JPH03177828A - 視線検出装置の視線検出方法 - Google Patents
視線検出装置の視線検出方法Info
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- JPH03177828A JPH03177828A JP1316468A JP31646889A JPH03177828A JP H03177828 A JPH03177828 A JP H03177828A JP 1316468 A JP1316468 A JP 1316468A JP 31646889 A JP31646889 A JP 31646889A JP H03177828 A JPH03177828 A JP H03177828A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B2213/00—Viewfinders; Focusing aids for cameras; Means for focusing for cameras; Autofocus systems for cameras
- G03B2213/02—Viewfinders
- G03B2213/025—Sightline detection
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、第一プルキンエ像に対応するピーク成分と眼
底からの反射光束に対応する信号成分とを含む光電変換
信号分布曲線を得る段階と、光電変換信号分布曲線を信
号処理して第一プルキンエ像の位置を検出する段階と、
第一プルキンエ像を含む信号成分を信号処理の対象から
除外して眼の虹彩の縁の位置を検出する段階と、瞳孔の
縁の位置に基づき瞳孔中心を求め、瞳孔中心と第一プル
キンエ像との位置関係から視線の方向を検出する段階と
からなる視線検出装置の視線検出方法の改良に関する。
底からの反射光束に対応する信号成分とを含む光電変換
信号分布曲線を得る段階と、光電変換信号分布曲線を信
号処理して第一プルキンエ像の位置を検出する段階と、
第一プルキンエ像を含む信号成分を信号処理の対象から
除外して眼の虹彩の縁の位置を検出する段階と、瞳孔の
縁の位置に基づき瞳孔中心を求め、瞳孔中心と第一プル
キンエ像との位置関係から視線の方向を検出する段階と
からなる視線検出装置の視線検出方法の改良に関する。
（従来の技術）
近時、カメラ、たとえば、−眼レフレックスカメラでは
、ファインダーの視野内に複数個の合焦ゾーンを設ける
と共に、その複数個の合焦ゾーンと光学的に略共役な位
置に、そのファインダーの各合焦ゾーンに対応するオー
トフォーカス光学系の合焦視野を設け、撮影者の視線が
向けられた方向にある合焦ゾーンを選択し、その選択さ
れた合焦ゾーンに対応するオートフォーカス光学系を用
いて、その選択された合焦ゾーンに重なって見える被写
体に対する合焦情報に基づいて被写体に対する合焦を行
うものが提案されつつある（特願昭６３−１４３２５９
号参照）。
、ファインダーの視野内に複数個の合焦ゾーンを設ける
と共に、その複数個の合焦ゾーンと光学的に略共役な位
置に、そのファインダーの各合焦ゾーンに対応するオー
トフォーカス光学系の合焦視野を設け、撮影者の視線が
向けられた方向にある合焦ゾーンを選択し、その選択さ
れた合焦ゾーンに対応するオートフォーカス光学系を用
いて、その選択された合焦ゾーンに重なって見える被写
体に対する合焦情報に基づいて被写体に対する合焦を行
うものが提案されつつある（特願昭６３−１４３２５９
号参照）。
その視線の方向を検出するために、従来の説明において
は図示を略す送光系を用いて平行光束を撮影者の眼に照
射し、その眼からの反射光束を受光系の一次元ラインセ
ンサ（Ｃ０Ｄ）を用いて受光し、第１Ｏ図に示すように
、反射強度の最も大きい第一プルキンエ像に対応するピ
ーク成分１と眼底からの反射光束に対応する信号成分２
とを含む光電変換信号分布曲線３を得、光電変換信号分
布曲線３を信号処理して第一プルキンエ像の位置を検出
すると共に、第一プルキンエ像を含む信号成分１を信号
処理の対象から除外して眼の瞳孔の縁の位置を検出し、
瞳孔の縁の位置に基づき瞳孔中心を求め、瞳孔中心と第
一プルキンエ像との位置関係を検出する視線検出装置が
開発されつつある。なお、４は虹彩からの反射光束に基
づく信号成分であり、光電変換信号分布曲線３のすそ野
を形成している。
は図示を略す送光系を用いて平行光束を撮影者の眼に照
射し、その眼からの反射光束を受光系の一次元ラインセ
ンサ（Ｃ０Ｄ）を用いて受光し、第１Ｏ図に示すように
、反射強度の最も大きい第一プルキンエ像に対応するピ
ーク成分１と眼底からの反射光束に対応する信号成分２
とを含む光電変換信号分布曲線３を得、光電変換信号分
布曲線３を信号処理して第一プルキンエ像の位置を検出
すると共に、第一プルキンエ像を含む信号成分１を信号
処理の対象から除外して眼の瞳孔の縁の位置を検出し、
瞳孔の縁の位置に基づき瞳孔中心を求め、瞳孔中心と第
一プルキンエ像との位置関係を検出する視線検出装置が
開発されつつある。なお、４は虹彩からの反射光束に基
づく信号成分であり、光電変換信号分布曲線３のすそ野
を形成している。
ところで、従来は、その光電変換信号分布曲線３を以下
に説明する信号処理を行って視線の方向を検出している
。
に説明する信号処理を行って視線の方向を検出している
。
すなわち、第１１図に示すように、二つのスライスレベ
ルＳＬＩ、ＳＬ２を準備し、スライスレベルＳＬ＋によ
り信号成分２をスライスして瞳孔の縁を求めるための座
標ｉｔ、ｉ２を求め、ピーク成分ｌをスライスして座標
ＰＩＩ、ＰＩ２を求める。そして、座標１１．１２を加
算平均して瞳孔中心を求め、座標Ｐ Ｉ ＩＮ Ｐ
Ｉ ２を加算平均して第一プルキンエ像の位置を求める
。この瞳孔中心の位置と第一プルキンエ像の位置とによ
り視線の方向を検出している（特願昭６２−１４６０６
７号参照）。
ルＳＬＩ、ＳＬ２を準備し、スライスレベルＳＬ＋によ
り信号成分２をスライスして瞳孔の縁を求めるための座
標ｉｔ、ｉ２を求め、ピーク成分ｌをスライスして座標
ＰＩＩ、ＰＩ２を求める。そして、座標１１．１２を加
算平均して瞳孔中心を求め、座標Ｐ Ｉ ＩＮ Ｐ
Ｉ ２を加算平均して第一プルキンエ像の位置を求める
。この瞳孔中心の位置と第一プルキンエ像の位置とによ
り視線の方向を検出している（特願昭６２−１４６０６
７号参照）。
（発明が解決しようとする課題）
ところが、その特願昭６２−１４０６７号に開示の信号
処理の方法は、スライスレベルＳＬ２、ＳＬＩによって
スライスされた位置の二個のビット素子Ｂ Ｉ ｓＢ２
、Ｂｌ’ Ｂ２’のみを用いて座標ＰＩ＋、Ｐ Ｉ２
．１１％ １２を求めるのみであるので、光電変換信
号分布曲線３にノイズが混入した場合にはそのノイズの
影響を受は易いという問題点があった。
処理の方法は、スライスレベルＳＬ２、ＳＬＩによって
スライスされた位置の二個のビット素子Ｂ Ｉ ｓＢ２
、Ｂｌ’ Ｂ２’のみを用いて座標ＰＩ＋、Ｐ Ｉ２
．１１％ １２を求めるのみであるので、光電変換信
号分布曲線３にノイズが混入した場合にはそのノイズの
影響を受は易いという問題点があった。
そこで、第１２図に示すように、同一出力値を呈するビ
ット素子の頻度を求め、最も頻度の多いビット素子の出
力値を分割レベルＢＬに設定し、この分割レベルＢＬを
用いて分割ピーク成分１′ （第１４図参照）と分割信
号成分２′ （第１３図参照）とに分割し、この分割ピ
ーク成分１′と分割信号成分２′とをそれぞれその中央
０２を境に左右に反転させた反転成分を準備する。そし
て、分割ピーク成分１′とこの反転成分とを相互にビッ
ト素子の配列方向にずらして、出力値の差の絶対値を求
める一方、分割信号成分２′とこの反転成分２′とを相
互にビット素子の配列方向にずらして出力値の差の絶対
値を求める０次に、この絶対値が最小である各ビット素
子を分割ピーク成分１′と分割信号成分２′とについて
求め、第１プルキンエ像の位置と瞳孔の中心とを求める
方法が提案された（詳細は特願昭６３−１４３２５９号
参照）、この方法によれば、ノイズの影響を極力除去し
て第一プルキンエ像の位置と瞳孔の中心とを求めること
ができる。
ット素子の頻度を求め、最も頻度の多いビット素子の出
力値を分割レベルＢＬに設定し、この分割レベルＢＬを
用いて分割ピーク成分１′ （第１４図参照）と分割信
号成分２′ （第１３図参照）とに分割し、この分割ピ
ーク成分１′と分割信号成分２′とをそれぞれその中央
０２を境に左右に反転させた反転成分を準備する。そし
て、分割ピーク成分１′とこの反転成分とを相互にビッ
ト素子の配列方向にずらして、出力値の差の絶対値を求
める一方、分割信号成分２′とこの反転成分２′とを相
互にビット素子の配列方向にずらして出力値の差の絶対
値を求める０次に、この絶対値が最小である各ビット素
子を分割ピーク成分１′と分割信号成分２′とについて
求め、第１プルキンエ像の位置と瞳孔の中心とを求める
方法が提案された（詳細は特願昭６３−１４３２５９号
参照）、この方法によれば、ノイズの影響を極力除去し
て第一プルキンエ像の位置と瞳孔の中心とを求めること
ができる。
ところが、この特願昭６３−１４３２５９号に開示の信
号処理方法は、分割ピーク成分１′の分布、分割信号成
分２′の分布が中央を境に左右対称であることが前提と
なっており、視線検出装置の光学系にゴーストが混在し
ている場合には、その対称性が損なわれて、精度良く瞳
孔の中心と第一プルキンエ像の位置とを求め難いという
問題点を残していた。
号処理方法は、分割ピーク成分１′の分布、分割信号成
分２′の分布が中央を境に左右対称であることが前提と
なっており、視線検出装置の光学系にゴーストが混在し
ている場合には、その対称性が損なわれて、精度良く瞳
孔の中心と第一プルキンエ像の位置とを求め難いという
問題点を残していた。
そこで、本発明の目的は、簡単な処理方法を用いて、ノ
イズ、ゴースト等の影響を極力除去し、精度良く視線の
方向を検出することのできる視線検出装置の視線検出方
法を提供することにある。
イズ、ゴースト等の影響を極力除去し、精度良く視線の
方向を検出することのできる視線検出装置の視線検出方
法を提供することにある。
（課題を遠戚するための手段）
本発明に係わる視線検出装置の視線検出方法は、上記の
目的を遠戚するため、 第一プルキンエ像に対応するピーク成分と眼底からの反
射光束に対応する信号成分とを含む光電変換信号分布曲
線を得る段階と、 該光電変換信号分布曲線を信号処理して第一プルキンエ
像の位置を検出する段階と、 第一プルキンエ像を含むピーク成分を信号処理の対象か
ら除外する段階と、 眼の瞳孔の縁の位置を検出する段階と、該瞳孔の縁の位
置に基づき瞳孔中心を求め、前記瞳孔中心と前記第一プ
ルキンエ像との位置関係から視線の方向を検出する段階
とからなる視線検出装置の視線検出方法において、 前記光電変換信号分布曲線を信号処理して第一プルキン
エ像の位置を検出する段階が、前記光電変換信号分布曲
線のピーク値に対応するビット素子を検索する処理を行
う段階と、 ピーク値を出力するビット素子とそのビット素子を挟む
複数個のビット素子とから第一プルキンエ像の位置を内
挿する段階と、 からなり、 前記第一プルキンエ像を含むピーク成分を信号処理の対
象から除外する段階が、前記ピーク値に対応するビット
素子を挟んで複数個のビット素子を信号処理の対象から
外すことであり、前記瞳孔の縁を求める段階が、 その信号処理の対象から除外されたピーク成分の左側の
曲線と右側の曲線とについて、一方の曲線の他方の曲線
側に位置するビット素子の出力値に基づいてその他方の
曲線側のビット素子の出力値よりも小さいスレシホール
ドレベルを設定する段階と、 そのスレシーホルドレベルを境に隣合った二個のビット
素子であって一方のビット素子の出力値が前記スレシホ
ールドレベルよりも小さく他方のビット素子の出力値が
前記スレシホールドレベルよりも大きい二個のビット素
子を求める段階と、前記二個のビット素子の近傍にある
複数個のビット素子に対して一ビット素子を飛ばしてビ
ット素子のペアを求め、このビット素子のペアの出力値
に基づく直線群を得て、この直線群のうち傾きが最大の
直線を第一の直線として求める段階と、該第一の直線が
ゼロレベルと交差する位置に最も近い位置にあるゼロク
ロスビット素子を求め、このゼロクロスビット素子の近
傍にある複数個のビット素子の出力値に基づきその複数
個のビット素子に適合しかつ第一の直線よりも傾きの小
さな第二の直線を求める段階と、 該第二の直線と前記第一の直線との交点を前記光電変換
信号分布曲線の変曲点とみなして求め、前記左側の曲線
の変曲点と右側の曲線の変曲点とに基づき瞳孔の縁を求
める段階と、 からなることを特徴とする。
目的を遠戚するため、 第一プルキンエ像に対応するピーク成分と眼底からの反
射光束に対応する信号成分とを含む光電変換信号分布曲
線を得る段階と、 該光電変換信号分布曲線を信号処理して第一プルキンエ
像の位置を検出する段階と、 第一プルキンエ像を含むピーク成分を信号処理の対象か
ら除外する段階と、 眼の瞳孔の縁の位置を検出する段階と、該瞳孔の縁の位
置に基づき瞳孔中心を求め、前記瞳孔中心と前記第一プ
ルキンエ像との位置関係から視線の方向を検出する段階
とからなる視線検出装置の視線検出方法において、 前記光電変換信号分布曲線を信号処理して第一プルキン
エ像の位置を検出する段階が、前記光電変換信号分布曲
線のピーク値に対応するビット素子を検索する処理を行
う段階と、 ピーク値を出力するビット素子とそのビット素子を挟む
複数個のビット素子とから第一プルキンエ像の位置を内
挿する段階と、 からなり、 前記第一プルキンエ像を含むピーク成分を信号処理の対
象から除外する段階が、前記ピーク値に対応するビット
素子を挟んで複数個のビット素子を信号処理の対象から
外すことであり、前記瞳孔の縁を求める段階が、 その信号処理の対象から除外されたピーク成分の左側の
曲線と右側の曲線とについて、一方の曲線の他方の曲線
側に位置するビット素子の出力値に基づいてその他方の
曲線側のビット素子の出力値よりも小さいスレシホール
ドレベルを設定する段階と、 そのスレシーホルドレベルを境に隣合った二個のビット
素子であって一方のビット素子の出力値が前記スレシホ
ールドレベルよりも小さく他方のビット素子の出力値が
前記スレシホールドレベルよりも大きい二個のビット素
子を求める段階と、前記二個のビット素子の近傍にある
複数個のビット素子に対して一ビット素子を飛ばしてビ
ット素子のペアを求め、このビット素子のペアの出力値
に基づく直線群を得て、この直線群のうち傾きが最大の
直線を第一の直線として求める段階と、該第一の直線が
ゼロレベルと交差する位置に最も近い位置にあるゼロク
ロスビット素子を求め、このゼロクロスビット素子の近
傍にある複数個のビット素子の出力値に基づきその複数
個のビット素子に適合しかつ第一の直線よりも傾きの小
さな第二の直線を求める段階と、 該第二の直線と前記第一の直線との交点を前記光電変換
信号分布曲線の変曲点とみなして求め、前記左側の曲線
の変曲点と右側の曲線の変曲点とに基づき瞳孔の縁を求
める段階と、 からなることを特徴とする。
（作用）
本発明に係わる視線検出装置の視線検出方法は、多数の
ビット素子を用いて瞳孔中心と第一プルキンエ像の位置
とを求めているので、ノイズ、ゴースト等の影響を極力
除去して精度良く視線の方向を検出することができる。
ビット素子を用いて瞳孔中心と第一プルキンエ像の位置
とを求めているので、ノイズ、ゴースト等の影響を極力
除去して精度良く視線の方向を検出することができる。
また、ニュートンの方法に基づき第一の直線と第二の直
線とのみを用いてその交点として光電変換信号分布曲線
の変曲点を求め、この変曲点を瞳孔の縁の位置として用
いて瞳孔の中心を求めているので、信号処理の方法も簡
単である。
線とのみを用いてその交点として光電変換信号分布曲線
の変曲点を求め、この変曲点を瞳孔の縁の位置として用
いて瞳孔の中心を求めているので、信号処理の方法も簡
単である。
（実施例）
以下に、本発明に係わる視線検出装置を一眼レフレック
スカメラのオートフォーカス光学系に適用した実施例を
図面を参照しつつ説明する。
スカメラのオートフォーカス光学系に適用した実施例を
図面を参照しつつ説明する。
第３図は一眼レフレックスカメラのファインダー視野を
示すもので、そのファインダー視野１０には３個の合焦
ゾーン１１．１２．１３が設けられている。
示すもので、そのファインダー視野１０には３個の合焦
ゾーン１１．１２．１３が設けられている。
その合焦ゾーン１１．１２．１３の離間距離は、ここで
は、約９ｍｍである。−眼レフレックスカメラには、そ
の各合焦ゾーン１１． １２．１３に対応させてオート
フォーカス光学系（図示を略す）が設けられている。こ
のオートフォーカス光学系は、３個の合焦ゾーン１１．
１２．１３と略共役な位置に、各合焦ゾーン１１．１２
．１３に対応する合焦視野（図示を略す）を有する。そ
して、各オートフォーカス光学系は第２図に示すように
ＣＣＤ１４．１５．１６を有する。ＣＣＤ１４．１５．
１６にはオートフォーカス光学系の一部を構成する一対
のセパレータレンズ（図示を略す）により被写体１７．
１８．１９の像がそれぞれ再結像される。
は、約９ｍｍである。−眼レフレックスカメラには、そ
の各合焦ゾーン１１． １２．１３に対応させてオート
フォーカス光学系（図示を略す）が設けられている。こ
のオートフォーカス光学系は、３個の合焦ゾーン１１．
１２．１３と略共役な位置に、各合焦ゾーン１１．１２
．１３に対応する合焦視野（図示を略す）を有する。そ
して、各オートフォーカス光学系は第２図に示すように
ＣＣＤ１４．１５．１６を有する。ＣＣＤ１４．１５．
１６にはオートフォーカス光学系の一部を構成する一対
のセパレータレンズ（図示を略す）により被写体１７．
１８．１９の像がそれぞれ再結像される。
ＣＣＤ１４．１５．１６は後述する視線検出装置の処理
回路２０の出力信号に基づいていずれかが選択駆動され
るもので、以下に、視線検出装置の光学系の概略構成を
第２図を参照しつつ説明する。
回路２０の出力信号に基づいていずれかが選択駆動され
るもので、以下に、視線検出装置の光学系の概略構成を
第２図を参照しつつ説明する。
その第２図において、２１はペンタプリズム、２２は接
眼レンズ、２３はカメラのフレーム、２４は視線検出装
置の送光系、２５は視線検出装置の受光系、２６はビー
ムスプリッタである。送光系２４は光源２７′ とコン
ペンセータープリズム２８′とから大略構成されている
。その光源２７′は赤外光を発生するもので、その赤外
光はコンペンセータープリズム２８′、ペンタプリズム
２１を介して接眼レンズ２２に導かれ、その接眼レンズ
２２により平行光束とされる。その赤外光束はビームス
プリッタ２６を介してファインダー窓２８に導かれる。
眼レンズ、２３はカメラのフレーム、２４は視線検出装
置の送光系、２５は視線検出装置の受光系、２６はビー
ムスプリッタである。送光系２４は光源２７′ とコン
ペンセータープリズム２８′とから大略構成されている
。その光源２７′は赤外光を発生するもので、その赤外
光はコンペンセータープリズム２８′、ペンタプリズム
２１を介して接眼レンズ２２に導かれ、その接眼レンズ
２２により平行光束とされる。その赤外光束はビームス
プリッタ２６を介してファインダー窓２８に導かれる。
このファインダー窓２８に眼２９を当てると、撮影者は
たとえば第３図に示すような被写体１７．１８．１９を
見ることができる。同時に、撮影者の眼２９には赤外光
束が投影される。
たとえば第３図に示すような被写体１７．１８．１９を
見ることができる。同時に、撮影者の眼２９には赤外光
束が投影される。
その赤外光束の投影により、第４図に示すように、撮影
者の眼２９の角膜３０に第１プルキンエ像ＰＩが形成さ
れる。その赤外光束の一部は角膜３０を通過して眼底に
至る。その第１プルキンエ像ＰＩと瞳孔３１の中心３２
との位置関係を求めれば、眼の回旋角を求めることがで
きるもので、この点に関しては特願昭８３−１４３２５
９号に詳細に開示されている。
者の眼２９の角膜３０に第１プルキンエ像ＰＩが形成さ
れる。その赤外光束の一部は角膜３０を通過して眼底に
至る。その第１プルキンエ像ＰＩと瞳孔３１の中心３２
との位置関係を求めれば、眼の回旋角を求めることがで
きるもので、この点に関しては特願昭８３−１４３２５
９号に詳細に開示されている。
その眼底からの反射光束と角膜３０からの反射光束とは
再びファインダー窓２８を介してビームスプリッタ２６
に導かれる。そして、このビームスプリッタ２６により
受光系２５に向けて反射される。受光系２５は縮小レン
ズ３３とミラー３４と再結像レンズ３５と一次元ライン
センサ（ＣＣＤ） ３６とから大略構成されている。−
次元ラインセンサ３６は所定幅の多数のビット素子を有
する。その−次元ラインセンサ３６には眼底からの反射
光束に基づきシルエットとして浮かび上がった瞳孔の縁
３７．３７の像と角膜３０からの反射光束に基づく第１
プルキンエ像ＰＩとが再結像される。−次元ラインセン
サ３６はその再結像に対応した光電変換信号を出力する
。その光電変換信号分布曲線３は第１プルキンエ像ＰＩ
に対応するビーク成分１と、眼底からの反射光束に対応
する信号成分２と虹彩からの反射光束に対応する信号成
分４とからなっている。この光電変換信号分布曲線３を
形成する光電変換信号は処理回路２０に入力される。
再びファインダー窓２８を介してビームスプリッタ２６
に導かれる。そして、このビームスプリッタ２６により
受光系２５に向けて反射される。受光系２５は縮小レン
ズ３３とミラー３４と再結像レンズ３５と一次元ライン
センサ（ＣＣＤ） ３６とから大略構成されている。−
次元ラインセンサ３６は所定幅の多数のビット素子を有
する。その−次元ラインセンサ３６には眼底からの反射
光束に基づきシルエットとして浮かび上がった瞳孔の縁
３７．３７の像と角膜３０からの反射光束に基づく第１
プルキンエ像ＰＩとが再結像される。−次元ラインセン
サ３６はその再結像に対応した光電変換信号を出力する
。その光電変換信号分布曲線３は第１プルキンエ像ＰＩ
に対応するビーク成分１と、眼底からの反射光束に対応
する信号成分２と虹彩からの反射光束に対応する信号成
分４とからなっている。この光電変換信号分布曲線３を
形成する光電変換信号は処理回路２０に入力される。
その処理回路２０は所定の演算プログラムに基づき以下
に説明する処理を行う。
に説明する処理を行う。
（１）第一プルキンエ像Ｐ■の位置を検出する段階
■光電変換信号分布曲線３のピークに対応するビット素
子を検索する段階 この処理は通常の公知の方法により最大値を求めるもの
で、まず、最大値記憶メモリ（図示を略す）に初期値■
。ｘ＝０（第１５図のＳ＋参照）を与え、仮り最大値Ｖ
ＩＩ ａ Ｘとする。−次元ラインセンサ３６のビッ
ト素子（その個数をＮとする）を左から右に順に参照し
ていって、仮り最大値■１．より大きな値を出力するビ
ット素子があればそのビット素子の出力値を新たな仮り
最大値■□８として更新し、その仮り最大値■。Ｘに対
応するビット素子の番号１．、をビット番号記憶メモリ
（図示を略す）に記憶する。
子を検索する段階 この処理は通常の公知の方法により最大値を求めるもの
で、まず、最大値記憶メモリ（図示を略す）に初期値■
。ｘ＝０（第１５図のＳ＋参照）を与え、仮り最大値Ｖ
ＩＩ ａ Ｘとする。−次元ラインセンサ３６のビッ
ト素子（その個数をＮとする）を左から右に順に参照し
ていって、仮り最大値■１．より大きな値を出力するビ
ット素子があればそのビット素子の出力値を新たな仮り
最大値■□８として更新し、その仮り最大値■。Ｘに対
応するビット素子の番号１．、をビット番号記憶メモリ
（図示を略す）に記憶する。
すなわち、仮り最大値■１．と工番目のビット素子の出
力Ｖ（Ｉ）とを比較しくＳ２参照）、Ｖ（Ｉ）≧■□８
のときは■□、＝Ｖ（Ｉ）、■、□＝■の処理を行う（
Ｓ３参照）、 Ｖ （Ｉ） ＜Ｖ、、、（７）ときは
カウント個数を＋１して（８４参照）、Ｓ２の判断を行
う。
力Ｖ（Ｉ）とを比較しくＳ２参照）、Ｖ（Ｉ）≧■□８
のときは■□、＝Ｖ（Ｉ）、■、□＝■の処理を行う（
Ｓ３参照）、 Ｖ （Ｉ） ＜Ｖ、、、（７）ときは
カウント個数を＋１して（８４参照）、Ｓ２の判断を行
う。
Ｉ＝１からＮまで、ＳｌからＳ４までの処理を繰り返し
、最終のビット素子（Ｎ番目のビット素子）までこの処
理を実行すれば、最大値記憶メモリＶ。、には真の最大
値（ピーク値）■□工が記憶され、ビット番号記憶メモ
リＩ ｗａｘにはその真の最大値Ｖ ＩＩ ａ Ｘを出
力するビット素子の番号工□８が記憶される。
、最終のビット素子（Ｎ番目のビット素子）までこの処
理を実行すれば、最大値記憶メモリＶ。、には真の最大
値（ピーク値）■□工が記憶され、ビット番号記憶メモ
リＩ ｗａｘにはその真の最大値Ｖ ＩＩ ａ Ｘを出
力するビット素子の番号工□８が記憶される。
■次に、最大値を出力するビット素子を用いて第１プル
キンエ像ＰＩの位置を内挿座標Ｘ、。６にとして求める
段階。
キンエ像ＰＩの位置を内挿座標Ｘ、。６にとして求める
段階。
まず、真の最大値Ｖ。８を出力するビット素子の番号工
□８、真の最大値Ｖ０．をビット番号記憶メモリ、最大
値記憶メモリがらそれぞれ呼び出す。
□８、真の最大値Ｖ０．をビット番号記憶メモリ、最大
値記憶メモリがらそれぞれ呼び出す。
また、番号■。Ｘのビット素子の左隣のビット素子の番
号工□８−１をメモリがら呼び出し、その番号Ｉａａｘ
−１のビット素子の出力値Ｖ （１，□−１）をメモリ
Ｖ−＋に記憶させ、次いで、番号工、□のビット素子の
右隣のビット素子の番号１ｍａｘ＋Ｈをメモリから呼び
出し、番号Ｉａａｘｌのビット素子の出力値Ｖ（Ｉ ｓ
ａｘ＋＋）をメモリｖ、１に記憶させる（８５参照）。
号工□８−１をメモリがら呼び出し、その番号Ｉａａｘ
−１のビット素子の出力値Ｖ （１，□−１）をメモリ
Ｖ−＋に記憶させ、次いで、番号工、□のビット素子の
右隣のビット素子の番号１ｍａｘ＋Ｈをメモリから呼び
出し、番号Ｉａａｘｌのビット素子の出力値Ｖ（Ｉ ｓ
ａｘ＋＋）をメモリｖ、１に記憶させる（８５参照）。
次に、■−１≦ｖ、１か否かを判断する（８６参照）１
次に、Ｓ７又はＳ８に移行して内挿座標Ｘ１ｌＩａｋを
求める処理を行う。
次に、Ｓ７又はＳ８に移行して内挿座標Ｘ１ｌＩａｋを
求める処理を行う。
番号Ｌａｗ−１のビット素子の出力値Ｖ−＋と番号Ｉｍ
ａｘ＊１のビット素子の出力値ｖ、Ｉとが共に等しいと
きには、番号Ｉ１１．ｘのビット素子の中央位置をピー
ク値として考えることができるが、一般には、番号Ｉ□
ｘ−１のビット素子の出力値Ｖ−＋と番号Ｉ。ｘｌのビ
ット素子の出力値■、Ｉとは等しいとは限らず、かつ、
ビット素子には幅があるので内挿によりＸ。
ａｘ＊１のビット素子の出力値ｖ、Ｉとが共に等しいと
きには、番号Ｉ１１．ｘのビット素子の中央位置をピー
ク値として考えることができるが、一般には、番号Ｉ□
ｘ−１のビット素子の出力値Ｖ−＋と番号Ｉ。ｘｌのビ
ット素子の出力値■、Ｉとは等しいとは限らず、かつ、
ビット素子には幅があるので内挿によりＸ。
ａｓｋを求めることにしたのである。
すなわち、不等式Ｖ−＋＜Ｖや１（またはＶ−＋≦Ｖや
１）が成立するときには、第５図に示すように、数学の
直線の傾きを求める方程式を用い、直線Ａと直線Ｂとの
交点として、 ２・Ｖ、−、−（Ｖ−＋＋Ｖ＋＋） Ｘ、。ｓｋ”ｌｍ５ｘ＋ １− ２（Ｖ、、ｘ−Ｖ−＋） の式を用いて求め（第１５図の８８参照）、前記不等式
が戒り立たない場合は、 ２・Ｖｓａｘ−（Ｖ−＋”Ｌ＋） Ｘ、□に＝工□ｘ−１＋ ２・（Ｖ−−−Ｖ、＋） の式を用いて求める（第１５図の８７参照）。
１）が成立するときには、第５図に示すように、数学の
直線の傾きを求める方程式を用い、直線Ａと直線Ｂとの
交点として、 ２・Ｖ、−、−（Ｖ−＋＋Ｖ＋＋） Ｘ、。ｓｋ”ｌｍ５ｘ＋ １− ２（Ｖ、、ｘ−Ｖ−＋） の式を用いて求め（第１５図の８８参照）、前記不等式
が戒り立たない場合は、 ２・Ｖｓａｘ−（Ｖ−＋”Ｌ＋） Ｘ、□に＝工□ｘ−１＋ ２・（Ｖ−−−Ｖ、＋） の式を用いて求める（第１５図の８７参照）。
このようにして、第一プルキンエ像ＰＩの位置がピーク
値を出力するビット素子とそのビット素子を挟む複数個
のビット素子とを用いて内挿座標Ｘｏｏとして求める。
値を出力するビット素子とそのビット素子を挟む複数個
のビット素子とを用いて内挿座標Ｘｏｏとして求める。
（２）第一プルキンエ像ＰＩを含むビットを処理対象か
ら除去する段階 この処理は、第６図に示すように、ビーク成分１を形成
する出力値を出方する１１号のビット素子を処理の対象
から除外するもので、番号工、□のビット素子の左右の
複数個のビット素子の出方値を呼び出さないようにする
ことにより達成される。
ら除去する段階 この処理は、第６図に示すように、ビーク成分１を形成
する出力値を出方する１１号のビット素子を処理の対象
から除外するもので、番号工、□のビット素子の左右の
複数個のビット素子の出方値を呼び出さないようにする
ことにより達成される。
第６図では、矢印Ｃの範囲のビット素子が処理の対象か
ら除外されている。
ら除外されている。
処理の対象から除外するビット素子の個数は視線検出装
置の光学性能と一次元ラインセンサー３６のビット素子
の幅とが関係するが、光電変換分布曲線３の形状をブラ
ウン管上に映し出してその形状を見ながら決定するのが
望ましい。
置の光学性能と一次元ラインセンサー３６のビット素子
の幅とが関係するが、光電変換分布曲線３の形状をブラ
ウン管上に映し出してその形状を見ながら決定するのが
望ましい。
ここでは、真の最大値Ｖ、□を出力するビット素子の番
号１．□から左に数えて４＃目（１，、、−４）と真の
最大値■。８を出力するビット素子の番号１１．から右
に数えて４番目（■□８＋４）との間の各ビット素子を
処理対象から除外する。
号１．□から左に数えて４＃目（１，、、−４）と真の
最大値■。８を出力するビット素子の番号１１．から右
に数えて４番目（■□８＋４）との間の各ビット素子を
処理対象から除外する。
次に、後述する眼の虹彩の縁の検出の際に、左側処理に
用いるスレッシュホールドレベルと右側処理に用いるス
レッシュホールドレベルとを決定するため、左側の曲線
４０の右端のビット素子ＩＲと右側の曲線４１の左端の
ビット素子ＩＬとを求める処理を行う。
用いるスレッシュホールドレベルと右側処理に用いるス
レッシュホールドレベルとを決定するため、左側の曲線
４０の右端のビット素子ＩＲと右側の曲線４１の左端の
ビット素子ＩＬとを求める処理を行う。
すなわち、右端のビット素子メモリＩＩ＋にビット素子
番号１．、、−５を記憶させる０次に、左端のビット素
子メモリＩＬにビット素子番号１．□＋５を記憶させる
（第１５図の参照Ｓ９参照）。
番号１．、、−５を記憶させる０次に、左端のビット素
子メモリＩＬにビット素子番号１．□＋５を記憶させる
（第１５図の参照Ｓ９参照）。
（３）眼の虹彩の縁（瞳孔の縁３７）を検出する段階
この処理はビーク成分１を出力するビット素子を除いた
ビット素子の出力値を用いて行われるもので、ビーク成
分１の左側に存在する曲線４０と右側に存在する曲線４
１との両方に対して実行される。
ビット素子の出力値を用いて行われるもので、ビーク成
分１の左側に存在する曲線４０と右側に存在する曲線４
１との両方に対して実行される。
右側の曲線４１に対する処理と左側の曲線４０に対する
処理とはビーク成分１を境に対称的に実行されるので、
ここでは、左側の曲線４０に対する処理について詳述す
る。
処理とはビーク成分１を境に対称的に実行されるので、
ここでは、左側の曲線４０に対する処理について詳述す
る。
左側の曲線４０に対する処理は以下の手順で行われる。
■左側の曲線４０のほぼ右端に位置する番号ＩＲ（Ｉ＊
＝Ｉ□８−５）のビット素子（第６図参照）、すなわち
、一方の曲線４０の他方の曲線側に位置するビット素子
の出力値Ｖ（ＩＲ）よりも小さいスレシホールドレベル
ＳＬＬを第１ＦＭに示すように設定する。このスレシホ
ールドレベルＳＬＬはその右端の番号ＩＲのビット素子
の出力値Ｖ（ＩＲ）の半分の値を用いるのが望ましい、
従って、まず、５ＬＬ＝Ｖ （ＩＲ）／２（７）処理を
行う（第１６図の８１０１参照）。
＝Ｉ□８−５）のビット素子（第６図参照）、すなわち
、一方の曲線４０の他方の曲線側に位置するビット素子
の出力値Ｖ（ＩＲ）よりも小さいスレシホールドレベル
ＳＬＬを第１ＦＭに示すように設定する。このスレシホ
ールドレベルＳＬＬはその右端の番号ＩＲのビット素子
の出力値Ｖ（ＩＲ）の半分の値を用いるのが望ましい、
従って、まず、５ＬＬ＝Ｖ （ＩＲ）／２（７）処理を
行う（第１６図の８１０１参照）。
そして、左側の曲線４０を構成する出力値のうち隣接す
る二つのビット素子に着目し、左側のビット素子の出力
値（ビット番号の小さい方のビット素子（番号工で示す
）の出力値） Ｖ （Ｉ）がそのスレッホールドレペル
ＳＬＬより小さく、右側のビット素子の出力値（ビット
番号の大きい方のビット素子（番号Ｉ＋１で示す）の出
力値Ｖ（１＋１）がスレシホールドレベルＳＬＬより大
きいか否かの判断を行う（Ｓ １０２参照）、この判断
はＩ ＝ １ ｙｙｓらＩＲまで繰り返される（ ８１
０４参照）、この条件を満足する隣接する二つのビット
素子の番号を１１１ Ｉ２（第１図参照）としてメモリ
に記憶させる。
る二つのビット素子に着目し、左側のビット素子の出力
値（ビット番号の小さい方のビット素子（番号工で示す
）の出力値） Ｖ （Ｉ）がそのスレッホールドレペル
ＳＬＬより小さく、右側のビット素子の出力値（ビット
番号の大きい方のビット素子（番号Ｉ＋１で示す）の出
力値Ｖ（１＋１）がスレシホールドレベルＳＬＬより大
きいか否かの判断を行う（Ｓ １０２参照）、この判断
はＩ ＝ １ ｙｙｓらＩＲまで繰り返される（ ８１
０４参照）、この条件を満足する隣接する二つのビット
素子の番号を１１１ Ｉ２（第１図参照）としてメモリ
に記憶させる。
■次に、ニュートンの方法を用いて、変曲点５を直線近
似の交点として求めるために、第一の直線に＋を求める
処理を行う。
似の交点として求めるために、第一の直線に＋を求める
処理を行う。
ここでは、この第一の直線に＋を求める処理は番号■１
のビット素子から左に数えて四つ目のビット素子工１−
４番目のビット素子（これを番号Ｉｔｓで示す）とその
番号工１のビット素子から右に数えて四つ目のビット素
子工１千４番目のビット素子（これを番号ＩＬＬで示す
、）までの間のビット素子を対象として行われ、−ビッ
ト素子を飛ばしてビットのペアを求める。このビット素
子のペアの出力値を用いて各ビット素子のペアに基づく
直線群を求める。たとえば、番号工３のビット素子の出
力値ｖ３と番号工４のビット素子の出力値ｖ４とにより
直線Ｋｌ’が求められ、番号工１のビット素子の出力値
ｖ１と番号工４の出力値Ｖ４とにより直線に１が求めら
れる。
のビット素子から左に数えて四つ目のビット素子工１−
４番目のビット素子（これを番号Ｉｔｓで示す）とその
番号工１のビット素子から右に数えて四つ目のビット素
子工１千４番目のビット素子（これを番号ＩＬＬで示す
、）までの間のビット素子を対象として行われ、−ビッ
ト素子を飛ばしてビットのペアを求める。このビット素
子のペアの出力値を用いて各ビット素子のペアに基づく
直線群を求める。たとえば、番号工３のビット素子の出
力値ｖ３と番号工４のビット素子の出力値ｖ４とにより
直線Ｋｌ’が求められ、番号工１のビット素子の出力値
ｖ１と番号工４の出力値Ｖ４とにより直線に１が求めら
れる。
この処理を行うために、メモリにＩＬＳ＝Ｉ＋ ４、
Ｉ ＬＬ＝ Ｉ ＋＋ ４を記憶させる（ Ｓ １０５
参照）。
Ｉ ＬＬ＝ Ｉ ＋＋ ４を記憶させる（ Ｓ １０５
参照）。
次に、傾きを求めるためのメモリＡｌ１％ ＢＬＩに
初期値ＡＬｌ＝Ｏ，ＢＬＩ＝Ｏを与える（ Ｓ １０６
参照）。
初期値ＡＬｌ＝Ｏ，ＢＬＩ＝Ｏを与える（ Ｓ １０６
参照）。
そして、メモリＩ Ｌ＠、メモリＩｕｐに、それぞれ番
号Ｉ−１、Ｉ＋１を記憶させ、メモリＤにＤ＝２を記憶
させる（ ｓ １０７参照）。
号Ｉ−１、Ｉ＋１を記憶させ、メモリＤにＤ＝２を記憶
させる（ ｓ １０７参照）。
そして、第１８図の直線演算ルーチン（３１０８参照）
に移行して、傾きａ、切片すを求める。
に移行して、傾きａ、切片すを求める。
傾きａは、
ａ＝ （Ｖ （Ｉｕｐ） Ｖ （ＩＬＯ） ） ／Ｄ
切片すは、 ｂ＝（ＩｕｐＸＶ（Ｉｔｏ） ＩＬＯＸＶ（ＩＬＩ
Ｐ））／Ｄにより求められる。
切片すは、 ｂ＝（ＩｕｐＸＶ（Ｉｔｏ） ＩＬＯＸＶ（ＩＬＩ
Ｐ））／Ｄにより求められる。
そして、その傾きａとメモリＡＬＩに記憶された傾きと
を比較しく Ｓ １０９参照）、ａ＞Ａｔ＋であるなら
ば、Ｓ １１０に移行してメモリＡＬＩＮ ＢＬＩを
更新して５１０８において求めた傾きａと切片すとをメ
モリＡＬＩ、 Ｂ目に記憶させる（ Ｓ １１０参照
〉、これを、Ｉ ＝ Ｉ ＬＳからＩＬＬまで繰り返せ
ば（Ｓ １１１参照）、傾きが最大の直線が求められる
。
を比較しく Ｓ １０９参照）、ａ＞Ａｔ＋であるなら
ば、Ｓ １１０に移行してメモリＡＬＩＮ ＢＬＩを
更新して５１０８において求めた傾きａと切片すとをメ
モリＡＬＩ、 Ｂ目に記憶させる（ Ｓ １１０参照
〉、これを、Ｉ ＝ Ｉ ＬＳからＩＬＬまで繰り返せ
ば（Ｓ １１１参照）、傾きが最大の直線が求められる
。
ここでは、番号Ｉ＋のビット素子と番号工４のビット素
子に基づく直線に＋が傾きが最大の直線であり、この番
号工１のビット素子と番号Ｉ４のビット素子に基づく直
線に１が第一の直線に１である。
子に基づく直線に＋が傾きが最大の直線であり、この番
号工１のビット素子と番号Ｉ４のビット素子に基づく直
線に１が第一の直線に１である。
■次に、この第一の直線に１がゼロレベルと交差する位
置ＸＩを求める。この位置Ｘ＋のすぐ左側に中心がある
ビット素子（最も位置Ｘ＋に近いビット素子）をゼロク
ロス・ビット素子（番号Ｉ７）として定める。これは、
メモリＩｕｐに−Ｂ＋ＤＩＶＡ＋の値を記憶させること
により得られる。
置ＸＩを求める。この位置Ｘ＋のすぐ左側に中心がある
ビット素子（最も位置Ｘ＋に近いビット素子）をゼロク
ロス・ビット素子（番号Ｉ７）として定める。これは、
メモリＩｕｐに−Ｂ＋ＤＩＶＡ＋の値を記憶させること
により得られる。
これは、メモリＩｕｐに−Ｂ＋ＤＩＶＡ＋の値を記憶さ
せることにより得られる。
せることにより得られる。
ここで、 ＢＤＩＶＡは、
ＢＤＩＶＡ＝ＳＧＮ（Ｂ／Ａ）＊ＩＮＴ（ＡＢＳ（Ｂ／
Ａ））の処理を行うことを意味し、 ＡＢＳ（Ｂ／Ａ）はＢをＡで割った値の絶対値をとるこ
とを意味し、ＩＮＴはそのＢ／Ａの値のうち、小数点以
下は切り捨てて整数化することを意味し、ＳＧＮは正負
の符号判定を意味する。これにより、ゼロクロスビット
素子が得られる。
Ａ））の処理を行うことを意味し、 ＡＢＳ（Ｂ／Ａ）はＢをＡで割った値の絶対値をとるこ
とを意味し、ＩＮＴはそのＢ／Ａの値のうち、小数点以
下は切り捨てて整数化することを意味し、ＳＧＮは正負
の符号判定を意味する。これにより、ゼロクロスビット
素子が得られる。
そして、そのゼロクロス・ビット素子（番号エフ）より
左に数えて四つ目のビット素子Ｉｕｐ ４（番号Ｉｓ
）をメモリＩＬＯに記憶させる（ Ｓ １１２参照）。
左に数えて四つ目のビット素子Ｉｕｐ ４（番号Ｉｓ
）をメモリＩＬＯに記憶させる（ Ｓ １１２参照）。
次に、第１８図の直線演算ルーチンに移行しく５１１３
参照）、番号工８のビット素子の出力値■８とそのゼロ
クロスビット番号エフのビット素子の出力値■７とに基
づき、複数個のビット素子の出力値に適合しかつ第一の
直線よりも傾きの小さな第二の直線に２を求める。ここ
では、直線に２の傾きＡ２と切片Ｂ２とを求める。
参照）、番号工８のビット素子の出力値■８とそのゼロ
クロスビット番号エフのビット素子の出力値■７とに基
づき、複数個のビット素子の出力値に適合しかつ第一の
直線よりも傾きの小さな第二の直線に２を求める。ここ
では、直線に２の傾きＡ２と切片Ｂ２とを求める。
■そして、第一の直線に１と第二の直線に２との交点Ｘ
＠ｄ、。を数学的方法により求め、その交点Ｘ、ｄ。
＠ｄ、。を数学的方法により求め、その交点Ｘ、ｄ。
、を変曲点５とみなして扱い、変曲点５を瞳孔の縁とし
て取り扱い、左側の曲線４０と右側の曲線４１とについ
てそれぞれ瞳孔の縁３７．３７の位置を求める。そして
、この瞳孔の縁３７．３７の位置を加算平均して瞳孔中
心を得る。すなわち、交点Ｘ、ｄ、。は、Ｘｅａｅ＊＝
（ＢＩ Ｂ２） ／ （Ａ２ Ａ＋）として求め
られる（ Ｓ １１４参照）。
て取り扱い、左側の曲線４０と右側の曲線４１とについ
てそれぞれ瞳孔の縁３７．３７の位置を求める。そして
、この瞳孔の縁３７．３７の位置を加算平均して瞳孔中
心を得る。すなわち、交点Ｘ、ｄ、。は、Ｘｅａｅ＊＝
（ＢＩ Ｂ２） ／ （Ａ２ Ａ＋）として求め
られる（ Ｓ １１４参照）。
次に、右側処理（Ｓ １１参照）に移行し、同様の処理
を行う。
を行う。
右側処理終了後、瞳孔の中心を求めるため、右側処理の
交点Ｘｅｄｇ＊（左）と右側処理の交点Ｘ、ｄ。、（右
）との平均Ｘ、□。とを求める（Ｓ１２参照）。
交点Ｘｅｄｇ＊（左）と右側処理の交点Ｘ、ｄ。、（右
）との平均Ｘ、□。とを求める（Ｓ１２参照）。
次に、平均Ｘ ５ｅｅｎと内挿座標Ｘ、＠Ｉｋとを用い
て下記の演算式により、視線方向を求めるために、Ｘ座
標の位置Ｘ。ｂ、を求める（Ｓ１３参照）。
て下記の演算式により、視線方向を求めるために、Ｘ座
標の位置Ｘ。ｂ、を求める（Ｓ１３参照）。
ＸｏｂＪ＝２． ４６７１ ＣＸａａａｎ Ｘｐｓｓ
ｋ）この演算式の係数は、特願昭６３−１４３２５９号
の視線検出の原理に基づき得たものである。
ｋ）この演算式の係数は、特願昭６３−１４３２５９号
の視線検出の原理に基づき得たものである。
第７図〜第９図はその一次元ラインセンサ３６から出力
された光電変換信号分布曲線の実測例を示しており、第
７図は中央の合焦ゾーン１２に視線を向けた場合の光電
変換信号分布曲線３、第８図は左側の合焦ゾーン１１に
視線を向けた場合の光電変換信号分布曲線３、第９図は
右側の合焦ゾーン１３に視線を向けた場合の光電変換信
号分布曲線３を示しており、視線の方向は中央の合焦ゾ
ーン１２の位置をＸ ＝ Ｏｍｍとして、左側の合焦ゾ
ーン１１に視線を向けた場合の位置はＸ ＝ −９ａｍ
、 右側の合焦ゾーン１３に視線を向けた場合はＸ＝
９ａｍとして得られ、実際の処理においても良好の検出
結果が得られた。
された光電変換信号分布曲線の実測例を示しており、第
７図は中央の合焦ゾーン１２に視線を向けた場合の光電
変換信号分布曲線３、第８図は左側の合焦ゾーン１１に
視線を向けた場合の光電変換信号分布曲線３、第９図は
右側の合焦ゾーン１３に視線を向けた場合の光電変換信
号分布曲線３を示しており、視線の方向は中央の合焦ゾ
ーン１２の位置をＸ ＝ Ｏｍｍとして、左側の合焦ゾ
ーン１１に視線を向けた場合の位置はＸ ＝ −９ａｍ
、 右側の合焦ゾーン１３に視線を向けた場合はＸ＝
９ａｍとして得られ、実際の処理においても良好の検出
結果が得られた。
（効果）
本発明に係わる視線検出装置の視線検出方法によれば、
簡単な処理方法を用いて、ノイズ、ゴースト等の影響を
極力除去して精度良く視線の方向を検出することができ
るという効果を奏する。
簡単な処理方法を用いて、ノイズ、ゴースト等の影響を
極力除去して精度良く視線の方向を検出することができ
るという効果を奏する。
第１図は本発明に係わる視線検出装置の処理回路を用い
て変曲点をニュートンの方法により求めるための説明図
、 第２図は本発明に係わる視線検出装置の光学系の要部構
成図、 第３図は第２図に示す視線検出装置が組み込まれた一眼
レフレックスカメラのファインダー視野を示す図、 第４図は視線検出装置を用いて眼に形成される第１プル
キンエ像を説明するための説明図、第５図は第２図に示
す処理回路を用いてピーク位置を求める処理を説明する
ための説明図、第６図はピーク成分を除くための処理を
説明するための説明図、 第７図〜第９図は光電変換信号分布曲線の実測例を説明
するための説明図、 第１０図は光電変換信号分布曲線の説明図、第１１図は
従来の視線検出装置の視線検出方法の一例を示す図、 第１２図〜第１４図は従来の視線検出装置の視線検出方
法の他の例を示す図、 第１５図〜第１７図は本発明に係わる視線検出装置の視
線検出方法のフローチャート、 である。 １・・・ピーク成分、２・・・信号成分３・・・光電変
換信号分布曲線、５・・・変曲点２０・・・処理回路、
３１・・・瞳孔 ３２・・・瞳孔中心、 ３６・・・−次元ラインセンサ（Ｃ０Ｄ）３７・・・瞳
孔の縁、ＰＩ・・・第１プルキンエ像に１・・・第一の
直線、 Ｋ２・・・第二の直線 に３・・・第三の直線、 Ｘ 、、、、・・・内挿座標
て変曲点をニュートンの方法により求めるための説明図
、 第２図は本発明に係わる視線検出装置の光学系の要部構
成図、 第３図は第２図に示す視線検出装置が組み込まれた一眼
レフレックスカメラのファインダー視野を示す図、 第４図は視線検出装置を用いて眼に形成される第１プル
キンエ像を説明するための説明図、第５図は第２図に示
す処理回路を用いてピーク位置を求める処理を説明する
ための説明図、第６図はピーク成分を除くための処理を
説明するための説明図、 第７図〜第９図は光電変換信号分布曲線の実測例を説明
するための説明図、 第１０図は光電変換信号分布曲線の説明図、第１１図は
従来の視線検出装置の視線検出方法の一例を示す図、 第１２図〜第１４図は従来の視線検出装置の視線検出方
法の他の例を示す図、 第１５図〜第１７図は本発明に係わる視線検出装置の視
線検出方法のフローチャート、 である。 １・・・ピーク成分、２・・・信号成分３・・・光電変
換信号分布曲線、５・・・変曲点２０・・・処理回路、
３１・・・瞳孔 ３２・・・瞳孔中心、 ３６・・・−次元ラインセンサ（Ｃ０Ｄ）３７・・・瞳
孔の縁、ＰＩ・・・第１プルキンエ像に１・・・第一の
直線、 Ｋ２・・・第二の直線 に３・・・第三の直線、 Ｘ 、、、、・・・内挿座標
Claims (2)
- （１）第一プルキンエ像に対応するピーク成分と眼底か
らの反射光束に対応する信号成分とを含む光電変換信号
分布曲線を得る段階と、 該光電変換信号分布曲線を信号処理して第一プルキンエ
像の位置を検出する段階と、 第一プルキンエ像を含むピーク成分を信号処理の対象か
ら除外する段階と、 眼の瞳孔の縁の位置を検出する段階と、 該瞳孔の縁の位置に基づき瞳孔中心を求め、前記瞳孔中
心と前記第一プルキンエ像との位置関係から視線の方向
を検出する段階とからなる視線検出装置の視線検出方法
において、 前記光電変換信号分布曲線を信号処理して第一プルキン
エ像の位置を検出する段階が、前記光電変換信号分布曲
線のピーク値に対応するビット素子を検索する処理を行
う段階と、 ピーク値を出力するビット素子とそのビット素子を挟む
複数個のビット素子とから第一プルキンエ像の位置を内
挿する段階と、 からなり、 前記第一プルキンエ像を含むピーク成分を信号処理の対
象から除外する段階が、前記ピーク値に対応するビット
素子を挟んで複数個のビット素子を信号処理の対象から
外すことであり、 前記瞳孔の縁を求める段階が、 その信号処理の対象から除外されたピーク成分の左側の
曲線と右側の曲線とについて、一方の曲線の他方の曲線
側に位置するビット素子の出力値に基づいてその他方の
曲線側のビット素子の出力値よりも小さいスレシホール
ドレベルを設定する段階と、 そのスレシーホルドレベルを境に隣合つた二個のビット
素子であって一方のビット素子の出力値が前記スレシホ
ールドレベルよりも小さく他方のビット素子の出力値が
前記スレシホールドレベルよりも大きい二個のビット素
子を求める段階と、前記二個のビット素子の近傍にある
複数個のビット素子に対して一ビット素子を飛ばしてビ
ット素子のペアを求め、このビット素子のペアの出力値
に基づく直線群を得て、この直線群のうち傾きが最大の
直線を第一の直線として求める段階と、該第一の直線が
ゼロレベルと交差する位置に最も近い位置にあるゼロク
ロスビット素子を求め、このゼロクロスビット素子の近
傍にある複数個のビット素子の出力値に基づきその複数
個のビット素子に適合しかつ第一の直線よりも傾きの小
さな第二の直線を求める段階と、 該第二の直線と前記第一の直線との交点を前記光電変換
信号分布曲線の変曲点とみなして求め、前記左側の曲線
の変曲点と右側の曲線の変曲点とに基づき瞳孔の縁を求
める段階と、 からなることを特徴とする視線検出装置の視線検出方法
。 - （２）前記瞳孔の中心を求める段階が、 前記左側の変曲点と右側の変曲点との中央値として瞳孔
中心を求める段階であることを特徴とする請求項１に記
載の視線検出装置の視線検出方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1316468A JP2877400B2 (ja) | 1989-12-07 | 1989-12-07 | 視線検出装置の視線検出方法 |
| US07/623,566 US5485403A (en) | 1989-12-07 | 1990-12-07 | Method and apparatus for processing signals from photoconductive sensor |
| DE4039144A DE4039144A1 (de) | 1989-12-07 | 1990-12-07 | Verfahren zum erfassen eines aenderungspunktes zwischen einem ersten und einem zweiten signalpegel |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1316468A JP2877400B2 (ja) | 1989-12-07 | 1989-12-07 | 視線検出装置の視線検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03177828A true JPH03177828A (ja) | 1991-08-01 |
| JP2877400B2 JP2877400B2 (ja) | 1999-03-31 |
Family
ID=18077434
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1316468A Expired - Fee Related JP2877400B2 (ja) | 1989-12-07 | 1989-12-07 | 視線検出装置の視線検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2877400B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5627586A (en) * | 1992-04-09 | 1997-05-06 | Olympus Optical Co., Ltd. | Moving body detection device of camera |
| JP2015047427A (ja) * | 2013-09-04 | 2015-03-16 | アルプス電気株式会社 | 視線検出装置 |
-
1989
- 1989-12-07 JP JP1316468A patent/JP2877400B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5627586A (en) * | 1992-04-09 | 1997-05-06 | Olympus Optical Co., Ltd. | Moving body detection device of camera |
| JP2015047427A (ja) * | 2013-09-04 | 2015-03-16 | アルプス電気株式会社 | 視線検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2877400B2 (ja) | 1999-03-31 |
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