JPH03118721A - トランジスタの保護回路 - Google Patents

トランジスタの保護回路

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JPH03118721A
JPH03118721A JP25605189A JP25605189A JPH03118721A JP H03118721 A JPH03118721 A JP H03118721A JP 25605189 A JP25605189 A JP 25605189A JP 25605189 A JP25605189 A JP 25605189A JP H03118721 A JPH03118721 A JP H03118721A
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JP
Japan
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transistor
output transistor
current
overcurrent
cut
Prior art date
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Pending
Application number
JP25605189A
Other languages
English (en)
Inventor
Takayuki Yokoyama
横山 隆幸
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [概要] トランジスタの保護回路に係り、詳しくは過電流に対す
る保護回路に関し、 トランジスタの保護動作時に生じる発熱を抑制し、トラ
ンジスタ及び他の素子の熱破壊を防止することができる
トランジスタの保護回路を提供することを目的とし、 負荷を駆動する出力トランジスタと、前記出力トランジ
スタを導通状態又は遮断状態に制御する駆動制御手段と
、前記出力トランジスタに流れる電流を検出する電流検
出手段と、前記電流検出手段の検出電流値が予め定めら
れた過電流設定値以上の時、過電流状態であると判定す
る過電流判定手段と、前記過電流判定手段により過電流
状態が少なくとも第1の所定時間継続して判定された時
、出力トランジスタが遮断状態となるように前記駆動制
御手段による遮断制御を遅延させる遮断遅延手段と、前
記遮断遅延手段の作用により前記駆動制御手段による出
力トランジスタの遮断制御が行なわれた後、第2の所定
時間経過後に出力トランジスタが導通状態となるように
前記駆動制御手段による導通制御を遅延させる導通遅延
手段とにより構成した。
[産業上の利用分野] 本発明はトランジスタの保護回路に係り、詳しくは過電
流に対する保護回路に関するものである。
近年、半導体装置においても高い駆動能力が要求され、
それに伴って出力トランジスタの保護回路も信転性の高
いものが要求されている。
[従来の技術] 従来、第4図に示すように、半導体装置における出力ト
ランジスタ21の過電流保護回路は同トランジスタ2I
のベース端子にバイアス電流制御回路22を接続させて
いる。又、同トランジスタ21のベース・エミッタ間に
抵抗23.24を接続し、その抵抗23.24間にトラ
ンジスタ25のベース端子を接続して、ベース・エミッ
タ間の電圧vBに相対する抵抗24の端子間電圧をトラ
ンジスタ25に出力するようにしている。
そして、出力トランジスタ21のコレクタ電流■0をベ
ース・エミッタ間の電圧vBで検出し、その電圧vBの
値によってトランジスタ25を動作させ、そのトランジ
スタ25の動作状態に基づいてバイアス電流制御回路2
2は出力トランジスタ21のベースに入力するバイアス
電流rBを制御するようになっている。
即ち、バイアス電流制御回路22は第5図に示すように
、出力トランジスタ21の動作時において、コレクタ電
流■0が予め定められた過電流設定値rO8以上流れた
場合、バイアス電流IBを減らし、オン状態にある出力
トランジスタ21を設定した電流値に低下させることで
保護を図っていた。
[発明が解決しようとする課題1 しかしながら、前記保護回路はバイアス電流IBを減少
させている保護動作中においても出力トランジスタ21
を動作させている。その結果、保護動作中においても出
力トランジスタ1には電流が流れ続け、発熱量が大きく
、出力トランジスタ21及び他の素子が熱破壊するおそ
れがあった。
本発明の目的はトランジスタの保護動作時に生じる発熱
を抑制し、トランジスタ及び他の素子の熱破壊を防止す
ることができるトランジスタの保護回路を提供すること
にある。
【課題を解決するための手段] 第1図は本発明の原理説明図である。
駆動制御手段2は出力トランジスタlを導通状態又は遮
断状態に制御するものであり、これにより負荷を駆動す
る。電流検出手段3は出力トランジスタ1に流れる電流
を検出するものであり、例えば抵抗により形成される。
過電流判定手段4は電流検出手段3の検出電流値が予め
定められた過電流設定値以上の時、過電流状態であると
判定するものである。
遮断遅延手段5は過電流判定手段4により過電流状態が
少なくとも第1の所定時間T1継続して判定された時、
出力トランジスタ1が遮断状態となるように駆動制御手
段2による遮断制御を遅延させるものである。そして、
導通遅延手段6は遮断遅延手段50作用により駆動制御
手段2による出力トランジスタ1の遮断制御が行なわれ
た後、第2の所定時間T2経過後に出力トランジスタ1
が導通状態となるように駆動制御手段2による導通制御
を遅延させるものである。
[作用] 出力トランジスタ1の導通状態において、電流検出手段
3の検出電流値が過電流設定値以上の時、過電流判定手
段4により過電流状態であると判定される。遮断遅延手
段5は、過電流判定手段4により過電流状態の判定が少
なくとも第1の所定時間T1継続してされた時、出力ト
ランジスタ1が遮断状態となるように駆動制御手段2に
よる遮断制御を遅延させる。
そして、この遮断遅延手段50作用により出力トランジ
スタlの遮断制御が行なわれた後、第2の所定時間T2
経過後に出力トランジスタlが導通状態となるように、
導通遅延手段6は駆動制御手段2による導通制御を遅延
させるので、保護動作中において出力トランジスタ1に
は第2の所定時間T2だけ電流が流れず、発熱が抑えら
れ、出力トランジスタ1及び他の素子の熱破壊が防止さ
れる。
又、遮断遅延手段5は過電流判定手段4により過電流状
態の判定が少なくとも第1の所定時間T1継続してされ
た時に、出力トランジスタ1が遮断状態となるように駆
動制御手段2を遅延させるようにしたので、この所定時
間Tl内に負荷状態が変化して電流検出手段3による検
出電流値がが過電流設定値未満になれば、出力トランジ
スタ1を遮断することなく連続して負荷を駆動すること
ができる。
【実施例1 以下、本発明を半導体装置に設けたトランジスタの保護
回路に具体化した一実施例を第2.3図に従って説明す
る。
第2図は本発明を具体化した一実施例における保護回路
を示す電気回路図、第3図は保護回路の作用を示すグラ
フである。
第2図において、出力トランジスタQ1は半導体装置上
に形成されたトランジスタでありて、そのベース端子に
は図示しない半導体装置中の制御回路からの制御信号に
基づいて動作するスイッチSWを介して定電流回路11
からバイアス電流IBが供給される。又、出力トランジ
スタQ1のエミッタ端子には電流検出手段としての検出
抵抗R1が接続され、この検出抵抗R1はトランジスタ
Q2.Q3、抵抗R2,R3とでカレントミラー回路を
構成しており、検出抵抗R1により出力トランジスタQ
1のコレクタ電流IOが検出されるようになっている。
そして、このカレントミラー回路のトランジスタQ2に
は定電流回路12から定電流11が供給され、トランジ
スタQ3には定電流回路13から定電流12(ζIt)
が供給されるようになっている。
トランジスタQ3のコレクタ側にはトランジスタQ4の
ベース端子が接続され、同トランジスタQ4のコレクタ
端子は電源ラインに接続されたトランジスタQ9のベー
ス端子に接続されている。
なお、本実施例ではトランジスタQ2.Q3゜Q4によ
って過電流判定手段が構成され、検出抵抗R1の電圧降
下の増加による接続点X、Yの電圧上昇に基づいてトラ
ンジスタQ4がオンすることにより、過電流状態である
と判定するようになっている。トランジスタQ9のコレ
クタ端子はトランジスタQ6のベース端子に接続され、
同トランジスタQ6のコレクタ端子は後記するカレント
ミラー回路を構成するトランジスタQ7のコレクタ端子
に並列に接続されている。
カレントミラー回路はトランジスタQ7.QBとで構成
され、トランジスタQ7には定電流回路14から定電流
I4が供給され、トランジスタQ8には定電流回路15
から定電流I5が供給されるようになっている。定電流
14.15はそれぞれ大きさが異なっている。そして、
カレントミラー回路は前記トランジスタQ6がオンする
ことによってオフし、前記トランジスタQ6がオフする
ことによってオンするようになっている。
コンパレータ16の一方の入力端子16aは前記カレン
トミラー回路のトランジスタQ8のコレクタ側に接続さ
れるとともに、同人力端子16aには前記トランジスタ
Q8と並列にコンデンサCが接続されている。コンパレ
ータ16はヒステリシス特性を備えており、入力端子1
6aの入力電圧VIが基準電圧VR以上になると出力端
子16cよりハイレベルの出力信号を出力し、入力電圧
Vlが前記基準電圧VRよりもΔ■だけ小さいΔVR未
溝になるとローレベルの出力信号を出力するようになっ
ている。コンパレータ16の他方の入力端子16bは基
準電圧VRに接続されている。又、コンパレータ16の
出力端子16cには駆動制御手段としてのトランジスタ
Q5が接続され、同トランジスタQ5のコレクタ端子は
前記スイッチSW及び出力トランジスタ91間に接続さ
れている。
なお、コンデンサCが充電されてその電圧が基準電圧V
Rとなる時間T1と、コンデンサCが放電されてその電
圧がΔVR未満となる時間T2とは、前記定電流I4及
び定電流I5の比を変更することにより、所望の値とす
ることができる。
そして、本実施例ではトランジスタQ6〜Q9゜コンデ
ンサC及びコンパレータ16により遮断遅延手段及び導
通遅延手段が構成され、コンデンサCの充ft電圧が基
準電圧VR以上になるとコンパレータ16よりハイレベ
ルの出力信号を出力し、トランジスタQ5をオンさせて
定電流回路11からのバイアス電流IBを同トランジス
タQ5を介して流し、出力トランジスタQ1へのバイア
ス電流IBの供給を停止し、同トランジスタQ1をオフ
させるようになっている。又、逆にコンデンサCの充電
電圧がΔVR未溝になるとコンパレータ16よりローレ
ベルの出力信号を出力し、トランジスタQ5をオフさせ
て定電流回路11からのバイアス電流1.を出力トラン
ジスタQ1に供給させ、同トランジスタQ1をオンさせ
るようになっている。
さて、半導体装置中の制御回路からの制御信号に基づい
てスイッチSWが二点鎖線で示すように閉路されると、
定電流回路11からバイアス電流IBが出力トランジス
タQ1のベース端子に供給され、同出力トランジスタQ
1がオンし検出抵抗R1を介してコレクタ電流10、即
ち、負荷電流が流れる。
負荷状態が変化してコレクタ電流IOが増加し、第3図
に示す過電流設定値l01S以上になると、検出抵抗R
1での電圧降下が増加し、接続点Xの電圧Vxが上昇す
る。これにより、トランジスタQ3のコレクタ側の接続
点Yの電圧vyも上昇する。接続点Yの電圧vyの上昇
によりトランジスタQ4がオンし、同トランジスタQ4
のオンによりトランジスタQ9がオンする。そして、ト
ランジスタQ9のオンによってトランジスタQ6がオン
するため、カレントミラー回路を構成するトランジスタ
Q7.QBがオフされる。
トランジスタQ8のオフにより、コンデンサCが定電流
回路15からの定電流■5により充電され、過電流設定
値103以上のコレクタ電流IOが流れ続けると、コン
デンサCは充電され続ける。
そして、コンデンサCの充電開始後、所定時間T1経過
して充電電圧が基準電圧VR以上になると、コンパレー
タ16よりハイレベルの出力信号が出力され、トランジ
スタQ5がオンされる。同トランジスタQ5のオンによ
り定電流回路11からのバイアス電流IBが同トランジ
スタQ5を介して流れるため、バイアス電流Isが出力
トランジスタQ1に供給されず、同トランジスタQ1は
第3図に■で示すようにオフされる。
出力トランジスタQlのオフによりコレクタ電流■0が
ゼロになり、第3図に示す過電流設定値105未満にな
ると、検出抵抗R1での電圧降下が減少し、接続点Xの
電圧Vxが下降する。これにより接続点Yの電圧vyも
下降し、トランジスタQ4.トランジスタQ9がオフし
、同トランジスタQ9のオフによってトランジスタQ6
がオフするため、カレントミラー回路を構成するトラン
ジスタQ7.QBがオンされる。
トランジスタQ8のオンにより、コンデンサCの充電電
荷が同トランジスタQ8を介して放電され、その電圧が
下降する。そして、コンデンサCの放電開始後、所定時
間T2経過して充電電圧がΔVR未溝になると、コンパ
レータ16の出力信号はローレベルとなり、トランジス
タQ5がオフされる。同トランジスタQ5のオフにより
定電流回路11からのバイアス電流rBは出力トランジ
スタQ1に供給され、同トランジスタQ1は第3図に■
で示すようにオンされる。
そして、出力トランジスタQ1がオンされた時のコレク
タ電流■0が第3図に示す過電流設定値108以上であ
ると、前記と同様にしてトランジスタQ4.Q9及びQ
6がオンし、トランジスタQ7.QBがオフされコンデ
ンサCが定電流回路15からの定電流I5により充電さ
れる。過電流設定値IO3以上のコレクタ電流■0が流
れ続けると、コンデンサCは充電され続け、コンデンサ
Cの充電開始後、所定時間T、経過して充電電圧が基準
電圧VR以上になると、出力トランジスタQlは第3図
に■で示すようにオフされる。
以後、出力トランジスタQ1のオフより所定時間T1経
過後に同トランジスタQ1がオンされ、出力トランジス
タQ1がオンされた時のコレクタ電流10が第3図に示
す過電流設定値108以上である場合には、前記と同様
にして出力トランジスタQ1は、所定時間T2のオフ状
態と所定時間T1のオン状態とに駆動制御される。
このように、本実施例では出力トランジスタQ1がオン
された時のコレクタ電流fOが過電流設定値105未満
であると同トランジスタQ1をオン状態に保持し、出力
トランジスタQ1がオンされた時、過電流設定値103
以上のコレクタ電流IOが少なくとも所定時間T1継続
して流れ続けると、同トランジスタQ1をオフ状態にす
るようにしたので、保護動作時に生じる出力トランジス
タQ1の発熱を抑制することができ、同トランジスタQ
1及び隣接する他の素子の熱破壊を防止することができ
る。
又、本実施例では出力トランジスタQ1がオンされた時
、過電流設定値103以上のコレクタ電流10が少なく
とも所定時間T1継続して流れ続けた場合に、同トラン
ジスタQ1をオフ状態にするようにしたので、この所定
時間Tl内に負荷状態が変化してコレクタ電流10が過
電流設定値IO3未満になったとき、連続して負荷を駆
動することができる。
なお、本実施例ではバイポーラトランジスタよりなる半
導体装置に具体化したが、MOS)ランジスタよりなる
半導体装置における出力トランジスタの保護回路に実施
してもよい。
[発明の効果] 以上詳述したように、本発明によればトランジスタの保
護動作時に生じる発熱を抑制し、トランジスタ及び隣接
する他の素子の熱破壊を防止することができる優れた効
果がある。
3は電流検出手段、 4は過電流判定手段、 5は遮断遅延手段、 6は導通遅延手段である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理説明図、 第2図は本発明を具体化した一実施例における保護回路
を示す電気回路図、 第3図は保護回路の作用を示すグラフ、第4図は従来の
保護回路を示す電気回路図、第5図は従来の保護回路の
作用を示すグラフである。 図において、 ■は出力トランジスタ、 2は駆動制御手段、

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 負荷を駆動する出力トランジスタ(1)と、前記出
    力トランジスタ(1)を導通状態又は遮断状態に制御す
    る駆動制御手段(2)と、 前記出力トランジスタ(1)に流れる電流を検出する電
    流検出手段(3)と、 前記電流検出手段(3)の検出電流値が予め定められた
    過電流設定値以上の時、過電流状態であると判定する過
    電流判定手段(4)と、 前記過電流判定手段(4)により過電流状態が少なくと
    も第1の所定時間(T_1)継続して判定された時、出
    力トランジスタ(1)が遮断状態となるように前記駆動
    制御手段(2)による遮断制御を遅延させる遮断遅延手
    段(5)と、 前記遮断遅延手段(5)の作用により前記駆動制御手段
    (2)による出力トランジスタ(1)の遮断制御が行な
    われた後、第2の所定時間(T_2)経過後に出力トラ
    ンジスタ(1)が導通状態となるように前記駆動制御手
    段(2)による導通制御を遅延させる導通遅延手段(6
    )と により構成したことを特徴とするトランジスタの保護回
    路。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008067489A (ja) * 2006-09-07 2008-03-21 Toa Corp 過電流保護回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008067489A (ja) * 2006-09-07 2008-03-21 Toa Corp 過電流保護回路

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