JPH10260231A - インサーキットテストフィクスチュア - Google Patents
インサーキットテストフィクスチュアInfo
- Publication number
- JPH10260231A JPH10260231A JP9065700A JP6570097A JPH10260231A JP H10260231 A JPH10260231 A JP H10260231A JP 9065700 A JP9065700 A JP 9065700A JP 6570097 A JP6570097 A JP 6570097A JP H10260231 A JPH10260231 A JP H10260231A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor probe
- relay
- under test
- test fixture
- circuit test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 抵抗、コンデンサ、ＩＣ等素子の動作確認を
行うと共に、コネクタ、スイッチ等の部品が逆付けされ
ていること、またはおよび欠品していることの検出がで
きるインサーキットテストフィクスチュアを提供するこ
と。 【解決手段】 被試験基板５に取り付けられた被試験部
品６の逆付けまたはおよび欠品を外形から検査し、かつ
前記部品６が所定通りに取り付けられていることの電気
信号を出力するセンサプローブ１と、前記センサプロー
ブ１から出力された電気信号を中継する中継ピン２と中
継コンタクトピン３とからなる信号中継部とを設けたイ
ンサーキットテストフィクスチュアである。
行うと共に、コネクタ、スイッチ等の部品が逆付けされ
ていること、またはおよび欠品していることの検出がで
きるインサーキットテストフィクスチュアを提供するこ
と。 【解決手段】 被試験基板５に取り付けられた被試験部
品６の逆付けまたはおよび欠品を外形から検査し、かつ
前記部品６が所定通りに取り付けられていることの電気
信号を出力するセンサプローブ１と、前記センサプロー
ブ１から出力された電気信号を中継する中継ピン２と中
継コンタクトピン３とからなる信号中継部とを設けたイ
ンサーキットテストフィクスチュアである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は電子回路を設けた
基板に搭載された電子部品の動作確認を行うインサーキ
ットテストフィクスチュアの構造に関するものである。
基板に搭載された電子部品の動作確認を行うインサーキ
ットテストフィクスチュアの構造に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、従来のインサーキットテストフ
ィクスチュアは、被試験基板の裏側から、該被試験基板
に設けた回路に搭載されている抵抗、コンデンサ、ＩＣ
等素子を接続した半田目等の所定個所にセンサプローブ
を接触させて、その動作確認を行うものであった。すな
わち、被試験基板に設けた回路の所定個所に搭載されて
いる抵抗、コンデンサ、ＩＣ等素子の動作確認は行える
が、コネクタ、スイッチ部品等の逆付けおよび欠品の検
出を行う機能を備えていなかった。従って、逆付けおよ
び欠品については別工程で検査していた。
ィクスチュアは、被試験基板の裏側から、該被試験基板
に設けた回路に搭載されている抵抗、コンデンサ、ＩＣ
等素子を接続した半田目等の所定個所にセンサプローブ
を接触させて、その動作確認を行うものであった。すな
わち、被試験基板に設けた回路の所定個所に搭載されて
いる抵抗、コンデンサ、ＩＣ等素子の動作確認は行える
が、コネクタ、スイッチ部品等の逆付けおよび欠品の検
出を行う機能を備えていなかった。従って、逆付けおよ
び欠品については別工程で検査していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
インサーキットテストフィクスチュアでは、未検出部品
として別工程での検査に委ねていたコネクタ、スイッチ
等の逆付けまたはおよび欠品についても、能率向上の面
からインサーキットテストフィクスチュアの機能とし
て、抵抗、コンデンサ、ＩＣ等素子の動作確認を行うと
共に、コネクタ、スイッチ部品の逆付けまたはおよび欠
品についての検査を別工程とすることなく実施できるよ
う要望されていた。
インサーキットテストフィクスチュアでは、未検出部品
として別工程での検査に委ねていたコネクタ、スイッチ
等の逆付けまたはおよび欠品についても、能率向上の面
からインサーキットテストフィクスチュアの機能とし
て、抵抗、コンデンサ、ＩＣ等素子の動作確認を行うと
共に、コネクタ、スイッチ部品の逆付けまたはおよび欠
品についての検査を別工程とすることなく実施できるよ
う要望されていた。
【０００４】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、抵抗、コンデンサ、ＩＣ等素子の
動作確認を行うと共に、コネクタ、スイッチ等の部品が
逆付けされていること、および欠品していることも検出
可能なインサーキットテストフィクスチュアを提供する
ことを目的とする。
めになされたもので、抵抗、コンデンサ、ＩＣ等素子の
動作確認を行うと共に、コネクタ、スイッチ等の部品が
逆付けされていること、および欠品していることも検出
可能なインサーキットテストフィクスチュアを提供する
ことを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明のインサーキッ
トテストフィクスチュアは、被試験基板に取り付ける部
品の逆付けまたはおよび欠品を形状に基づき検査し、か
つ前記部品が所定通りに取り付けられていることの電気
信号を出力するセンサプローブと、前記センサプローブ
から出力された電気信号を中継する信号中継部とを設け
たものである。
トテストフィクスチュアは、被試験基板に取り付ける部
品の逆付けまたはおよび欠品を形状に基づき検査し、か
つ前記部品が所定通りに取り付けられていることの電気
信号を出力するセンサプローブと、前記センサプローブ
から出力された電気信号を中継する信号中継部とを設け
たものである。
【０００６】
実施の形態１．図１はこの発明のインサーキットテスト
フィクスチュアの実施の形態１を示す要部斜視図であ
る。図において、１はセンサプローブで、コネクタ、ス
イッチ等の部品の外面に当接し、前記部品が所定通りに
取り付けられていれば、外面の所定位置に接触する。セ
ンサプローブ１は前記機能を備えるために棒状で、下部
に設けた上下動するアクチュエータ１ａが、垂直な状態
で前記部品に当接するようになっている。また、前記セ
ンサプローブ１は内部にＯＮ−ＯＦＦ接点をもってい
る。前記ＯＮ−ＯＦＦ接点は、アクチュエータ１ａの上
下摺動により、前記部品との接触の有無、すなわち所定
通りに前記部品が取り付けられているか、逆付けまたは
および欠品であるかによって作動するようになってい
る。２は棒状の中継ピンで前記センサプローブ１に接続
されており、３は中継コンタクトピンで上部に備えた伸
縮可能な中継プローブ３ａが前記中継ピン２と当接する
ようになっている。すなわちセンサプローブ１からのＯ
Ｎ−ＯＦＦ信号は、中継ピン２および中継コンタクトピ
ン３からなる信号中継部を中継して伝達される。４はＩ
／Ｆコンタクトピンで、中継ピン２と中継コンタクトピ
ン３からなる信号中継部で中継されたセンサプローブ１
からの信号を、インサーキットテスタ（図示せず）に接
続するものである。
フィクスチュアの実施の形態１を示す要部斜視図であ
る。図において、１はセンサプローブで、コネクタ、ス
イッチ等の部品の外面に当接し、前記部品が所定通りに
取り付けられていれば、外面の所定位置に接触する。セ
ンサプローブ１は前記機能を備えるために棒状で、下部
に設けた上下動するアクチュエータ１ａが、垂直な状態
で前記部品に当接するようになっている。また、前記セ
ンサプローブ１は内部にＯＮ−ＯＦＦ接点をもってい
る。前記ＯＮ−ＯＦＦ接点は、アクチュエータ１ａの上
下摺動により、前記部品との接触の有無、すなわち所定
通りに前記部品が取り付けられているか、逆付けまたは
および欠品であるかによって作動するようになってい
る。２は棒状の中継ピンで前記センサプローブ１に接続
されており、３は中継コンタクトピンで上部に備えた伸
縮可能な中継プローブ３ａが前記中継ピン２と当接する
ようになっている。すなわちセンサプローブ１からのＯ
Ｎ−ＯＦＦ信号は、中継ピン２および中継コンタクトピ
ン３からなる信号中継部を中継して伝達される。４はＩ
／Ｆコンタクトピンで、中継ピン２と中継コンタクトピ
ン３からなる信号中継部で中継されたセンサプローブ１
からの信号を、インサーキットテスタ（図示せず）に接
続するものである。
【０００７】５は被試験基板であり、６はコネクタ、ス
イッチ等の被試験部品で前記試験基板５に搭載されてい
る。前記被試験部品６は非対称形状６ａを備えている
が、備えていない場合には、これを備えた形状のものに
する。７は下部が開放した箱状の封止ケースで、天板内
面に前記センサプローブ１を垂直に配置するハウジング
Ａ８、および中継ピン２を垂直に固定するハウジングＢ
９が、所定位置に固定され、センサプローブ１のアクチ
ュエータ１ａと被試験部品６の非対称形状６ａとが整合
する上下位置関係になっている。１０はＩ／Ｆパネルで
シャーシ１０の底を形成し、Ｉ／Ｆコンタクトピン４が
取り付けられている。１１は箱形のシャーシで、天板の
上面に配置する前記被試験基板５を密封するように、前
記封止ケース７がヒンジ部（図示せず）で回動して開閉
できるように取り付けられている。１２はＶＡＣポート
で、封止ケース７とシャーシ１１の天面とで区画される
内部空間と減圧装置とを連通する。
イッチ等の被試験部品で前記試験基板５に搭載されてい
る。前記被試験部品６は非対称形状６ａを備えている
が、備えていない場合には、これを備えた形状のものに
する。７は下部が開放した箱状の封止ケースで、天板内
面に前記センサプローブ１を垂直に配置するハウジング
Ａ８、および中継ピン２を垂直に固定するハウジングＢ
９が、所定位置に固定され、センサプローブ１のアクチ
ュエータ１ａと被試験部品６の非対称形状６ａとが整合
する上下位置関係になっている。１０はＩ／Ｆパネルで
シャーシ１０の底を形成し、Ｉ／Ｆコンタクトピン４が
取り付けられている。１１は箱形のシャーシで、天板の
上面に配置する前記被試験基板５を密封するように、前
記封止ケース７がヒンジ部（図示せず）で回動して開閉
できるように取り付けられている。１２はＶＡＣポート
で、封止ケース７とシャーシ１１の天面とで区画される
内部空間と減圧装置とを連通する。
【０００８】上記のように構成されたインサーキットテ
ストフィクスチュアの動作について、まず、被試験部品
６が被試験基板５へ所定通りに配設されている場合につ
いて説明する。被試験基板５をシャーシ６上にセット
し、図示せぬヒンジ部を具備する開閉自在な封止ケース
７をセットすると、図２に示す如く、被試験部品６の非
対称形状６ａの真上にセンサプローブ１のアクチュエー
タ１ａが摺動して所望の接触圧で当接し、クローズ状態
となり、センサプローブ１は電気的にＯＮ状態となる。
次に図示せぬインサーキットテスタのテスト開始前のバ
キュームポート１２を介して封止ケース７内の空気が、
減圧装置に吸引されることにより封止ケース７が下方に
動き、その結果ハウジングＢ９に固定された中継ピン２
が対向する中継コンタクトピン３上の中継プローブ３ａ
に接触し、センサプローブ１のＯＮ状態は、Ｉ／Ｆパネ
ル上のＩ／Ｆコンタクトピン４を介して、図示せぬイン
サーキットテスタに送られる。この信号は被試験部品６
が正しく取り付けられていると判断され、被試験基板５
の試験は続けられる。
ストフィクスチュアの動作について、まず、被試験部品
６が被試験基板５へ所定通りに配設されている場合につ
いて説明する。被試験基板５をシャーシ６上にセット
し、図示せぬヒンジ部を具備する開閉自在な封止ケース
７をセットすると、図２に示す如く、被試験部品６の非
対称形状６ａの真上にセンサプローブ１のアクチュエー
タ１ａが摺動して所望の接触圧で当接し、クローズ状態
となり、センサプローブ１は電気的にＯＮ状態となる。
次に図示せぬインサーキットテスタのテスト開始前のバ
キュームポート１２を介して封止ケース７内の空気が、
減圧装置に吸引されることにより封止ケース７が下方に
動き、その結果ハウジングＢ９に固定された中継ピン２
が対向する中継コンタクトピン３上の中継プローブ３ａ
に接触し、センサプローブ１のＯＮ状態は、Ｉ／Ｆパネ
ル上のＩ／Ｆコンタクトピン４を介して、図示せぬイン
サーキットテスタに送られる。この信号は被試験部品６
が正しく取り付けられていると判断され、被試験基板５
の試験は続けられる。
【０００９】次に被試験部品６が被試験基板５へ逆付け
またはおよび欠品の場合について説明する。図３に示す
如く、被試験部品６が逆付けまたはおよび欠品の場合、
センサプローブ１のアクチュエータ１ａは被試験部品６
の非対称形状６ａに当たらず、オープン状態となり、電
気的にＯＦＦ状態となった信号はインサーキットテスタ
内で逆付けまたはおよび欠品と判断され、被試験基板５
は不良と判定される。
またはおよび欠品の場合について説明する。図３に示す
如く、被試験部品６が逆付けまたはおよび欠品の場合、
センサプローブ１のアクチュエータ１ａは被試験部品６
の非対称形状６ａに当たらず、オープン状態となり、電
気的にＯＦＦ状態となった信号はインサーキットテスタ
内で逆付けまたはおよび欠品と判断され、被試験基板５
は不良と判定される。
【００１０】上記のように従来検知できなかった被試験
基板５上の被試験部品６の逆付けまたはおよび欠品を、
被試験部品６の形状が非対称形状６ａに、センサプロー
ブ１のアクチュエータ１ａが被試験基板５またはおよび
被試験部品６に接触すると摺動して、傷つけることなく
逆付けまたはおよび欠品を検知できる。また被試験部品
６の逆付けまたはおよび欠品か否かを通知するＯＮ−Ｏ
ＦＦ信号を、中継ピン２と中継コンタクトピン３とを有
する中継部品を介して伝達するするので、センサプロー
ブ１の位置は制約されることなく被試験部品６と対応す
る任意の個所に設置することができる。
基板５上の被試験部品６の逆付けまたはおよび欠品を、
被試験部品６の形状が非対称形状６ａに、センサプロー
ブ１のアクチュエータ１ａが被試験基板５またはおよび
被試験部品６に接触すると摺動して、傷つけることなく
逆付けまたはおよび欠品を検知できる。また被試験部品
６の逆付けまたはおよび欠品か否かを通知するＯＮ−Ｏ
ＦＦ信号を、中継ピン２と中継コンタクトピン３とを有
する中継部品を介して伝達するするので、センサプロー
ブ１の位置は制約されることなく被試験部品６と対応す
る任意の個所に設置することができる。
【００１１】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、非対称
形を有する被試験部品の逆付けまたはおよび欠品の良否
判定が、被試験基板と被試験部を傷を発生させず、また
センサプローブの位置が制約されるることもなく、イン
サーキットテスト時に可能となり、生産性の向上が図れ
る。
形を有する被試験部品の逆付けまたはおよび欠品の良否
判定が、被試験基板と被試験部を傷を発生させず、また
センサプローブの位置が制約されるることもなく、イン
サーキットテスト時に可能となり、生産性の向上が図れ
る。
【図１】この発明のインサーキットテストフィクスチュ
ア部分断面を示す要部斜視図である。
ア部分断面を示す要部斜視図である。
【図２】この発明のインサーキットテストフィクスチュ
アの正常な被試験基板の検査状態を示す要部断面図であ
る。
アの正常な被試験基板の検査状態を示す要部断面図であ
る。
【図３】この発明のインサーキットテストフィクスチュ
アの逆付け部品の検査状態を示す要部断面図である。
アの逆付け部品の検査状態を示す要部断面図である。
１ センサプローブ ２ 中継ピン ３ 中継コンタクトピン ４ Ｉ／Ｆコンタクトピン ５ 被試験基板 ６ 被試験部品 ７ 封止ケース ８ ハウジングＡ ９ ハウジングＢ １０ Ｉ／Ｆパネル １１ シャーシ １２ ＶＡＣポート
Claims (1)
- 【請求項１】 被試験基板に取り付ける部品の逆付けま
たはおよび欠品を形状に基づき検査し、かつ前記部品が
所定通りに取り付けられていることの電気信号を出力す
るセンサプローブと、前記センサプローブから出力され
た電気信号を中継する信号中継部とを設けたことを特徴
とするインサーキットテストフィクスチュア。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9065700A JPH10260231A (ja) | 1997-03-19 | 1997-03-19 | インサーキットテストフィクスチュア |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9065700A JPH10260231A (ja) | 1997-03-19 | 1997-03-19 | インサーキットテストフィクスチュア |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10260231A true JPH10260231A (ja) | 1998-09-29 |
Family
ID=13294558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9065700A Pending JPH10260231A (ja) | 1997-03-19 | 1997-03-19 | インサーキットテストフィクスチュア |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10260231A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113625362A (zh) * | 2021-08-11 | 2021-11-09 | 博众精工科技股份有限公司 | 一种鼠标开关正反检测设备 |
-
1997
- 1997-03-19 JP JP9065700A patent/JPH10260231A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113625362A (zh) * | 2021-08-11 | 2021-11-09 | 博众精工科技股份有限公司 | 一种鼠标开关正反检测设备 |
| CN113625362B (zh) * | 2021-08-11 | 2023-12-08 | 博众精工科技股份有限公司 | 一种鼠标开关正反检测设备 |
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