JPH03152408A - Ｉｃパッケージのリード検査装置 - Google Patents
Ｉｃパッケージのリード検査装置Info
- Publication number
- JPH03152408A JPH03152408A JP29261389A JP29261389A JPH03152408A JP H03152408 A JPH03152408 A JP H03152408A JP 29261389 A JP29261389 A JP 29261389A JP 29261389 A JP29261389 A JP 29261389A JP H03152408 A JPH03152408 A JP H03152408A
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- Japan
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- illumination
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- Pending
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
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- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
［産業上の利用分野］
本発明は、画像処理を用いたＩＣパッケージのリード検
査装置に関する。 ［従来の技術１ 従来の技術は、第２図に示すように、ガラス台１０に段
差をつけ、ＩＣパッケージｌの下面から照明し、ガラス
台ｌＯの段差の高い部分１１を光らせることにより、Ｉ
Ｃパッケージの側面６方自から垂直方向のミラー５を用
いて、ＩＣパッケージｌの２辺を同時にＣＣＤカメラ４
で画像を取り込む方法がある。 また第３図に示すように、ＩＣパッケージの側面６方向
から透過照明によりＣＣＤカメラ４で画像を取り込む方
法がある。 〔発明が解決しようとする課題１ しかし、第２図に示す従来技術では、ガラス台ｌＯの段
差の高い部分１１からＩＣパッケージの側面６に叛けて
くる光は、ＩＣパッケージ１の平面に対して平行になら
ず、完全な透過照明とすることが難しい、このため、画
像を鮮明に写し出すことができなかった。第５図は、第
２図の方法における取り込み画像であるが、ＩＣパッケ
ージ１のリード部画像１００とリード部でない画像１０
１との境界が不安定であるという問題点を有する。 また、第３図に示す従来技術では、第６図に取り込み画
像を示すが、ＩＣパッケージの側面６からの透過照明に
よりリード部画像１００を鮮明に写し出すことができる
。しかしＩＣパッケージ１の１辺しか画像に取り込めな
いため、画像処理の計測時間が、第２図に示す方法に比
べて２倍かかるという問題点を有していた。 そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、Ｉ
Ｃパッケージｌの２辺を同時に鮮明な画像を取り込むこ
とを提供する点にある。 ［課題を解決するための手段］ 上記課題を解決するため、本発明のＩＣパッケージのリ
ード検査装置は、画像処理によるＩＣパッケージのリー
ド検査装置において、前記ＩＣパッケージの下面にミラ
ーを用い、前記ＩＣパッケージの下面からの照明をモー
ルド側面方向に反射させ、透過照明により前記ＩＣパッ
ケージの側面から２辺同時に画像を取り込み、リード検
査を行なうことを特徴とする。
査装置に関する。 ［従来の技術１ 従来の技術は、第２図に示すように、ガラス台１０に段
差をつけ、ＩＣパッケージｌの下面から照明し、ガラス
台ｌＯの段差の高い部分１１を光らせることにより、Ｉ
Ｃパッケージの側面６方自から垂直方向のミラー５を用
いて、ＩＣパッケージｌの２辺を同時にＣＣＤカメラ４
で画像を取り込む方法がある。 また第３図に示すように、ＩＣパッケージの側面６方向
から透過照明によりＣＣＤカメラ４で画像を取り込む方
法がある。 〔発明が解決しようとする課題１ しかし、第２図に示す従来技術では、ガラス台ｌＯの段
差の高い部分１１からＩＣパッケージの側面６に叛けて
くる光は、ＩＣパッケージ１の平面に対して平行になら
ず、完全な透過照明とすることが難しい、このため、画
像を鮮明に写し出すことができなかった。第５図は、第
２図の方法における取り込み画像であるが、ＩＣパッケ
ージ１のリード部画像１００とリード部でない画像１０
１との境界が不安定であるという問題点を有する。 また、第３図に示す従来技術では、第６図に取り込み画
像を示すが、ＩＣパッケージの側面６からの透過照明に
よりリード部画像１００を鮮明に写し出すことができる
。しかしＩＣパッケージ１の１辺しか画像に取り込めな
いため、画像処理の計測時間が、第２図に示す方法に比
べて２倍かかるという問題点を有していた。 そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、Ｉ
Ｃパッケージｌの２辺を同時に鮮明な画像を取り込むこ
とを提供する点にある。 ［課題を解決するための手段］ 上記課題を解決するため、本発明のＩＣパッケージのリ
ード検査装置は、画像処理によるＩＣパッケージのリー
ド検査装置において、前記ＩＣパッケージの下面にミラ
ーを用い、前記ＩＣパッケージの下面からの照明をモー
ルド側面方向に反射させ、透過照明により前記ＩＣパッ
ケージの側面から２辺同時に画像を取り込み、リード検
査を行なうことを特徴とする。
以下に本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。第
１図において、測定台３にミラー２を取り付ける。ここ
でＩＣパッケージｌの下面方向からＩＣパッケージ１に
向かって照明すると、下から照射された光はミラー２に
よりＩＣパッケージのＡ辺２０とＩＣパッケージの８辺
２１の２方向にＩＣパッケージｌの平面に対して平行に
反射する、よってＩＣパッケージのＡ辺２０とＩＣパッ
ケージの８辺２１の２辺を同時に透過照明を行なうこと
ができる。さらに、ＩＣパッケージのＡ辺２０とＩＣパ
ッケージの８辺２１の２辺を同時にＣＣＤカメラ４で画
像に取り込むために、垂直方向のミラー５を取り付ける
。この構造で、ＩＣパッケージｌの下面方向からＩＣパ
ッケージｌに向かって照明することにより、ＣＣＤカメ
ラ４でＩＣパッケージのＡ辺２０とＩＣパッケージの８
辺２１の２辺のリードを同時に鮮明な画像で取り込むこ
とができる。第４図に取り込み画像を示す。 ４辺にリードのあるＩＣパッケージを計測するためには
、２辺の計測が終わったら、ＩＣパッケージ１を９０度
回転させ、他の２辺を計測する。 また第７図に示すように、測定台３上でＩＣパッケージ
のＡ辺２０とＩＣパッケージの８辺２１の２辺を同時に
画像に取り込み、計測が終わったら次の測定台７にＩＣ
パッケージｌを搬送し、同様にＩＣパッケージの０辺２
２とＩＣパッケージの９辺２３の２辺を同時に画像に取
り込んで計測を行なうというように、順次計測してもよ
い、こうして測定した場合は、見かけ上２辺の計測時間
で４辺の計測が終了したことになり、計測時間を速くす
ることができる。 ［発明の効果１ 以上説明したように、本発明によればＩＣパッケージの
測定台にミラーを取り付けるという簡単な構造によって
、ＩＣパッケージの下面からの照明をＩＣパッケージ側
面方向に反射させ、透過照明により鮮明な画像でＩＣパ
ッケージの２辺を同時に取り込むことができる効果があ
る。
１図において、測定台３にミラー２を取り付ける。ここ
でＩＣパッケージｌの下面方向からＩＣパッケージ１に
向かって照明すると、下から照射された光はミラー２に
よりＩＣパッケージのＡ辺２０とＩＣパッケージの８辺
２１の２方向にＩＣパッケージｌの平面に対して平行に
反射する、よってＩＣパッケージのＡ辺２０とＩＣパッ
ケージの８辺２１の２辺を同時に透過照明を行なうこと
ができる。さらに、ＩＣパッケージのＡ辺２０とＩＣパ
ッケージの８辺２１の２辺を同時にＣＣＤカメラ４で画
像に取り込むために、垂直方向のミラー５を取り付ける
。この構造で、ＩＣパッケージｌの下面方向からＩＣパ
ッケージｌに向かって照明することにより、ＣＣＤカメ
ラ４でＩＣパッケージのＡ辺２０とＩＣパッケージの８
辺２１の２辺のリードを同時に鮮明な画像で取り込むこ
とができる。第４図に取り込み画像を示す。 ４辺にリードのあるＩＣパッケージを計測するためには
、２辺の計測が終わったら、ＩＣパッケージ１を９０度
回転させ、他の２辺を計測する。 また第７図に示すように、測定台３上でＩＣパッケージ
のＡ辺２０とＩＣパッケージの８辺２１の２辺を同時に
画像に取り込み、計測が終わったら次の測定台７にＩＣ
パッケージｌを搬送し、同様にＩＣパッケージの０辺２
２とＩＣパッケージの９辺２３の２辺を同時に画像に取
り込んで計測を行なうというように、順次計測してもよ
い、こうして測定した場合は、見かけ上２辺の計測時間
で４辺の計測が終了したことになり、計測時間を速くす
ることができる。 ［発明の効果１ 以上説明したように、本発明によればＩＣパッケージの
測定台にミラーを取り付けるという簡単な構造によって
、ＩＣパッケージの下面からの照明をＩＣパッケージ側
面方向に反射させ、透過照明により鮮明な画像でＩＣパ
ッケージの２辺を同時に取り込むことができる効果があ
る。
第１図は、本発明のＩＣパッケージのリード検査装置の
側面図。 第２図及び第３図は、従来のＩＣパッケージのリード検
査装置の側面図。 第４図は、本発明のＩＣパッケージのリード検査装置に
よる取り込み画像の図。 第５図及び第６図は、従来のＩＣパッケージのリード検
査装置による取り込み画像の図。 第７図は、ＩＣパッケージの４辺を測定するための一例
を示した図。 ＩＣパッケージ ミラー 測定台 ＣＣＤカメラ 垂直方向のミラー ＩＣパッケージの側面 次の測定台 ガラス台 段差の高い部分 ０ ２１ ２ ３ ００ ０１ １ＣパツケージのＡ辺 ＩＣパッケージの８辺 ＩＣパッケージの０辺 ＩＣパッケージのＤ辺 リード部画像 リード部でない画像
側面図。 第２図及び第３図は、従来のＩＣパッケージのリード検
査装置の側面図。 第４図は、本発明のＩＣパッケージのリード検査装置に
よる取り込み画像の図。 第５図及び第６図は、従来のＩＣパッケージのリード検
査装置による取り込み画像の図。 第７図は、ＩＣパッケージの４辺を測定するための一例
を示した図。 ＩＣパッケージ ミラー 測定台 ＣＣＤカメラ 垂直方向のミラー ＩＣパッケージの側面 次の測定台 ガラス台 段差の高い部分 ０ ２１ ２ ３ ００ ０１ １ＣパツケージのＡ辺 ＩＣパッケージの８辺 ＩＣパッケージの０辺 ＩＣパッケージのＤ辺 リード部画像 リード部でない画像
Claims (1)
- 画像処理によるＩＣパッケージのリード検査装置におい
て、前記ＩＣパッケージの下面にミラーを用い、前記Ｉ
Ｃパッケージの下面からの照明をモールド側面方向に反
射させ、透過照明により前記ＩＣパッケージの側面から
２辺同時に画像を取り込み、リード検査を行なうことを
特徴とするＩＣパッケージのリード検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29261389A JPH03152408A (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 | Ｉｃパッケージのリード検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29261389A JPH03152408A (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 | Ｉｃパッケージのリード検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03152408A true JPH03152408A (ja) | 1991-06-28 |
Family
ID=17784066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29261389A Pending JPH03152408A (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 | Ｉｃパッケージのリード検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03152408A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011017712A (ja) * | 2010-08-19 | 2011-01-27 | Nhk Spring Co Ltd | 測定装置及び測定方法 |
| JP2016128781A (ja) * | 2015-01-09 | 2016-07-14 | 上野精機株式会社 | 外観検査装置 |
-
1989
- 1989-11-10 JP JP29261389A patent/JPH03152408A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011017712A (ja) * | 2010-08-19 | 2011-01-27 | Nhk Spring Co Ltd | 測定装置及び測定方法 |
| JP2016128781A (ja) * | 2015-01-09 | 2016-07-14 | 上野精機株式会社 | 外観検査装置 |
| WO2016111025A1 (ja) * | 2015-01-09 | 2016-07-14 | 上野精機株式会社 | 外観検査装置 |
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