JPH03130677A - 電子回路基板の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、プリント配線板と電子部品のリードとを半田
接続部により電気的に接続した電子回路基板を検査し、
又は種々の微調整を行う電子回路基板の検査装置に関す
る。

（従来の技術） テレビジョン（以下、ＴＶと略す）用の電子回路基板な
ど、プリント配線板に電子部品を実装し、当該プリント
配線板と電子部品のリードとを半田接続部により電気的
に接続した電子回路基板は種々のものがあり、これらの
電子回路基板を検査し、又は微調整を行う検査装置は、
従来から種々のものが案出されている。

そして、これらの電子回路基板の検査装置の中には、電
子回路基板を水平に支持する基板支持部と、この基板支
持部で支持された電子回路基板の裏面の半田接続部に下
方より当接して当該電子回路基板の機能を検査するテス
トピンを多数立設したピンボードと、このピンボードを
手動で上下動させて前記テストピンを前記半田接続部に
接離させる駆動部とを備えたものがあり、この駆動部と
して、上下レバーを回動することにより、手動でピンボ
ードを上下動させるようになったものが一般的に知られ
ている。

このような従来の電子回路基板の検査装置を使用して、
ＴＶ用の電子回路基板を検査、調整するには、先ず、基
板支持部によって電子回路基板を水平に支持し、そして
、上下レバーを回動してピンボードを上動させピンボー
ド上のテストピンを電子回路基板裏面の半田接続部に当
接させる。

次に、この検査装置にテスト電源を投入して電子回路基
板を作動させ、テストピンを介してこの電子回路基板が
設計通り作動するか否かを検査したり、あるいは、設計
通りの出力が得られるよう可変抵抗等を調整したりする
。これらの検査・調整が終了した後テスト電源を遮断し
、その後の所定時間経過した後に上下レバーを回動して
ピンボードを回動させ、ピンボード上のテストピンを半
田接続部から離す。そして、この検査装置から電子回路
基板を取り外すことにより検査・調整作業を終了する。

この検査・調整作業において注意すべきところは、テス
ト電源遮断後の所定時間経過した後に上下レバーを回動
させてテストピンを半田接続部から離す必要があり、テ
スト電源を遮断せずに又はテスト電源を遮断した直後に
上下レバーを回動させてテストピンを半田接続部から離
してはならないということである。なぜならば、検査・
調整作業中においては、テストピンを介して電子回路基
板に供給されたテスト電源により電子回路基板に実装さ
れたコンデンサーが充電されているからであり、つまり
、テスト電源を遮断せずに又はテスト電源を遮断した直
後にピンボードを下動させてテストピンを半田接続部か
ら離すと、充電されていたコンデンサーからの放電電流
が誤ってＩＣやＬＳＩ等に流れ込み、当該ＩＣ等を損傷
させてしまう虞があるからである。

このようなＩＣ等の損傷を防ぐには、上述したようにテ
スト電源遮断後の所定時間経過した後にテストピンを半
田接続部から離すよう、つまり、テスト電源遮断後の所
定時間経過した後にピンボードを下動させ、この所定時
間内にコンデンサーの放電電流が誤ってＩＣ等に回り込
まないようにしてやれば良いのである。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、従来の電子回路基板の検査装置は、上述
した如く、上下レバーを回動することにより、手動でピ
ンボードを上下動させるようになっていたため、この検
査装置を使用して検査・調整作業を行った場合に、電子
回路基板の所定時間経過前に誤ってピンボードを下動さ
せたり、あるいは、検査・調整作業を急ぐあまり所定時
間経過前にピンボードを下動させてしまい、電子回路基
板に実装されたＩＣ等を破損させていまうという虞があ
った。

このような所定時間経過前の誤操作を防止するためには
、所定時間経過前は上下レバーを回動できないよう、つ
まり、ピンボードが下動できないようロック機構を設け
ることも考えられるが、このように構成しても作業者が
無意識の内に無理やり上下レバーを回動させる虞があり
、このような場合には、この検査装置自体をも破損させ
てしまうといった問題がある。

本発明は、以上のような実情に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、検査・調整作業中に電子回路
基板に実装されたＩＣ等を破損する虞がなく、また、検
査装置自体も破損されることのない電子回路基板の検査
装置を提供するところにある。

（課題を解決するための手段） 以上のような課題を解決するために本発明が採った手段
は、 「電子回路基板（６０）を水平に支持する基板支持部（
１０）と、この基板支持部（１０）で支持された電子回
路基板（６０）の裏面の半田接続部（６１）に下方より
当接して当該電子回路基板（６０）の機能を検査するテ
ストピン（２１）を多数立設したピンボード（２０）と
、このピンボード（２０）を上下動させて前記テストピ
ン（２１）を前記半田接続部（６１）に接離させる駆動
部（３０）とを備えた電子回路基板の検査装置（１００
）において、 前記駆動部（３０）を制御して前記ピンボード（２０）
をテスト電源遮断後の所定時間経過後に自動的に下動さ
せる制御部（４０）を設けたことを特徴とする電子回路
基板の検査装置（１００）　Ｊをその要旨とするもので
あり、また、駆動部（３０）及び制御部（４０）の−例
として請求項２の発明が採った手段は、「前記駆動部（
３０）は、上下動信号により伸縮するエアーシリンダー
（３１）と、このエアーシリンダー（３１）の伸縮に応
じて前記ピンボード（２０）を上下動させるリンク機構
（３２）とからなり、前記制御部（４０）は、テスト電
源遮断後の所定時間経過後に下動信号を送出するタイマ
ーリレー（４１）と、このタイマーリレー（４１）から
の下動信号により前記エアーシリンダー（３１）を収縮
させて前記ピンボード（２０）を下動させるエアーバル
ブ（４４）とからなることを特徴とする請求項１記載の
電子回路基板の検査装置（１００）　Ｊをその要旨とす
るものである。

（発明の作用） 上記のように構成された本発明は、制御部（４０）によ
ってピンボード（２０）をテスト電源遮断後の所定時間
経過後に自動的に下動させ、つまり、所定時間経過後に
テストピン（２１）を半田接続部（６１）から自動的に
離すことによって、この所定時間内にコンデンサー（６
２）の放電電流が誤ってＩＣ等に回り込まないよう作用
すると共に、制御部（４０）によりピンボード（２０）
を自動的に上下動するよう構成することによって、換言
すれば、従来のような上下レバーをなくすことによって
、作業者が任意にピンボード（２０）を下動させること
ができないよう作用するものである。

そして、請求項２の発明は、駆動部（３０）におけるエ
アーシリンダー（３１）が制御部（４０）からの上下動
信号により伸縮し、この伸縮がリング機構を介してピン
ボード（２０）を上下動させるよう作用し、また、制御
部（４０）におけるタイマーリレー（４１）がテスト電
源遮断後の所定時間経過後に下動信号を送出して、この
下動信号によりエアーバルブ（４４）を制御してエアー
シリンダー（３１）を収縮させピンボード（２０）を下
動させるよう作用するものである。

（実施例） 以下に、本発明を第１図〜第１１図に示す一実施例にし
たがって説明する。

第１図は本発明に係る電子回路基板の検査装置（１００
）を使用した基板検査機（３００）の一実施例を示す斜
視図であり、第２図はこの基板検査機（３Ｇｏ）のうち
の検査装置の平面図である。

この基板検査機（３００）は、第１図に示すように本発
明に係る検査装置（１００）と、これにテスト電源等の
各種の電源を供給する電源装置（２００）とから構成さ
れており、各々を分離可能に構成することによって、各
装置を小形軽量化して製造ラインへの持ち込みを容易に
し、また、電源装置（２００）を標準化して検査・調整
すべき電子回路基板（６０）の種類に応じて検査装置の
みを交換すれば良いようになっている。

この検査装置は、第１図〜第１１図に示すように、主に
シャーシー（５０）、基板支持部（１０）、ピンボード
（２０）、駆動部（３０）及び制御部（４０）とから構
成されている。

シャーシー（５０）は、検査・調整すべき電子回路基板
（６０）を載置できるよう箱状に形成されており、この
シャーシー（５０）の中央付近には、方形状の切欠（５
１）が設けられている。そして、この切欠（５１）の各
辺には、電子回路基板（６０）を載置するための載置台
（５２）が設けられている。なお、このシャーシー（５
０）の前面には、電子回路基板（６０）の機能を調整す
るための各種のボリュウムスイッチ（５３）が設けられ
ている。

基板支持部（１０）は、載置台（５２）に載置された電
子回路基板（６０）を前記切欠（５１）の各辺に設けら
れた回動自在の係止片（１１）によって挟持して、当該
電子回路基板（６０）を水平に支持するようになってい
る。なお、係止片（１１）は、後述するピンボード（２
０）が上動するときに、前記切欠（５１）の各月に設け
られた枢軸（１２）を介して回動するようになっている
。

ピンボード（２０）は、基板支持部（１０）で支持され
た電子回路基板（６０）に対して、その裏面の半田接続
部（６１）に下方より当接して当該電子回路基板（６０
）の機能を検査するテストピン（２１）が多数立設され
たものであり、検査・調整する電子回路基板（６０）の
種類に応じてテストピン（２工）の配置や本数の異なる
ものに交換できるようになっている。そして、このピン
ボード（２０）は、前記切欠（５１）の内縁部に設けら
れた支持杆（２２）によって上下動自在に形成されてお
り、支持杆（２２）のスプリング（２３）によって常時
下方に付勢されている。また、このピンボード（２０）
の裏面には、検査・調整用の各種の配線（２４）が施さ
れており、これらの配線（２４）はコネクタ（２５）を
介して外部等へ導かれるようになっている。

駆動部（３０）は、主に、エアーシリンダー（３１）、
リンク機構（３２）及び支持板（３３）から構成されて
おり、エアーシリンダー（３１）は、シャーシー（５０
）の右側内方に設けられて、後述する制御部（４０）か
らの上下動信号により伸縮するようになっている。

支持板（３３）は、前述のピンボード（２０）をその両
側端で支持するようにシャーシー（５０）の切欠（５１
）に臨むよう設けられており、これらの支持板（３３）
は、シャーシー（５０）の両側面内方に設けられた高さ
調節部（３４）の支持ロッド（３５）を介して上下動自
在に形成されている。リンク機構（３２）は、エアーシ
リンダー（３１）の伸縮に応じて支持板（３３）を上下
動させ、支持板（３３）により支持されたピンボード（
２０）を上下動させるものであり、シャーシー（５０）
の両側に設けられた高さ調節部（３４）で回転可能に横
架された駆動ロッド（３６）と、基端がこの駆動ロッド
（３６）に固定され先端がエアーシリンダー（３１）の
先端に枢支された回動自在のリンク部材（３７）と、基
端が駆動ロッド（３６）に固定され先端が支持板（３３
）の裏面に回動自在に設けられた押上部材（３８）とか
ら構成されている。シャーシー（５０）の左側面内方に
は、右側面内方と同様に駆動ロッド（３６）廻りに回動
して支持板（３３）を上下動させる押上部材（３８）が
設けられており、また、駆動ロッド（３６）には検出体
（３９）が設けられておりリミットスイッチ（４７）に
より駆動ロッド（３６）の回動位置、つまり、支持板（
３３）の上下動位置が検出できるようになっている。こ
のような構成により本実施例に係る駆動部（３０）は次
のように作動する。即ち、制御部（４０）からの上動信
号によりエアーシリンダー（３１）は伸長し、これに伴
ってリンク部材（３７）が駆動ロッド（３６）を回転さ
せ、そしてこの駆動ロッド（３６）の回転が押出部材を
回動させて支持板（３３）を上動させ、これによりピン
ボード（２０）を上動させてピンボード（２０）上のテ
ストピン（２１）を電子回路基板（６０）裏面の半田接
続部（６１）に当接させるのである。一方、制御部（４
０）からの下動信号によりエアーシリンダー（３１）は
収縮し、これによりリンク機構（３２）を介してピンボ
ード（２０）を下動させ、テストピン（２１）を半田接
続部（６１）から離すのである。

制御部（４０）は、主に、タイマーリレー（４１）及び
エアーバルブ（４４）とから構成されており、そして、
これらの部品は、第１１図に示すような電気回路を構成
している。タイマーリレー（４１）は、シャーシー（５
０）の右側面内方に固着されており、また、シャーシー
（５０）上面に設けられた上下動スイッチ（４５）に直
列に接続されている。そして、このタイマーリレー（４
１）は、上下動スイッチ（４５）をＯＮにすると直ちに
リレー接点（４２）をＯＮ状態にして、このリレー接点
（４２）に直列に接続されたエアーバルブ（４４）に上
動信号を送出し、テスト電源を遮断して上下動スイッチ
（４５）をＯＦＦにすると所定時間経過後（本実施例に
あっては３秒後）にリレー接点（４２）をＯＦＦ状態に
してエアーバルブ（４４）に下動信号を送出するように
なっている。なお、このタイマーリレー（４１）は、ダ
イヤル（４３）を調整することによって上記所定時間を
変更できるようになっている。エアーバルブ（４４）は
、シャーシー（５０）の前面内側に固着されており、タ
イマーリレー（４１）からの上動信号により前記エアー
シリンダー（３１）を伸長させ、下動信号によりエアー
シリンダー（３１）を収縮させるようになっている。な
お、タイマーリレー（４１）のリレー接点（４２）には
、０Ｎ−ＯＦＦすることによってエアーバルブ（４４）
に直接上下動信号を送出するトグルスイッチ（４６）が
並列に接続されている。

以上のように構成された本実施例に係る電子回路基板の
検査装置（１００）は、上下動スイッチ（４５）をＯＮ
にするとピンボード（２０）が上動し、テストピン（２
１）を半田接続部（６１）に当接させて電子回路基板（
６０）の検査・調整が可能な状態にし、検査・調整が終
了した後にテスト電源を遮断し、上下動スイッチ（４５
）をＯＦＦにすると所定時間経過後（３秒後）に自動的
にピンボード（２０）が下動し、テストピン（２１）を
半田接続部（６１）から離して、コンデンサー（６２）
の放電電流が誤ってＩＣ等に回り込むのを防止している
のである。なお、トグルスイッチ（４６）を０Ｎ−ＯＦ
Ｆすると、上下動スイッチ（４５）の状態にかかわらず
エアーバルブ（４４）を直接駆動して、ピンボード（２
０）をマニュアルで上下動させることができる。この機
能は、電子回路基板（６０）をこの検査装置（１００）
にセットアツプする際に使用するものであり、電子回路
基板（６０）の半田接続部（６１）にテストピン（２１
）を確実に当接させるのに使用される。

なお、本発明は、上記実施例に限定されるものではなく
、例えば、駆動部（３０）の構成について、本実施例に
あってはエアーシリンダー（３１）によりピンボード（
２０）を上下動するように構成しているが油圧シリンダ
ーや電磁ソレノイド等により自動的に上下動するように
しても良く、また、上下動させる機構についても、本実
施例の如くリンク機構（３２）による必要はなく、カム
機構によって構成しても良い。また、制御部（４０）に
ついても、本実施例の如くワイアードロジックで構成す
る必要はなく、マイクロコンピュータによるソフトウェ
ア−コントロールにしても良いことは勿論である。

要するに、従来のような上下動レバーをなくして、ピン
ボード（２０）がテスト電源遮断後の所定時間経過後に
自動的に下動するようになっていればどの様な構成であ
っても良いのである。

（発明の効果） 以上のように、本発明に係る電子回路基板の検査装置は
、制御部によってピンボードをテスト電源遮断後の所定
時間経過後に自動的に下動させ、つまり、所定時間経過
後にテストピンを半田接続部から自動的に離すように構
成されている。従って、本発明によればテスト電源遮断
後の所定時間内にコンデンサーの放電電流が誤ってＩＣ
等に回り込まないため、電子回路基板に実装されたＩＣ
等を破損する虞がない。

また、この電子回路基板の検査装置は、従来のような上
下レバーをなくして、制御部によりピンボードを自動的
に上下動させるよう構成されている。従って、この電子
回路基板の検査装置によれば、作業者が任意にピンボー
ドを下動させることができないため、作業者が無意識の
内に無理やり上下レバーを回動させる虞がなくなり、こ
の検査装置自体を破損させることもなくなるのである。

さらに、請求項２の発明は、駆動部におけるエアーシリ
ンダーが、制御部からの上下動信号により伸縮し、この
伸縮がリング機構を介してピンボードを上下動させ、ま
た、制御部におけるタイマーリレーがテスト電源遮断後
の所定時間経過後に下動信号を送出して、この下動信号
によりエアーバルブを制御してエアーシリンダーを収縮
させてピンボードを下動させるよう構成されている。

従って、この請求項２の発明によれば、上述の効果を有
する電子回路基板の検査装置を簡単な構成で提供するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る電子回路基板の検査装置を使用し
た基板検査機の一実施例を示す斜視図、第２図は本実施
例に係る電子回路基板の検査装置の平面図、第３図はピ
ンボードが下動している状態の第２図におけるＡ−Ａか
らみた拡大断面図、第４図はピンボードが上動している
状態の第２図におけるＡ−Ａからみた拡大断面図、第５
図はピンボードが下動している状態の第２図におけるＢ
−Ｂからみた拡大断面図、第６図はピンボードが上動し
ている状態の第２図におけるＢ−Ｂからみた拡大断面図
、第７図はピンボードが下動している状態の第２図にお
けるＣ−Ｃからみた拡大断面図、第８図はピンボードが
上動している状態の第２図におけるＣ−Ｃからみた拡大
断面図、第９図はピンボードが下動している状態の第２
図におけるＤ−Ｄからみた一部省略拡大断面図、第１０
図はピンボードが上動している状態の第２図におけるＤ
−Ｄからみた一部省略拡大断面図、第１１図は制御部の
一実施例の回路図である。 符　　号　　の　　説　　明 １００・・・電子回路基板の検査装置、２００・・・電
源装置、３００・・・基板検査機、ｌＯ・・・基板支持
部、１１・・・係止片、１２・・・枢軸、２０・・・ピ
ンボード、２１・・・テストピン、２２・・・支持杆、
２３・・・スプリング、２４・・・配線、２５・・・コ
ネクタ、３０・・・駆動部、３１・・・エアーシリンダ
ー、３２・・・リンク機構、３３・・・支持板、３４・
・・高さ調節部、３５・・・支持ロッド、３６・・・駆
動ロッド、３７・・・リンク部材、３８・・・押上部材
、３９・・・検出体、４０・・・制御部、４１・・・タ
イマーリレー、４２・・・リレー接点、４３・・・ダイ
ヤル、４４・・・エアーバルブ、４５・・・上下動スイ
ッチ、４６・・・トグルスイッチ、４７・・・リミット
スイッチ、５０・・・シャーシー、５１・・・切欠、５
２・・・載置台、５３・・・ボリュウムスイッチ、６θ
・・・電子回路基板、６１・・・半田接続部、６２・・
・電子部品（コンデンサー）。 以　　上 ヤ 第７図 第８図 ００

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）、電子回路基板を水平に支持する基板支持部と、こ
   の基板支持部で支持された電子回路基板の裏面の半田接
   続部に下方より当接して当該電子回路基板の機能を検査
   するテストピンを多数立設したピンボードと、このピン
   ボードを上下動させて前記テストピンを前記半田接続部
   に接離させる駆動部とを備えた電子回路基板の検査装置
   において、前記駆動部を制御して前記ピンボードをテス
   ト電源遮断後の所定時間経過後に自動的に下動させる制
   御部を設けたことを特徴とする電子回路基板の検査装置
   。 ２）、前記駆動部は、上下動信号により伸縮するエアー
   シリンダーと、このエアーシリンダーの伸縮に応じて前
   記ピンボードを上下動させるリンク機構とからなり、 前記制御部は、テスト電源遮断後の所定時間経過後に下
   動信号を送出するタイマーリレーと、このタイマーリレ
   ーからの不動信号により前記エアーシリンダーを収縮さ
   せて前記ピンボードを下動させるエアーバルブとからな
   ることを特徴とする請求項１記載の電子回路基板の検査
   装置。