (en) 1984-04-04
WO1983000756A1 (en) 1983-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0320769B2 (ja)
US6891358B2 (en) Bandgap voltage reference circuit with high power supply rejection ratio (PSRR) and curvature correction
US7170336B2 (en) Low voltage bandgap reference (BGR) circuit
US5900772A (en) Bandgap reference circuit and method
JP3647468B2 (ja) 定電流およびptat電流のためのデュアル源
US6111396A (en) Any value, temperature independent, voltage reference utilizing band gap voltage reference and cascode current mirror circuits
US5926062A (en) Reference voltage generating circuit
US4935690A (en) CMOS compatible bandgap voltage reference
US6690228B1 (en) Bandgap voltage reference insensitive to voltage offset
US5917311A (en) Trimmable voltage regulator feedback network
US20090051341A1 (en) Bandgap reference circuit
US20070080740A1 (en) Reference circuit for providing a temperature independent reference voltage and current
US7453314B2 (en) Temperature-independent current source circuit
JP2002270768A (ja) Cmos基準電圧回路
JPH08320730A (ja) バンドギャップ電圧基準およびバンドギャップ基準電圧を生ずるための方法
US7161340B2 (en) Method and apparatus for generating N-order compensated temperature independent reference voltage
JPH08321732A (ja) カレントミラー回路および基準電流回路
US4990864A (en) Current amplifier circuit
US6288525B1 (en) Merged NPN and PNP transistor stack for low noise and low supply voltage bandgap
US5672961A (en) Temperature stabilized constant fraction voltage controlled current source
JPH0123802B2 (ja)
US5789906A (en) Reference voltage generating circuit and method
US4843303A (en) Voltage regulator circuit
JPH08339232A (ja) 基準電圧回路
CN111984052A (zh) 电压源