JPH0312349B2 - - Google Patents

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JPH0312349B2
JPH0312349B2 JP58059324A JP5932483A JPH0312349B2 JP H0312349 B2 JPH0312349 B2 JP H0312349B2 JP 58059324 A JP58059324 A JP 58059324A JP 5932483 A JP5932483 A JP 5932483A JP H0312349 B2 JPH0312349 B2 JP H0312349B2
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rectangular parallelepiped
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JP58059324A
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JPS59184974A (ja
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Tadao Totsuka
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、組立ロボツト等の視覚センサに用い
る物体検出方法に関するものである。
〔従来技術〕
従来、各種の部品を組立てる組立てロボツト等
においては、個々の部品が母材に対して正確に装
着されたか否かを検出する視覚センサが用いられ
ている。この視覚センサとしては、多くの場合工
業用テレビカメラ等の撮像装置と撮像信号によつ
て部品の組立て状態を判別する画像処理装置とか
ら構成されている。
しかしながら、従来においては部品の組立て状
態における外形形状や高さを3次元方向に配置し
た2台の撮像装置によつて抽出しているため、構
成が大規模となり、取付けスペースや経済性の上
で好ましくないという問題点を有している。
〔発明の目的および構成〕
本発明は上述のような問題点を解決するために
なされたもので、その目的は部品等の物体の高さ
や外形形状を小規模な構成で検出し得るようにし
た物体検出方法を提供することにある。
このために本発明は、基板上に配置された物体
に異なる2方向から時分割で照射光を与え、基板
上に形成される物体の陰影を1台の撮像装置で照
射光の方向とは異なる方向から撮像し、この撮像
信号と所定の設定値との対比により物体の立体的
な位置関係,状態,形状を判定するようにしたも
のである。
〔実施例〕
第1図は、同図aに示すように高さがh,横幅
がx,縦幅がyの長方体1の形状および高さを検
出する場合の検出方法を示す図である。まず、同
図bに示すように長方体1の長手方向の側面に対
して約45度の方向から光源2による照射光が長方
体1に与えられる。これによつて、長方体1を支
持している基板3には長方体1の高さhと縦幅y
に対応した陰影SHD1が形成される。この陰影
SHD1は長方体1の上方向に配置された撮像装
置4によつて長方体1の像と共に撮像される。こ
れによつて、撮像装置4には第1図cに示すよう
に、長方体1に対応する像10とその陰影SHD
1に対応する像11とが結像される。この場合、
長方体1に対応する像10は、その表面の反射率
が大きい程白レベルに近づく画像として結像され
る。また、陰影SHD1に対応する像11は一辺
が長方体1の縦幅yに対応し、他辺が高さhに対
応した長方形の画像として結像される。
次に、同図dに示すように幅がxの側面に対し
て約45度の方向から光源5による照射光が長方体
1に与えられる。これによつて、長方体1を支持
している基板3には長方体1の高さhと横幅xに
対応した陰影SHD2が形成される。この陰影
SHD2は長方体1の上方向に配置された撮像装
置4によつて長方体1の像と共に撮像される。こ
れによつて、撮像装置4には第1図eに示すよう
に長方体1に対応する像10と陰影SHD2に対
応する像12とが結像される。この場合、陰影
SHD2に対応する像12は一辺が長方体1の横
幅xに対応し、他辺が高さhに対応した長方形の
画像として結像される。
従つて、このようにして時分割的に得た2種類
の画像を重ね合わせると、第1図fに示すような
画像を得ることができる。そこで、このような重
ね合わせ画像の画像信号を濃度領域においてフイ
ルタリングすると、陰影SHD1,SHD2にのみ
対応した像11,12のみを抽出することがで
き、この像11,12によつて検出対象物体の形
状を判別することができる。そして検出対象物体
の高さhは、光源2による光の照射角を「π/2− Θ」,陰影11の長さをh′とすると、 h=h′・tanπ/2−Θ …(1) を演算するとによつて求めることができる。
従つて、例えば第2図aに示すように組立てら
れるべきボルト20とナツト21との関係が第2
図bに示すようになつていた場合、ナツト21に
よる陰影SHD3の長さh3が第2図aの陰影SHD
2の長さh2より長くなるため、1方向の陰影
SHD3のみによつてボルト20とナツト21と
が正常に組立てられていないことを検出すること
ができる。また、ボルト20とナツト21との関
係が第2図cに示すようになつていた場合、1方
向の陰影SHD4の長さh4は正常組立て時の長さ
h2と同一であつたとしても、他の方向の陰影
SHD5の長さh5は正常組立て時の長さh2より大
きくなる。これによつて、ボルト20とナツト2
1とが正常に組立てられていないことを知ること
ができる。
この場合、部品の構造が簡単であり、かつ位置
ずれが起り得ないような場合、あるいは位置ずれ
を問題としない場合は1つの陰影によつて組立て
状態を知ることができる。
第3図は本発明を適用した物体検出装置の一実
施例を示すブロツク図であり、第4図はその動作
を示すフローチヤートである。この物体検出装置
は、ビデオカメラ30,画像記憶装置31,陰極
線管デイスプレイ装置(CRT)32,画像処理
装置33,キーボード34,インタフエース回路
35,光源用電源回路36,被制御機器37およ
び2つの光源A,Bとから構成されている。
このような構成において、画像処理装置33は
キーボード34から物体検出開始指令が与えられ
ると、インタフエース回路35を介して光源用電
源回路36に対し光源Aを点灯させるための信号
を与える。これによつて、検出対象の物体には光
源Aによる照射光が与えられる。次に、画像処理
装置33はビデオカメラ30を作動させて検出対
象物体の画像を抽出させ画像記憶装置31に記憶
させる。この時、抽出された検出対象物体の画像
はCRT32の表示画面に表示される。次に、画
像処理装置33は画像記憶装置31に記憶された
検出対象物体の画像に基づき第4図のステツプ4
1に示すようにその陰影SHD1が予め定められ
た陰影像に対応しているか否かを判定する。この
結果、予め定められた陰影像に対応していなけれ
ば、ステツプ46に示すNG処理において例えば
検出対象物体の位置あるいは形状が異なることを
示す信号を被制御機器37に送り、この事態に応
する動作を実行させる。しかし、予め決められた
陰影像に対応している場合、画像処理装置33は
次に光源Aを消灯させた後ステツプ42、光源B
を点灯させステツプ43、検出対象物体に対し前
回と異なる方向から照射光を与え、ビデオカメラ
30にその画像を抽出させて画像記憶装置31に
記憶させる。この後、画像処理装置33はステツ
プ41と同様の処理を行い、この時抽出した検出
対象物体画像の陰影SHD2が予め定められた陰
影像に対応しているか否かを判定し、対応してい
なければステツプ46に示すNG処理においてこ
の事態に対する動作を被制御機器37に実行させ
た後、光源Bを消灯して物体検出動作を終了す
る。
ここで、例えば組立て工程に用いた場合の被制
御機器37が実行する動作とは、組立て状態の不
良な物体を除去する動作あるいは前の工程に送り
戻す動作や、組立て状態の良好な物体を次の工程
に搬送する動作である。
〔発明の効果〕
このように本発明によれば、異なる2方向から
の照射光により基板上に物体の陰影を形成してこ
の陰影を撮像しているため、1台の撮像装置で陰
影から物体の立体的な位置関,形状,高さ,部品
の組立状態等を検出することができ、これにより
視角センサを小型に構成できるので取付スペース
も小さくできる。
また、物体を直接撮像すると、物体の色,反射
率,表面の鏡面状態等により物体の反射光に差が
できるので撮像信号の2値化が不安定になり、像
の検出パターンの精度が低下するが、本発明にお
いては、物体の陰影を撮像してその撮像信号から
物体の立体的な各状態を検出しているため、上記
のような問題があつたとしても照射光の強さを適
当に設定すれば、物体や基板は白レベルに、物体
の陰影は黒レベルにすることが容易であり撮像信
号の2値化が安定になされる。このため、複雑な
濃度識別の処理を行なうことなく物体の立体的な
位置関係,状態,形状を判定することができ、画
像処理内容も簡単にできるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図は
他の実施例を示す図、第3図は本発明を適用した
物体検出装置の一実施例を示すブロツク図、第4
図はその動作を示すフローチヤートである。 1……長方体、2,5……光源、3……支持
板、4……撮像装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 基板上に配置された物体に異なる2方向から
    時分割で照射光を与え、基板上に形成される物体
    の陰影を1台の撮像装置で照射光の方向とは異な
    る方向から撮像し、この撮像信号と所定の設定値
    との対比により物体の立体的な位置関係,状態,
    形状を判定することを特徴とする物体検出方法。
JP5932483A 1983-04-06 1983-04-06 物体検出方法 Granted JPS59184974A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5932483A JPS59184974A (ja) 1983-04-06 1983-04-06 物体検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5932483A JPS59184974A (ja) 1983-04-06 1983-04-06 物体検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59184974A JPS59184974A (ja) 1984-10-20
JPH0312349B2 true JPH0312349B2 (ja) 1991-02-20

Family

ID=13110058

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5932483A Granted JPS59184974A (ja) 1983-04-06 1983-04-06 物体検出方法

Country Status (1)

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JP (1) JPS59184974A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5048856A (ja) * 1973-09-01 1975-05-01
JPS58165175A (ja) * 1982-03-24 1983-09-30 Rinku Shiide Syst:Kk 物体検出方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5048856A (ja) * 1973-09-01 1975-05-01
JPS58165175A (ja) * 1982-03-24 1983-09-30 Rinku Shiide Syst:Kk 物体検出方法

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Publication number Publication date
JPS59184974A (ja) 1984-10-20

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