JPH0311657B2 - - Google Patents
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- JPH0311657B2 JPH0311657B2 JP58201966A JP20196683A JPH0311657B2 JP H0311657 B2 JPH0311657 B2 JP H0311657B2 JP 58201966 A JP58201966 A JP 58201966A JP 20196683 A JP20196683 A JP 20196683A JP H0311657 B2 JPH0311657 B2 JP H0311657B2
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- sample
- sampling
- liquid
- pipe
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 26
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/10—Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state
- G01N1/20—Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state for flowing or falling materials
- G01N1/2035—Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state for flowing or falling materials by deviating part of a fluid stream, e.g. by drawing-off or tapping
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、たとえば食品、医薬品、半導体産業
で超純水中の微生物を含む微粒子の形状や個数を
測定する場合、あるいは発酵、医薬品産業で微生
物培養液の微生物濃度を測定する場合などにおけ
る、微粒子を含む測定液体からその測定液体の一
部を試料として連続的に採取して測定装置に導入
するサンプリング装置、特にサンプリング装置か
ら微粒子の発生することが少なく、かつ測定装置
に供給する試料の脈動が少なく、この結果測定装
置の測定精度が向上し、さらにサンプリング装置
から発生した微粒子が測定液体を汚染することの
ない装置構成に関する。
で超純水中の微生物を含む微粒子の形状や個数を
測定する場合、あるいは発酵、医薬品産業で微生
物培養液の微生物濃度を測定する場合などにおけ
る、微粒子を含む測定液体からその測定液体の一
部を試料として連続的に採取して測定装置に導入
するサンプリング装置、特にサンプリング装置か
ら微粒子の発生することが少なく、かつ測定装置
に供給する試料の脈動が少なく、この結果測定装
置の測定精度が向上し、さらにサンプリング装置
から発生した微粒子が測定液体を汚染することの
ない装置構成に関する。
流体中の微粒子の形状や個数濃度等を連続的に
測定するために、サンプリング装置によつてこの
流体から試料を連続的に採取して測定装置に導
き、この測定装置でたとえば光を試料に投射して
この光の散乱状態を検出し、この検出によつてえ
られる信号に対して波形処理や微分演算等の信号
処理を適宜行つて所望の測定結果を得るという方
法が一般によく採用されているが、この場合測定
装置に導入する試料の流量が変動したりあるいは
この試料が乱流状態になつていたりすると、測定
装置で単位時間当りに検出される微粒子の個数が
変動したりあるいは前記の信号処理が不充分にな
つて測定結果に誤差を生じるのが通例で、このた
め従来気体中の微粒子に対して測定を行うのに第
１図に示したようなサンプリング装置が用いられ
ている。
測定するために、サンプリング装置によつてこの
流体から試料を連続的に採取して測定装置に導
き、この測定装置でたとえば光を試料に投射して
この光の散乱状態を検出し、この検出によつてえ
られる信号に対して波形処理や微分演算等の信号
処理を適宜行つて所望の測定結果を得るという方
法が一般によく採用されているが、この場合測定
装置に導入する試料の流量が変動したりあるいは
この試料が乱流状態になつていたりすると、測定
装置で単位時間当りに検出される微粒子の個数が
変動したりあるいは前記の信号処理が不充分にな
つて測定結果に誤差を生じるのが通例で、このた
め従来気体中の微粒子に対して測定を行うのに第
１図に示したようなサンプリング装置が用いられ
ている。
第１図において、１は微粒子を含む測定気体１
ａが流れている主配管、Ｆ矢印はその流動方向、
２は一端が主配管１の上流側の点Ａに接続され他
端が主配管１の下流側の点Ｂに接続されて、測定
気体１ａの一部を試料２ａとして主配管１に対し
て分流させるようにしたサンプリング管、３，４
および５は点Ａから点Ｂに向つてサンプリング管
２に順次設けられたそれぞれ定流量ポンプ、流量
指示計、測定装置で、本図では定流量ポンプ３に
よつて点Ａから試料２ａが連続的にサンプリング
管２に定流量で採取されて測定装置５に導入さ
れ、測定装置５に導入された試料２ａはこの装置
を貫流した後点Ｂから主配管１に戻され、測定装
置５では試料２ａが貫流する過程で所定の測定が
行われる。流量指示計４は試料２ａの流動状態を
監視するためのもので、６は上述のサンプリング
管２、定流量ポンプ３および流量指示計４からな
るサンプリング装置である。このサンプリング装
置６では定流量ポンプ３にダイヤフラムポンプが
用いられているので、主配管１から採取された気
体試料２ａはその圧縮性のために少ない脈動でか
つ定流量で測定装置５に導かれる。
ａが流れている主配管、Ｆ矢印はその流動方向、
２は一端が主配管１の上流側の点Ａに接続され他
端が主配管１の下流側の点Ｂに接続されて、測定
気体１ａの一部を試料２ａとして主配管１に対し
て分流させるようにしたサンプリング管、３，４
および５は点Ａから点Ｂに向つてサンプリング管
２に順次設けられたそれぞれ定流量ポンプ、流量
指示計、測定装置で、本図では定流量ポンプ３に
よつて点Ａから試料２ａが連続的にサンプリング
管２に定流量で採取されて測定装置５に導入さ
れ、測定装置５に導入された試料２ａはこの装置
を貫流した後点Ｂから主配管１に戻され、測定装
置５では試料２ａが貫流する過程で所定の測定が
行われる。流量指示計４は試料２ａの流動状態を
監視するためのもので、６は上述のサンプリング
管２、定流量ポンプ３および流量指示計４からな
るサンプリング装置である。このサンプリング装
置６では定流量ポンプ３にダイヤフラムポンプが
用いられているので、主配管１から採取された気
体試料２ａはその圧縮性のために少ない脈動でか
つ定流量で測定装置５に導かれる。
第１図のサンプリング装置６は上述のように構
成されているので、このようなサンプリング装置
を気体中の微粒子測定に採用すると測定を精度低
下を招くことなく行うことができるが、このサン
プリング装置を液体中の微粒子測定に適用すると
ダイヤフラムポンプによる試料の脈動が液体の非
圧縮性のために大きくなつて測定精度が著しく低
下する。したがつてサンプリング装置６はこのま
までは液体中の微粒子測定には使用できないとい
う問題がある。このため定流量ポンプを採用する
としてギヤーポンプを採用すると試料の脈動を抑
制することができるが、この場合ギヤーポンプか
ら摩耗によつて微粒子が発生するので、このポン
プが測定装置よりも上流側に設置されているとポ
ンプから発生した微粒子によつて測定装置の測定
結果に誤差を生じ、またポンプが測定装置よりも
下流側に設置されていると測定装置がポンプの吸
い込み側にあることになるので、試料温度がサン
プリング装置近傍の気温よりも低いと試料から気
泡が発生し易く、この気泡によつて測定装置の測
定結果に誤差を生じ、さらにまたサンプリング管
が第１図に示したように試料を主配管１に還流さ
せるように配設されていると、ギヤーポンプから
発生した微粒子によつて主配管１内の測定液体が
汚染されるという問題がある。
成されているので、このようなサンプリング装置
を気体中の微粒子測定に採用すると測定を精度低
下を招くことなく行うことができるが、このサン
プリング装置を液体中の微粒子測定に適用すると
ダイヤフラムポンプによる試料の脈動が液体の非
圧縮性のために大きくなつて測定精度が著しく低
下する。したがつてサンプリング装置６はこのま
までは液体中の微粒子測定には使用できないとい
う問題がある。このため定流量ポンプを採用する
としてギヤーポンプを採用すると試料の脈動を抑
制することができるが、この場合ギヤーポンプか
ら摩耗によつて微粒子が発生するので、このポン
プが測定装置よりも上流側に設置されているとポ
ンプから発生した微粒子によつて測定装置の測定
結果に誤差を生じ、またポンプが測定装置よりも
下流側に設置されていると測定装置がポンプの吸
い込み側にあることになるので、試料温度がサン
プリング装置近傍の気温よりも低いと試料から気
泡が発生し易く、この気泡によつて測定装置の測
定結果に誤差を生じ、さらにまたサンプリング管
が第１図に示したように試料を主配管１に還流さ
せるように配設されていると、ギヤーポンプから
発生した微粒子によつて主配管１内の測定液体が
汚染されるという問題がある。
本発明は、液体中の微粒子を測定しようとする
場合に生じる上述のような試料採取上の問題を解
決して、脈動を生じることなく試料を一定流量で
連続的に採取でき、かつこのようにして試料を採
取するサンプリング装置自体から微粒子や気泡を
発生することがなく、その上若干の微粒子や気泡
がサンプリング装置から発生しても、この微粒子
や気泡が、測定液体中の微粒子の形状や個数の測
定精度に影響をもたらすことのない、液体中の微
粒子を測定するための液体試料採取用のサンプリ
ング装置を提供することを目的とするものであ
る。
場合に生じる上述のような試料採取上の問題を解
決して、脈動を生じることなく試料を一定流量で
連続的に採取でき、かつこのようにして試料を採
取するサンプリング装置自体から微粒子や気泡を
発生することがなく、その上若干の微粒子や気泡
がサンプリング装置から発生しても、この微粒子
や気泡が、測定液体中の微粒子の形状や個数の測
定精度に影響をもたらすことのない、液体中の微
粒子を測定するための液体試料採取用のサンプリ
ング装置を提供することを目的とするものであ
る。
本発明は上記の目的を達成するために、微粒子
を含む測定液体が流れている主配管に一端が接続
された前記測定液体の試料を採取するサンプリン
グ管と、前記サンプリング管の他端に接続され前
記主配管と前記サンプリング管との接続部附近に
おける前記測定液体の圧力P1よりも低いほぼ一
定の圧力P2を有する空所と、前記サンプリング
管の途中に設けられ流入する前記試料を弁開度を
制御して前記圧力P1と前記圧力P2との間のほぼ
一定の圧力P3にして流出させる圧力調整装置と、
前記サンプリング管の途中に設けられ前記微粒子
の形状や個数を検出する測定装置とからなり、該
測定装置を前記主配管側に、前記圧力調整装置を
前記空所側に接続するようにサンプリング装置を
構成することにより、若干の微粒子や気泡がサン
プリング装置から発生しても、この微粒子や気泡
が、測定液体中の微粒子の形状や個数の測定精度
に影響をもたらすことのないようにしたものであ
る。
を含む測定液体が流れている主配管に一端が接続
された前記測定液体の試料を採取するサンプリン
グ管と、前記サンプリング管の他端に接続され前
記主配管と前記サンプリング管との接続部附近に
おける前記測定液体の圧力P1よりも低いほぼ一
定の圧力P2を有する空所と、前記サンプリング
管の途中に設けられ流入する前記試料を弁開度を
制御して前記圧力P1と前記圧力P2との間のほぼ
一定の圧力P3にして流出させる圧力調整装置と、
前記サンプリング管の途中に設けられ前記微粒子
の形状や個数を検出する測定装置とからなり、該
測定装置を前記主配管側に、前記圧力調整装置を
前記空所側に接続するようにサンプリング装置を
構成することにより、若干の微粒子や気泡がサン
プリング装置から発生しても、この微粒子や気泡
が、測定液体中の微粒子の形状や個数の測定精度
に影響をもたらすことのないようにしたものであ
る。
第２図は本発明によるサンプリング装置の実施
例の構成図である。図において７は微粒子を含む
測定液体７ａが流れている主配管、矢印Ｇは測定
液体７ａの流動方向、８はほぼ一定の圧力P2を
有する空所としての大気に開放された試料排出槽
で、排出槽８は内圧が圧力P2に制御された密閉
タングであつてもよい。９は一端が主配管７から
分岐するようにこの主配管に接続され、他端が試
料排出槽８に接続されたサンプリング管、P1は
主配管７とサンプリング管９との接続点附近にお
ける測定液体７ａの圧力で、この場合この圧力は
P1＞P2に設定されているので圧力P1と圧力P2と
の差圧によつて測定液体７ａの一部が試料９ａと
して主配管７からサンプリング管９に採取され、
この採取された試料は試料排出槽８に排出され
る。１０はサンプリング管９の途中に設けられた
圧力調整装置としてのダイアフラム式自動圧力調
整弁で、調整弁１０は流入する試料９ａの圧力が
変動しても弁開度を自動的に制御してこの試料を
圧力P1と圧力P2との間の所定圧力P3にして流出
させる。圧力調整弁１０の主配管７側のサンプリ
ング管９は上流側部分９１と下流側部分９２とに
分離され、これら両部分の間に測定装置５が介装
され、下流側部分９２の途中に測定装置５から試
料排出槽８に向つて順次圧力調整弁１０、流量指
示計４が設けられている。１２はこのように構成
されたサンプリング管９と圧力調整弁１０と流量
指示計４と試料排出槽８とからなるサンプリング
装置である。このサンプリング装置１２は上述の
ように構成されているので、試料９が連続的に採
取され、測定装置５を貫流する試料９ａは脈動の
ない一定流量となるうえ、サンプリング管の下流
側部分９２、圧力調整弁１０、流量指示計４から
仮に微粒子や気泡が発生してもこの微粒子によつ
て測定装置の測定結果が左右されることはなく、
またこの微粒子が測定液体７ａを汚染することは
ない。
例の構成図である。図において７は微粒子を含む
測定液体７ａが流れている主配管、矢印Ｇは測定
液体７ａの流動方向、８はほぼ一定の圧力P2を
有する空所としての大気に開放された試料排出槽
で、排出槽８は内圧が圧力P2に制御された密閉
タングであつてもよい。９は一端が主配管７から
分岐するようにこの主配管に接続され、他端が試
料排出槽８に接続されたサンプリング管、P1は
主配管７とサンプリング管９との接続点附近にお
ける測定液体７ａの圧力で、この場合この圧力は
P1＞P2に設定されているので圧力P1と圧力P2と
の差圧によつて測定液体７ａの一部が試料９ａと
して主配管７からサンプリング管９に採取され、
この採取された試料は試料排出槽８に排出され
る。１０はサンプリング管９の途中に設けられた
圧力調整装置としてのダイアフラム式自動圧力調
整弁で、調整弁１０は流入する試料９ａの圧力が
変動しても弁開度を自動的に制御してこの試料を
圧力P1と圧力P2との間の所定圧力P3にして流出
させる。圧力調整弁１０の主配管７側のサンプリ
ング管９は上流側部分９１と下流側部分９２とに
分離され、これら両部分の間に測定装置５が介装
され、下流側部分９２の途中に測定装置５から試
料排出槽８に向つて順次圧力調整弁１０、流量指
示計４が設けられている。１２はこのように構成
されたサンプリング管９と圧力調整弁１０と流量
指示計４と試料排出槽８とからなるサンプリング
装置である。このサンプリング装置１２は上述の
ように構成されているので、試料９が連続的に採
取され、測定装置５を貫流する試料９ａは脈動の
ない一定流量となるうえ、サンプリング管の下流
側部分９２、圧力調整弁１０、流量指示計４から
仮に微粒子や気泡が発生してもこの微粒子によつ
て測定装置の測定結果が左右されることはなく、
またこの微粒子が測定液体７ａを汚染することは
ない。
以上の実施例の説明においては各サンプリング
装置に流量指示計４を設けたが、この指示計は必
要がなければ設けなくてもよいものである。
装置に流量指示計４を設けたが、この指示計は必
要がなければ設けなくてもよいものである。
上述したように本発明においては、サンプリン
グ装置を、微粒子を含む測定液体が流れている主
配管に一端が接続された前記測定液体の試料を採
取するサンプリング管と、前記サンプリング管の
他端に接続され前記主配管と前記サンプリング管
との接続部附近における前記測定液体の圧力P1
よりも低いほぼ一定の圧力P2を有する空所と、
前記サンプリング管の途中に設けられ流入する前
記試料を弁開度を制御して前記圧力P1と前記圧
力P2との間のほぼ一定の圧力P3にして流出させ
る圧力調整装置と、前記サンプリング管の途中に
設けられ前記微粒子の形状や個数を検出する測定
装置とからなり、該測定装置を前記主配管側に、
前記圧力調整装置を前記空所側にを接続するよう
にしたので、このようなサンプリング装置によれ
ば、測定液体の圧力P1と空所の圧力P2との圧力
差によつて測定液体の一部が試料として連続的に
サンプリング管に採取されて測定装置を貫流し、
したがつてこの測定装置によつて連続的な測定が
行われるが、この場合測定装置を貫流する試料の
流量は圧力調整装置の出口側の圧力P3と空所の
圧力P2との差圧に応じた値となり、この差圧は
ほぼ一定であるから前記流量は脈動のないほぼ一
定の流量となる。このためこのようなサンプリン
グ装置には液体試料中の微粒子の形状や個数濃度
等を測定する測定装置の測定精度を向上させる効
果がある。また本発明によるサンプリング装置で
は上述したような構成によつて若干の微粒子や気
泡がサンプリング装置から発生しても、この微粒
子や気泡が、測定液体中の微粒子の形状や個数の
測定精度に影響をもたらすことは殆どないという
効果もあり、さらにまた本発明のサンプリング装
置では測定装置を貫流させた試料を空所に排出し
て主配管に戻さないようにしたので、本発明によ
ればサンプリング装置から発生する微粒子によつ
て主配管中の測定液体が汚染されることはないと
いう効果もある。
グ装置を、微粒子を含む測定液体が流れている主
配管に一端が接続された前記測定液体の試料を採
取するサンプリング管と、前記サンプリング管の
他端に接続され前記主配管と前記サンプリング管
との接続部附近における前記測定液体の圧力P1
よりも低いほぼ一定の圧力P2を有する空所と、
前記サンプリング管の途中に設けられ流入する前
記試料を弁開度を制御して前記圧力P1と前記圧
力P2との間のほぼ一定の圧力P3にして流出させ
る圧力調整装置と、前記サンプリング管の途中に
設けられ前記微粒子の形状や個数を検出する測定
装置とからなり、該測定装置を前記主配管側に、
前記圧力調整装置を前記空所側にを接続するよう
にしたので、このようなサンプリング装置によれ
ば、測定液体の圧力P1と空所の圧力P2との圧力
差によつて測定液体の一部が試料として連続的に
サンプリング管に採取されて測定装置を貫流し、
したがつてこの測定装置によつて連続的な測定が
行われるが、この場合測定装置を貫流する試料の
流量は圧力調整装置の出口側の圧力P3と空所の
圧力P2との差圧に応じた値となり、この差圧は
ほぼ一定であるから前記流量は脈動のないほぼ一
定の流量となる。このためこのようなサンプリン
グ装置には液体試料中の微粒子の形状や個数濃度
等を測定する測定装置の測定精度を向上させる効
果がある。また本発明によるサンプリング装置で
は上述したような構成によつて若干の微粒子や気
泡がサンプリング装置から発生しても、この微粒
子や気泡が、測定液体中の微粒子の形状や個数の
測定精度に影響をもたらすことは殆どないという
効果もあり、さらにまた本発明のサンプリング装
置では測定装置を貫流させた試料を空所に排出し
て主配管に戻さないようにしたので、本発明によ
ればサンプリング装置から発生する微粒子によつ
て主配管中の測定液体が汚染されることはないと
いう効果もある。
第１図は気体中の微粒子測定用の従来のサンプ
リング装置の構成図、第２図は本発明によるサン
プリング装置の実施例の構成図である。 ５……測定装置、７……主配管、７ａ……測定
液体、８……空所としての試料排出槽、９……サ
ンプリング管、９ａ……試料、１０……圧力調整
装置としての圧力調整弁、１２……サンプリング
装置。
リング装置の構成図、第２図は本発明によるサン
プリング装置の実施例の構成図である。 ５……測定装置、７……主配管、７ａ……測定
液体、８……空所としての試料排出槽、９……サ
ンプリング管、９ａ……試料、１０……圧力調整
装置としての圧力調整弁、１２……サンプリング
装置。
Claims (1)
- １ 微粒子を含む測定液体が流れている主配管に
一端が接続された前記測定液体の試料を採取する
サンプリング管と、前記サンプリング管の他端に
接続され前記主配管と前記サンプリング管との接
続部附近における前記測定液体の圧力P1よりも
低いほぼ一定の圧力P2を有する空所と、前記サ
ンプリング管の途中に設けられ流入する前記試料
を弁開度を制御して前記圧力P1と前記圧力P2と
の間のほぼ一定の圧力P3にして流出させる圧力
調整装置と、前記サンプリング管の途中に設けら
れ前記微粒子の形状や個数を検出する測定装置と
からなり、該測定装置を前記主配管側に、前記圧
力調整装置を前記空所側に接続したことを特徴と
するサンプリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58201966A JPS6093940A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | サンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58201966A JPS6093940A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | サンプリング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6093940A JPS6093940A (ja) | 1985-05-25 |
| JPH0311657B2 true JPH0311657B2 (ja) | 1991-02-18 |
Family
ID=16449711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58201966A Granted JPS6093940A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | サンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6093940A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH079435B2 (ja) * | 1985-07-23 | 1995-02-01 | 株式会社東芝 | 液体分配装置 |
| JPH0650282B2 (ja) * | 1986-01-30 | 1994-06-29 | 日機装株式会社 | 粉粒体粒度オンライン自動分析装置 |
| JP5277238B2 (ja) * | 2010-12-16 | 2013-08-28 | キリンエンジニアリング株式会社 | 背圧弁を用いた液体のサンプリング計測システム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6231880U (ja) * | 1985-08-13 | 1987-02-25 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5882653U (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | 株式会社島津製作所 | 油分濃度測定装置 |
-
1983
- 1983-10-28 JP JP58201966A patent/JPS6093940A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6231880U (ja) * | 1985-08-13 | 1987-02-25 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6093940A (ja) | 1985-05-25 |
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