JPH03119519A - 垂直磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
垂直磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPH03119519A JPH03119519A JP25804589A JP25804589A JPH03119519A JP H03119519 A JPH03119519 A JP H03119519A JP 25804589 A JP25804589 A JP 25804589A JP 25804589 A JP25804589 A JP 25804589A JP H03119519 A JPH03119519 A JP H03119519A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 35
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、垂直磁気記録媒体の製造方法に関するもので
ある。
ある。
従来の技術
垂直磁気記録媒体は、膜面に垂直な方向に磁化容易軸が
存在する垂直磁化膜を基体上に有するもので、従来、こ
の種の垂直磁気記録媒体としては、Co −Crを主成
分とする合金薄膜を非磁性基体あるいは非磁性基体上に
軟磁性層を設けた上に形成したようなものがある。そし
て、このような垂直磁気記録媒体を製造する従来の方法
としては、直流あるいは高周波マグネトロンスパッタ法
や高周波スパッタ法があった。
存在する垂直磁化膜を基体上に有するもので、従来、こ
の種の垂直磁気記録媒体としては、Co −Crを主成
分とする合金薄膜を非磁性基体あるいは非磁性基体上に
軟磁性層を設けた上に形成したようなものがある。そし
て、このような垂直磁気記録媒体を製造する従来の方法
としては、直流あるいは高周波マグネトロンスパッタ法
や高周波スパッタ法があった。
発明が解決しようとする課題
従来の直流または高周波マグネトロンスパッタ法は、膜
付着速度が速くて実用的なものであるが、次の点で問題
があった。例えば、Co−22at%Cr薄膜をこの従
来方法にて基体上に形成する場合に、基体の温度を室温
程度に保っときには、得られる薄膜の保磁力は、200
0e程度にしかならず、保磁力が5000e以」−の薄
膜を得るためには、基体の温度を約200℃に加熱しな
ければならなかった。このように基体の温度を200℃
に加熱するには、その温度までに基体温度を上昇させる
には、通常約1時間程かかり、それだけ、製造時間がか
かることになり、その上、このように温度を上げてスパ
ッタすると、基体が曲がったりすることがあり、ハード
ディスクの場合に歩留まりが悪くなってしまう。また、
このように基体の温度を上げてCo−Cr薄膜を形成す
る場合には、その薄膜の結晶配向性も低下し飽和磁化も
40%程度増加してしまう。結晶配向性の劣化は垂直磁
気異方性の劣化をも意味し、また飽和磁化の増加は膜中
の組成が不均一になっていることを意味している。更に
、飽和磁化の増加によって減磁界が大きくなり、実効的
垂直磁気異方性定数(Ku−4yrMs)が減少する(
ここで、Kuは垂直磁気異方性定数で、Msは飽和磁化
をあられす)。例えば、基体の温度を上昇させろと、お
よそ150℃から実効的垂直磁気異方性定数が負になっ
て、磁化容易軸が膜面に垂直な方向から面内に変化して
きてしまう。
付着速度が速くて実用的なものであるが、次の点で問題
があった。例えば、Co−22at%Cr薄膜をこの従
来方法にて基体上に形成する場合に、基体の温度を室温
程度に保っときには、得られる薄膜の保磁力は、200
0e程度にしかならず、保磁力が5000e以」−の薄
膜を得るためには、基体の温度を約200℃に加熱しな
ければならなかった。このように基体の温度を200℃
に加熱するには、その温度までに基体温度を上昇させる
には、通常約1時間程かかり、それだけ、製造時間がか
かることになり、その上、このように温度を上げてスパ
ッタすると、基体が曲がったりすることがあり、ハード
ディスクの場合に歩留まりが悪くなってしまう。また、
このように基体の温度を上げてCo−Cr薄膜を形成す
る場合には、その薄膜の結晶配向性も低下し飽和磁化も
40%程度増加してしまう。結晶配向性の劣化は垂直磁
気異方性の劣化をも意味し、また飽和磁化の増加は膜中
の組成が不均一になっていることを意味している。更に
、飽和磁化の増加によって減磁界が大きくなり、実効的
垂直磁気異方性定数(Ku−4yrMs)が減少する(
ここで、Kuは垂直磁気異方性定数で、Msは飽和磁化
をあられす)。例えば、基体の温度を上昇させろと、お
よそ150℃から実効的垂直磁気異方性定数が負になっ
て、磁化容易軸が膜面に垂直な方向から面内に変化して
きてしまう。
一方、従来の高周波スパッタ法は、基体温度が比較的に
低い温度でも高保磁力を有するCo−Cr薄膜を得るこ
とができる。例えば、基体温度が室温程度で、保磁力が
1.0000 eのC。
低い温度でも高保磁力を有するCo−Cr薄膜を得るこ
とができる。例えば、基体温度が室温程度で、保磁力が
1.0000 eのC。
Cr薄膜を得ることができる。しかし、この従来の高周
波スパッタ法では、5000e程度の保磁力を有するC
o−Cr薄膜を得ることが難しく、また、膜の付着速度
が約0.01μm/分と非常に遅く実用的ではなかった
。
波スパッタ法では、5000e程度の保磁力を有するC
o−Cr薄膜を得ることが難しく、また、膜の付着速度
が約0.01μm/分と非常に遅く実用的ではなかった
。
本発明の目的は、このような従来の問題点を解消しつる
垂直磁気記録媒体の製造方法を提供することである。
垂直磁気記録媒体の製造方法を提供することである。
課題を解決するための手段
本発明によれば、膜面に垂直な方向に磁化容易軸が存在
する垂直磁化膜を基体上に有する垂直磁気記録媒体の製
造方法において、前記基体上に前記垂直磁化膜を高周波
マグネトロンスパッタ法にて形成する際に、マグネトロ
ンターゲットの中心上における漏磁界の方向と実質的に
逆向きの方向の直流磁界を、前記基体とターゲットとの
間の空間に印加することを特徴とする。
する垂直磁化膜を基体上に有する垂直磁気記録媒体の製
造方法において、前記基体上に前記垂直磁化膜を高周波
マグネトロンスパッタ法にて形成する際に、マグネトロ
ンターゲットの中心上における漏磁界の方向と実質的に
逆向きの方向の直流磁界を、前記基体とターゲットとの
間の空間に印加することを特徴とする。
実施例
次に、添付図面に基づいて、本発明の実施例について本
発明をより詳細に説明する。
発明をより詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例としての垂直磁気記録媒体
の製造方法を説明するための概略図である。この第1図
に略示するように、この実施例の製造方法によれば、例
えば、アルゴンガスの雰囲気中に、例えば、ガラスの基
体1と、例えば、Co−20at%Crの組成の合金平
板であるターゲット2とを所定の間隔を置いて対峙させ
て、基体1とターゲット2との間に高周波パワーを加え
られるようにする。ターゲット2のホルダー内には、マ
グネット6を図示の極性にて配列し、ターゲット2から
漏磁界5が生ずるようにする。本発明によれば、さらに
、直流磁界コイル7および8を設けることにより、マグ
ネトロン漏磁界5の中心における磁界の方向と実質的に
逆向きの方向、すなわち、基体1およびターゲット2の
面に垂直な方向で且つターゲット2から基体1へ向かう
方向の直流磁界4を基体1とターゲット2との間の空間
に印加できるようにする。1対の直流磁界コイル7およ
び8を設けるのは、垂直方向に−様な磁界を与えるのに
効果的であるからである。
の製造方法を説明するための概略図である。この第1図
に略示するように、この実施例の製造方法によれば、例
えば、アルゴンガスの雰囲気中に、例えば、ガラスの基
体1と、例えば、Co−20at%Crの組成の合金平
板であるターゲット2とを所定の間隔を置いて対峙させ
て、基体1とターゲット2との間に高周波パワーを加え
られるようにする。ターゲット2のホルダー内には、マ
グネット6を図示の極性にて配列し、ターゲット2から
漏磁界5が生ずるようにする。本発明によれば、さらに
、直流磁界コイル7および8を設けることにより、マグ
ネトロン漏磁界5の中心における磁界の方向と実質的に
逆向きの方向、すなわち、基体1およびターゲット2の
面に垂直な方向で且つターゲット2から基体1へ向かう
方向の直流磁界4を基体1とターゲット2との間の空間
に印加できるようにする。1対の直流磁界コイル7およ
び8を設けるのは、垂直方向に−様な磁界を与えるのに
効果的であるからである。
第2図は、本発明の別の実施例としての垂直磁気記録媒
体の製造方法を説明するための第1図と同様の概略図で
あり、この実施例では、マグネトロン漏磁界5の方向と
、直流磁界4の方向とが、それぞれ第1図の実施例と逆
にされているだけで、それ以外は、第1図の実施例と同
様であるので、繰り返し詳述はしない。
体の製造方法を説明するための第1図と同様の概略図で
あり、この実施例では、マグネトロン漏磁界5の方向と
、直流磁界4の方向とが、それぞれ第1図の実施例と逆
にされているだけで、それ以外は、第1図の実施例と同
様であるので、繰り返し詳述はしない。
第3図は、このような高周波マグネトロンスパッタ法に
てCo−20at%Cr薄膜をガラス基体上に形成する
際印加直流磁界4を種々変化させてみた結果を示してい
る。このときのスパッタ条件は、それぞれ、アルゴンガ
ス圧: 1.5 mTorr、高周波パワー:300W
、膜厚:0.3μm、膜付着速度二0.1μm/分、基
体;ガラス、ターゲット−基体間距離:50mmで、基
体は水冷している。
てCo−20at%Cr薄膜をガラス基体上に形成する
際印加直流磁界4を種々変化させてみた結果を示してい
る。このときのスパッタ条件は、それぞれ、アルゴンガ
ス圧: 1.5 mTorr、高周波パワー:300W
、膜厚:0.3μm、膜付着速度二0.1μm/分、基
体;ガラス、ターゲット−基体間距離:50mmで、基
体は水冷している。
第3図にて、正の印加直流磁界H(Oe)は、ターゲッ
トの中心上における漏磁界の方向と逆向きの方向に磁界
を印加したことを意味し、また、負の印加直流磁界H(
Oe)は、その漏磁界の方向と同じ方向に磁界を印加し
たことを意味している。
トの中心上における漏磁界の方向と逆向きの方向に磁界
を印加したことを意味し、また、負の印加直流磁界H(
Oe)は、その漏磁界の方向と同じ方向に磁界を印加し
たことを意味している。
また、膜面に垂直方向の保磁力Hc上 (Oe)および
飽和磁化M s (emu/cc)は、振動型磁力計に
より求めた。C軸の膜面からの配向度△θso(deg
)は、X線回折のロッキング曲線より求めた。この第3
図のグラフから明らかなように、印加直流磁界Hを、−
20からおよそ+1000eまで変化させることによっ
て、膜面に垂直方向の保磁力Hc 1は、およそ100
0eから9000eまで変化することが確か狛られる。
飽和磁化M s (emu/cc)は、振動型磁力計に
より求めた。C軸の膜面からの配向度△θso(deg
)は、X線回折のロッキング曲線より求めた。この第3
図のグラフから明らかなように、印加直流磁界Hを、−
20からおよそ+1000eまで変化させることによっ
て、膜面に垂直方向の保磁力Hc 1は、およそ100
0eから9000eまで変化することが確か狛られる。
また、結晶配向度△θ5oもそれほど劣化していないこ
とがわかる。
とがわかる。
また、飽和磁化Msも±5%以内におさまっていること
もわかる。これは膜組成の均一性が保たれ、減磁界も増
大していないことを意味している。実験に用いた装置の
都合上、印加直流磁界は、およそ1000eまでしか印
加できなかったが、第3図から印加直流磁界に対して単
調に保磁力が増加していることから、更に印加直流磁界
を強くすることにより、−層の保磁力の増加がもたせら
れろものと考えられる。
もわかる。これは膜組成の均一性が保たれ、減磁界も増
大していないことを意味している。実験に用いた装置の
都合上、印加直流磁界は、およそ1000eまでしか印
加できなかったが、第3図から印加直流磁界に対して単
調に保磁力が増加していることから、更に印加直流磁界
を強くすることにより、−層の保磁力の増加がもたせら
れろものと考えられる。
第4図は、印加直流磁界H(Oe)を種々変えた場合の
膜付着速度Rd1μm/m1n)を示すグラフである。
膜付着速度Rd1μm/m1n)を示すグラフである。
この第4図のグラフから明らかなように、本発明の方法
によれば、膜付着速度Rdは、およそ0.1μm/n+
inと高く、しかも印加直流磁界Hの強さにあまり依存
していないことがわかる。
によれば、膜付着速度Rdは、およそ0.1μm/n+
inと高く、しかも印加直流磁界Hの強さにあまり依存
していないことがわかる。
このように、本発明によって、高周波マグネトロンスパ
ッタ法で垂直磁化膜を作製する際基体に垂直に直流磁界
を印加することで、膜の保磁力を基体を加熱せずに、1
000eから8000e以上簡単に変化させることがで
きる。これは、次のような理由によるものと考えられる
。すなわち、通常の高周波スパッタ法で高保磁力の膜が
作製できる理由は、基体付近までプラズマが広がること
である。一方、通常の直流または高周波マグネトロンス
パッタ法では、ターゲット上の漏磁界によりプラズマが
ターゲット近傍に片寄ってしまうので、高周波スパッタ
法の如く高保磁力の膜を作製し難いものと考えられる。
ッタ法で垂直磁化膜を作製する際基体に垂直に直流磁界
を印加することで、膜の保磁力を基体を加熱せずに、1
000eから8000e以上簡単に変化させることがで
きる。これは、次のような理由によるものと考えられる
。すなわち、通常の高周波スパッタ法で高保磁力の膜が
作製できる理由は、基体付近までプラズマが広がること
である。一方、通常の直流または高周波マグネトロンス
パッタ法では、ターゲット上の漏磁界によりプラズマが
ターゲット近傍に片寄ってしまうので、高周波スパッタ
法の如く高保磁力の膜を作製し難いものと考えられる。
ところが、第1図および第2図に示すように、本発明に
よって高周波マグネトロンスパッタ法において基体1に
垂直に直流磁界4を印加すると、ターゲット2から放出
される電子がその磁力線にそってザイクロトロン運動を
することによってスパッタガスのイオン化を促進し、基
体1の方までプラズマが広がることになる。第1図およ
び第2図において、参照符号3は、このようにプラズマ
が広がった状態を示している。このことにより、膜の付
着速度は高いまま高周波スパッタ法と同じ効果を生じさ
せることができるものと考えられる。
よって高周波マグネトロンスパッタ法において基体1に
垂直に直流磁界4を印加すると、ターゲット2から放出
される電子がその磁力線にそってザイクロトロン運動を
することによってスパッタガスのイオン化を促進し、基
体1の方までプラズマが広がることになる。第1図およ
び第2図において、参照符号3は、このようにプラズマ
が広がった状態を示している。このことにより、膜の付
着速度は高いまま高周波スパッタ法と同じ効果を生じさ
せることができるものと考えられる。
発明の効果
本発明の垂直磁気記録媒体の製造方法によれば、基体を
加熱せずに、室温に維持して、垂直磁化膜の垂直方向の
保磁力を簡単に制御でき、膜付着速度も高く保つことが
できる。
加熱せずに、室温に維持して、垂直磁化膜の垂直方向の
保磁力を簡単に制御でき、膜付着速度も高く保つことが
できる。
第1図は、本発明の一実施例としての垂直磁気記録媒体
の製造方法を説明するための概略図、第2図は、本発明
の別の実施例としての垂直磁気記録媒体の製造方法を説
明するための第1図と同様の概略図、第3図は、第1図
および第2図に示したような高周波マグネトロンスパッ
タ法にてC。 20at%Cr薄膜をガラス基体上に形成する際印加直
流磁界を種々変化させてみた結果を示す図、第4図は、
第1図および第2図に示すような高周波マグネトロンス
パッタ法にて印加直流磁界を種々変えた場合の膜付着速
度の変化を示す図である。 1・・・・基体、 2・・・・ターゲット、3
・・・・プラズマ、 4・・・・印加直流磁界、5・
・・・漏磁界、 6・・・・マグネット、7.8
・・・・直流磁界コイル。 0
の製造方法を説明するための概略図、第2図は、本発明
の別の実施例としての垂直磁気記録媒体の製造方法を説
明するための第1図と同様の概略図、第3図は、第1図
および第2図に示したような高周波マグネトロンスパッ
タ法にてC。 20at%Cr薄膜をガラス基体上に形成する際印加直
流磁界を種々変化させてみた結果を示す図、第4図は、
第1図および第2図に示すような高周波マグネトロンス
パッタ法にて印加直流磁界を種々変えた場合の膜付着速
度の変化を示す図である。 1・・・・基体、 2・・・・ターゲット、3
・・・・プラズマ、 4・・・・印加直流磁界、5・
・・・漏磁界、 6・・・・マグネット、7.8
・・・・直流磁界コイル。 0
Claims (1)
- 膜面に垂直な方向に磁化容易軸が存在する垂直磁化膜
を基体上に有する垂直磁気記録媒体の製造方法において
、前記基体上に前記垂直磁化膜を高周波マグネトロンス
パッタ法にて形成する際に、マグネトロンターゲットの
中心上における漏磁界の方向と実質的に逆向きの方向の
直流磁界を、前記基体とターゲットとの間の空間に印加
することを特徴とする垂直磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25804589A JPH03119519A (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 垂直磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25804589A JPH03119519A (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 垂直磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03119519A true JPH03119519A (ja) | 1991-05-21 |
Family
ID=17314777
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25804589A Pending JPH03119519A (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 垂直磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03119519A (ja) |
-
1989
- 1989-10-03 JP JP25804589A patent/JPH03119519A/ja active Pending
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