JPH0313871A - 製品検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、生産された製品の特性を自動検査するための
製品検査装置に関する。

〔従来の技術〕

例えば、量産される製品の電気的特性を検査する方法に
おいては、自動化無人運転によって稼働させる目的の装
置が多い。

■このような装置では、製品の一部に不良があるにもか
かわらず該当測定項目を含めた全測定項目を検査してい
た。

■又、各製品に対して各測定項目の全測定範囲に渡って
検査をしていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

具体的には、 ■製品の発振周波数の測定精度が所定範囲外にもかかわ
らず、周波数に対する各種特性を測定し、その測定を無
駄にしていた。

■その製品ロントの特性が判っていても、例えばスプリ
アスの測定においても全周波数帯域を、走査してスプリ
アスの測定を行っていたので、測定に時間がかかってい
た。

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
測定項目を関連あるブロック毎に分類しそれぞれ優先度
を付け、且つ前回の製品検査データを利用することによ
り、無駄の無い測定が行え、検査時間の大幅な短縮がで
きる製品検査装置を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記課題を解決するために、本発明の製品検査装置にお
いては、 ■各測定項目を、ブロック毎に分類し、基本データ測定
項目のブロックの優先度を高くし、又同ブロック内では
基本の測定項目の優先度を高くし、測定値が所定範囲外
のときは、その優先度の低い測定項目は実行しない測定
実行判定手段を設ける。

■同一の製品ロントでは、各特性がほぼ一定となってい
るため前回検査した製品の統計値を利用し、測定範囲を
決める測定範囲決定手段を設ける。

〔作用〕

このような製品検査装置によれば、オペレータが適切な
処理が出来、無駄な検査をしないため、総合的に検査時
間の短縮が図れる。

又、同じ検査時間内では、より精度の高い測定を行うこ
とができる。

〔実施例〕

本発明の製品検査方法の実施例を示す、第１図は機能ブ
ロック図、第２図は測定項目系統図、第３図は周波数特
性を示すグラフ、第４図（ａ）は本請求項（１）の発明
を示すフロチャート、第４図（ｂ）は本請求項（２）の
発明を示すフロチャー４であり第４図（ａ）測定段階の
詳細を示すものである。

以下、本請求項（１）の発明の一実施例を図面を用いて
説明する。

検査をする複数の製品ｌは接続手段２で接続されており
、所定の製品を選択して検査するときは、測定手段３の
制御によりセレクタ４が所定の製品を選択するように切
り換えられる。次に測定手段３は所定の測定項目の測定
を開始する。

又、設定手段５により複数の検査項目を関連ある検査項
目毎にブロック分けし、ブロック単位でそのブロック内
の検査項目の優先順位を設定する。

具体的には、各ブロックの優先順位をＡ＞Ｂ＞Ｃ・と付
け、ブロック内の各測定項目の優先順位をａ＞ｂ＞Ｃ・
　・・と付ける。

この設定はオペレータが行うか、又は測定項目記憶手段
６に記憶された測定項目のタイトルにより判断し、設定
手段５が自動的に設定する。

測定手段３により各測定項目系統図された測定データの
測定精度を、測定精度判定手段７が判定し、測定精度が
予め定められた範囲外か内かを、測定実行判定手段８に
出力する。

測定項目記憶手段８は、測定項目記憶手段６に記憶され
た測定項目の優先度を判定し、測定精度が範囲外のとき
は、その製品ではその測定項目より優先度の低い測定項
目の測定を実行しないよう測定手段３を制御する。

例えば、第２図は測定項目系統図で優先度Ａの周波数系
ブロックの測定項目に測定精度が範囲外の項目があると
きは、優先度Ｂの送信高周波系ブロック、優先度Ｂの受
信高周波系ブロック、優先度Ｂの送信低周波系ブロック
、優先度Ｂの受信低周波系ブロックの測定を実行しない
でその製品の検査を中止する。

又、優先度Ａの消費電流系ブロックと周波数系ブロック
の各測定項目の測定精度が範囲内のとき、送信高周波系
ブロック内では、優先度ａの送信出力、優先度すの出力
制御と順次測定し、出力制御の測定精度が範囲外のとき
は、優先度Ｃの測定は実行せず、ブロックの優先度が同
一の優先度Ｂの受信高周波系ブロックの測定を実行する
。

尚、不良となった製品は測定項目の測定不可のリストに
より、再調整後改めて本製品検査装置により検査される
。

次に、本請求項（２）の発明の一実施例を図面を用いて
説明する。

本請求項（１）の発明の実施例と同様にデータを測定し
、その測定データはデータ書込／読出手段９により測定
データ記憶手段１０に記憶される。

又、記憶された測定データをデータ書込／読出手段９に
より読出し、統計値算出手段１１により各測定項目にお
ける、測定データの統計値を算出する。

次に、測定範囲決定手段１２は統計値により測定範囲を
決定し、測定範囲を測定手段３に出力する。

尚、最初に決定した測定範囲目で所定の測定が出来いと
きは、測定手段３は測定不可を測定範囲決定手段１２に
出力する。測定範囲決定手段１２は次の測定範囲を決定
し、測定範囲を測定手段３に出力する。

例えば、第３図に示すスプリアスを測定する場合、前回
までの測定データの統計値より、その中心周波数の一σ
から＋σを測定範囲と決定し、その測定範囲で測定不可
のときは、その中心周波数の２σから＋２σを測定範囲
と決定する。

尚、測定範囲を決定する手段は本実施例に限らず平均値
の一５％から＋５％等としてもよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように、 請求項（１）の発明の製品検査装置は、測定項目を関連
あるブロック毎に分類し、各測定項目に優先度を付け、
優先度の高い測定項目の測定精度が所定範囲外のときは
、それより優先度低い測定項目の測定を行わない測定実
行判定手段を備えているため、 良品を早く検査できるため、製品の納期を短縮すること
ができる。

請求項（２）の発明の製品検査装置は、前回迄、の検査
データを統計的に処理して、検査データの測定範囲を制
御する測定範囲決定手段を備えているため、 被検査製品の検査時間を大幅に短縮することができる。

又、同じ測定時間では、確度良く測定できるので、製品
検査データの信頼性が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は請求項（１）、請求項（２）の発明の一実施例
を示す機能ブロンク図、第２図は請求項（１）の発明の
一実施例の測定項目系統図、第３図は請求項（２）の発
明を説明するための周波特性図、第４図（ａ）は請求項
（１）の発明の一実施例を示すフロチャート、第４図（
ｂ）は請求項（２）の発明の一実施例を示すフロチャー
トである。 ５・・・設定手段、６・・・測定項目記憶手段、７・・
・測定精度判定手段、８・・・測定実行判定手段、ＩＯ
・・・測定データ記憶手段、１１・ ・統計値算出手段、１２ ・測定範囲決定 手段。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数の測定項目を順次測定する製品検査装置にお
   いて、 前記複数の測定項目を記憶する記憶手段と、該記憶手段
   に記憶された前記複数の測定項目を、関連あるブロック
   毎に分けて分類し、前記ブロック内の前記各測定項目に
   優先度を付け、前記各ブロックに優先度を付けるための
   設定手段と、各測定項目における測定精度を判定するた
   めの測定精度判定手段と、 前記優先度に従った測定項目について被検査製品を順次
   測定し、優先度の高い測定項目の測定精度が所定の範囲
   外のときは、それより優先度の低い測定項目の測定をし
   ない判定をする測定実行判定手段とを備えたことを特徴
   とする製品検査装置。
2. （２）複数個の同種の製品を検査する製品検査装置にお
   いて、 測定した前記同種製品の各々の測定データを記憶する測
   定データ記憶手段と、 該測定データ記憶手段に記憶された前記測定データを測
   定項目による統計値を算出する統計値算出手段と、 次回測定する測定項目の測定範囲を、前記統計値算出手
   段より算出された統計値により決定する測定範囲決定手
   段とを備えたことを特徴とする製品検査装置。