JPH03127021A - Plzt表示ディバイスの製造方法 - Google Patents
Plzt表示ディバイスの製造方法Info
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- JPH03127021A JPH03127021A JP26708689A JP26708689A JPH03127021A JP H03127021 A JPH03127021 A JP H03127021A JP 26708689 A JP26708689 A JP 26708689A JP 26708689 A JP26708689 A JP 26708689A JP H03127021 A JPH03127021 A JP H03127021A
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- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims abstract description 36
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- 239000008188 pellet Substances 0.000 claims description 4
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- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 7
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明はPLZT (透明なセラミック)の複屈折を
利用し、光シャッタやデイスプレィとして用いられるP
LZT表示ディバイスの製造方法に係り、更に詳しくは
生シートを積層したブロックを脱バインダし、かつ、雰
囲気焼成するに際し、その積層ブロックを亀裂(cra
ck)や剥離(dalamination)等の発生を
抑制するPLZT表示ディバイスの製造方法に関するも
のである。
利用し、光シャッタやデイスプレィとして用いられるP
LZT表示ディバイスの製造方法に係り、更に詳しくは
生シートを積層したブロックを脱バインダし、かつ、雰
囲気焼成するに際し、その積層ブロックを亀裂(cra
ck)や剥離(dalamination)等の発生を
抑制するPLZT表示ディバイスの製造方法に関するも
のである。
[従 来 例]
近年、 PZTにLaを添加した透明なセラミックのP
LZT(PbO,Lad、 ZrO,、Tie)が光シ
ャッタやデイプレイに用いられようとしている。このP
LZTを表示ディバイスに利用する例としては、例えば
特願昭63−108648号があり、PLZT表示ディ
バイスおよびその製造工程、さらにはその利用(ライト
パルプ型プロジェクタ〉が説明されている。
LZT(PbO,Lad、 ZrO,、Tie)が光シ
ャッタやデイプレイに用いられようとしている。このP
LZTを表示ディバイスに利用する例としては、例えば
特願昭63−108648号があり、PLZT表示ディ
バイスおよびその製造工程、さらにはその利用(ライト
パルプ型プロジェクタ〉が説明されている。
ここで、上記特願昭63−108648号の内容を第5
図乃至第7図を参照して簡単に説明すると、 PLZT
表示ディバイスに用いるPLZTプレートを得るに際し
、PLZTの生シート(9/65/35:La/Zr/
Ti ratio ;グリーンシート)を出発原料とし
、その生シートに内部電極(例えば垂直走査内部電極l
、水平走査内部電極2)を形成し、これら垂直走査内部
電極1を形成した生シート3とを水平走査内部電極2を
形成した生シート3とを交互に積層し、この積層ブロッ
クを脱バインダし、かつ、雰囲気焼成して積層型PLZ
T 4と−し、この積層型PLZT 4を所定厚さ(例
えば1.0m)に切断するとともに、この切断ウェハの
両面を研磨して上記PLZTプレート5を得ている。す
なわち、PLZTプレート5の出発原料が生シート5で
あるため、PLZTの透過率の向上を図ることができ、
安価な炉や装置でよくなった。
図乃至第7図を参照して簡単に説明すると、 PLZT
表示ディバイスに用いるPLZTプレートを得るに際し
、PLZTの生シート(9/65/35:La/Zr/
Ti ratio ;グリーンシート)を出発原料とし
、その生シートに内部電極(例えば垂直走査内部電極l
、水平走査内部電極2)を形成し、これら垂直走査内部
電極1を形成した生シート3とを水平走査内部電極2を
形成した生シート3とを交互に積層し、この積層ブロッ
クを脱バインダし、かつ、雰囲気焼成して積層型PLZ
T 4と−し、この積層型PLZT 4を所定厚さ(例
えば1.0m)に切断するとともに、この切断ウェハの
両面を研磨して上記PLZTプレート5を得ている。す
なわち、PLZTプレート5の出発原料が生シート5で
あるため、PLZTの透過率の向上を図ることができ、
安価な炉や装置でよくなった。
また、 PLZTプレート5が積層型内部電極構造にな
っていることから、駆動電圧を低くすることが可能にも
なっている。
っていることから、駆動電圧を低くすることが可能にも
なっている。
[発明が解決しようとする課題]
ところで、上記PLZT表示ディバイスおよびそのディ
バイスの製造方法においては、上記積層ブロックを脱バ
インダし、かつ、雰囲気焼成しているが、そのバインダ
抜きが均一に行われないこともある。すなわち、ガス気
体化したバインダを抜くに際し、積層ブロックの表面に
近い程バインダの抜けが良いが、その表面より遠いバイ
ンダは抜けにくいからである。このように、バインダ抜
けが均一でないと、雰囲気焼成して得た積層型PLZT
4に欠陥を生じることにもなる。すなわち、第8図お
よび第9図に示されているように、積層型PLZT4に
亀裂(crack)を生じたり、またその積層ブロック
を構成する生シート3の積層部分が剥離(de−Lam
ination)することもあり、これら欠陥を有する
積層型PLZT 4からはPLZT表示ディバイスとす
るPLZTプレート5を得ることができない。
バイスの製造方法においては、上記積層ブロックを脱バ
インダし、かつ、雰囲気焼成しているが、そのバインダ
抜きが均一に行われないこともある。すなわち、ガス気
体化したバインダを抜くに際し、積層ブロックの表面に
近い程バインダの抜けが良いが、その表面より遠いバイ
ンダは抜けにくいからである。このように、バインダ抜
けが均一でないと、雰囲気焼成して得た積層型PLZT
4に欠陥を生じることにもなる。すなわち、第8図お
よび第9図に示されているように、積層型PLZT4に
亀裂(crack)を生じたり、またその積層ブロック
を構成する生シート3の積層部分が剥離(de−Lam
ination)することもあり、これら欠陥を有する
積層型PLZT 4からはPLZT表示ディバイスとす
るPLZTプレート5を得ることができない。
この発明は上記課題に鑑みなされたものであり、その目
的は積層ブロックを脱バインダし、かつ、雰囲気焼成し
て積層型PLZTを得るに際し、欠陥の発生を抑え、P
LZT表示ディバイスの歩留まりの向上を図ることがで
きるようにしたPLZT表示ディバイスの製造方法を提
供することにある。
的は積層ブロックを脱バインダし、かつ、雰囲気焼成し
て積層型PLZTを得るに際し、欠陥の発生を抑え、P
LZT表示ディバイスの歩留まりの向上を図ることがで
きるようにしたPLZT表示ディバイスの製造方法を提
供することにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、この発明のPLZT表示デ
ィバイスの製造方法は、電極を形成したPLZTの生シ
ートを積層し、この積層ブロックを脱バインダし、かつ
、雰囲気焼成してPLZTプレートを得るに際し、上記
積層ブロックに貫通孔をその積層方向に形成し、かつ、
この積層ブロックを所定温度プロフィールにしたがって
脱バインダするようにしたことを要旨とする。
ィバイスの製造方法は、電極を形成したPLZTの生シ
ートを積層し、この積層ブロックを脱バインダし、かつ
、雰囲気焼成してPLZTプレートを得るに際し、上記
積層ブロックに貫通孔をその積層方向に形成し、かつ、
この積層ブロックを所定温度プロフィールにしたがって
脱バインダするようにしたことを要旨とする。
[作 用]
上記方法としたので、 PLZτ表示ディバイスの積層
型PLZTを得るに際し、積層方向に複数個の貫通孔を
形成した積層ブロックを脱バインダし、力2つ、雰囲気
焼成する。すると、ガス気体化したバインダは上記積層
ブロックの表面からだけなく、上記複数の貫通孔からも
抜け、しかもそのバインダ抜けが均一に行われる。また
、上記脱バインダおよび雰囲気焼成が炉内で行われるが
、その炉内の温度がバインダの種類に応じたプロフィー
ルにしたカ、ってコントロールされるため、積層ブロッ
クのバインダ抜きが確実に行われる。
型PLZTを得るに際し、積層方向に複数個の貫通孔を
形成した積層ブロックを脱バインダし、力2つ、雰囲気
焼成する。すると、ガス気体化したバインダは上記積層
ブロックの表面からだけなく、上記複数の貫通孔からも
抜け、しかもそのバインダ抜けが均一に行われる。また
、上記脱バインダおよび雰囲気焼成が炉内で行われるが
、その炉内の温度がバインダの種類に応じたプロフィー
ルにしたカ、ってコントロールされるため、積層ブロッ
クのバインダ抜きが確実に行われる。
このように、脱バインダおよび雰囲気焼成に際し、バイ
ンダが均一に抜かれ、かつ、残ることもないため、焼結
する積層型PLOTの欠陥、亀裂や剥離を抑制すること
が可能になる。
ンダが均一に抜かれ、かつ、残ることもないため、焼結
する積層型PLOTの欠陥、亀裂や剥離を抑制すること
が可能になる。
〔実 施 例]
以下、この発明の実施例を第1図乃至第4図に基づいて
説明する。
説明する。
第1図および第2図において、電極6を形成したPLZ
Tの生シート(例えば9/65/35 :、 La、
Zr/Tiratio;グリーンシート)7を複数枚積
層した積層ブロック8には貫通孔9がその積層方向に複
数個形成されている。なお、貫通孔9は積層方向に複数
個が好ましいが、この方向に限らなくともよく、また一
つであってもよい、また1貫通孔9は焼成前であること
から4例えばボール盤等にて形成することができ、さら
にその貫通孔9の形成に際し、ペレットとなる部分(電
極6が形成されている部分Hact−iva area
)10を避けて設けられている。
Tの生シート(例えば9/65/35 :、 La、
Zr/Tiratio;グリーンシート)7を複数枚積
層した積層ブロック8には貫通孔9がその積層方向に複
数個形成されている。なお、貫通孔9は積層方向に複数
個が好ましいが、この方向に限らなくともよく、また一
つであってもよい、また1貫通孔9は焼成前であること
から4例えばボール盤等にて形成することができ、さら
にその貫通孔9の形成に際し、ペレットとなる部分(電
極6が形成されている部分Hact−iva area
)10を避けて設けられている。
次に、上記積層ブロック8によるPLZT表示ディバイ
スの製造方法を第S図の断面図および第4図の温度プロ
フィールに基づいて説明する。
スの製造方法を第S図の断面図および第4図の温度プロ
フィールに基づいて説明する。
まず、従来同様にして、電極6を形成した生シート7を
複数枚積層し1例えば寸法60X20X50の積層ブロ
ック8を得、この積層ブロック8をにボール盤等を用い
てその積層方向に貫通孔9を形成する。
複数枚積層し1例えば寸法60X20X50の積層ブロ
ック8を得、この積層ブロック8をにボール盤等を用い
てその積層方向に貫通孔9を形成する。
この場合、ペレットとなる部分10以外の領域にその貫
通孔9を複数個形成し、この積層ブロック8の脱バイン
ダを行なうことになるが、この脱バインダに際し、バイ
ンダをガス気体化して抜くため、炉内が所定温度プロフ
ィールでコントロールされる。この実施例では、第4図
に示す温度プロフィールにより、炉内温度を0.05℃
/win、で160℃まで上げ、この160℃を20h
r、保ち、この後0.05℃/win、で250℃まで
上げ、この250℃を20hr、保ち。
通孔9を複数個形成し、この積層ブロック8の脱バイン
ダを行なうことになるが、この脱バインダに際し、バイ
ンダをガス気体化して抜くため、炉内が所定温度プロフ
ィールでコントロールされる。この実施例では、第4図
に示す温度プロフィールにより、炉内温度を0.05℃
/win、で160℃まで上げ、この160℃を20h
r、保ち、この後0.05℃/win、で250℃まで
上げ、この250℃を20hr、保ち。
さらにこの後0.05℃/win、で450℃まで上げ
、この450℃を20hr、保ってバインダを抜いてい
る。そして、その450℃を20hr、保った後、つま
りバインダを抜いた後、炉内温度を1℃/■in、で下
げて積層ブロック8を冷却している。この温度プロフィ
ールにしたがって、上記貫通孔9を有する積層ブロック
8および従来の積層ブロックの脱バインダを行なったと
き、積層ブロック8の焼結時に亀裂(crak)や剥1
i (delamination)が発生せず、従来の
積層ブロックの焼結時に第8図および第9図に示す亀裂
や剥離が発生するという結果が得られた。
、この450℃を20hr、保ってバインダを抜いてい
る。そして、その450℃を20hr、保った後、つま
りバインダを抜いた後、炉内温度を1℃/■in、で下
げて積層ブロック8を冷却している。この温度プロフィ
ールにしたがって、上記貫通孔9を有する積層ブロック
8および従来の積層ブロックの脱バインダを行なったと
き、積層ブロック8の焼結時に亀裂(crak)や剥1
i (delamination)が発生せず、従来の
積層ブロックの焼結時に第8図および第9図に示す亀裂
や剥離が発生するという結果が得られた。
これら結果から、積層ブロック8の積層高さが25旧以
上になる程、上記貫通孔9が効果的に作用することが判
り、焼結する積層型PLZTの欠陥を有効に抑えること
ができる。
上になる程、上記貫通孔9が効果的に作用することが判
り、焼結する積層型PLZTの欠陥を有効に抑えること
ができる。
ここで、上記積層ブロック8の脱バインダを第3図を参
照してさらに詳しく説明すると、ガス気体化したバイン
ダは最も近い表面から抜けるが、同図の矢印に示される
ように、例えば表面から遠い領域のガス気体化したバイ
ンダが積層方向から抜ける割合が大きいことから、貫通
孔9を積層方向に形成することにより、バインダが抜は
易くなっている。
照してさらに詳しく説明すると、ガス気体化したバイン
ダは最も近い表面から抜けるが、同図の矢印に示される
ように、例えば表面から遠い領域のガス気体化したバイ
ンダが積層方向から抜ける割合が大きいことから、貫通
孔9を積層方向に形成することにより、バインダが抜は
易くなっている。
なお、従来同様に、上記脱バインダとともに、上記積層
ブロック8は同炉内で雰囲気焼成が行われ、積層型PL
ZTとされる。そして、その積層型PLZTを所定厚さ
に切断してPLZTプレートを得、かつ、このPLZT
プレートの両面を研磨することにより、PZT表示ディ
バイスの原形を得ることができる。
ブロック8は同炉内で雰囲気焼成が行われ、積層型PL
ZTとされる。そして、その積層型PLZTを所定厚さ
に切断してPLZTプレートを得、かつ、このPLZT
プレートの両面を研磨することにより、PZT表示ディ
バイスの原形を得ることができる。
また、上記実施例の貫通孔9に代え、例えば貫通しない
穴を複数個形成するようにしてもよい。
穴を複数個形成するようにしてもよい。
[発明の効果]
以上説明したように、この発明のPLZT表示ディバイ
スの製造方法によれば、積層ブロックを脱バインダし、
かつ、雰囲気焼成して積層型PLZTを得るに際し、そ
の積層ブロックに貫通孔を形成し、この積層ブロックを
所定温度プロフィールにしたがって脱バインダするよう
にしたので、ガス気体化したバインダが容易、かつ、均
一に抜け、積層型PLZTの欠陥(積層部分の剥離、亀
裂)の発生を抑制することができ、この積層型PLZT
により得るPLZT表示ディバイスの歩留まりの向上を
図ることができる。
スの製造方法によれば、積層ブロックを脱バインダし、
かつ、雰囲気焼成して積層型PLZTを得るに際し、そ
の積層ブロックに貫通孔を形成し、この積層ブロックを
所定温度プロフィールにしたがって脱バインダするよう
にしたので、ガス気体化したバインダが容易、かつ、均
一に抜け、積層型PLZTの欠陥(積層部分の剥離、亀
裂)の発生を抑制することができ、この積層型PLZT
により得るPLZT表示ディバイスの歩留まりの向上を
図ることができる。
第1図および第2図はこの発明の一実施例を示し、PL
ZT表示ディバイスの製造方法が適用される積層ブロッ
クの概略的斜視図および概略的断面図。 すPLZTファイバケーブルの概略的断面図、第3同は
上記PLZT表示ディバイスの製造方法を説明するため
の図、第4図は上記積層ブロックを脱バインダするとき
の温度プロフィールのグラフ図、第5図乃至第7図は従
来のPLZT表示ディバイスの製造方法を説明するため
の概略的工程図、第8図および第9図は従来の製造方法
により発生する欠陥を説明するための同である。 図中、6は電極、7は生シート(グリ−シート)、8は
積層ブロック、9は貫通孔、10はベレット(aCti
ve erea)である。
ZT表示ディバイスの製造方法が適用される積層ブロッ
クの概略的斜視図および概略的断面図。 すPLZTファイバケーブルの概略的断面図、第3同は
上記PLZT表示ディバイスの製造方法を説明するため
の図、第4図は上記積層ブロックを脱バインダするとき
の温度プロフィールのグラフ図、第5図乃至第7図は従
来のPLZT表示ディバイスの製造方法を説明するため
の概略的工程図、第8図および第9図は従来の製造方法
により発生する欠陥を説明するための同である。 図中、6は電極、7は生シート(グリ−シート)、8は
積層ブロック、9は貫通孔、10はベレット(aCti
ve erea)である。
Claims (2)
- (1)電極を形成したPLZTの生シートを積層し、該
積層ブロックを脱バインダし、かつ、雰囲気焼成してP
LZTプレートを得るに際し、前記積層ブロックに貫通
孔を形成し、かつ、該積層ブロックを所定温度プロフィ
ールにしたがって脱バインダするようにしたことを特徴
とするPLZT表示ディバイスの製造方法。 - (2)前記貫通孔はペレットを避け、複数個設けた請求
項(1)記載のPLZT表示ディバイスの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26708689A JPH03127021A (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | Plzt表示ディバイスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26708689A JPH03127021A (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | Plzt表示ディバイスの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03127021A true JPH03127021A (ja) | 1991-05-30 |
Family
ID=17439847
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26708689A Pending JPH03127021A (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | Plzt表示ディバイスの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03127021A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63256921A (ja) * | 1987-04-15 | 1988-10-24 | Mitsubishi Kasei Corp | 電気光学素子 |
-
1989
- 1989-10-13 JP JP26708689A patent/JPH03127021A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63256921A (ja) * | 1987-04-15 | 1988-10-24 | Mitsubishi Kasei Corp | 電気光学素子 |
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