JPH03195015A - 半導体薄膜形成装置 - Google Patents

半導体薄膜形成装置

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Publication number
JPH03195015A
JPH03195015A JP33569689A JP33569689A JPH03195015A JP H03195015 A JPH03195015 A JP H03195015A JP 33569689 A JP33569689 A JP 33569689A JP 33569689 A JP33569689 A JP 33569689A JP H03195015 A JPH03195015 A JP H03195015A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
thin film
vibration
semiconductor thin
support rod
Prior art date
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Pending
Application number
JP33569689A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Yamada
武 山田
Hideo Sugiura
杉浦 英雄
Ryuzo Iga
龍三 伊賀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
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  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体薄膜を成長させる際に基板上に光を照
射し薄膜成長反応を促進することにより、部分的に厚い
、もしくは部分的にのみ成長した半導体薄膜を形成する
半導体l1lI形成装置に関する。
(従来の技術) オプトエレクトロニクス用をはじめとした半導体素子の
高度化、高機能化にともない、その作製プロセスは複雑
化の一途をたどっている。そのプロセスの簡易化のため
、素子構造の提案のみならず半導体薄膜製造プロセスの
提案もなされている。
たとえばアブライドフィジクスレターズ(Applie
dPhysics Letters ) 54@4号(
1989年)335頁にあるように、半導体薄膜を形成
する際に、有機金属分子線エピタキシー(MOMBE)
装置内の半導体基板上に、部分的に光を照射することに
より、半導体基板上の一部に選択的に半導体薄膜を形成
する技術が開発されている。
(発明が解決しようとする課題) この半導体薄膜形成方法を用いて微細な形状を選択的に
成長させるにはレーザーやレンズ、ミラーなどの光学系
と、成長装置の相対的位置関係を一定に保つことが重要
であり、そのため光学系と成長装置は除震台上に設置さ
れていた。しかるに除震台上に設置されたこれらレーザ
ーや成長装置は電源、冷却、真空排気などの必要上、必
ず除震台外部と接続されていた。そのため外部の振動が
、これら電源コード、冷却水配管、真空排気系配管など
を通じて除震台上の成長装置などに伝わっていた、一方
、従来の装置においては、成長装置内の基板回転加熱部
は、−本の棒を主たる構成要素とした支持棒にのみより
支持されていた。そのため除震台外部から伝わってきた
振動は、容易にこの基板回転加熱部を振動させ、光学系
と成長装置内の基板との距離を一定に保つことが困難で
あり、微細な形状を選択的に成長させることが困難であ
った0例えば、2本のレーザビームを干渉させDFBレ
ーザ用の回折格子を成長させる場合においては、0.3
から0.5μmの微細な形状の成長が必要であり、基板
を保持する基板ホルダ、基板回転加熱部の振動はこの形
状よりも十分に小さい値である必要があるため、従来の
装置では成長が不可能であった。
本発明は上記の欠点を改善するために提案されたもので
、その目的は、半導体基板に光を照射しながら半導体薄
膜を選択的に成長させる装置において、微細な形状を成
長するため?lOMBE装置内の基板の振動を最小限に
抑えることにある。
(課題を解決するための手段) 上記の目的を達成するため、本発明は有機金属分子線エ
ピタキシー(MOMBB )装置と、該MOMBE装置
内の基板を照射するためのレーザー光学系とを除震台上
に設置した半導体薄膜形成装置において、基板回転加熱
部を同一方向から少なくとも2本以上の支持棒で支持し
たことを特徴とする半導体薄膜形成装置を発明の要旨と
するものである。
(作 用) 本発明は、除震台上に設置した成長装置内の基板回転加
熱部を、2本以上の支持棒で支持したことにより、基板
の振動を減少させることができる。
(実施例) 次に本発明の実施例について説明する。
なお実施例は一つの例示であって、本発明の精神を逸脱
しない範囲で、種々の変更あるいは改良を行いうること
は云うまでもない。
第1図は本発明の一実施例の概略図である。図において
1は基板ホルダ、2は基板回転加熱部、3は窓、4はメ
インチャンバ、5は主支持棒、6は副支持環である。サ
ブチャンバから導入された基板ホルダ1は基板回転加熱
部2に装着される。
次に基板ホルダ1は、回転機構を備えた主支持棒5を用
いて必要な位置に設置される0次に副支持環6を用いて
基板回転加熱部2をさらに支持する。
副支持環6を用いての保持方法としては、副支持環6の
先端を凹状または凸状とし、基板回転加熱部2の嵌合部
に必要であれば逆の形状を設置し、これをスプリングを
用いたり、または用いないで押し付ける方法、または副
支持環6と基板回転加熱部2の間にワイヤなどを設置し
、これを引っ張ったり緩めたりする方法などがあるが、
これに限定するものではない、このように2ケ所以上で
の保持により基板回転加熱部すなわち基板の振動は最小
限に抑えることができる。また第1図においては2ケ所
での保持の例を示したが、これを3ケ所などさらに増加
させることにより、さらに振動を抑えることが可能であ
る。以下、実施例により説明する。
(実施例1) 第1図に示した構造の成長装置を用いた。基板回転加熱
部2の保持方法としては主支持棒5の他に副支持環6の
先端を凸状とし、これを基板回転加熱部2に設けた凹部
にスプリングで押し付けた。
これを成長中と同一条件、すなわち真空に排気を行いな
がら、レーザーを照射した。この状態で、非接触で基板
の振動の振幅を測定した結果、振幅は0.1μm以下で
あった。
(比較例) 第1図に示した成長装置を用い、副支持環6を用いず主
支持棒5のみで基板回転加熱部2を保持した。他は実施
例1と同一条件で基板の振動の振幅を測定した。その結
果、振幅は約2μmであった。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば半導体基板に光を
照射しながら半導体薄膜を選択的に成長させるMOMB
E装置において、除震台上に設置した成長装置内の基板
回転加熱部を、2本以上の支持棒で支持したことにより
、基板の振動を減少させ、光学系と基板との距離を一定
とすることができ、微細な形状を有する半導体薄膜を形
成することが可能である。さらに本発明では、メインチ
ャンバ自体を改造して特別な部品を装着する必要がなく
、基板回転加熱部、支持棒が一体となったフランジを更
改することにより、どんな真空装置も適用可能である。
したがって、DFB、DBRレーザの作製をはじめとし
たオプトエレクトロニクス用半導体部品の作製に有用で
あるばかりでな(、シリコン上へのパターン化されたG
aAs ii膜やInP薄膜の形成にも有用である効果
を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の概略図である。 1・・・基板ホルダ、2・・・基板回転加熱部、3・・
・窓、4・・・メインチャンバ、5・・・主支持棒、6
・・・副支持棒。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 有機金属分子線エピタキシー(MOMBE)装置と、該
    MOMBE装置内の基板を照射するためのレーザー光学
    系とを除震台上に設置した半導体薄膜形成装置において
    、基板回転加熱部を同一方向から少なくとも2本以上の
    支持棒で支持したことを特徴とする半導体薄膜形成装置
JP33569689A 1989-12-25 1989-12-25 半導体薄膜形成装置 Pending JPH03195015A (ja)

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JP33569689A JPH03195015A (ja) 1989-12-25 1989-12-25 半導体薄膜形成装置

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JP33569689A JPH03195015A (ja) 1989-12-25 1989-12-25 半導体薄膜形成装置

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JPH03195015A true JPH03195015A (ja) 1991-08-26

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JP33569689A Pending JPH03195015A (ja) 1989-12-25 1989-12-25 半導体薄膜形成装置

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