JPH0318814A - 光―光変換素子の駆動方法 - Google Patents
光―光変換素子の駆動方法Info
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- JPH0318814A JPH0318814A JP15377389A JP15377389A JPH0318814A JP H0318814 A JPH0318814 A JP H0318814A JP 15377389 A JP15377389 A JP 15377389A JP 15377389 A JP15377389 A JP 15377389A JP H0318814 A JPH0318814 A JP H0318814A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(l#業上の利用分野)
本発明はill像装置や光書込み投影装置、光コンピュ
ータなどに好適な光−光変換素子に入りされた光情報な
どの電磁放射線情報を光−光変換する光−光変換素子の
駆動方法に関する。
ータなどに好適な光−光変換素子に入りされた光情報な
どの電磁放射線情報を光−光変換する光−光変換素子の
駆動方法に関する。
(従来の技術)
被写体の光学像を入力し、出力としても光学像が出力で
きるように構成されている光−光変換素子としては、例
えば液晶型光変調器、光導電性ポッケルス効果素子、マ
イクロチャンネル型光変調器などのような空間変調素子
、あるいはフォトクロミック材を用いて構成された素子
というように各種の構成形態のものが、例えば、光虐込
み投影装置、光コンピュータの光並列処理のための素子
、画像の記録用の素子などとして従来から注目されて来
ており、また、本出願人会社では光−光変換素子を用い
た高解像度の搬像VR1tについての提案も行なってい
る。
きるように構成されている光−光変換素子としては、例
えば液晶型光変調器、光導電性ポッケルス効果素子、マ
イクロチャンネル型光変調器などのような空間変調素子
、あるいはフォトクロミック材を用いて構成された素子
というように各種の構成形態のものが、例えば、光虐込
み投影装置、光コンピュータの光並列処理のための素子
、画像の記録用の素子などとして従来から注目されて来
ており、また、本出願人会社では光−光変換素子を用い
た高解像度の搬像VR1tについての提案も行なってい
る。
第5図は本出願人の提案による光−光変換素子を用いて
構成された撮像1flの構成を示す個所面図である。
構成された撮像1flの構成を示す個所面図である。
同図において、0は被写体、しは撮像レンズ、1は光−
光変換素子、2はビームスプリッタ、3は波長板、4は
検光子、5は偏向子、6は半導体レーザ素子などの読出
し光源、Pjは読出し光である。
光変換素子、2はビームスプリッタ、3は波長板、4は
検光子、5は偏向子、6は半導体レーザ素子などの読出
し光源、Pjは読出し光である。
第5図に例示されている光−光変換素子1を川いて構成
されている撮像9AIi!において、被写体0の光学像
は撮像レンズしによって光−光変換素子1に対して書込
み光として入射される。
されている撮像9AIi!において、被写体0の光学像
は撮像レンズしによって光−光変換素子1に対して書込
み光として入射される。
第5図の光−光変換素子1の各構成部分において、[t
l及びEt2は透明電極、PCLは光導電層部材、DM
Lは誘電体ミラー、PMLは印加された電界の強度分布
に応じて光の状態を変化させる光学部材である光変調材
1!l(例えば、ニオブ酸リチウム単結晶、 !*?宋
型卓型ネマチック液晶層VSは電源、SWはスイッチで
あって、前記の透明電極EtlとEt2との間には所定
の電界が発生されるようになされている。前記の構成部
分は適当な構成の昭和に収容されて、光1!I電層部材
PCLに不要な外光が当らないようにする。
l及びEt2は透明電極、PCLは光導電層部材、DM
Lは誘電体ミラー、PMLは印加された電界の強度分布
に応じて光の状態を変化させる光学部材である光変調材
1!l(例えば、ニオブ酸リチウム単結晶、 !*?宋
型卓型ネマチック液晶層VSは電源、SWはスイッチで
あって、前記の透明電極EtlとEt2との間には所定
の電界が発生されるようになされている。前記の構成部
分は適当な構成の昭和に収容されて、光1!I電層部材
PCLに不要な外光が当らないようにする。
前記した透明電極Et1は、撮像の対象にされるべき光
情報の波長帯の光が透過しうるような分光透過特性を有
するような透明電極(例えば、l To)として構成さ
れており、また、前記した光導電層部材PCLとしては
それの一方の端面に高精細度の光学像が与えられた場合
に、過当な強度の電界の印加の下において、他方の端面
に対して高精11度のm59sts度分布を発生させる
ことができるような特性を有する光導電体材料(例えば
、アモルファス・シリコン)を用いて作られたものが使
用される。
情報の波長帯の光が透過しうるような分光透過特性を有
するような透明電極(例えば、l To)として構成さ
れており、また、前記した光導電層部材PCLとしては
それの一方の端面に高精細度の光学像が与えられた場合
に、過当な強度の電界の印加の下において、他方の端面
に対して高精11度のm59sts度分布を発生させる
ことができるような特性を有する光導電体材料(例えば
、アモルファス・シリコン)を用いて作られたものが使
用される。
N像レンズ[を介して光−光変換素子1の透明電極1口
側に入射した光束が透明Ti1Etlを透過して光11
m111部材PCLに入射すると、光導電層部材PCL
の電気抵抗値はそれに入射した光束の光量に応じて変化
するから、光導電層部材PCLの各部の電気抵抗値は被
写体の各部の光量と対応して変化している状態になる。
側に入射した光束が透明Ti1Etlを透過して光11
m111部材PCLに入射すると、光導電層部材PCL
の電気抵抗値はそれに入射した光束の光量に応じて変化
するから、光導電層部材PCLの各部の電気抵抗値は被
写体の各部の光量と対応して変化している状態になる。
そして、光−光変換素子1における透明電極1口とEt
2との間には凰述のようにスイッチSWを介して電源V
Sによって所定の電圧が与えられているから、前記した
光S電JPj部材PCLと誘雷体ミラーDMLを介して
対向するように設けられている光変調材層PMLは、入
射光による光学像と対応した強度分布の電界(電圧v鴎
)が加わっている状態になされている。
2との間には凰述のようにスイッチSWを介して電源V
Sによって所定の電圧が与えられているから、前記した
光S電JPj部材PCLと誘雷体ミラーDMLを介して
対向するように設けられている光変調材層PMLは、入
射光による光学像と対応した強度分布の電界(電圧v鴎
)が加わっている状態になされている。
そして、光変調材層PMLがニオブ酸リチウムの結晶の
場合には、ニオブ酸リチウムの結晶の屈折率は、電気光
学効果により電界に応じて変化するから、既述した入射
光による光学像の占込みにより光−光変換素子1におけ
る光導電層部材PCLにおいて入射光による光学像と対
応して生じたインピーダンス変化にもとづく電界強度分
布に応じて変化しているものになる。
場合には、ニオブ酸リチウムの結晶の屈折率は、電気光
学効果により電界に応じて変化するから、既述した入射
光による光学像の占込みにより光−光変換素子1におけ
る光導電層部材PCLにおいて入射光による光学像と対
応して生じたインピーダンス変化にもとづく電界強度分
布に応じて変化しているものになる。
上記のように光−光変換素子1にお昏プる入射光による
光学像と対応した強度分布の電界が加わっている状態に
なされている光度v4材層PMLに、読出し光源6から
放射されたレーザ光などの読出し光PLを偏光子5を透
過させた後にビームスプリッタ2で反射させて光−光変
換素子1における電極Et2の側から入射させることで
、入射光による光学像に対応して光変調される。
光学像と対応した強度分布の電界が加わっている状態に
なされている光度v4材層PMLに、読出し光源6から
放射されたレーザ光などの読出し光PLを偏光子5を透
過させた後にビームスプリッタ2で反射させて光−光変
換素子1における電極Et2の側から入射させることで
、入射光による光学像に対応して光変調される。
例えば、複屈折効果の電気光学効果を示す光変調材層の
部材(ニオブ酸リチウムの結晶など)ならば、誘電体ミ
ラーDMLで反射してきた読出し光P4を波長板3を透
過させた後に検光子4に通過させることによって、強度
情報(再生画像)として検出することができる。
部材(ニオブ酸リチウムの結晶など)ならば、誘電体ミ
ラーDMLで反射してきた読出し光P4を波長板3を透
過させた後に検光子4に通過させることによって、強度
情報(再生画像)として検出することができる。
(発明が解決しようとする課題)
ところで、前記した光−光変換素子1における光変調材
層(例えば、ニオブ酸リチウム単結晶LiNb0:+、
BSO,KDP、DKDPなど)PMLの印加電圧Vl
と一次電気光学効果との関係は、光変調材層(例えば、
ニオブ酸リチウム単結晶)PMLの印加電圧Vlと、光
変調材層(例えば、ニオブ酸リチウム単結晶)PMLを
通過した光をさらに波長板3及び検光子4を通過させた
光の光IIとについて示すと第6図に例示されるような
ものとなる。
層(例えば、ニオブ酸リチウム単結晶LiNb0:+、
BSO,KDP、DKDPなど)PMLの印加電圧Vl
と一次電気光学効果との関係は、光変調材層(例えば、
ニオブ酸リチウム単結晶)PMLの印加電圧Vlと、光
変調材層(例えば、ニオブ酸リチウム単結晶)PMLを
通過した光をさらに波長板3及び検光子4を通過させた
光の光IIとについて示すと第6図に例示されるような
ものとなる。
また、第7図は光−光変換素子1における光変調材層と
して電界効果形ネマチック液晶などを使用して構成され
ている光−光変換素子1からの出力光をさらに波長板3
を透過させた後に検光子4を通過させた光の光ff1l
と、電界効果形ネマチック液晶に印加された電圧Vlと
の関係とを例示したものである。
して電界効果形ネマチック液晶などを使用して構成され
ている光−光変換素子1からの出力光をさらに波長板3
を透過させた後に検光子4を通過させた光の光ff1l
と、電界効果形ネマチック液晶に印加された電圧Vlと
の関係とを例示したものである。
第6図及び第7図中で図中の縦方向に時間軸が示されて
いる波形は被写体の光学像と対応して光変調材層に印加
された電圧の変化波形を示しており、また、第6図及び
第7図中の横方向に時間軸が示されている波形は被写体
の光学像と対応して光変調材層に印加された電圧の変化
と対応して光量が変化している検光子からの出力光を示
している。
いる波形は被写体の光学像と対応して光変調材層に印加
された電圧の変化波形を示しており、また、第6図及び
第7図中の横方向に時間軸が示されている波形は被写体
の光学像と対応して光変調材層に印加された電圧の変化
と対応して光量が変化している検光子からの出力光を示
している。
第6図及び第7図を自照すれば判かるように、光変LI
S材の特性において光変調部材の動作点は、波長板3又
は検光子4の状態によって選択できるので、入力される
被写体の光学像の光学的な情報の黒レベルは、読出し時
も光学的な情報の黒レベルとしてそのまま再生できる。
S材の特性において光変調部材の動作点は、波長板3又
は検光子4の状態によって選択できるので、入力される
被写体の光学像の光学的な情報の黒レベルは、読出し時
も光学的な情報の黒レベルとしてそのまま再生できる。
ところが、光変調部材においての光変調効果が、例えば
散乱タイプの液晶、@乱モードのPLZTなどのように
散乱モードを用いた場合には、その動作点は波長板3や
検光子4の状態によって設定することができない。
散乱タイプの液晶、@乱モードのPLZTなどのように
散乱モードを用いた場合には、その動作点は波長板3や
検光子4の状態によって設定することができない。
そこで、本発明は上記した従来の技術に鑑みて、散乱タ
イプの光変調部材を用いた光−光変換素子においても読
出し画像情報(再生画像)の黒レベルを設定でき、^コ
ントラストで読出し再生することができるようになる光
−光変換素子の駆動方法を提供することを目的とする。
イプの光変調部材を用いた光−光変換素子においても読
出し画像情報(再生画像)の黒レベルを設定でき、^コ
ントラストで読出し再生することができるようになる光
−光変換素子の駆動方法を提供することを目的とする。
(s1題を解決するための手段)
本発明は上記の目的を達成するために、所定の電圧が与
えられている2つの電極の間に少なくとも光導電層部材
及び光変調材層部材を積層配置してなる光−光変換素子
を用いて、入力される電磁放射線情報を光−光変換する
光−光変換集子の駆動方法において、前記光変調材層部
材を、その動作しきい値近傍でバイアス駆動するように
したことを特徴とする光−光変換素子の駆動方法を提供
するものである。
えられている2つの電極の間に少なくとも光導電層部材
及び光変調材層部材を積層配置してなる光−光変換素子
を用いて、入力される電磁放射線情報を光−光変換する
光−光変換集子の駆動方法において、前記光変調材層部
材を、その動作しきい値近傍でバイアス駆動するように
したことを特徴とする光−光変換素子の駆動方法を提供
するものである。
(実 施 例)
以下、添付図面を参照して本発明の光−光変換素子の駆
動方法の具体的な内容について詳細に説明する。
動方法の具体的な内容について詳細に説明する。
本発明の光−光変換素子の駆動方法は、例えば第1図に
示されているような光−光変換素子を用いて構成させた
II像装置に適用されるものである。
示されているような光−光変換素子を用いて構成させた
II像装置に適用されるものである。
第1図に示されている光−光変換素子10は、光変調材
層PMLとして例えば散乱モード液82散乱モードPL
ZTなどのような散乱タイプの液晶層を用いており、そ
の他は既述の第5図に示されている光−光変換素子1と
同様に透明電極Et1゜Et2、光導電層部材PCL、
誘電体ミラーDML。
層PMLとして例えば散乱モード液82散乱モードPL
ZTなどのような散乱タイプの液晶層を用いており、そ
の他は既述の第5図に示されている光−光変換素子1と
同様に透明電極Et1゜Et2、光導電層部材PCL、
誘電体ミラーDML。
スイッチSW、電[Vsなどの各構成部分で構成されて
いて、前記の透明電極EtlとEt2との間にスイッチ
SWを介して接続されている?tf IQ V Sによ
って前記した透明電極Et1とEt2どの間に所定の電
界が発生されるようになされており、また、前記の構成
部分は適当な構成の暗箱に収容されて、光導電11部4
1PCLに不要な外光が当らないようにされている。ま
た、7Ii源Vsは交流r@源であっても良い。
いて、前記の透明電極EtlとEt2との間にスイッチ
SWを介して接続されている?tf IQ V Sによ
って前記した透明電極Et1とEt2どの間に所定の電
界が発生されるようになされており、また、前記の構成
部分は適当な構成の暗箱に収容されて、光導電11部4
1PCLに不要な外光が当らないようにされている。ま
た、7Ii源Vsは交流r@源であっても良い。
前記した透明電極Et1は、縄像の対像にされるべき光
情報の波長帯の光が透過しうるような分光透過特性を有
するような透明電極(例えば、ITO)であり、また、
前記した光導電層部材PCLとしてはそれの一方の端面
にIX精細度の光学像が与えられたja@に、適当な強
度の電界の印加の下において、他方の端面に対して高精
細度の電界強度分布を発生させることができるような特
性を有する光導電体材料(例えば、アモルファス・シリ
コン)で構成されたものが使用される。
情報の波長帯の光が透過しうるような分光透過特性を有
するような透明電極(例えば、ITO)であり、また、
前記した光導電層部材PCLとしてはそれの一方の端面
にIX精細度の光学像が与えられたja@に、適当な強
度の電界の印加の下において、他方の端面に対して高精
細度の電界強度分布を発生させることができるような特
性を有する光導電体材料(例えば、アモルファス・シリ
コン)で構成されたものが使用される。
amレンズ[を介して光−光変換素子10の透明ff1
liEtl側に入射した光束が透明電極Etlを透過し
て光導電層部材PCLに入射すると、光111層部材P
CLの電気抵抗値はそれに入射した光束の光量に応じて
変化するから、光導電層部材PCLの各部の電気抵抗値
は被写体の各部の光量と対応して変化している状態にな
る。
liEtl側に入射した光束が透明電極Etlを透過し
て光導電層部材PCLに入射すると、光111層部材P
CLの電気抵抗値はそれに入射した光束の光量に応じて
変化するから、光導電層部材PCLの各部の電気抵抗値
は被写体の各部の光量と対応して変化している状態にな
る。
そして、光−光変換素子10における透明電極Etlと
Et2どの間には既述の第5図に示されている光−光変
換素子1と同様にスイッチSWを介して電aVsによっ
て所定の電圧が与えられているから、前記した光導電層
部材PGLとX電体ミラーDMLを介して対向するよう
に設けられている光変調材層PMLは、入射光による光
学像と対応した強度分布の電界(電圧Vl)が加わって
いる状態になされている。
Et2どの間には既述の第5図に示されている光−光変
換素子1と同様にスイッチSWを介して電aVsによっ
て所定の電圧が与えられているから、前記した光導電層
部材PGLとX電体ミラーDMLを介して対向するよう
に設けられている光変調材層PMLは、入射光による光
学像と対応した強度分布の電界(電圧Vl)が加わって
いる状態になされている。
上記した光−光変換素子10における入射光による光学
像と対応した強度分布の電界が加わっている状態になさ
れている先夜:lUw4PMLに、読出し光源6から放
射されたレーザ光などの読出し光PAをビームスプリッ
タ2で反射させて光−光変換素子10における透明電極
Et2の側から入射させることで、入射光による光学像
に対応して光変調される。
像と対応した強度分布の電界が加わっている状態になさ
れている先夜:lUw4PMLに、読出し光源6から放
射されたレーザ光などの読出し光PAをビームスプリッ
タ2で反射させて光−光変換素子10における透明電極
Et2の側から入射させることで、入射光による光学像
に対応して光変調される。
例えば、散乱モード液晶、散乱セードPLZTなどのよ
うな散乱タイプの液晶層を用いた光変調材層の部材なら
ば、:Jh電体ミラーDMLで反射してきた読出し光P
jをそのまま強度情報(再生画像)として検出すること
ができる。
うな散乱タイプの液晶層を用いた光変調材層の部材なら
ば、:Jh電体ミラーDMLで反射してきた読出し光P
jをそのまま強度情報(再生画像)として検出すること
ができる。
ところで、光−光変換素子1Gにおける光変調材II(
例エバ、散乱モート液M、muE−t’PLZTなどの
ような散乱タイプの光変調材層)PMLの印加電圧v−
と、この先夜1JII[PMLを通過した光の光ff1
(l取り光ff1)lとについての特性を示すと第2図
に例示されるようにものとなる。
例エバ、散乱モート液M、muE−t’PLZTなどの
ような散乱タイプの光変調材層)PMLの印加電圧v−
と、この先夜1JII[PMLを通過した光の光ff1
(l取り光ff1)lとについての特性を示すと第2図
に例示されるようにものとなる。
第2図を参照すれば判かるように、その特性は、しきい
値電圧V を持ら、このしきい値電圧v■■ より大きな電圧が印加されると動作する。
値電圧V を持ら、このしきい値電圧v■■ より大きな電圧が印加されると動作する。
例えば、散乱モード液晶、ni!乱モードPLZTなど
のような散乱タイプの光変調材層よりなる光変調材層P
MLを用いた光−光変換素子10における構成膜厚、イ
ンピーダンス及び駆動電圧の設定により、光変調@層P
MLの動作点が第3図に示す如く点へにあったとする。
のような散乱タイプの光変調材層よりなる光変調材層P
MLを用いた光−光変換素子10における構成膜厚、イ
ンピーダンス及び駆動電圧の設定により、光変調@層P
MLの動作点が第3図に示す如く点へにあったとする。
そして、その信号成分をΔAとすると、信号成分の黒(
すなわち、被写体の光学像の黒レベル)は、読取り時に
は黒(すなわち、光学的な情報の黒レベル)として再生
されない。
すなわち、被写体の光学像の黒レベル)は、読取り時に
は黒(すなわち、光学的な情報の黒レベル)として再生
されない。
従って、この光をそのまま光を変換して得た映像信号を
モニタ受像機によって映出してもコントラスト比の小さ
な画像しか得られない。また、被写体の光学像の黒であ
る光学情報と光電変換されて得られた映像信号における
黒レベルの対応が不明確となり、これをモニタ受像機に
よって映出した時、本来の黒が黒でなくなったりする。
モニタ受像機によって映出してもコントラスト比の小さ
な画像しか得られない。また、被写体の光学像の黒であ
る光学情報と光電変換されて得られた映像信号における
黒レベルの対応が不明確となり、これをモニタ受像機に
よって映出した時、本来の黒が黒でなくなったりする。
そこで、本発明では、光−光変換素子10における構成
mg、駆仙電圧及び光変調材の組成を変化させ(例えば
、高分子/液晶複合膜においては、高分子ポリマと液晶
との混合比を変化させて特性を変え)、光変調材の動作
点を変化させ、第4図に示すように、信号成分の黒を光
変調材の特性のしきい値市ルv■以下に設定することで
、読取り情報(再生画像)においても黒く光学的な情報
の黒レベル)として再生できるようにする。
mg、駆仙電圧及び光変調材の組成を変化させ(例えば
、高分子/液晶複合膜においては、高分子ポリマと液晶
との混合比を変化させて特性を変え)、光変調材の動作
点を変化させ、第4図に示すように、信号成分の黒を光
変調材の特性のしきい値市ルv■以下に設定することで
、読取り情報(再生画像)においても黒く光学的な情報
の黒レベル)として再生できるようにする。
また、設定された構成においては、電圧を設定すること
で動作点を決めることができる。更に、交流と直流バイ
アスを組合わせ【も良い。更にまた、光導電層部材PC
Lと光変調材IWPMLとの聞にメツシュ電極を設け、
このメツシュ電極と透明電極Et2との間にバイアス用
電源を設けて設定することもできる。
で動作点を決めることができる。更に、交流と直流バイ
アスを組合わせ【も良い。更にまた、光導電層部材PC
Lと光変調材IWPMLとの聞にメツシュ電極を設け、
このメツシュ電極と透明電極Et2との間にバイアス用
電源を設けて設定することもできる。
以上のように、光変調材をその動作しきい値以下(ある
いは、動作しぎい値やその上側近傍)でバイアス駆動す
ることにより、特に散乱タイプの光変調部材を用いた光
−光変換素子においても読出し画像情報(再生画像)の
黒レベルを設定でさ、高コン)・ラストで読出し再生す
ることができる。
いは、動作しぎい値やその上側近傍)でバイアス駆動す
ることにより、特に散乱タイプの光変調部材を用いた光
−光変換素子においても読出し画像情報(再生画像)の
黒レベルを設定でさ、高コン)・ラストで読出し再生す
ることができる。
なお、本発明において光−光変換系fに入力される情報
は、被写体の光学像に限らず、xiやγ線やラジオ波な
どのその他の電磁放射線によるもので良い。
は、被写体の光学像に限らず、xiやγ線やラジオ波な
どのその他の電磁放射線によるもので良い。
また、本発明は顕像装置のみならず、表示装置。
光コンピュータなどに使用できることは言うまでもない
。
。
(発明の効果)
以上、詳細に説明したところから明らかなように、本発
明の光−光変換素子の駆動方法では、先妻11i1部材
をその動作しきい値近傍でバイアス駆動することにより
、特に散乱タイプの光変調層部材を用いた光−光変換素
子においても読出し画像情報(再生画像)の黒レベルを
設定でき、高コントラストで読出し再生することができ
、これを映11I信号としてモニタ受像機に供給すれば
コントラスト比の大きな再生画像がデイスプレィ上に映
出でき、本発明によれば既述した従来の問題点は良好に
解決できる。
明の光−光変換素子の駆動方法では、先妻11i1部材
をその動作しきい値近傍でバイアス駆動することにより
、特に散乱タイプの光変調層部材を用いた光−光変換素
子においても読出し画像情報(再生画像)の黒レベルを
設定でき、高コントラストで読出し再生することができ
、これを映11I信号としてモニタ受像機に供給すれば
コントラスト比の大きな再生画像がデイスプレィ上に映
出でき、本発明によれば既述した従来の問題点は良好に
解決できる。
第1図は本発明の光−光変換素子の駆動方法を適用する
光−光変換素子を用いて構成させた撮像装置の構成の一
例を示す側断面図、第2図、第3図及び第4図は本発明
の説明用の特性曲線例図、第5図は光−光変換素子を用
いて構成された撮像装置の構成を示す側断面図、第6図
及び第7図は説明用の特性曲線例図である。 1.10・・・光−光変換素子、 2・・・ビームスプリッタ、3・・・波長板、4・・・
検光子、5・・・偏光子、6・・・読出し光源、DML
・・・誘電体ミラー、Etl、Et2・・・透明主桟、
■・・・検光子を通過した光の光量または読取り光量、
L・・・IIl像レンズ、PCL・・・光導電層部材、
P4・・・読取り光、PML・・・光変調0層、SP・
・・遮光パターン、SW・・・スイッチ、Vl・・・電
界、ys・・・電源。 第 図 第 図 茅 ■ 第 孕 躬
光−光変換素子を用いて構成させた撮像装置の構成の一
例を示す側断面図、第2図、第3図及び第4図は本発明
の説明用の特性曲線例図、第5図は光−光変換素子を用
いて構成された撮像装置の構成を示す側断面図、第6図
及び第7図は説明用の特性曲線例図である。 1.10・・・光−光変換素子、 2・・・ビームスプリッタ、3・・・波長板、4・・・
検光子、5・・・偏光子、6・・・読出し光源、DML
・・・誘電体ミラー、Etl、Et2・・・透明主桟、
■・・・検光子を通過した光の光量または読取り光量、
L・・・IIl像レンズ、PCL・・・光導電層部材、
P4・・・読取り光、PML・・・光変調0層、SP・
・・遮光パターン、SW・・・スイッチ、Vl・・・電
界、ys・・・電源。 第 図 第 図 茅 ■ 第 孕 躬
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 所定の電圧が与えられている2つの電極の間に少なくと
も光導電層部材及び光変調材層部材を積層配置してなる
光−光変換素子を用いて、入力される電磁放射線情報を
光−光変換する光−光変換素子の駆動方法において、 前記光変調材層部材を、その動作しきい値近傍でバイア
ス駆動するようにしたことを特徴とする光−光変換素子
の駆動方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15377389A JPH0318814A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 光―光変換素子の駆動方法 |
DE69033255T DE69033255T2 (de) | 1989-06-16 | 1990-06-15 | Opto-optischer Wandler |
EP95200357A EP0657764B1 (en) | 1989-06-16 | 1990-06-15 | Photo-to-photo transducer |
EP90306574A EP0403307B1 (en) | 1989-06-16 | 1990-06-15 | Method for operating photo-to-photo transducer |
DE69024266T DE69024266T2 (de) | 1989-06-16 | 1990-06-15 | Verfahren zur Steuerung eines opto-optischen Wandlers |
US07/538,979 US5159456A (en) | 1989-06-16 | 1990-06-15 | Photo-to-photo transducer and method of operation using a photo-moldulation member affected by a change distribution in a photoconductive member and a voltage applied across electrodes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15377389A JPH0318814A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 光―光変換素子の駆動方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0318814A true JPH0318814A (ja) | 1991-01-28 |
Family
ID=15569824
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15377389A Pending JPH0318814A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 光―光変換素子の駆動方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0318814A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5831462A (en) * | 1995-03-08 | 1998-11-03 | Advanced Micro Devices, Inc. | Conditional latching mechanism and pipelined microprocessor employing the same |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60117222A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-24 | Hamamatsu Photonics Kk | 画像間の否定論理和を求める否定論理和演算装置 |
JPH01129581A (ja) * | 1987-11-13 | 1989-05-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像表示装置の駆動方法 |
JPH01134349A (ja) * | 1987-11-19 | 1989-05-26 | Tdk Corp | 光導波路スイッチ駆動回路 |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP15377389A patent/JPH0318814A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60117222A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-24 | Hamamatsu Photonics Kk | 画像間の否定論理和を求める否定論理和演算装置 |
JPH01129581A (ja) * | 1987-11-13 | 1989-05-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像表示装置の駆動方法 |
JPH01134349A (ja) * | 1987-11-19 | 1989-05-26 | Tdk Corp | 光導波路スイッチ駆動回路 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5831462A (en) * | 1995-03-08 | 1998-11-03 | Advanced Micro Devices, Inc. | Conditional latching mechanism and pipelined microprocessor employing the same |
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