JPH03125438A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH03125438A
JPH03125438A JP26344189A JP26344189A JPH03125438A JP H03125438 A JPH03125438 A JP H03125438A JP 26344189 A JP26344189 A JP 26344189A JP 26344189 A JP26344189 A JP 26344189A JP H03125438 A JPH03125438 A JP H03125438A
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JP
Japan
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electrode
inner lead
electrodes
semiconductor element
inner leads
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Pending
Application number
JP26344189A
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English (en)
Inventor
Koichi Sugihara
杉原 功一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH03125438A publication Critical patent/JPH03125438A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

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  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は半導体素子に多数のインナーリードを放射状に
接続した半導体装置に関する。
[従来の技術] 今日電気機器にはCPU等の種々の半導体装置が極めて
広く使用されている。従来の半導体装置は第8図に示さ
れたように、半導体素子1が接着剤2によってリードフ
レームアイランド3に接着されている。この半導体素子
1の表面にはその外周に沿って多数の電極4が形成され
、これらの電極4は金やアルミや銅等の極細電極線5に
よって外囲器の電極線、即ちインナーリード6に接続さ
れている。このような半導体素子1とインナーリード6
などはエポキシ樹脂等の高分子材料7でトランスファー
モールド成形されるか、またはセラミックシェル等によ
り気密封止される。
[発明が解決しようとする課題] ところが、近年半導体装置は多機能化及び小型化、即ち
高集積化が要求されており、この多機能化は一般に半導
体素子1の電極4の数の増加を伴い、また上記小型化は
この電極数の増加と共に電極ピッチの縮小化を伴う。電
極ピッチが小さくなると、インナーリード6はピッチも
幅も小さくしなければならず、これはインナーリードの
強度を低下させると共に高精度の位置合せが必要になる
という問題が生ずる。
更に、電極ピッチの縮小化により極細電極IfA5のピ
ッチも小さくなるため、トランスファーモールド時の樹
脂流れによって隣接する極細電極線5が互いに接触し電
極間のショートが起り易いという問題もあった。
もちろん、半導体素子の大形化によって電極ピッチを大
きくすることは、ピッチを例えば2倍にすると半導体素
子面積が4倍になり、半導体装置の小型化に大きく逆行
してしまう。
そこで、本発明の目的は、半導体素子上の電極のピッチ
を縮小することなく電極数を大幅に増加することのでき
る半導体装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] この目的を達成するために本発明は、半導体素子の表面
上にその外周に沿って配列された多数の外側電極と、上
記半導体素子の表面上に上記外側電極の内側に配列され
た多数の内側電極と、上記半導体素子の周囲に放射状に
配置された多数の短い第1インナーリードと、上記第1
インナーリードの間に分散しながら上記半導体素子の周
囲に放射状にかつ上記第1インナーリードよりも半導体
素子の方に突出するように配置された多数の長い第2イ
ンナーリードと、一端が上記外側電極に接続され他端が
上記第1インナーリードの先端に接続された多数の条状
電線と、一端が上記内側電極に接続され他端が上記第2
インナーリードの先端に接続された多数の極細電極線と
、一方の面側に上記第1及び第2インナーリードが位置
し他方の面側に上記条状電線が位置するように上記第1
及び第2インナーリードと上記条状電線との間に介在し
上記他方の面で上記条状電線を支持する絶縁性シートと
を具備することを特徴とするものである。
このような構成の場合、上記絶縁性シートは絶縁耐熱性
テープであり、上記条状電線は上記一端がバンプを介し
て上記外側電極に、上記他端がバンプを介して上記第1
インナーリードの先端に夫々接続され、隣接する第2イ
ンナーリードの間には少なくとも一本の第1インナーリ
ードが存在することか好ましい。
[作 用] 半導体素子上の電極は外側電極と内側電極との2列に配
列され、外側電極は絶縁性シートの他方の面に支持され
た多数の条状電線によって第1インナーリードに接続さ
れ、内側電極は多数の極細電極線によって第2インナー
リードに接続される。
第1及び第2インナーリードと条状電線とは絶縁性シー
トによって隔離される。
半導体素子電極は外側電極と内側電極とから成るので、
電極ピッチを狭くすることなく電極数が大幅に増加する
。また、放射状に配置されたインナーリードは短い第1
インナーリードと長い第2インナーリードとから成り、
第2インナーリードは第1インナーリードよりも半導体
素子の方に突出しているので、半導体素子に近い領域に
は第2インナーリードの突出部分のみが位置し遠い領域
には第1及び第2インナーリードの両方が位置すること
になる。従って、上記近い領域での隣接インナーリード
のピッチは第2インナーリードの突山部分のピッチとな
るため比較的大きく定めることができ、上記遠い領域で
の隣接インナーリードのピッチもそこが外周側であるた
め比較的大きく定めることができる。
[実施例] 以下に本発明による半導体装置の一実施例を示した第1
図乃至第7図を参照して説明する。
第1図において、半導体素子10はその表面に第2図に
示されたように外周に沿って配列された多数の外側電極
11と、これらの外側電極11に沿ってその内側に配列
された多数の内側電極12とを有する。インナーリード
は多数の短い第1インナーリード13と多数の長い第2
インナーリード14とから構成され、これらの第1及び
第2インナーリード13.14は第3図に示されたリー
ドフレーム15から作られ、同図から分るように第1イ
ンナーリード13は放射状に配列され、第2インナーリ
ード14は隣接する第2インナーリード間に少なくとも
一本の第1インナーリード13が介在するように第1イ
ンナーリード13の間に分散しながら放射状に配列され
ると共に、第1インナーリード13よりも内方に突出し
ている。
半導体素子10の外側電極11には金などの金属バンブ
16が付着されている。絶縁耐熱性テープ17は第4図
に示されたように中央に開口が穿孔され、この絶縁耐熱
性テープ17の一方の面には多数の条状電線18が放射
状に形成され、これらの条状電線18は一端が上記バン
プ16を介して半導体素子10の外側電極11に接続さ
れている。条状電線18の他端は、金属バンプ19が付
着され、このバンプ19を介して短い第1インナーリー
ド13の先端に接続されている。
第1及び第2インナーリード13.14は絶縁耐熱性テ
ープ17の他方の面側に密着しており、第2インナーリ
ード14の先端は極細電極線20によって内側電極12
に接続されている。
これらの半導体素子10とインナーリード13.14な
どは、第5図に示されたようにエポキシ等の高分子材料
21を用いてトランスファーモールドで気密封止される
。もちろんトランスファーモ−ルドの代わりにセラミッ
クシェルを使用することもできる。
このように、半導体素子10の電極は2列に配列された
外側電極11と内側電極12とから構成されるので、電
極ピッチを小さくすることなく電極数を増加することが
できる。第6図は電極数と半導体素子の大きさとの関係
を示したもので、実線A及びBは夫々電極ピッチを15
0+a+++、100m1こしたときの一列の電極の場
合であり、破線Cは電極ピッチを150111IMにし
たときの2列電極の場合を示している。このグラフから
明らかなように電極を2列にしたことによって同一電極
ピッチで電極数を大幅に増加することができる。
第2インナーリード14は、長さを第1インナーリード
13よりも長く定めると共に、第1インナーリード13
より半導体素子10の方に突出させたので、放射状配置
のインナーリード群13.14の内周領域には第2イン
ナーリード14の突出部分のみが存在し、外周領域に第
1及び第2インナーリード13.14の両方が存在する
。従つて、インナーリード13.14の数を電極数に応
じて増加したにも拘らず、インナーリードのピッチ及び
幅を特別に小さくする必要がない。第7図は電極数とイ
ンナーリードの先端ピッチとの関係を示したグラフであ
り、曲線AとBはインナーリードの先端を揃えて電極に
ワイヤボンディングした従来の例であり、曲線Aが半導
体素子のサイズ8關の場合を、曲線Bが10mmの場合
を表しており、曲線Cは8關の場合の本発明の一例を表
している。
上記実施例ではバンプ16は外側電極11に付着してあ
った。しかしながら、バンプ16は外側電極11の代わ
りに条状電線18の先端に形成してもよい。条状電線1
8の後端のバンプ19についても同様に第1インナーリ
ード13の先端に形成してもよい。史にはバンプ19の
代わりに導電性接着剤や溶接によって条状電線18と第
1インナーリード13とを接続することもできる。
また、内側電極と外側電極との数は、必ずしもほぼ同数
に定める必要はなく、内側電極の数を外側電極に比べて
かなり少なくしてもよい。
更に、上記実施例では内側電極12はすべて極細電極線
20によって第2インナーリード14に接続され、外側
電極11はすべて条状電線18によって第1インナーリ
ード13に接続された。しかしながら、本発明はこれに
限ることなく、例えば外側電極11の一部を極細電極線
によって第2インナーリード14に接続することもでき
る。
[発明の効果] 以上の説明から明らかなように本発明によれば、半導体
素子の電極は外側電極と内側電極とから構成されるので
、電極ピッチを狭くすることなく電極数を大幅に増加す
ることができる。第2インナーリードは第1インナーリ
ードよりも長く定めると共にそれよりも半導体素子の方
に突出させたため、電極数の増加にも拘らずインナーリ
ードのピッチ及び幅を十分大きく保つことができ、第1
及び第2インナーリードと条状電線及び極細電極線との
接続不良や接続ミスを防止することができる。
更に、第1インナーリードと外側電極との接続は従来の
テープ・オートメイテッド・ボンディング(Tape 
Automated T3onding)法により、ま
た第2インナーリードと内側電極との接続は従来のワイ
ヤボンディング(Wire Bonding)法によっ
て行うことができるので、半導体装置は製造が容易であ
り安価に製造することができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明による半導体装置の一実施例を示した断
面図、第2図は第1図の半導体素子を示した正面図と(
v、面図、第3図は第1図のインナーリードを作るため
のリードフレームを示した平面図、第4図は第1図の絶
縁耐熱性テープを示した正面図と平面図、第5図はトラ
ンスファーモールディング中の第1図の半導体装置を示
した平面図、第6図は電極数と半導体素子の大きさの関
係を示したグラフ、第7図は電極数とインナーリードの
先端ピッチの関係を示したグラフ、第8図は従来の半導
体装置の一例を示した断面図である。 10・・・半導体素子、]1・・・外側電極、12・・
・内1 2

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  1、半導体素子の表面上にその外周に沿って配列され
    た多数の外側電極と、上記半導体素子の表面上に上記外
    側電極の内側に配列された多数の内側電極と、上記半導
    体素子の周囲に放射状に配置された多数の短い第1イン
    ナーリードと、上記第1インナーリードの間に分散しな
    がら上記半導体素子の周囲に放射状にかつ上記第1イン
    ナーリードよりも半導体素子の方に突出するように配置
    された多数の長い第2インナーリードと、一端が上記外
    側電極に接続され他端が上記第1インナーリードの先端
    に接続された多数の条状電線と、一端が上記内側電極に
    接続され他端が上記第2インナーリードの先端に接続さ
    れた多数の極細電極線と、一方の面側に上記第1及び第
    2インナーリードが位置し他方の面側に上記条状電線が
    位置するように上記第1及び第2インナーリードと上記
    条状電線との間に介在し上記他方の面で上記条状電線を
    支持する絶縁性シートとを具備することを特徴とする半
    導体装置。 2、上記絶縁性シートは絶縁耐熱性テープであり、上記
    条状電線は上記一端がバンプを介して上記外側電極に、
    上記他端がバンプを介して上記第1インナーリードの先
    端に夫々接続され、隣接する第2インナーリードの間に
    は少なくとも一本の第1インナーリードが存在すること
    を特徴とする請求項1記載の半導体装置。
JP26344189A 1989-10-09 1989-10-09 半導体装置 Pending JPH03125438A (ja)

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