JPH03150450A - 実装基板検査装置 - Google Patents
実装基板検査装置Info
- Publication number
- JPH03150450A JPH03150450A JP1290240A JP29024089A JPH03150450A JP H03150450 A JPH03150450 A JP H03150450A JP 1290240 A JP1290240 A JP 1290240A JP 29024089 A JP29024089 A JP 29024089A JP H03150450 A JPH03150450 A JP H03150450A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- camera
- board
- marker
- parts
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003550 marker Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 abstract 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
ω 産業上の利用分野
本発明は基板に実装された部品の映像から装着状態の良
否を判定し、問題のある部品にはマーキングを施すとい
う作業を行う装置に関する。 （ロ）従来の技術 電子回路を構成するにあたり、近年ますます多くの表向
実装型部品が用いられるようになっている。基板のスル
ーホールにリードを挿入するものに比べ、表向実装型部
品はランドに対し位置ずれを生じやすく、そのため半田
付工程の前に装着状態を検査して、その部品が良好な半
田接続を得られるか・どうかを調べる必要がある。この
ような目的に用いられる装置の例として、特開昭６２−
１８２８０９号公報に記載されたもの、あるいは特開昭
６３−１４３６７７号公報に記載されたものを挙げるこ
とができる。 （ハ）発明が解決しようとする課題 検査の結果、何らかの問題ありと判定した場合には、部
品にマーキングを施すと共に基板を修正工程へ送って修
正作業を行うことになるが、本発明はこのマーキングを
能率的に行える装置を提供しようとするものである。 に）課題を解決するための手段 上記課Ｋを解決するため、本発明では、検査対象の実装
基板に向かい合う支持台にカメラ及びマーカを支持させ
、ＸＹステージにより支持板と実装基板との間に相対移
動を生せしめるようにすると共に、カメラのとり込んだ
基板画像情報を一旦メモリに蓄積し・、このメモリから
判定部が遂次情報をとり出して部品装着状態の良否を判
定するようにする。そして、メモリに空き領域がな（な
り、新たに空き領域ができるまで画像とり込み作業を中
断しなければならないような場合には、その空き時間を
利用して、要識別と判定した部品の上にマーカでマーキ
ングを行うものとした。 （ホ）作用 通常の処理では全部品の検査を終えた後にまとめてマー
キングを行うのであるが、部品の検査途中でも空き時間
が生じればマーキングを遂次済ませて行くので、最終段
階に持ち越される要職別部品の数が少なくなる。 （へ）実施例 第１図に実装基板検査装置１の全体構成を示す。２は上
Ｕ
否を判定し、問題のある部品にはマーキングを施すとい
う作業を行う装置に関する。 （ロ）従来の技術 電子回路を構成するにあたり、近年ますます多くの表向
実装型部品が用いられるようになっている。基板のスル
ーホールにリードを挿入するものに比べ、表向実装型部
品はランドに対し位置ずれを生じやすく、そのため半田
付工程の前に装着状態を検査して、その部品が良好な半
田接続を得られるか・どうかを調べる必要がある。この
ような目的に用いられる装置の例として、特開昭６２−
１８２８０９号公報に記載されたもの、あるいは特開昭
６３−１４３６７７号公報に記載されたものを挙げるこ
とができる。 （ハ）発明が解決しようとする課題 検査の結果、何らかの問題ありと判定した場合には、部
品にマーキングを施すと共に基板を修正工程へ送って修
正作業を行うことになるが、本発明はこのマーキングを
能率的に行える装置を提供しようとするものである。 に）課題を解決するための手段 上記課Ｋを解決するため、本発明では、検査対象の実装
基板に向かい合う支持台にカメラ及びマーカを支持させ
、ＸＹステージにより支持板と実装基板との間に相対移
動を生せしめるようにすると共に、カメラのとり込んだ
基板画像情報を一旦メモリに蓄積し・、このメモリから
判定部が遂次情報をとり出して部品装着状態の良否を判
定するようにする。そして、メモリに空き領域がな（な
り、新たに空き領域ができるまで画像とり込み作業を中
断しなければならないような場合には、その空き時間を
利用して、要識別と判定した部品の上にマーカでマーキ
ングを行うものとした。 （ホ）作用 通常の処理では全部品の検査を終えた後にまとめてマー
キングを行うのであるが、部品の検査途中でも空き時間
が生じればマーキングを遂次済ませて行くので、最終段
階に持ち越される要職別部品の数が少なくなる。 （へ）実施例 第１図に実装基板検査装置１の全体構成を示す。２は上
Ｕ
【に部品３を装着した基板（実装基板）、１０は基板
２の上に配置された支持台である。 基板２と支持台１０の間にはＸＹステージ１１により相
対移動を生せしめるのであるが、本発明では、図示しな
い構造体にＸＹステージ１１を下向きに取り付け・これ
に支持台１０を垂下状態で装着する構成をとっている。 支持台１０にはカメラ（工業用テレビカメラ）１２、下
部照明装置］３、下部照明部ｆｆ１４、及び”７−カ】
５を取り付ける。 カメラ１２はズームレンズ１６を基板に向け、ある大き
さの視野（これをセルと呼ぶ）内の画像情報をとり込む
。上部照明装置１３及び下部照明部Ｗ１４は、カメラ１
２の見通しを妨げないよう、また部品３にあらゆる方向
から光を照射できるよう、リング状になっている。すな
わち下部照明部ｇ１３は電灯の傘のように末広がりにな
ったリング部１７を有し、その内面に、発光ダイオード
１８の環状列を何層も配置している。下部照明装置１４
は基板２に接せんばかりの低い位置に取り付けられてい
るが、これはテーパのないリング部１９を有し、その内
面に、やはり発光ダイオード１８の環状列を何層も配置
している。上部照明’７１（１３と下部照明装置１４は
、要求される照明条件に応じて単独で、あるいは同時に
使用される。発光ダイオード１８も発光色の異なるもの
が環状列単位でとり混ぜられており、画像コントラスト
が最良になるよう、基板２と部品３の色調に応じて光の
色合いを変えられろようになっている。 マーカ１５は、エアシリンダ２０のロッド２１の先端に
一アーキングヘッド２２を装着した構成のものである。 エアシリンダ２０は水平面に対し４５°の角度をなすよ
うブラケット２３で支持台１０に取り付けられている。 マーキングヘッド２２は通常はカメラ１２の視野外に位
置するが、エアシリンダ２０がロッド２１を伸ばすとカ
メラ１２の視野の中心に進出する。ここでマーキングヘ
ッド２２の内部のエアシリンダ（図示せず）がデイスペ
ンサノズル２４を押し出し、デイスペンサノズル２４に
より目標の部品３に目印の塗料を付着させるものである
◇ ３０は各拝処理と指令を行う処理部である。３１．３２
は処理部３０の中枢をなす中央処理証で、３１は動作制
御部として、３２は判定部として、それぞれ機能する。 動作制御部３１と判定部３２にはパスライン３３を介し
、マーカコントローラ３４、ＸＹステージコントローラ
３５、メモリ３６、Ａ／Ｄ変換部３７、撮像コントロー
ラ３８、画像処理部３９、映像用ＣＲＴ４Ｑ・データ用
ＣＲＴ４１、キーボード４２、プリンタ４３が接続され
ている。撮像コントローラ３８はカメラ１２及び上部・
下部照明装置１３．１４を制御するものであり、カメラ
１２についてはズーミングや露出調整を、上部・下部照
明部１３．１４については照度調整や照明方向の切替を
行う。また動作制御部３１はマーカコントローラ３４及
びＸＹステージコントローラ３５を統括制御する。 上記装置は次のように動作する。まず第３図に通常の場
合の処理の流れを示す。すなわち図示しない基板供給装
置により基板２が供給され、カメラ１２の下に位置状め
されると、検査プログラムに従ってＸＹステージ１１が
移動し、目標とする部品３をカメラ１２の視野（セル）
の中心に宿く。 カメラ１２のとり込んだ当該セルの画像情報はＡ／Ｄ変
換部３７を経てメモリ３６に蓄積される。 判定部３２はセル画像をメモリ３６から引き出して部品
３の装着状態の良否を判定する。原画像のままでは判定
に支障がある時は、画像情報をメモリ３６から取り出し
て画像処理部３９へ送り、必要な処理を加えた後メモリ
３６へ戻し、この画像情報により判定を行う。判定部３
２が判定を行っている間、カメラ１２は次々に新しいセ
ルへ移動し、新しいセル画像をメモリ３６へ送り続ける
。 全セルにつき判定を終えた後、要職別部品、いわゆるＮ
Ｇ （ｎｏ ｇｏｏｄ ）部品上にカメラ１２のセン
ターを移動させ、マーカ１５でマーキングを行う。 マーキング終了後、基板２は修正工程へ送られる。 マーキングを受けた部品がなければ、基板２は良品とし
て次工程へ送られる。 さて本発明の特徴とするところは、第２図に示す処理を
第３図の通常処理に優先して行うところにある。すｊ（
わち同図のステップＢ、Ｃでセル画像の取り込みを行っ
た後、ステップＤで画像処理を行い、ステップＥで判定
を終えるまでの間、カメラ１２は次のセルへ移動しくス
テップＦ）、新たな画像を取り込む（ステップＧ）。更
に次のセルへ移動しくステップＨ）、新たな画像を取り
込む（ステップＩ）。この動作を、基板２の全セル画像
を撮影し尽すまで繰り返す。ところでカメラ１２の移動
時間も含めた画像取り込み時間と、部品装着の良否判定
時間を比べた場合、後者の方が長くかかる上、メモリ３
６の容量には限りがあるので、メモリ３６が容量−杯に
なってしまうことがある。このような場合には、判定部
３２での作業が進んでメモリ３６に空き領域が生じるま
で、画像のとり込みを中断しなければならない。そこで
、この中断時間を利用して、ステップＬ、Ｍで示すよう
に、要識別と判定された部品３の上へカメラ１２を移動
させ、マーカ１５でマーキングを行っておく。このよう
に空き時間の度毎にマーキング処理を済ませ、空き時間
だけではマーキングしきれない解合は、第３図の通常処
理の方式に戻って、全セルの判定終了後に残った部品を
マーキングする。 （ト）発明の効果 本発明によれば、基板の画像とり込み作業中の空き時間
を利用して要職別部品のマーキング処理を済ませるので
、装置の動きに無駄がなく、検査σ６始からマーキング
終了までの時間を短縮し、作業能率を向上させろことが
できる、
２の上に配置された支持台である。 基板２と支持台１０の間にはＸＹステージ１１により相
対移動を生せしめるのであるが、本発明では、図示しな
い構造体にＸＹステージ１１を下向きに取り付け・これ
に支持台１０を垂下状態で装着する構成をとっている。 支持台１０にはカメラ（工業用テレビカメラ）１２、下
部照明装置］３、下部照明部ｆｆ１４、及び”７−カ】
５を取り付ける。 カメラ１２はズームレンズ１６を基板に向け、ある大き
さの視野（これをセルと呼ぶ）内の画像情報をとり込む
。上部照明装置１３及び下部照明部Ｗ１４は、カメラ１
２の見通しを妨げないよう、また部品３にあらゆる方向
から光を照射できるよう、リング状になっている。すな
わち下部照明部ｇ１３は電灯の傘のように末広がりにな
ったリング部１７を有し、その内面に、発光ダイオード
１８の環状列を何層も配置している。下部照明装置１４
は基板２に接せんばかりの低い位置に取り付けられてい
るが、これはテーパのないリング部１９を有し、その内
面に、やはり発光ダイオード１８の環状列を何層も配置
している。上部照明’７１（１３と下部照明装置１４は
、要求される照明条件に応じて単独で、あるいは同時に
使用される。発光ダイオード１８も発光色の異なるもの
が環状列単位でとり混ぜられており、画像コントラスト
が最良になるよう、基板２と部品３の色調に応じて光の
色合いを変えられろようになっている。 マーカ１５は、エアシリンダ２０のロッド２１の先端に
一アーキングヘッド２２を装着した構成のものである。 エアシリンダ２０は水平面に対し４５°の角度をなすよ
うブラケット２３で支持台１０に取り付けられている。 マーキングヘッド２２は通常はカメラ１２の視野外に位
置するが、エアシリンダ２０がロッド２１を伸ばすとカ
メラ１２の視野の中心に進出する。ここでマーキングヘ
ッド２２の内部のエアシリンダ（図示せず）がデイスペ
ンサノズル２４を押し出し、デイスペンサノズル２４に
より目標の部品３に目印の塗料を付着させるものである
◇ ３０は各拝処理と指令を行う処理部である。３１．３２
は処理部３０の中枢をなす中央処理証で、３１は動作制
御部として、３２は判定部として、それぞれ機能する。 動作制御部３１と判定部３２にはパスライン３３を介し
、マーカコントローラ３４、ＸＹステージコントローラ
３５、メモリ３６、Ａ／Ｄ変換部３７、撮像コントロー
ラ３８、画像処理部３９、映像用ＣＲＴ４Ｑ・データ用
ＣＲＴ４１、キーボード４２、プリンタ４３が接続され
ている。撮像コントローラ３８はカメラ１２及び上部・
下部照明装置１３．１４を制御するものであり、カメラ
１２についてはズーミングや露出調整を、上部・下部照
明部１３．１４については照度調整や照明方向の切替を
行う。また動作制御部３１はマーカコントローラ３４及
びＸＹステージコントローラ３５を統括制御する。 上記装置は次のように動作する。まず第３図に通常の場
合の処理の流れを示す。すなわち図示しない基板供給装
置により基板２が供給され、カメラ１２の下に位置状め
されると、検査プログラムに従ってＸＹステージ１１が
移動し、目標とする部品３をカメラ１２の視野（セル）
の中心に宿く。 カメラ１２のとり込んだ当該セルの画像情報はＡ／Ｄ変
換部３７を経てメモリ３６に蓄積される。 判定部３２はセル画像をメモリ３６から引き出して部品
３の装着状態の良否を判定する。原画像のままでは判定
に支障がある時は、画像情報をメモリ３６から取り出し
て画像処理部３９へ送り、必要な処理を加えた後メモリ
３６へ戻し、この画像情報により判定を行う。判定部３
２が判定を行っている間、カメラ１２は次々に新しいセ
ルへ移動し、新しいセル画像をメモリ３６へ送り続ける
。 全セルにつき判定を終えた後、要職別部品、いわゆるＮ
Ｇ （ｎｏ ｇｏｏｄ ）部品上にカメラ１２のセン
ターを移動させ、マーカ１５でマーキングを行う。 マーキング終了後、基板２は修正工程へ送られる。 マーキングを受けた部品がなければ、基板２は良品とし
て次工程へ送られる。 さて本発明の特徴とするところは、第２図に示す処理を
第３図の通常処理に優先して行うところにある。すｊ（
わち同図のステップＢ、Ｃでセル画像の取り込みを行っ
た後、ステップＤで画像処理を行い、ステップＥで判定
を終えるまでの間、カメラ１２は次のセルへ移動しくス
テップＦ）、新たな画像を取り込む（ステップＧ）。更
に次のセルへ移動しくステップＨ）、新たな画像を取り
込む（ステップＩ）。この動作を、基板２の全セル画像
を撮影し尽すまで繰り返す。ところでカメラ１２の移動
時間も含めた画像取り込み時間と、部品装着の良否判定
時間を比べた場合、後者の方が長くかかる上、メモリ３
６の容量には限りがあるので、メモリ３６が容量−杯に
なってしまうことがある。このような場合には、判定部
３２での作業が進んでメモリ３６に空き領域が生じるま
で、画像のとり込みを中断しなければならない。そこで
、この中断時間を利用して、ステップＬ、Ｍで示すよう
に、要識別と判定された部品３の上へカメラ１２を移動
させ、マーカ１５でマーキングを行っておく。このよう
に空き時間の度毎にマーキング処理を済ませ、空き時間
だけではマーキングしきれない解合は、第３図の通常処
理の方式に戻って、全セルの判定終了後に残った部品を
マーキングする。 （ト）発明の効果 本発明によれば、基板の画像とり込み作業中の空き時間
を利用して要職別部品のマーキング処理を済ませるので
、装置の動きに無駄がなく、検査σ６始からマーキング
終了までの時間を短縮し、作業能率を向上させろことが
できる、
図は本発明の一実施例を示し、第１図は概略構成図、第
２図及び第３図は処理のフローチャートである。 １°°゛実装基板検査装置、２・・・基板、３・・・部
品、１０°゛支持台、１２・・・カメラ、１５・・・マ
ーカ、１１・・・ＸＹステージ、３１・・・動作制御部
、３６・・・メモリ、３２・・・判定部。
２図及び第３図は処理のフローチャートである。 １°°゛実装基板検査装置、２・・・基板、３・・・部
品、１０°゛支持台、１２・・・カメラ、１５・・・マ
ーカ、１１・・・ＸＹステージ、３１・・・動作制御部
、３６・・・メモリ、３２・・・判定部。
Claims (1)
- （１） カメラ及びマーカを支持する支持台と、検査対
象の実装基板と前記支持台との間に相対移動を生ぜしめ
るＸＹステージと、 前記マーカ及びＸＹステージに対し動作指令を与える動
作制御部と、 カメラの取り込んだ基板画像情報を蓄積するメモリと、 前記メモリから遂次情報をとり出して部品装着状態の良
否を判定する判定部とを備え、 前記メモリに、新たな画像情報を書き入れるべき空き領
域が生じるのを待つ間に、要識別と判定した部品の上に
マーカを移動させてマーキングを行うことを特徴とする
実装基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1290240A JPH03150450A (ja) | 1989-11-08 | 1989-11-08 | 実装基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1290240A JPH03150450A (ja) | 1989-11-08 | 1989-11-08 | 実装基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03150450A true JPH03150450A (ja) | 1991-06-26 |
Family
ID=17753573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1290240A Pending JPH03150450A (ja) | 1989-11-08 | 1989-11-08 | 実装基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03150450A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11295242A (ja) * | 1998-04-10 | 1999-10-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｘ線基板検査装置とｘ線用可視光反射膜 |
-
1989
- 1989-11-08 JP JP1290240A patent/JPH03150450A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11295242A (ja) * | 1998-04-10 | 1999-10-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｘ線基板検査装置とｘ線用可視光反射膜 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP7098795B2 (ja) | 供給部品のセット方向誤差角度教示方法 | |
| US7440606B2 (en) | Defect detector and defect detection method | |
| JP4302234B2 (ja) | 装着部品検査装置 | |
| JPH1123234A (ja) | Ｂｇａの半田ボールの高さ測定方法およびその装置 | |
| JPH03150450A (ja) | 実装基板検査装置 | |
| CN1681382A (zh) | 支承销识别方法、识别装置、丝网印刷装置和表面安装机 | |
| CN112986282A (zh) | 检查装置及检查方法 | |
| CN114222909A (zh) | 晶片外观检查装置和方法 | |
| JP2782759B2 (ja) | ハンダ付け外観検査装置 | |
| JP2003243466A (ja) | パターン検査装置及びパターン検査方法 | |
| WO2018146887A1 (ja) | 外観検査装置 | |
| JPS62180252A (ja) | プリント基板検査装置 | |
| JPH0933445A (ja) | 印刷配線板検査装置用の照明装置 | |
| JPH03150404A (ja) | 実装基板検査装置 | |
| JP2004294088A (ja) | 画像取得装置および画像取得方法 | |
| JP4262832B2 (ja) | 画像入力方法及び装置 | |
| JPH07162200A (ja) | 電子部品の装着方法及び装置 | |
| JP2005252292A (ja) | 電子部品撮像方法および電子部品装着装置 | |
| JPH03189544A (ja) | 基板検査装置 | |
| JPH06174446A (ja) | 実装部品検査装置 | |
| JPS63148152A (ja) | 基板検査装置 | |
| JPH05196420A (ja) | 半導体露光装置用位置合わせ方法及び装置 | |
| JPH0526815A (ja) | 実装部品検査用データの教示方法 | |
| JP2001015993A (ja) | 表面実装部品装着機およびその方法 | |
| JPH03131985A (ja) | 実装基板検査装置 |