JPH03128418A - 光学式エンコーダ - Google Patents

光学式エンコーダ

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JPH03128418A
JPH03128418A JP19095190A JP19095190A JPH03128418A JP H03128418 A JPH03128418 A JP H03128418A JP 19095190 A JP19095190 A JP 19095190A JP 19095190 A JP19095190 A JP 19095190A JP H03128418 A JPH03128418 A JP H03128418A
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JP
Japan
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light
sine wave
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mask
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Application number
JP19095190A
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English (en)
Inventor
Fusao Kosaka
幸坂 扶佐夫
Kunio Kazami
邦夫 風見
Hiroshi Nakayama
博史 中山
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、光学式エンコーダに関するものである。更に
詳述すると、受光面における照度分布を歪みの少ない1
弦波にすることができる光学式エンコーダに関する。
〈従来の技術〉 第8図に示す如く、スリット4bと光の遮蔽部4aが交
互に配列されたコード板4に、光源から散乱光を照射す
ると、コード板4の裏側にスリットの周期ごとにこれに
対応した周期の正弦波状の照度分布が発生する。この正
弦波の位相θは、コード板が移動するとこの移動に従っ
て変化する。この原理を利用して、コード板のt&側に
受光アレイ5を固定配置して、この正弦波状の光の位相
θを検出し、この位相θをもってコード板の回転角度又
は変位位置の測定を行う光学式エンコーダが広く知られ
ている(例えば特願昭62−70078号)。
なお、第8図において、受光アレイ5は、4個の光電変
換素子]11〜旧にて構成され、この4個の光電変換素
子■1〜■4は、正弦波状の照度分布の1周期を4等分
するような位置に配置される。
以上のような光学式エンコーダにおいては、スリットの
1周期を1周期の正弦波照度分布に置換え、これを光電
変換素子■1〜旧で電気信号11〜14へ変換している
ので、この正弦波照度分布に歪みが多いと、測定誤差が
増大する。
そこで従来からこの照度分布を歪みの少ない正弦波とす
る試みがなされ、本出願人は、複数のスリット列を有す
るエンコーダにおける照度分布を正弦波にすることがで
きる発明を行い、特願昭63−228985号(以下、
先!r!1と記す)にて出願しな。
この先願1の発明は、光源から受光アレイに至るまでの
光路中に屈折率が異なる補正板(例えばガラス)を挿入
し、受光アレイの面で、光が当たらない部分と、2つの
スリットを通過した光が2重に当なる部分とができない
ようにしたものである。
即ち、第9図のように光源からの光が当たらない部分−
1と、第10図のように2つのスリットを通過した光が
2重に当たる部分W2ができないようにしたものである
〈発明が解決しようとする課題〉 この先願1の発明のように、受光アレイの面で、光が当
たらない部分と、2つのスリットを通過した光が2重に
当たる部分とができないようにすることは、正弦波の照
度分布を作り出すために欠くことのできない条件である
。しかし、本出願人は、この先願1の発明による照度分
布の正弦波に対し、更に歪みの少ない正弦波を得ること
ができる手段を発明した。
本発明の目的は、歪みの少ない正弦波の照度分布を受光
アレイ上に形成できる光学式エンコーダを提供すること
である。
く課題を解決するための手段〉 上記課題を解決するために 第1の発明は、 発光源と、 この発光源からの光を拡散光として出力する拡散板と、 拡散板からの光を通過させる窓部(31)の輪郭が、正
弦波の半周期を上下に折返した形状、又は正弦波に近似
した波形の半周期を上下に折返した形状であるマスクと
、 前記マスクの窓部(31)を通過した光を受ける部材で
あって、光を通過させるスリット(4b)と光の遮蔽部
(4a)が交互に配列されたコード板と、前記スリット
を通過した光が当たらない部分と、2つのスリットを通
過した光が2重に当たる部分とができない位置に配置さ
れた受光アレイと、からなる手段を講じたものである。
第2の発明は、 表面電極の窓部の輪郭が正弦波の半周期を上下に折返し
た形状、又は正弦波に近似した波形の半周期を上下に折
返した形状であり、この窓部の面が発光する面発光ダイ
オードと、 前記面発光ダイオードの光を受ける部材であって光を通
過させるスリット(4b)と光の遮蔽部(4a)が交互
に配列されたコード板と、 前記スリットを通過した光が当たらない部分と、2つの
スリットを通過した光が2重に当たる部分とができない
位置に配置された受光アレイと、からなる手段を講じた
ものである。
く作用〉 第1の発明では、拡散板がらの光を通過させる窓部の輪
郭が正弦波の半周期を上下に折返した形状、又は正弦波
に近似した波形の半周期を上下に折返した形状のマスク
を備えている。この形状をした窓部からの光をコード板
に照射すると、受光アレイ上に形成される照度分布は、
基本波、即ち正弦波のみとなり−その曲の高調波成分は
生じない、従って歪みは極めて小さくなる。
第2の発明では、表面電極の窓部の輪郭が正弦波の半周
期を上下に折返した形状、又は正弦波に近似した波形の
半周期を上下に折返した形状であり、この窓部の面が発
光する面発光ダイオードを備えているので、第1の発明
と同様、受光アレイ上に形成される照度分布は、基本波
、即ち正弦波のみとなる。
〈実施例〉 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明に係る光学式エンコーダの光学系部分の
構成配置例を示す図、第2図と第3図は本発明に係る光
学式エンコーダの光源、コード板。
受光アレイの光学関係を示す図、第4図と第5図は本発
明に係る光源の発光強度分布を示す図、第6図と第7図
はマスクの窓部の輪郭形状を示す図、第11図は本発明
に係る光学式エンコーダの光学系部分の別の構成配置例
を示す図、第12図は面発光ダイオードの構成例を示す
図である。
第1図において、1は発光源であり、例えば発光ダイオ
ードなどが用いられる0発光源1からの光R^は、成る
光束を持った光であり、後述するマスク3の窓部31に
相当する範囲を−様な照度で照らすことができる。なお
、発光ダイオードを発光源1として用いた場合、通常、
点光源と見なされるが、拡散板2との距離DHを調節す
ることで、はぼ窓部31に相当する範囲を−様な照度で
照らすことができる光束にすることができる。
拡散板2は、発光源1からの光を受光し、これを拡散光
として出力する。
3はマスクであり、拡散板2からの光を通過させる窓部
31を有している。この窓部31は、正弦波(余弦波と
見ることもできる)の半周期を上下に折返した形状、又
は正弦波に近似した波形の半周期を上下に折返した形状
をしており、このような特殊形状をした窓部31を有す
る点が本発明の要部である。第1図では、本発明の構成
を分り易くするため、マスク3と拡散板2とは、離れた
状態で配置される如く描いているが、通常、拡散板2と
密着するように配置する。
マスク3の窓部31を通過した光は、コード板4に照射
される。コード板4は、光を遮断する遮蔽部4aと、光
を通過させるスリット4bとが交互に配列された構成に
なっている。第1図では、コード板4を長方形平板とし
て描いたが、丸型平板でもよい、この場合、スリット列
は、円周上に配列される。
5は受光アレイであり、コード板4の裏側に生じる正弦
波照度分布の1周期を4等分する4つの光電変換素子1
11〜旧で構成される。そして、この受光アレイ5は、
スリットを通過した光が当たらない部分と、2つのスリ
ットを通過した光が2重に当たる部分とができない位置
DPに配置される。
第1図のように構成された光学系によれば、受光アレイ
5上に歪みの少ない正弦波照度分布を形成することがで
きる理由を以下に説明する。
第2図と第3図は、第1図の拡散板2と、マスク3と、
コード板4と、受光アレイ5をX−Z平面(第1図参照
)で切った時の断面を示す図である。第3図は、拡散板
2、マスク3、コード板4、受光アレイ5の配置関係を
概念的に示したものであり、第2図は、この第3図の関
係を主に光学的に表わしたものである。
コード板4は第1図のD方向に移動するものであるが、
発明を分り易くするため、第3図に示す位置(受光アレ
イ5の中心0と、スリットの中心と、マスク3の窓31
の中心がX軸上で一致した位置)にコード板4が、静止
した状態で説明する。
ここで、第3図に示すように、コード板4のスリット4
bの配列周期をP、x−z平面で切った時の窓部31の
長さを[[、受光アレイ5の長さをLP、拡散板2とコ
ード板4との距離をD[、コード板4と受光アレイ5の
距離をOPとする。なお、拡散板2とマスク3は密着さ
れている。第3図では図示していない発光源1からの光
は、マスク3の窓部31を通してコード板4に向かって
照射されるので、マスク3の窓部31の長さ[[を持っ
た拡散板2〈第3図の81〜B2部分)を光源と見なす
ことができる。
従って、第3図は、光学的に第2図として表わすことが
できる。第2図から幾何学的に(1)式の関係が成立す
る。
光源長LL= I (OL+−oP) 10P) P/
2    (1)即ち、(1)式の関係が保たれるよう
に受光アレイ5を配置すれば、スリットを通過した光が
当たらない部分(第9図参照)と、2つのスリットを通
過した光が2重に当たる部分(第10図参照)は、生じ
ない。
次に、コード板4の裏側に生じた照度分布の1周期を4
個の光電変換素子旧〜114で4等分することにより、
第2図から幾何学的に(2)式の関係が成立する。
受光アレイ長LP= ((OL+DP) 101)・P
(2)ここで、 スリット周期:P スリット関数: 5(X)= 1 (スリット)S(X
)=O(遮蔽部) 光線とコード板との交点座標:X 光線の角度:θ(第2図参照) 拡散板2上の発光点X[から 受光アレイ上の受光点xPまでの距離:R拡散板81〜
B2の発光強度分布:[(χt)とすると、受光アレイ
5上の点xPにおける照度E(χ2)は、次式で表わさ
れる。
E(χP) 11<(01、[Pく〈口Pとすると、第2図の点xP
が中心部0より右側(0≦xP)の時点xPが中心部0
より左側(XP<O)の時の照度は拡散板2の81〜B
2における発光強度分布L(Z、)を2[[を周期とす
るフーリエ級数で表わすと、となる。
(6)式を(4)式に代入すると、0≦xPの領域では
、E (1戸 ) ・・・(7) となる、(7)式で表わされる受光アレイ5における照
度E(χ、)を歪みのない正弦波とするためには、基本
波(n=1)のみにすればよい、即ち、(6)式の h
 =h1のみ存在し、n=2.3゜4、・・・の時、h
  =oとなればよい。
そのためには、(6)式に示す拡散板2の81〜B2に
おける発光強度分布[(χ□)が、n=1の時のみ存在
する分布波形であればよい、言替えれば、拡散板2の8
1〜B2の発光強度分布が、正弦波の半周期になるよう
にすれば良いことを意味する。
次に xp< oの領域では、 1   ”’b−tL  、   *;r  zrrn
χP−ニー−(sin (−−) +5ln7−1(K
+DP)”  、1.1   ?Ll?       
      2       LP・・・(8) この場合も上述と同様に、拡散板2の81〜B2の発光
強度分布が、正弦波の半周期になるようにすれば受光ア
レイにおける照度E(χP)を歪みのない正弦波にする
ことができる。なお(7)式と(8)式で表わされる照
度分布波形は、同一である。
以上の説明を分り易く表わしたのが、第4図である。
第2図、第3図は、第1図を任意のx−z平面で切った
1断面であり、上述において第3図において拡散板2の
81〜B2における発光強度分布が、正弦波の半周期に
なるようにすれば、受光アレイ5上に歪みのない正弦波
の照度分布を得ることができることを説明した。
第4図は、発光源1がらの光R^を受けた拡散板2の受
光部分の発光強度分布を2次元的に表現したものである
、第1図において、任意の値y=y’にて、x−z平面
で切った時の発光強度分布は、第4図のに1となる。従
って、光1(八を受けた拡散板2の全域で見ると、第4
図のように発光強度分布は、あたかも蒲鉾型になる。
従って、拡散板2において、第4図のような発光強度分
布を形成するように構成すれば、受光アレイ5に歪みの
ない照度分布を形成できる。
しかし、このような発光強度分布を形成することは、容
易ではない。
そこで、等価的に第4図と同様な効果が得られる発光強
度分布を第5図に示す。
第5図は、第1図においけるマスク3の窓部31を介し
て出力される光強度を表わした図である。
説明を加えると、第1図の拡散板2には、マスク3の窓
部31に相当する範囲に発光源1から−様な光が照射さ
れている。従って、この窓部31は、第5図に示すよう
に−様な発光強度を持つ、即ち、第4図のように正弦波
の半周期で分布する発光強度とは形態が異なる。そして
、この窓部31の輪郭AI、 A2は、正弦波の半周期
を上下に折返した形状となっている。従って、マスク3
の2次元平面をx−yに取り、2方向を発光強度で表わ
すと、第5図のように窓部31のみ、輪郭A1. A2
が正弦波の半周期を上下に折返した凸状分布となる。
第5図のような発光強度の光を第1図のコード板4を介
して受光アレイ5に照射した場合、受光アレイ5は、第
4図のような発光強度分布の光をコード板4を介して受
けたのと同じ変換電流を出力する。
説明を加える。第4図のような発光強度分布の光をコー
ド板4を介して受光アレイ5に照射すると、受光アレイ
5には歪みのない正弦波照度分布が形成される。そして
、この正弦波の照度分布を調度4等分した各光電変換素
子H1〜H4からは、それぞれの当該位相区域の平均照
度に応じた電流が出力される。即ち、各光電変換素子H
1〜■4は、正弦波の1周期360゛を4等分している
ので、それぞれの光電変換素子は90°ずつ位相が異な
る区域で正弦波照度分布を受光している。
一方、第5図のような発光強度分布の光をコード板4を
介して受光アレイ5に照射しても、受光アレイ5の各光
電変換素子111〜H4から出力される変換電流値は、
第4図の発光強度分布を照射した場合と同じである。
その理由は簡単である。即ち、マスク3の窓部31から
照射される光は散乱光であり、受光アレイ5は、4つの
光電変換素子旧〜旧で当該位相区域の照度を積分した結
果得られる光電流を出力しているからである。第5図を
参照して説明すると、第5図に示すような発光強度分布
に対して、光電変換素子は同図に示す向きに配置されて
いる(光電変換素子H3のみ図示)、従って、光電変換
素子H3は、x−y平面において、例えばx=O〜×1
の区域における照度の積分値を出力することになる。
第5図(ロ)に示したグラフは、第5図(イ)の光強度
分布を−X2〜x2まで積分したものを示している。こ
こで、発光強度分布の輪郭AI、^2が正弦波であるか
ら[第5図(イ)]、(ロ)の波形は正弦波となる。即
ち、受光アレイ5の各光電変換素子111〜■4から出
力される変換電流値は、第4図の発光強度分布を照射し
た場合と同じである。
上述は発光源1から照射される光R^が、−様な光束を
持つと仮定したものであるが、実際には、発光源1は点
光源と見ることができ、光R^の光束は、第1図の距離
DHにより左右される。即ち、マスク3の窓部31に相
当する範囲において、−様な照度でない場合が生じる。
このようなことから、実用化する上において、マスク3
の窓部31の輪郭形状は、照度分布の乱れを補正するた
め理想状態(正弦波)と異なる形状にする。
第6図と第7図は、マスク3の窓部31の輪郭形状の変
型例を示す図である。第6図の輪郭は、X−y平面上で
次式で表わされるものであり、パラメータαを種々の値
で変化させたものである。
実験によると、0.4<α<1.2  まで有効であっ
た。
本発明におけるマスクの窓部31の輪郭は、正弦波、余
弦波の関数に限定するものではない、第7図に示すよう
な正弦波に近似した形状であっても先に記載した効果を
得ることができる。第7図波形の関数は次式で表わされ
るものである。
LL       LL なお、 −一≦χ≦−である。
2 実験によると、1.0<βく4 まで有効であった。
上述では、発光源を点光源とし、これに拡散板とマスク
を用いて照度分布を正弦波にしていたが、第12図に示
すような面発光ダイオードを用いれば、第1図における
発光源1と拡散板2とマスク3を1個の素子(第12図
の面発光ダイオード)に置き換えることができ、更に多
くの効果が得られる。
第12図において、表面電極42は第6図などで既述し
たものと同様な輪郭Aの窓(発光部43)を持っている
。即ち、表面電極42は、第1図のマスク3の作用を兼
用している。そして表面電極42と裏面を極44の間に
公知の発光材料が設けられており、面発光ダイオードを
構成している。従って、表面電極42に接続されたリー
ド線45と、裏面電極44に接続されたリード、ff1
46に電流を加えると、窓に相当する発光部43から光
が照射される。
第2の発明では、第12図の面発光ダイオード41を第
11図に示すように第1図の発光源1の代わりに用いる
。その他の構成は、第1図と同様である。
また、面発光ダイオード41とコード板4間の距離0[
、コード板4と受光アレイ5間の距離OP、受光アレイ
5の長さLP等の関係も、第1の発明と同じであるため
その再説明を省略する。
この第11図装置によれば、表面電極42が第1図のマ
スク3に対応し、発光部43が第1図の拡散板2に対応
するので、第1の発明と同様な効果が得られるのは明ら
かである。
なお、第1図の構成によれば、発光源Iと拡散板2間の
距jlfDHが存在するため、信号として有効に利用さ
れる光は、発光源1からマスク3の窓31を見込む立体
角内の光に限られる。従って、光の利用率が下がり、そ
のためS/Nが向上しない問題がある。
第11図の構成によれば、面発光ダイオード41の光を
100%利用できるので、光の利用効率は、大幅に向上
し、S/Nが良くなる。その結果、エンコーダの分解能
が向上する。
なお、面発光ダイオード42では、側面からも光が照射
されるが、第11図において、図示しない手段により、
この側面から光が洩れないようにしている。
く本発明の効果〉 以上述べたように第1の本発明によれば、受光アレイに
おける正弦波照度分布の歪みを極めて小さいものにする
ことができるので、コード板4の変位位置(又は回転角
度)を精密に測定できる光学式エンコーダを実現できる
第2の発明によれば、前記効果に加えて光の利用効率が
上がるのでS/Nが良くなり、エンコーダの分解能が向
上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る光学式エンコーダの光学系部分の
構成配置例を示す図、第2図と第3図は本発明に係る光
学式エンコーダの光源、コード板。 受光アレイの光学関係を示す図、第4図と第5図は本発
明に係る光源の発光強度分布を示す図、第6図と第7図
はマスクの窓部の輪郭形状を示す図、第8図〜第10図
は従来例を説明する図、第11図は本発明に係る光学式
エンコーダの光学系部分の別の構成配置例を示す図、第
12図は面発光ダイオードの構成例を示す図である。 1・・・発光源、2・・・拡散板、3・・・マスク、4
・・・コード板、5・・・受光アレイ、41・・・面発
光ダイオード42・・・表面を極。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)発光源と、 この発光源からの光を拡散光として出力する拡散板と、 拡散板からの光を通過させる窓部(31)の輪郭が、正
    弦波の半周期を上下に折返した形状、又は正弦波に近似
    した波形の半周期を上下に折返した形状であるマスクと
    、 前記マスクの窓部(31)を通過した光を受ける部材で
    あつて、光を通過させるスリット(4b)と光の遮蔽部
    (4a)が交互に配列されたコード板と、前記スリット
    を通過した光が当たらない部分と、2つのスリットを通
    過した光が2重に当たる部分とができない位置に配置さ
    れた受光アレイと、を備えた光学式エンコーダ。
  2. (2)表面電極の窓部の輪郭が正弦波の半周期を上下に
    折返した形状、又は正弦波に近似した波形の半周期を上
    下に折返した形状であり、この窓部の面が発光する面発
    光ダイオードと、 前記面発光ダイオードの光を受ける部材であって光を通
    過させるスリット(4b)と光の遮蔽部(4a)が交互
    に配列されたコード板と、 前記スリットを通過した光が当たらない部分と、2つの
    スリットを通過した光が2重に当たる部分とができない
    位置に配置された受光アレイと、を備えた光学式エンコ
    ーダ。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0528928U (ja) * 1991-09-26 1993-04-16 横河電機株式会社 光学式エンコーダ
JP2005062194A (ja) * 2003-08-18 2005-03-10 Dr Johannes Heidenhain Gmbh 位置測定装置
JP2007078690A (ja) * 2005-09-14 2007-03-29 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd 反射型光エンコーダ
JP2011185810A (ja) * 2010-03-10 2011-09-22 Canon Inc 光学式エンコーダおよび干渉計測装置
JP4870302B2 (ja) * 1999-09-13 2012-02-08 サザン・リサーチ・インスティテュート 機械的全流フェールセーフ装置
JP2016532095A (ja) * 2013-10-01 2016-10-13 レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company 測定エンコーダ
US11964394B2 (en) 2018-02-26 2024-04-23 Renishaw Plc Coordinate positioning machine

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0528928U (ja) * 1991-09-26 1993-04-16 横河電機株式会社 光学式エンコーダ
JP4870302B2 (ja) * 1999-09-13 2012-02-08 サザン・リサーチ・インスティテュート 機械的全流フェールセーフ装置
JP2005062194A (ja) * 2003-08-18 2005-03-10 Dr Johannes Heidenhain Gmbh 位置測定装置
JP2007078690A (ja) * 2005-09-14 2007-03-29 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd 反射型光エンコーダ
JP2011185810A (ja) * 2010-03-10 2011-09-22 Canon Inc 光学式エンコーダおよび干渉計測装置
EP2369303A1 (en) 2010-03-10 2011-09-28 Canon Kabushiki Kaisha Optical encoder
US8742322B2 (en) 2010-03-10 2014-06-03 Canon Kabushiki Kaisha Encoder and interferometer that generate M-phase signals by multiplying N-phase signals by M coefficient sets, where N is not less than 6 and M is not smaller than 2
JP2016532095A (ja) * 2013-10-01 2016-10-13 レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company 測定エンコーダ
US10823587B2 (en) 2013-10-01 2020-11-03 Renishaw Plc Measurement encoder
US11964394B2 (en) 2018-02-26 2024-04-23 Renishaw Plc Coordinate positioning machine

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