JPH03205524A - 温度センサの校正装置 - Google Patents
温度センサの校正装置Info
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- JPH03205524A JPH03205524A JP34486789A JP34486789A JPH03205524A JP H03205524 A JPH03205524 A JP H03205524A JP 34486789 A JP34486789 A JP 34486789A JP 34486789 A JP34486789 A JP 34486789A JP H03205524 A JPH03205524 A JP H03205524A
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Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く産業上の利川分野〉
この発明は、体温計や温度計、熱電対、サーミスタ、温
度スイ・ソチ、温度フユーズなどの各種の温度センサ(
以下、単に温度センサという)を校正する校正装置に関
する。
度スイ・ソチ、温度フユーズなどの各種の温度センサ(
以下、単に温度センサという)を校正する校正装置に関
する。
く従来の技術〉
温度センサは、温度計測や温度表示、あるいは、電気回
路制御などの種々の用途に、工業用、家庭用を問わず大
量に使用されている. ところで、これらの温度七ンサを正しく使用するために
は、校正作業を欠かせない。
路制御などの種々の用途に、工業用、家庭用を問わず大
量に使用されている. ところで、これらの温度七ンサを正しく使用するために
は、校正作業を欠かせない。
然るに、温度センサの校正作業は、温度センサの使用温
度の全範囲にわたって温度を上下に変え、各々の校正温
度での真の温度と温度センサの動作特性との関係を正確
に求める作業である.また、校正作業は、製遣殴階で製
造者が動作試験や製品検査のために個々の温度センサの
全数について行うばかりでなく、使用fil!でも、使
用者が温度センサの特性劣化(変化)を予知するために
頻繁に行うものである。しかも、校正作業には、正確さ
と再現性が要求される。
度の全範囲にわたって温度を上下に変え、各々の校正温
度での真の温度と温度センサの動作特性との関係を正確
に求める作業である.また、校正作業は、製遣殴階で製
造者が動作試験や製品検査のために個々の温度センサの
全数について行うばかりでなく、使用fil!でも、使
用者が温度センサの特性劣化(変化)を予知するために
頻繁に行うものである。しかも、校正作業には、正確さ
と再現性が要求される。
そこで、かかる温度センサの校正作業には、従来から、
電熱湯槽やオイルバスを用いた校正装置が使用されてい
た。
電熱湯槽やオイルバスを用いた校正装置が使用されてい
た。
例えば、一般には、電熱しータが組み込まれた容器に水
や油などの熱媒体を入れ、熱媒体に温度センサを差し込
み、熱媒体を撹はんしながら電熱ヒータで温度調整し,
熱媒体が所望の校正温度に達したところで温度センサを
校正していた。
や油などの熱媒体を入れ、熱媒体に温度センサを差し込
み、熱媒体を撹はんしながら電熱ヒータで温度調整し,
熱媒体が所望の校正温度に達したところで温度センサを
校正していた。
く発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら、上記の従来技術によれば、水や油を加熱
、または、冷却して所望の校正温度に安定させるために
は、熟練と安定時間を要する.しかも、熱媒体の温度を
頻繁に上下させることが困難である。このため、温度セ
ンサの校正作業を迅速、かつ、簡便に行うことができな
.い。
、または、冷却して所望の校正温度に安定させるために
は、熟練と安定時間を要する.しかも、熱媒体の温度を
頻繁に上下させることが困難である。このため、温度セ
ンサの校正作業を迅速、かつ、簡便に行うことができな
.い。
また、上記の水や油などの熱媒体によれば、熱媒体の内
部に温度ムラが生じ易く、標準試料の温度と校正する温
度センサの温度が必ずしも同じにならないので、高精度
な校正ができない。
部に温度ムラが生じ易く、標準試料の温度と校正する温
度センサの温度が必ずしも同じにならないので、高精度
な校正ができない。
しかも、位置によって熟媒体の温度が異なるために、−
1iに多くの温度センサを校正することができず、校正
できる温度センサの数が限られてしまう。さらに、水や
油に温度センサを浸すので、温度センサが汚れるなどの
問題があった。
1iに多くの温度センサを校正することができず、校正
できる温度センサの数が限られてしまう。さらに、水や
油に温度センサを浸すので、温度センサが汚れるなどの
問題があった。
この発明は、温度センサを短時間で高精度に校正できる
校正装置を提供することを目的とする。
校正装置を提供することを目的とする。
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するために、この発明の温度センサの校
正装置においては、気体と粉体が流動して温度センサの
測温部を取り囲む流動層と、流動層の温度を調節する温
度調整手段を設けたものである. この温度センサの校正装置には、温度センサの測温部を
流動層内に位置決めする支持手段を備えると効果的であ
る。
正装置においては、気体と粉体が流動して温度センサの
測温部を取り囲む流動層と、流動層の温度を調節する温
度調整手段を設けたものである. この温度センサの校正装置には、温度センサの測温部を
流動層内に位置決めする支持手段を備えると効果的であ
る。
また、この温度センサの校正装置には、流動層の温度を
上下する熱源を流動層の内部に備えると効果的である。
上下する熱源を流動層の内部に備えると効果的である。
〈作用〉
上記のように楕戒された温度センサの校正装置の容器内
に校正する温度センサの測温部を入れて校正装置を運転
すると、容器内の流動層は、温度調整手段によって流動
層の温度が調整され、その温度で気体と粉体が流動する
ので、流動層の全体が均一な温度となり、しかも.温度
センサを校正する校正温度に短時間で安定するように働
く.そして、上記した理由から、温度センサの測温部は
、流動層に取り囲まれる位置に位置決めされるのがよく
、位置決め手段は、エないし2以上の測温部を流動層内
に安定に位置決めできるものがよい。
に校正する温度センサの測温部を入れて校正装置を運転
すると、容器内の流動層は、温度調整手段によって流動
層の温度が調整され、その温度で気体と粉体が流動する
ので、流動層の全体が均一な温度となり、しかも.温度
センサを校正する校正温度に短時間で安定するように働
く.そして、上記した理由から、温度センサの測温部は
、流動層に取り囲まれる位置に位置決めされるのがよく
、位置決め手段は、エないし2以上の測温部を流動層内
に安定に位置決めできるものがよい。
また、流動層内の熱源は、流動層と効率よく熱を授受し
て流動層の温度を上下し、流動層を介して温度センサの
測温部を迅速に加熱、または、冷却するように■く。
て流動層の温度を上下し、流動層を介して温度センサの
測温部を迅速に加熱、または、冷却するように■く。
く実施例〉
この発明の実施例について図面を参照して説明すると、
第1図において、温度センサの校正装置10には、校正
する温度センサ1の測温部2を収容する容器3が設けら
れており、容器3の内部は、分散板31によって上下に
仕切られている。分散板31の上部は、流動N4の粉体
41を収容する流動層室32であり、分散板31の下部
は、送気室33である。
第1図において、温度センサの校正装置10には、校正
する温度センサ1の測温部2を収容する容器3が設けら
れており、容器3の内部は、分散板31によって上下に
仕切られている。分散板31の上部は、流動N4の粉体
41を収容する流動層室32であり、分散板31の下部
は、送気室33である。
流動層室32は、その上半分の断面積が下半分の断面積
よりも広く形威されている.さらに、流動層室32には
、流動Fi4を加熟する熱源としてのヒータ7と、熱電
対51が取り付けられており、これらのヒータ7と熱電
対51は、各々、サイリスタなどの温度調整手段5に接
続されている。
よりも広く形威されている.さらに、流動層室32には
、流動Fi4を加熟する熱源としてのヒータ7と、熱電
対51が取り付けられており、これらのヒータ7と熱電
対51は、各々、サイリスタなどの温度調整手段5に接
続されている。
送気室33には、容器3の壁を貫通して送気室33内で
一端が開口する送気管34が設けられ、その他端には、
図示されないコンプレッサやボンベ、減圧弁などの気体
供給手殴が接続されている.また、送気室33の底には
、排出口36が設けられている。
一端が開口する送気管34が設けられ、その他端には、
図示されないコンプレッサやボンベ、減圧弁などの気体
供給手殴が接続されている.また、送気室33の底には
、排出口36が設けられている。
容器3の頂部には、温度センサ1の測温部2を流動層4
内に位置決めする支持部材としての16が設けられて才
3り、蓋6の上面には,温度センサ1と標準試料として
の標準熱電対11を支持するチヤ・ソク機構が備えてあ
る,また、lI6の下面はアサガオ状に形威されている
。また、容器3の壁には、断熱材を充填した断熟層35
が設けられている。なお、@熱層35は、一部省略図示
のごとく、その構造を中空の211壁楕造36にするこ
ともできる。
内に位置決めする支持部材としての16が設けられて才
3り、蓋6の上面には,温度センサ1と標準試料として
の標準熱電対11を支持するチヤ・ソク機構が備えてあ
る,また、lI6の下面はアサガオ状に形威されている
。また、容器3の壁には、断熱材を充填した断熟層35
が設けられている。なお、@熱層35は、一部省略図示
のごとく、その構造を中空の211壁楕造36にするこ
ともできる。
上記構成によれは、送気管34に供給された気体は、送
気室33から分散板31経出で流動層室32に導びかれ
、粉体41を流動して流動層室32内に流動層4を形成
する。この時、送気室33は、流動層室32に導かれる
気体の圧力溜(リザバ)として作用する。また、流動層
室32の上半分の広断面積部分では、流動層′4の気体
や粉体の速度が抑えられるので、流動層4の上面は、広
断面積部分にまでは浮き上がらない。その結果、流動N
4は温度センサ1の測温部2の周囲に安定し、主として
測温部2を加熱、あるいは、冷却するように作用する。
気室33から分散板31経出で流動層室32に導びかれ
、粉体41を流動して流動層室32内に流動層4を形成
する。この時、送気室33は、流動層室32に導かれる
気体の圧力溜(リザバ)として作用する。また、流動層
室32の上半分の広断面積部分では、流動層′4の気体
や粉体の速度が抑えられるので、流動層4の上面は、広
断面積部分にまでは浮き上がらない。その結果、流動N
4は温度センサ1の測温部2の周囲に安定し、主として
測温部2を加熱、あるいは、冷却するように作用する。
流動層室32の熱電対51は、流動層4の温度を検出し
た出力信号を温度調整手段5に供給し、温度調整手段5
は、設定された温度設定値に応じてヒータ7の加熱t流
をサイリスタ制御等してヒータ7の温度を制御する。流
動層4はヒータ7の熱量と分散板31から送り込まれる
気体の流量や温度に応じて温度を上下し、設定された温
度で安定する.そして、温度センサ1の測温部2は、周
囲の流動層4と熱交換して一様に加熱、または、冷却さ
れ、所定の校正温度になる。なお、115の下面のアサ
ガオ面は、流動層室32から外部に排出される排気を容
器3の半径方向遠方に誘導し、温度センサのリード線や
熱電対の冷接点に排気をかけないように動く。その結果
、標準試料と温度センサの特性を対比して行う校正の誤
差が減り、高精度な校正が行える。
た出力信号を温度調整手段5に供給し、温度調整手段5
は、設定された温度設定値に応じてヒータ7の加熱t流
をサイリスタ制御等してヒータ7の温度を制御する。流
動層4はヒータ7の熱量と分散板31から送り込まれる
気体の流量や温度に応じて温度を上下し、設定された温
度で安定する.そして、温度センサ1の測温部2は、周
囲の流動層4と熱交換して一様に加熱、または、冷却さ
れ、所定の校正温度になる。なお、115の下面のアサ
ガオ面は、流動層室32から外部に排出される排気を容
器3の半径方向遠方に誘導し、温度センサのリード線や
熱電対の冷接点に排気をかけないように動く。その結果
、標準試料と温度センサの特性を対比して行う校正の誤
差が減り、高精度な校正が行える。
上記実施例をより具体的に説明すれば、容器は、外径か
概ね150nL高さが概ね250mnの円柱状であり、
容器の断熱層には、カール状の断然材が使用されている
。流動層の粉体は、粒径が概ね100〜200メッシュ
の球形アルミナ粒子である.lIは、外径が概ね150
α机、高さが概ね508allのアサガオ状のセラミ・
ソクスの深皿である。発熱体は、径か概ね40nun.
高さが概ね40+v+の炭素質の筒状ヒータである。
概ね150nL高さが概ね250mnの円柱状であり、
容器の断熱層には、カール状の断然材が使用されている
。流動層の粉体は、粒径が概ね100〜200メッシュ
の球形アルミナ粒子である.lIは、外径が概ね150
α机、高さが概ね508allのアサガオ状のセラミ・
ソクスの深皿である。発熱体は、径か概ね40nun.
高さが概ね40+v+の炭素質の筒状ヒータである。
そして、送気管から、送気室内に毎分4.4リッターの
空気を送り込みながらヒータに20Aの加熱t流を加え
たところ、数分後には、流動層の温度か600℃になっ
た。また、送気室内に上記と同じ流量の空気を送り込み
なからヒータの加熱電流を遮断1一なところ、流動層の
温度は、数分後に100゜C以下に冷えた。
空気を送り込みながらヒータに20Aの加熱t流を加え
たところ、数分後には、流動層の温度か600℃になっ
た。また、送気室内に上記と同じ流量の空気を送り込み
なからヒータの加熱電流を遮断1一なところ、流動層の
温度は、数分後に100゜C以下に冷えた。
以上、この発明のいくつかの実施例について詳細に説明
したが、この発明は、上記説明に限られず、各種の改変
が可能である。
したが、この発明は、上記説明に限られず、各種の改変
が可能である。
例えば、容器の断熱層を二重楕遣とした場合には、二重
壁の中空部分を真空にして断熱作用をもたせたり、中空
部分に温気や冷気を外部がら導入して流動層を加熱、あ
るいは、冷却することもできる。
壁の中空部分を真空にして断熱作用をもたせたり、中空
部分に温気や冷気を外部がら導入して流動層を加熱、あ
るいは、冷却することもできる。
また、ヒータには、容器の上下方向を軸とする円筒状の
コイルヒー夕や面状ヒータを用いることもできる。これ
によれば、円筒状のヒータは、流動層内の気体と粉体の
流動を安定化する効果がある, 流動層室の内部にリング状、メッシュ状、あるいは、円
錐状の気泡散乱具を設け、これにより、温度センサの測
温部に大きな気泡が直接触らないようにして、測温部へ
の気泡の影響を抑えるようにすることもできる。
コイルヒー夕や面状ヒータを用いることもできる。これ
によれば、円筒状のヒータは、流動層内の気体と粉体の
流動を安定化する効果がある, 流動層室の内部にリング状、メッシュ状、あるいは、円
錐状の気泡散乱具を設け、これにより、温度センサの測
温部に大きな気泡が直接触らないようにして、測温部へ
の気泡の影響を抑えるようにすることもできる。
さらに、容器の形状や寸法も自由に変更でき、複数の温
度センサを容器内に差し込んで、一度に多くの温度セン
サを同時に校正することもできる.また、流動層の粉体
は、粒度が上記実施例の説明に限られず、平均粒度を小
さくして流動層の流動状態をより均質なものにすること
もできる。
度センサを容器内に差し込んで、一度に多くの温度セン
サを同時に校正することもできる.また、流動層の粉体
は、粒度が上記実施例の説明に限られず、平均粒度を小
さくして流動層の流動状態をより均質なものにすること
もできる。
粒子の材質もアルミナ粒子に限らず、粉体の材質をカー
ボン(炭素質)や中空カーボンにして流動層を還元性雰
囲気にすることもできる.さらに、ヒータに替え、ある
いは、発熟体と共に、冷却管やヒートバイプを容器の内
部に設け、これを熱源として用いることもできる.これ
により、流動層の温度を微妙に上下に調整可能である。
ボン(炭素質)や中空カーボンにして流動層を還元性雰
囲気にすることもできる.さらに、ヒータに替え、ある
いは、発熟体と共に、冷却管やヒートバイプを容器の内
部に設け、これを熱源として用いることもできる.これ
により、流動層の温度を微妙に上下に調整可能である。
さらにまた、送気管に送り込む気体をヒータで加熱し、
加熱気体によって流動層の温度を調節することもできる
.このとき、気体の流量を調整することも効果的である
.流量の調節は、減圧弁によって可能である。
加熱気体によって流動層の温度を調節することもできる
.このとき、気体の流量を調整することも効果的である
.流量の調節は、減圧弁によって可能である。
また,通気室に尋人する気体は、その流速が粒子を流動
化できる流動化開始速度以上であり、粒子が輸送してし
まう流速以下であればよい.気体の種類は空気に限らず
、炭酸カスやアルゴンなど、還元性のガスや不活性なガ
スを使用することもできる.これにより、校正する温度
センサの性質に応じて流動層を最適な雰囲気に保つこと
ができ、校正する際に温度センサの酸化や還元などの劣
化を防ぐことができる。
化できる流動化開始速度以上であり、粒子が輸送してし
まう流速以下であればよい.気体の種類は空気に限らず
、炭酸カスやアルゴンなど、還元性のガスや不活性なガ
スを使用することもできる.これにより、校正する温度
センサの性質に応じて流動層を最適な雰囲気に保つこと
ができ、校正する際に温度センサの酸化や還元などの劣
化を防ぐことができる。
さらに、上記実施例の説明では、標準試料としての熱電
対と流動層室の温度を制御する熟電対を別個なものとし
たが、単一の熱電対を共用することもできる. く発明の効果〉 この発明は、以上説明したように構成されているので、
容器内の広い領域にわたって温度センサを迅速、かつ、
均等に加熱または冷却でき、しかも、広い温度範囲にわ
たって、温度を高精度、かつ、簡便に調整できるので、
温度センサの温度特性をきめ細かく正確に校正できる.
対と流動層室の温度を制御する熟電対を別個なものとし
たが、単一の熱電対を共用することもできる. く発明の効果〉 この発明は、以上説明したように構成されているので、
容器内の広い領域にわたって温度センサを迅速、かつ、
均等に加熱または冷却でき、しかも、広い温度範囲にわ
たって、温度を高精度、かつ、簡便に調整できるので、
温度センサの温度特性をきめ細かく正確に校正できる.
第1図は、この発明の実施例を示す縦断面図である。
1・・・温度センサ 2・・・測温部3・・
・容器 4・・・流動層5・・・温度
調整手段 6・・・支持手段7・・・熱源
・容器 4・・・流動層5・・・温度
調整手段 6・・・支持手段7・・・熱源
Claims (3)
- (1)校正する温度センサ1の測温部2を取り囲んで気
体と粉体が容器3内で流動する流動層4と、 温度センサ1を校正する校正温度に流動層4の温度を調
節する温度調整手段5を備えたことを特徴とする温度セ
ンサの校正装置。 - (2)校正する温度センサ1の測温部2を流動層4内に
位置決めする温度センサの支持手段6を備えたことを特
徴とする特許請求項第1項記載の温度センサの校正装置
。 - (3)流動層4内に熱源7を備えたことを特徴とする特
許請求項第1項記載の温度センサの校正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34486789A JPH03205524A (ja) | 1989-12-31 | 1989-12-31 | 温度センサの校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34486789A JPH03205524A (ja) | 1989-12-31 | 1989-12-31 | 温度センサの校正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03205524A true JPH03205524A (ja) | 1991-09-09 |
Family
ID=18372608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34486789A Pending JPH03205524A (ja) | 1989-12-31 | 1989-12-31 | 温度センサの校正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03205524A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008014772A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 温度センサワークの検査装置および検査方法 |
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1989
- 1989-12-31 JP JP34486789A patent/JPH03205524A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008014772A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 温度センサワークの検査装置および検査方法 |
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