JPH03197400A - 有機薄膜 - Google Patents

有機薄膜

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JPH03197400A
JPH03197400A JP2198540A JP19854090A JPH03197400A JP H03197400 A JPH03197400 A JP H03197400A JP 2198540 A JP2198540 A JP 2198540A JP 19854090 A JP19854090 A JP 19854090A JP H03197400 A JPH03197400 A JP H03197400A
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JP
Japan
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film
group
organic thin
thin film
groups
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JP2198540A
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English (en)
Inventor
Shoichiro Yasunami
昭一郎 安波
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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  • Non-Silver Salt Photosensitive Materials And Non-Silver Salt Photography (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は有機超薄膜に係り、特に反応性基を有し高度に
配向したことにより、光記録材料等に好適な有機超薄膜
に関するものである。
(従来の技術〕 ラングミュア−プロジェット(Langmuir Bl
odgett)法(以下LB法という)等によって形成
した単分子膜(Monolayer)および累積膜(M
ultllayer)は、有機分子が一次元的配向を持
ち且つ高密度に充填された超薄膜という性質を有し、こ
の性質がもたらす特徴的な機能が広い分野で利用されて
いる。
単分子膜形成には、親水性基と疎水性基を分子中に同時
に持つ両親媒性の界面活性型化合物が用いられる。この
ような化合物を発揮性有機溶液から水面上に展開した後
適当な表面圧力に圧縮する操作により、親水性基を水面
下に向は疎水性基を水面上に向けた状態で分子が配向し
最密にバックされた単分子膜を形成することができる。
単分子膜は膜表面がすべて特定の親水性基もしくは疎水
性基の群で占められている。この点が配向をもたないキ
ャスト膜等と大きく異なる特徴である。この特徴によっ
て単分子膜は親水性もしくは疎水性の表面をもった基板
上に1層ずつ被覆していくことが可能となり、こうして
できる基板上の累積膜も最上層の表面が特定の親水性も
しくは疎水基の群で占められることになる。
このような有機超薄膜は通常、分子もしくは官能基の表
面密度が1単分子層当たり10”−101′分子/dに
達し、膜の厚さを最小20人程度の単位で任意に制御す
ることができるという特徴を有する。
しかしながら、このような有機超薄膜は構造上の欠陥を
有すること及び低分子化合物の分子集合体であることか
ら、溶剤処理などによって容易に膜がはがれてしまう、
すなわち膜強度が低いという2つの問題点を有している
ことが指摘されている。これら問題点を解決する手段と
して重合性基や二量化基を分子内に組み込んで光又は熱
によって重合や架橋反応をさせて膜強度を向上させる方
法が種々検討されている。
これらの重合性基や二量化基としてはたとえばジアセチ
レン基、ビニル基、ジエン基、ケイ皮酸誘導体、ジスチ
リルピラジン基等の導入及び他の重合法としてアミノ酸
エステルを用いてポリアミド化する方法やチオールを酸
化させてS−3結合で連結する方法などがたとえばジャ
ーナル・オプ・ポリマー・サイエンス、ポリマー・ケミ
ストリー・エデイジョン(Journal of Po
1ys+er 5cience 。
Polymer  Chemistry  Eddit
ion)、1 7 巻、  1631頁(1979年)
、欧州特許0.057,207号、ポリマー・コミユニ
ケージ四ン(PolymerCommunicatio
n  )  %  2 7 巻、 238 頁 (19
86年)、デイ−・マクロモレキエラー・ヘミ−(Di
eMacromolecular  Chewie  
)  、 187巻、  1843頁(1986年)、
ジャーナル・オブ・アメリカン・ケミカル・ソサエテ4
 (Journal of AmericanChem
ical 5ociety) 、1094!!x 44
19頁(1987年)、米国特許4,830,952号
、特開昭62−201874号などに示されている。
しかしながらこれらの方法では、膜構造上の欠陥除去及
び膜強度の向上をともに解決することができず、将来光
記録材料などの実用デバイスに適用できるような上記問
題点を共に解決した有機超薄膜の提供が望まれている。
【発明が解決しようとする課題〕
本発明の目的は、構造的欠陥がなく、かつ膜強度の高い
配向性の有機超薄膜を提供することにある。
〔発明が解決する手段〕
本発明者らは上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、
少なくとも、分子内に下記一般式〔I〕で表わされる基
を有する両親媒性有機分子の少なくとも一種を含むこと
を特徴とする単分子膜もしくは累積膜を用いることで上
記目的を達成することができた。
一般式(1) 一5O8−又は−CON−を表わし、Aは芳香族へテロ
環を表わし、Dは水素原子又はアルキル基を表わす。
Bは単独又はR2と共同して親水性を示す基を表わす、
) 本発明の有機薄膜はそれを構成する有機化合物として分
子中に活性ビニル基を2個有する芳香族へテロ環構造を
持ち、かつ親水性基と重合性基とをエステル又はアミド
連結した両親媒性化合物からなることに特徴を有する。
この活性ビニル基を2コ有する芳香族へテロ環構造は紫
外線等の活性光線の照射によって固相状態で重合するい
わゆるトポケミカル重合性の構造であり、反応性が高く
、構造欠陥が極端に少ないことが知られている。
この活性ビニル基を2コ有する芳香族へテロ環構造を有
し、かつ親水性基と重合性基とをエステ(式中、R1は
アリーレン基、 ル又はアミド連結した両親媒性化合物を用いて、これを
配向させて重合させることにより、驚くべきことに有機
薄膜の構造欠陥及び膜強度が従来知られている重合性有
機薄膜に比べて著しく向上したものである。
本発明で用いられる両親媒性有機化合物は一般式〔I〕
で表わされる重合性基を有し、下記一般式(n)で表わ
される。
一般式(II) (Y−+L’ −h−R’−CH−CH−A−CI=C
1l−[1”−)−i−(L”±T−X以下、一般式(
1)及び(II)について詳しく説明する。
である、これらのうち芳香環はいずれも置換基を有して
いてもよく、置換基の例としては、炭素数1〜20のア
ルキル基、置換アルキル基、ハロゲン原子(例えば、フ
ッソ原子、塩素原子、臭素原子など)、ヒドロキシ基、
カルボキシ基、スルホ基、アシルアミノ基、スルホンア
ミド基、カルバモイル基、アシルオキシ基、アルコキシ
カルボニル基、アシル基、アルコキシ基、アリーロキシ
基、ニトロ基、ホルミル基、アルキル及びアリールスル
ホニル基などを挙げられる。これらの置換基は複数を有
してもよい。
1 Rzは−COI−−So、−又は−CON−を表わし、
Dは水素原子又はアルキル基である。Dとして好ましく
は水素原子又は炭素数1〜3のアルキル基である。Rz
 として好ましくは−cot−−COIIII−である
Llは2僅の連結基を表わし、−0−−NR3R1R3 5−−GO−−5Oz−−CON−−N−CO−1−3
O1N−13 −N−5O鵞−−COt−−0CO−−503−−0−
5Ot−N)I−COI−1−0CO−NH−を表わす
、R3は水素原子、炭素数1〜lOのアルキル基、アル
ケニル基を表わし、アルキル基とアルケニル基は置換基
を有してもよく、置換基の例としてはハロゲン原子、シ
アノ基、スルホ基、ヒドロキシ基、カルボキシル基、ア
ルキル基、アリール基、アラルキル基、アシル芽キシ基
、アシルアミノ基、アミノ基、スルホンアミド基、アル
コキシ基、アリーロキシ基、アルキルチオ基、アリール
チオ基、カルバモイル基、スルフ1モイル基、アルコキ
シカルボニル基、アリーロキシカルボニル基、アルキル
スルホニル基、アリールスルホニル基、アルコキシスル
ホニル基、アリーロキシスルホニル基、カルバモイルア
ミノ基、スルファモイルアミノ基、カルバモイルオキシ
基、アルコキシカルボニルアミノ基、アリーロキシカル
ボニルアミノ基などが挙げられる。
al及びlはそれぞれ独自に0又は1であり、nは1〜
3の整数である。
3 Llとして好ましくは −0−−N−(R’は水素原子
または置換基を有してもよい炭素数1〜3のアルキル基
を表わす) 、−CO−1−coo−−oco−13 −CO−N−(R’は水素原子または置換基を有しても
よい炭素数1〜3のアルキル基を表わす)、3 −N−C0−(R3は水素原子または置換基を有してよ
い炭素vL1〜3のアルキル基を表わす)である。
L3は(n+1)価の連結基を表わす、n−1のときは
L3は炭素数l〜16のアルキレン基を表わし、好まし
くは炭素数1〜6のアルキレン基でYは水素原子、炭素
数1〜25のアルキル基、アルケニル基、炭素数6〜1
8のアリール基又はこれらの基を組合せた基を表わし、
好ましくは水素原子、炭素数1〜18のアルキル基、ア
ルケニル基である。
これらの基は置換基を有してもよく、アルキル基及びア
ルケニル基の置換基の例としてはR3の置換基の例とし
て述べたものが挙げられる。アリール基の置換基の例と
してはR・の芳香環の置換基として述べたものが挙げら
れる。
Xは水素原子、炭素数1〜4のアルキル基、などが好ま
しい。
Aは芳香族へテロ環を表わし、好ましくは5〜6員の含
窒素へテロ環であり、特に好ましくはR1、R+t、R
13及びR14はそれぞれ同じでも異なっていてもよ(
、水素原子、炭素数1〜12のアルキル基、アルケニル
基、炭素数6〜12のアリール基又はこれらの基を組み
合せた基を表ゎす、アルキル基、アルケニル基およびア
リール基は置換基を有していてもよく、アルキル基、ア
ルケニル基の置換基の例としてはR3の置換基の例とし
て述べたものが挙げられる。アリール基の置換基の例と
してはR1の芳香環の置換基として述べたものが挙げら
れる。
R11、R11、R1及びR14として好ましくは水素
原子及び炭素数1〜8のアルキル基、アルケニル基であ
り、さらに好ましくは水素原子及び炭素数1〜4のアル
キル基である。
R4は炭素数1−12のアルキレン基を表わし、R4は
置換基を有してもよく、置換基の例としてはR1の置換
基の例として述べたものがあげられる。し4として好ま
しくは炭素数1〜8のアルキレン基であり、さらに好ま
しくは炭素数1〜4のアルキレン基である。
2 はアニオンを表わし、ハロゲンイオン(Br0、c
i〜ど)、c x o、? BFa。、PF6゜、R’
−Cot”、 R’−50s?などが好ましい、Xの好
ましい例としては水素原子、ヒドロキシ基、メチル基、
エチル基、プロビル基、 Φ Nus Br” N(C)Is)i Bre N(CIls) s CIP% No(CHりg Br”。
\の /N (CIls)t Bre \Φ /NH!I” Φ −N(C山)3BrO ■ N(n−CsHt)s Bre Hs などがあげられる。
 e 諏 4 +4−啼一一 1! −4 為コ   −一 1コ   N1 1コ  N− 1^  − CO。
享 ω ト  、 不 ト ロ  八 享 ω ■  6 0、 一〇 ココ   −ノ ムコ   −ノ 本発明の有機薄膜は一般式CM)で表わされる両親媒性
化合物を複数用いて形成してもよいが、好ましくは一般
式(II)の中の1種のみの両親媒性化合物から形成さ
れる。
また、本発明の有機薄膜は一般式(II)で表わされる
両親媒性化合物の他に他の両親媒性化合物を有してもよ
くそれらはG、 1.に1ines  Jr、著In5
oluble Monolayers at Liqu
id−Gas Interfacesノ、夏nters
cience、 New York (1966年)な
どに述へられている。たとえば長鎖アルキル(−殻皮素
数16以上)を持ったカルボン酸、エステル、アミド、
アルコール、チオール、アルデヒド、エーテル、アミン
、アンモニウム塩あるいは金属キレートなどが挙げられ
るが、好ましくは本発明の有機薄膜は一般式(If)で
表わされる両親媒性化合物のみから形成される。
本発明の有機薄膜は一般式(II)で表わされる七ツマ
−からなる単分子膜もしくは累積膜または、この単分子
膜もしくは累積膜に紫外線や可視光線などの活性光線を
照射して重合させることにより形成させたものの双方を
含む。
本発明の有機薄膜は一般式(II)で表わされる七ツマ
−による単分子膜が水面上に形成された状態で活性光線
を照射して重合してもよいし、また基板に累積した後に
同様の方法で重合してもよい。
この場合、単分子膜又は累積膜の温度を30〜70℃(
七ツマー分子の融点以下の温度)に温めて光照射する方
法が重合反応を速やかに進行させる上で好ましい。
また、水面上の重合においては単分子膜中でモノマーが
十分に密に配向していることが均一な重合膜を得る上で
好ましく、この目的で単分子膜はそのπ−A特性におい
て少なく七も5dyn/cm以上、好ましくはl 0d
yn 15以上で且つ破壊圧力より小さい表面圧の範囲
で重合が開始されることが必要である。
本発明に使用する単分子膜用展開溶媒としては、クロロ
ホルム、ジクロルメタン、ベンゼン、トルエン、エーテ
ルなどの常用の揮発性非極性有機溶媒の他、これらとア
ルコール、水などの極性親木性溶媒との混合物も用いら
れる。
本発明の単分子膜作成用の水相(subphase)に
は各種のpHの緩衝液のほか、カルシウム、バリウム、
カドミウム、カリウム、ナトリウムなど各種の金属の塩
溶液を用いてもよい、必要に応じて水相の温度を低温あ
るいは高温に制御することもできる。また、単分子膜を
構成する分子を水相中の化合物と反応させるために水相
に攪拌等の流動を行わせるか、あるいは振動を与えるこ
ともできる。単分子膜の製造において水相上の気体をN
寞、Arなとの不活性ガスに置換して単分子膜の酸化、
劣化を防止することもできる。
水面上の単分子膜を基板や支持体の表面上へ被覆するに
は、L−B法を含める種々の累積方法を用いることがで
きる。垂直式付着法であるL−B法については例えば、
ジャーナル・オブ・アメリカン・ケミカル・ソサエティ
(J、^閣、 Chew、 Soc、)第57巻、10
07頁(1935年)、ゲインズ(G、 L、 Ga1
as、 Jr)著「インソルブル・モル−ヤーズ・アッ
ト・リキッド−ガス・インターフエイスJ  (Ins
oluble Monolayers at Liqu
id−GasInLer4aces)  J 、(In
terscience)、New York (196
6年)、あるいは襦田清成著、材料技術、第4巻、26
1頁(1986年)などに説明されている。
被覆の方法としては、この他水平付着法、回転付着法(
例えば特開昭60−189929号、同61−4239
4号など)等の様々な方法が適用される。累積膜は、単
分子膜を基板上に被覆する操作を繰り返し行うことによ
って得られる。特開昭60−209245号などに記載
の連続式累積法を用いることもできる。液相上の単分子
膜を基板上に移しとる場合に、膜の構造には次の3種類
のものがある。
(1)すべての膜分子が疎水基を基板に向け、親水基を
外側に向けて付着した膜による累積膜。
(X膜) (2)膜分子が交互に親水基同士、疎水基同士を向かい
合せた二分子層の重なりからなる累積膜(Y膜) (3)すべての膜分子が親水基を基板に向け、疎水基を
外側に向けて付着した膜による累積膜(Zlり 本発明の有機薄膜には先に述べた累積方法の選択によっ
て得られる上記いずれの構造の累積膜も含まれる。
本発明において、LB法によって単分子膜または累積膜
を形成する際の支持体(基板)としては、各種金属等の
導電体、ガラス状無機物(ガラス、石英など)やその他
の無機絶縁体、各種の無機および有機の結晶、無機半導
体(SnO□、I n、o、、ZnO1T i Ot 
%W Os 、G a A a % S iなど)、有
機半導体、有機電導体、有機重合物、および上記素材の
複合材料など各種の材料が得られる。材料は外部の電気
的回路に接続された電極やその他のセンサー(電界効果
トランスジューサーなど)であってもよい、材料の表面
は、各種の物理的、化学的処理によって親水性もしくは
疎水性に処理することができる。疎水性処理として好ま
しい方法は、たとえばアルキルシラン誘導体をカンプリ
ング剤として基板表面に反応させる方法である。
本発明の薄膜材料の構造において、基板もしくは支持体
材料の表面はそれと接触する有機物の累積膜を構成する
分子と化学的に結合していてもよい、このような結合は
基板表面の反応基(たとえば水酸基など)と累積膜構成
分子の末端の反応基(たとえば活性シランなと)と熱的
に化学反応させることによって達成できる。
本発明で液相上の単分子膜を基板に累積する工程におい
ては、より密で均一な重合膜を得る目的から、液相上の
単分子膜の表面圧力は十分に高く保つことが好ましい。
十分に高くとは、その単分子膜の表面圧カー面積(π−
A)特性において、破壊圧力(πC)より低(かつ圧力
が顕著な立ち上りを示すいわゆる凝固体膜もしくは固体
膜の形成が開始する圧力より高い領域である。
このような圧力は分子に依存するが一般に5 dyne
/cvから60dyne/αの範囲である3表面圧力は
特に基板の引上げの工程で一定圧力に保持することが好
ましい、圧力のIIIIiは表面圧力センサーの装着し
たトラフにおいて圧力のモニターと同時に圧力の変化に
対応して膜のバリアーを連動させる方法で、一定値に制
御することができる。
本発明の方法に用いる単分子膜製造用トラフとしては通
常用いられるトラフ(浮子型バリアー式、ベルトバリア
ー式のものなど)の他、特開昭60−183724号及
び同60−209245号に示されるような連続累積用
トラフや同60−196934号、同60−19720
8号に示されるような振動印加型トラフ、あるいは高粘
性の膜の被覆に適したムービングウオール式(宮田の方
法)によるトラフなど各種の改良型のトラフを用いるこ
とができる。
以下に一般式(II)で表わされる両親媒性化合物や代
表的な合成例について述べる。
合成例  化合物例1 (C−1)の合成(1) 2−
メチル−5+2−ヒドロキシ−3−トリクロロ)プロピ
ルピラジン(D−1)の合成市販の2.5−ジメチルピ
ラジン40g(0,37 mol)クロラール10 g
 (0,06EI+ol)をピリジン150aiに溶解
させ、90〜95℃にて700時間反応せた0反応後ピ
リジン及び過剰の2,5−ジメチルピラジンを減圧下に
留去して除き、残金を水から2回再結晶した。
白色粉末  収量 12.5g(収率72%)化学構造
はNMR,IR1元素分析にて確認した。
(2)β+2−メチル−5−ピラジン)アクリルM(D
−2)の合成 化合物D−112g(0,047mol)をエタノール
60M1に溶解させ、50%水酸化ナトリウム水溶液2
0mを加えて、室温で1時間攪拌した。このとき反応温
度は70°Cまで発熱した。
反応後、エタノールを減圧留去し、残金に希塩酸を加え
てpH−4〜5とした。この溶液を活性炭処理した後、
目的物をベンゼンで抽出した。
(200solX3)さらに活性炭処理した後、残金に
石油エーテルを加えて析出した結晶を集めた。
収量 4.7g(収率59.5%) 化学構造はNMR,IR1元素分析にてi1認した。
(3)  C−1の合成 化合物D−24,7g (0,028*ol)、p−ブ
チルベンズアルデヒド10 g (0,056*ol)
及び5%水酸化ナトリウム水溶液1M1をエタノール4
0−に溶解し、窒素ガス雰囲気下60〜70℃で72時
間反応させた0反応後、溶媒を減圧留去し、残金をクロ
ロホルム/メタノール混合溶媒にてシリカゲルカラム処
理にて目的物を得た。
収量  4.0g(収率46%) 化学構造はNMR,IR1元素分析、マススペクトルに
て確認した。
〔実施例〕
以下、実施例を用いて詳細に説明するが、これらに限定
されるものではない。
実施例! 化合物例1 (C−1)をクロロホルムに溶解し、10
−’M溶液とし、これを6X10−’Mの塩化カドミウ
ム及びlXl0”4Mの炭酸水素ナトリウムを含む水溶
液上に展開して単分子膜を作成した。
水面上の単分子膜をベルトドライブ式バリアーで徐々に
圧縮し、表面圧−分子占有面積(π−A)特性を測定し
た結果、第1図のような曲線が得られた。
別に作製した化合物例1 (C−1)の単分子膜を30
dyn /csまで圧縮して表面圧を一定に制御した後
、この膜を垂直式付着法によって、シリコンウェハー基
板(2,6X2.6C1l)上にY膜を形成するように
4層移し取った。基板は十分に自然乾燥させた。
こうして累積膜を形成した基板を30℃に保温し、基板
に対して20°の傾きを持たせ、10cmの距離から4
00W高圧水銀灯を10分間照射して重合有機薄膜■を
得た。
またシリコンウェハー基板を石英基板に変更した他は上
述の方法と全く同様にして重合有機薄膜■を得た。
この重合有機薄膜■のスペクトルを測定したところ、吸
収最大波長(λ−ax)は475nmであった。
また光照射前のλ■axは560n−であった。
比較例として米国特許4,830.952号に記載され
ている下記の化合物(D−1)の重合体からなる重合有
機薄膜■(シリコンウェハース基板)、■(石英基板)
を得た。
(D−1) この有機薄膜■のλ−axは286n−であった。
さらに比較例としてポリマー・コミエニケーシツ ン 
(Polymer  Communication  
)  、 2 7 @、  2 38買(1986年)
に記載されている化合物(D−2)の重合体からなる重
合有機薄膜■(シリコンウェハー基盤)、■(石英基板
)を得た。
(D−2) この重合有機薄膜■のλwaxは295fl−であうた
このようにして得た有機薄膜の構造上の欠陥及び膜強度
について以下に示す方法で評価した。
(1)構造上の欠陥 得られた有機薄膜■、■、■について走査型電子顕微m
(以下SEMと略す)を用いて目視にて膜の構造欠陥(
亀裂、不均一性など)を以下の4段階に分けて評価した
A、はとんど膜の欠陥が認められない。
B、多少の欠陥が認められる。
C0かなり欠陥が認められる。
D、著しく多くの欠陥が認められる。
(2)膜強度 得られた有機薄膜■、■、■を濃塩酸1dを含むエタノ
ール50af中に30°Cで20分間浸漬し、エタノー
ル次いでクロロホルムで洗浄した後、十分に自然乾燥し
た。こうして溶媒処理した有Ii薄膜について吸収スペ
クトルを測定し、そのλ−axにおける吸光度を溶媒処
理前のものと比較した。
なお、吸収スペクトルは各薄膜について5点測定し、各
吸光度の平均値をもって評価した。結果を表1に示す。
表1かられかるように、本発明の実施例1の重合有機薄
膜■及び■は比較例■〜■に比べて構造上の欠陥が同等
または少なく、かつ溶媒処理に対する膜強度が優れてい
ることが明らかである。
実施例2 実施例1の化合物例1 (C−1)のかわりに化合物例
3 (C−3)を使用した以外は実施例1と全く同様に
して重合有機薄膜■、■を得た。
また、比較としてジャーナル・オブ・ポリマー・サイエ
ンス・ポリマー・ケミストリー・エデイシラン(Jou
rnal of Polymer 5cience+ 
PolymerChemistry Eddition
) 、17巻、1631頁(1979年)に記載されて
いる以下の化合物(D−3)について実施例1と同様に
して重合有機薄膜■、■を得た。
(D−3) C1□Hzs   C=CC=C+C[I寥−)−画−
C0OHさらに、比較として特開昭62−201874
号に記載されている以下の化合物(D−4)についても
実施例1と同様にして重合有機薄膜■、■を得た。
(D−4) このようにして得られた有機薄膜について実施例1と同
様にして構造上の欠陥及び膜強度を評価した。結果を表
2に示した。
表2かられかるように本発明の実施例2の重合有機薄膜
■及び■は比較例■、■、■、■に比べて構造上の欠陥
がきわめて少ないのが明らかである。
〔発明の効果〕
本発明によると、構造上の欠陥がほとんどなく、かつ膜
強度も優れた有機薄膜を得ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例1の塩化カドミウム及び炭酸水素ナトリ
ウムを含む水溶液上に展開された化合物例1 (C−1
)の単分子膜の20℃における表面圧−分子占有面積特
性を表わす。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)分子内に下記一般式〔 I 〕で表わされる基を有
    する両親媒性有機化合物の少なくとも一種を含む単分子
    膜もしくは累積膜からなる有機薄膜。 一般式〔 I 〕 ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、R^1はアリ−レン基、 ▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、
    表等があります▼、▲数式、化学式、表等があります▼
    、 −CO_2−又は−SO_3−を表わし、R^2は−C
    O_2−、−SO_3−又は−CON−を表わし、Aは
    芳香族ヘテロ環を表わし、Dは水素原子又はアルキル基
    を表わす。 Bは単独又はR^2と共同して親水性を示す基を表わす
    。)
  2. (2)請求項1記載の単分子膜もしくは累積膜を重合し
    てなる有機薄膜。
JP2198540A 1989-08-14 1990-07-26 有機薄膜 Pending JPH03197400A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005529734A (ja) * 2002-06-17 2005-10-06 ロディア・シミ 重付加によって架橋され、互いに堅く接着したいくつかのシリコーン部材を備えた組立品の製造方法

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JP2005529734A (ja) * 2002-06-17 2005-10-06 ロディア・シミ 重付加によって架橋され、互いに堅く接着したいくつかのシリコーン部材を備えた組立品の製造方法

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