JPH03160632A - 光学式情報記録再生装置 - Google Patents
光学式情報記録再生装置Info
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- JPH03160632A JPH03160632A JP1297703A JP29770389A JPH03160632A JP H03160632 A JPH03160632 A JP H03160632A JP 1297703 A JP1297703 A JP 1297703A JP 29770389 A JP29770389 A JP 29770389A JP H03160632 A JPH03160632 A JP H03160632A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 13
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- ZPUCINDJVBIVPJ-LJISPDSOSA-N cocaine Chemical compound O([C@H]1C[C@@H]2CC[C@@H](N2C)[C@H]1C(=O)OC)C(=O)C1=CC=CC=C1 ZPUCINDJVBIVPJ-LJISPDSOSA-N 0.000 description 1
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- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体レーザの発光出力をモニタ光に基づき制
御するようにした光学式ピックアップを具える、光学式
情報記録再生装置に関するものである。
御するようにした光学式ピックアップを具える、光学式
情報記録再生装置に関するものである。
従来、情報をを光学的に読取り得るように記録媒体に記
録したり、この記録媒体に記録されている情報を光学的
に読取るようにした光学式情報記録および／または再生
装置が提案されている。
録したり、この記録媒体に記録されている情報を光学的
に読取るようにした光学式情報記録および／または再生
装置が提案されている。
このような光学式情報記録再生装置においては、内蔵す
る光学式ピックアップの光源として一般に半導体レーザ
が用いられている．この半導体レーザは周囲温度の変化
等により発光出力が変動することから、確実に情報の記
録、再生等を行うために半導体レーザの発光出力制御（
例えばレーザ出力一定制御）を行っている。
る光学式ピックアップの光源として一般に半導体レーザ
が用いられている．この半導体レーザは周囲温度の変化
等により発光出力が変動することから、確実に情報の記
録、再生等を行うために半導体レーザの発光出力制御（
例えばレーザ出力一定制御）を行っている。
例えば、第４図に示すような従来の光学式ピックアップ
においては、半導体レーザ１から出射された前方出射レ
ーザ光束１ａはコリメータレンズ２で平行光束にされた
後、光路上のビームスプリツタ３（この場合ハーフミラ
ー）により２分割され、その一方の光束１ａ−１は対物
レンズ４によって集光されて記録媒体５上に光スポット
を形成し、情報の記録、再生等を行う。またビームスプ
リツタ３により分割された他方の光束１ａ−２は前方モ
ニタ用光検出器６により受光されて電気信号に変換され
、この電気信号を自動発光出力制御回路（以下ＡＰＣ回
路を称する）７に入力することにより、ＡＰＣ回路７に
よってこの電気信号の信号レベルに基づく半導体レーザ
ｌの発光出力制御を行う．なおこのような発光出力制御
方式は前方モニタＡＰＣ方式と称せられ、例えば特開昭
５７−１５５７８９号公報の第２図、第３図に開示され
ている．また、前記公報の第４図には、半導体レーザｌ
の発光出力を後方モニタ用光検出器の出力によって制御
する、後方モニタＡＰＣ方式も開示されている．（発明
が解決しようとする課題） 上記前方モニタＡＰＣ方式においては、ビームスプリッ
タ３から前方モニタ用光検出器６までの光学系（以下前
方モニタ光学系と称す）の構威要素が塵埃等により汚れ
たり、結露等により曇ったりした場合、光源である半導
体レーザ１の発光出力が変動していないにも拘らず、そ
の発光出力が減少したものと誤認識し、この誤認識の下
で誤った発光出力制御を行ってしまうという問題がある
。
においては、半導体レーザ１から出射された前方出射レ
ーザ光束１ａはコリメータレンズ２で平行光束にされた
後、光路上のビームスプリツタ３（この場合ハーフミラ
ー）により２分割され、その一方の光束１ａ−１は対物
レンズ４によって集光されて記録媒体５上に光スポット
を形成し、情報の記録、再生等を行う。またビームスプ
リツタ３により分割された他方の光束１ａ−２は前方モ
ニタ用光検出器６により受光されて電気信号に変換され
、この電気信号を自動発光出力制御回路（以下ＡＰＣ回
路を称する）７に入力することにより、ＡＰＣ回路７に
よってこの電気信号の信号レベルに基づく半導体レーザ
ｌの発光出力制御を行う．なおこのような発光出力制御
方式は前方モニタＡＰＣ方式と称せられ、例えば特開昭
５７−１５５７８９号公報の第２図、第３図に開示され
ている．また、前記公報の第４図には、半導体レーザｌ
の発光出力を後方モニタ用光検出器の出力によって制御
する、後方モニタＡＰＣ方式も開示されている．（発明
が解決しようとする課題） 上記前方モニタＡＰＣ方式においては、ビームスプリッ
タ３から前方モニタ用光検出器６までの光学系（以下前
方モニタ光学系と称す）の構威要素が塵埃等により汚れ
たり、結露等により曇ったりした場合、光源である半導
体レーザ１の発光出力が変動していないにも拘らず、そ
の発光出力が減少したものと誤認識し、この誤認識の下
で誤った発光出力制御を行ってしまうという問題がある
。
一方、前方モニタ用光検出器６の代わりに、半導体レー
ザｌの後方に設置した、第４図に参照符号８で示す後方
モニタ用光検出器を用いる後方モニタＡＰＣ方式は、前
方モニタＡＰＣ方式に比べ塵埃等の影響を受け難いとい
う利点はあるが、記録媒体６からの戻り光の影響によっ
て検出誤差を生じるという問題がある． 本発明はこのような従来例の問題点を解決するためにな
されたものであり、前方モニタ光学系の塵埃等による影
響を受けることなく、半導体レーザの的確な発光出力制
御を行うことを目的とする。
ザｌの後方に設置した、第４図に参照符号８で示す後方
モニタ用光検出器を用いる後方モニタＡＰＣ方式は、前
方モニタＡＰＣ方式に比べ塵埃等の影響を受け難いとい
う利点はあるが、記録媒体６からの戻り光の影響によっ
て検出誤差を生じるという問題がある． 本発明はこのような従来例の問題点を解決するためにな
されたものであり、前方モニタ光学系の塵埃等による影
響を受けることなく、半導体レーザの的確な発光出力制
御を行うことを目的とする。
〔課題を解決するための手段および作用 〕上記目的を
達威するため、本発明は半導体レーザからの出射光によ
って記録媒体に情報の記録および／または再生を行う光
学式情報記録再生装置において、前記半導体レーザおよ
び記録媒体間の光路中に設置される光束分割手段により
分割された前方出射光を受光する第１の光検出器と、前
記半導体レーザの後方出射光を受光する第２の光検出器
と、戻り光の影響を受けない状態における前記第１およ
び第２の光検出器の出力を比較する比較手段と、この比
較手段の出力および前記第１の光検出器の出力に基づき
前記半導体レーザの発光出力を制御するレーザ出力制御
手段とを具備するようにする． これにより戻り光の影響を受けない状態における前方出
射光および後方出射光の検出値を比較して前方モニタ光
学系の塵埃等の影響による検出誤差分を求めるから、実
際に情報を記録および／または再生する際には前方モニ
タ用の光検出器の出力に上記誤差分を補正した値に基づ
いて半導体レーザの発光出力を制御して、上記塵埃等の
影響を受けることのない的確な発光出力制御を行うこと
ができる。
達威するため、本発明は半導体レーザからの出射光によ
って記録媒体に情報の記録および／または再生を行う光
学式情報記録再生装置において、前記半導体レーザおよ
び記録媒体間の光路中に設置される光束分割手段により
分割された前方出射光を受光する第１の光検出器と、前
記半導体レーザの後方出射光を受光する第２の光検出器
と、戻り光の影響を受けない状態における前記第１およ
び第２の光検出器の出力を比較する比較手段と、この比
較手段の出力および前記第１の光検出器の出力に基づき
前記半導体レーザの発光出力を制御するレーザ出力制御
手段とを具備するようにする． これにより戻り光の影響を受けない状態における前方出
射光および後方出射光の検出値を比較して前方モニタ光
学系の塵埃等の影響による検出誤差分を求めるから、実
際に情報を記録および／または再生する際には前方モニ
タ用の光検出器の出力に上記誤差分を補正した値に基づ
いて半導体レーザの発光出力を制御して、上記塵埃等の
影響を受けることのない的確な発光出力制御を行うこと
ができる。
第１図は本発明の第１実施例の構威を示す図、第２図は
同例の具体的な回路構成を示す回路図であり、第４図の
従来例と同一の部分には同一符号を付してある（なお第
１図は後述する第２実施例にも共用する）． この光学式情報記録再生装置は情報の記録、再生、消去
の処理の内の少なくとも１つの処理を行うものであり、
第４図の従来例の構威に加えて、前方モニタ用光検出器
６およびＡＰＣ回路７間に誤差検出回路９を挿入し、こ
の誤差検出回路９に後方モニタ用光検出器８からの信号
をも入力するようにして構威してある． この例においては、半導体レーザｌから出射された前方
出射レーザ光束１ａはコリメータレンズ２で平行光束に
された後、光路上のビームスプリッタ３により２分割さ
れ、その一方の光束１ａ−１は対物レンズ４によって集
光されて記録媒体５上に合焦点（光スポット）を形成し
、情報の記録、再生等を行う．またビームスブリツタ３
により分割された他方の光束１ａ−２は前方モニタ用光
検出器６により受光されて、その光量に比例する電気信
号に変換される．さらに半導体レーザ１から出射された
後方出射レーザ光束１ｂは半導体レーザ１の後方に設置
された後方モニタ用光検出器８により受光されて、その
光量に比例する電気信号に変換される。
同例の具体的な回路構成を示す回路図であり、第４図の
従来例と同一の部分には同一符号を付してある（なお第
１図は後述する第２実施例にも共用する）． この光学式情報記録再生装置は情報の記録、再生、消去
の処理の内の少なくとも１つの処理を行うものであり、
第４図の従来例の構威に加えて、前方モニタ用光検出器
６およびＡＰＣ回路７間に誤差検出回路９を挿入し、こ
の誤差検出回路９に後方モニタ用光検出器８からの信号
をも入力するようにして構威してある． この例においては、半導体レーザｌから出射された前方
出射レーザ光束１ａはコリメータレンズ２で平行光束に
された後、光路上のビームスプリッタ３により２分割さ
れ、その一方の光束１ａ−１は対物レンズ４によって集
光されて記録媒体５上に合焦点（光スポット）を形成し
、情報の記録、再生等を行う．またビームスブリツタ３
により分割された他方の光束１ａ−２は前方モニタ用光
検出器６により受光されて、その光量に比例する電気信
号に変換される．さらに半導体レーザ１から出射された
後方出射レーザ光束１ｂは半導体レーザ１の後方に設置
された後方モニタ用光検出器８により受光されて、その
光量に比例する電気信号に変換される。
本例においては、実際に情報の記録、再生等を行う前に
、以下の発光出力制御に用いるデータの初期設定（記憶
）のために、前方モニタ光学系の塵埃等による検出誤差
分を求めておく．具体的には上記検出誤差分のみを求め
るため、まず記録媒体５からの戻り光の影響を受けない
状熊にしておく（この状態には例えば記録媒体を装置か
ら外した状態や、対物レンズ４のフォーカスサーボ回路
においてフォーカスエラー信号にオフセット信号を重畳
することにより非合焦にした状態が該当する）．次にこ
の状態で半導体レーザｌの発光出力を順次変化させてい
き、この発光出力の各値に対応する光検出器６よび８の
出力信号を夫々誤差検出回路９に入力し、これらの出力
信号に基づいて誤差比を求めて記憶しておく． 上記初期設定処理についてこの第１実施例の具体的な回
路構威を示す第２図によって数式を用いてさらに詳細に
説明する．半導体レーザｌからの前方出射レーザ光束１
ａの、ビームスプリ１ノタ３で分割された光束１ａ−１
は、前方モニタ用光検出器６によってその光量に比例す
る電気信号Ｓｌ．に変換され、誤差検出回路９の除算器
９ａおよび乗算器９ｂに人力される．また半導体レーザ
１からの後方出射レーザ光束１ｂは、後方モニタ用光検
出器８によってその光量に比例する電気信号Ｓ０に変換
され、除算器９ａに入力される。除算器９ａは、これら
信号ＳＩＩ＋ ＳＩｂに基づき誤差比ｋをｋ ＝ Ｓ
Ｉ ｂ／Ｓ Ｉ＆により算出し、誤差検出回路９中の
誤差比サンプルホールド回路９Ｃに記憶しておく．なお
誤差比サンプルホールド回路９Ｃは上記誤差比の設定中
は誤差比ｋを乗算器９ｂに出力せず、設定完了後に誤差
比ｋを乗算器９ｂに出力している間は再設定指？がなさ
れない限り信号Ｓｌｋの取り込みを行わないものとする
． 上記初期設定完了後、実際に情報の記録、再生、消去を
行う際には、誤差検出回路９中の乗算器９ｂにおいて前
方モニタ用光検出器６からの信号Ｓ１■と、その信号Ｓ
ｌｌｍに対応する、誤差比サンプルホールド回路９ｃか
らの誤差比ｋとが乗算されて、前述した塵埃等の影響を
補正した値（以下補正前方モニタ出力と称す）ｋ’ＳＩ
−が求められてＡＰＣ回路７に入力され、この補正前方
モニタ出力ｋ・Ｓ．に基づき、ＡＰＣ回路７によって駆
動回路ｌＯを介して半導体レーザｌの発光出力制御（例
えばレーザ出力一定制御）が行われる．これにより上記
塵埃等の影響を受けることのない、的確な半導体レーザ
の発光出力制御を行うことができる．第３図は本発明の
第２実施例の具体的な回路構威を示す回路図であり、第
２図の第１実施例の回路と同一の部分には同一符号を付
してある．なおこの例における光学系の構威は第１図の
第１実施例と同一である． この例においては誤差検出回路９をＡ／Ｄ変換器９ｄ，
９ｅ， Ｃ Ｐ Ｕ９ｆおよび補正前方モニタ出力
テーブル９ｇによって構成し、後方モニタ用光検出器８
からの信号ＳｌｂをＡ／Ｄ変換器９ｄに人力し、前方モ
ニタ用光検出器６からの信号ＳｌａをＡ／Ｄ変換器９ｅ
に入力ずるようにする。
、以下の発光出力制御に用いるデータの初期設定（記憶
）のために、前方モニタ光学系の塵埃等による検出誤差
分を求めておく．具体的には上記検出誤差分のみを求め
るため、まず記録媒体５からの戻り光の影響を受けない
状熊にしておく（この状態には例えば記録媒体を装置か
ら外した状態や、対物レンズ４のフォーカスサーボ回路
においてフォーカスエラー信号にオフセット信号を重畳
することにより非合焦にした状態が該当する）．次にこ
の状態で半導体レーザｌの発光出力を順次変化させてい
き、この発光出力の各値に対応する光検出器６よび８の
出力信号を夫々誤差検出回路９に入力し、これらの出力
信号に基づいて誤差比を求めて記憶しておく． 上記初期設定処理についてこの第１実施例の具体的な回
路構威を示す第２図によって数式を用いてさらに詳細に
説明する．半導体レーザｌからの前方出射レーザ光束１
ａの、ビームスプリ１ノタ３で分割された光束１ａ−１
は、前方モニタ用光検出器６によってその光量に比例す
る電気信号Ｓｌ．に変換され、誤差検出回路９の除算器
９ａおよび乗算器９ｂに人力される．また半導体レーザ
１からの後方出射レーザ光束１ｂは、後方モニタ用光検
出器８によってその光量に比例する電気信号Ｓ０に変換
され、除算器９ａに入力される。除算器９ａは、これら
信号ＳＩＩ＋ ＳＩｂに基づき誤差比ｋをｋ ＝ Ｓ
Ｉ ｂ／Ｓ Ｉ＆により算出し、誤差検出回路９中の
誤差比サンプルホールド回路９Ｃに記憶しておく．なお
誤差比サンプルホールド回路９Ｃは上記誤差比の設定中
は誤差比ｋを乗算器９ｂに出力せず、設定完了後に誤差
比ｋを乗算器９ｂに出力している間は再設定指？がなさ
れない限り信号Ｓｌｋの取り込みを行わないものとする
． 上記初期設定完了後、実際に情報の記録、再生、消去を
行う際には、誤差検出回路９中の乗算器９ｂにおいて前
方モニタ用光検出器６からの信号Ｓ１■と、その信号Ｓ
ｌｌｍに対応する、誤差比サンプルホールド回路９ｃか
らの誤差比ｋとが乗算されて、前述した塵埃等の影響を
補正した値（以下補正前方モニタ出力と称す）ｋ’ＳＩ
−が求められてＡＰＣ回路７に入力され、この補正前方
モニタ出力ｋ・Ｓ．に基づき、ＡＰＣ回路７によって駆
動回路ｌＯを介して半導体レーザｌの発光出力制御（例
えばレーザ出力一定制御）が行われる．これにより上記
塵埃等の影響を受けることのない、的確な半導体レーザ
の発光出力制御を行うことができる．第３図は本発明の
第２実施例の具体的な回路構威を示す回路図であり、第
２図の第１実施例の回路と同一の部分には同一符号を付
してある．なおこの例における光学系の構威は第１図の
第１実施例と同一である． この例においては誤差検出回路９をＡ／Ｄ変換器９ｄ，
９ｅ， Ｃ Ｐ Ｕ９ｆおよび補正前方モニタ出力
テーブル９ｇによって構成し、後方モニタ用光検出器８
からの信号ＳｌｂをＡ／Ｄ変換器９ｄに人力し、前方モ
ニタ用光検出器６からの信号ＳｌａをＡ／Ｄ変換器９ｅ
に入力ずるようにする。
次にこの例の発光出力制御について説明する．まずデー
タの初期設定時には、第１実施例と同様に、記録媒体５
からの戻り光の影響を受けない状態での後方モニタ用光
検出器８、前方モニタ用光検出器６の出力信号Ｓｌｂ＋
Ｓｌｍを夫々Ａ／Ｄ変換器９ｄ， ９ｅでディジタル
値に変換してＣ Ｐ ＬＪ９ｆに入力する，ＣＰＵ９ｆ
はこれらディジタル値を補正前方モニタ出力テーブル９
のメモリに記憶し、このような処理を半導体レーザｌの
発光出力を順次変化させながら繰返すことによって多数
のデータが得られて補正前方モニタ出力テーブル９ｇが
作成される（この補正前方モニタ出力テーブルには第１
実施例の補正前方モニタ出力ｋ’Ｓ＋−と同様の値が記
憶されることになる）．なおこの補正前方モニタテーブ
ルは一旦初期設定が完了したら再設定指令がなされない
限り、データの書換えはできないものとする。
タの初期設定時には、第１実施例と同様に、記録媒体５
からの戻り光の影響を受けない状態での後方モニタ用光
検出器８、前方モニタ用光検出器６の出力信号Ｓｌｂ＋
Ｓｌｍを夫々Ａ／Ｄ変換器９ｄ， ９ｅでディジタル
値に変換してＣ Ｐ ＬＪ９ｆに入力する，ＣＰＵ９ｆ
はこれらディジタル値を補正前方モニタ出力テーブル９
のメモリに記憶し、このような処理を半導体レーザｌの
発光出力を順次変化させながら繰返すことによって多数
のデータが得られて補正前方モニタ出力テーブル９ｇが
作成される（この補正前方モニタ出力テーブルには第１
実施例の補正前方モニタ出力ｋ’Ｓ＋−と同様の値が記
憶されることになる）．なおこの補正前方モニタテーブ
ルは一旦初期設定が完了したら再設定指令がなされない
限り、データの書換えはできないものとする。
上記初期設定完了後、実際に情報の記録、再生、消去を
行う際には、前方モニタ用光検出器６からの信号Ｓ．を
Ａ／Ｄ変換器９ｅでディジタル化した信号に基づく、Ｃ
Ｐ ０９ｆによる補正前方モニタ出力テーブル９の検
索が行われ、信号Ｓ ＋ａに対応する補正前方モニタ出
力が決定される．この補正前方モニタ出力に基づき、Ａ
ＰＣ回路７によって第１実施例と同様の半導体レーザｌ
の発光出力制御がなされるから、第１実施例と同様の作
用効果が得られる。
行う際には、前方モニタ用光検出器６からの信号Ｓ．を
Ａ／Ｄ変換器９ｅでディジタル化した信号に基づく、Ｃ
Ｐ ０９ｆによる補正前方モニタ出力テーブル９の検
索が行われ、信号Ｓ ＋ａに対応する補正前方モニタ出
力が決定される．この補正前方モニタ出力に基づき、Ａ
ＰＣ回路７によって第１実施例と同様の半導体レーザｌ
の発光出力制御がなされるから、第１実施例と同様の作
用効果が得られる。
以上説明したように本発明によれば、塵埃等の影響を受
け易い前方モニタ光学系の前方モニタ出力を、戻り光の
影響を受けない状態で求めておいた、塵埃等の影響を受
け難い後方モニタ光学系の後方モニタ出力との比較値に
基づいて補正するから、得られた補正前方モニタ出力に
基づき半導体レーザの発光出力を制御して、前述した塵
埃等の影響を受けることのない的確な発光出力制御を行
うことができる．
け易い前方モニタ光学系の前方モニタ出力を、戻り光の
影響を受けない状態で求めておいた、塵埃等の影響を受
け難い後方モニタ光学系の後方モニタ出力との比較値に
基づいて補正するから、得られた補正前方モニタ出力に
基づき半導体レーザの発光出力を制御して、前述した塵
埃等の影響を受けることのない的確な発光出力制御を行
うことができる．
第１図は本発明の第１実施例および第２実施例の構成を
示す図、 第２図は第１実施例の具体的な回路構戒を示す図、 第３図は第２実施例の具体的な回路構成を示す図、 第４図は従来の技術を説明するための図である。 １・・・半導体レーザ ｌａ， ｌａ−１． ｌａ−２・”前方出射レーザ光束
ｌｂ・・・後方出射レーザ光束 ２・・・コリメータレ
ンズ３・・・ビームスプリッタ ４・・・対物レンズ
５・・・記録媒体 ６・・・前方モニタ用光検出器 ７・・・自動発光出力制御回路（ＡＰＣ回路）８・・・
後方モニタ用光検出器 ９・・・誤差検出回路 第１図 第２図 第３図 第４図
示す図、 第２図は第１実施例の具体的な回路構戒を示す図、 第３図は第２実施例の具体的な回路構成を示す図、 第４図は従来の技術を説明するための図である。 １・・・半導体レーザ ｌａ， ｌａ−１． ｌａ−２・”前方出射レーザ光束
ｌｂ・・・後方出射レーザ光束 ２・・・コリメータレ
ンズ３・・・ビームスプリッタ ４・・・対物レンズ
５・・・記録媒体 ６・・・前方モニタ用光検出器 ７・・・自動発光出力制御回路（ＡＰＣ回路）８・・・
後方モニタ用光検出器 ９・・・誤差検出回路 第１図 第２図 第３図 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、半導体レーザからの出射光によって記録媒体に情報
の記録および／または再生を行う光学式情報記録再生装
置において、 前記半導体レーザおよび記録媒体間の光路 中に設置される光束分割手段により分割された前方出射
光を受光する第１の光検出器と、前記半導体レーザの後
方出射光を受光する 第２の光検出器と、 戻り光の影響を受けない状態における前記 第１および第２の光検出器の出力を比較する比較手段と
、 この比較手段の出力および前記第１の光検 出器の出力に基づき前記半導体レーザの発光出力を制御
するレーザ出力制御手段とを具備して成ることを特徴と
する、光学式情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1297703A JPH03160632A (ja) | 1989-11-17 | 1989-11-17 | 光学式情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1297703A JPH03160632A (ja) | 1989-11-17 | 1989-11-17 | 光学式情報記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03160632A true JPH03160632A (ja) | 1991-07-10 |
Family
ID=17850068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1297703A Pending JPH03160632A (ja) | 1989-11-17 | 1989-11-17 | 光学式情報記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03160632A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6925046B2 (en) | 2001-09-26 | 2005-08-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical head device and optical disk unit capable of stable signal reproduction |
-
1989
- 1989-11-17 JP JP1297703A patent/JPH03160632A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6925046B2 (en) | 2001-09-26 | 2005-08-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical head device and optical disk unit capable of stable signal reproduction |
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