JPS6093940A - サンプリング装置 - Google Patents
サンプリング装置Info
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- JPS6093940A JPS6093940A JP58201966A JP20196683A JPS6093940A JP S6093940 A JPS6093940 A JP S6093940A JP 58201966 A JP58201966 A JP 58201966A JP 20196683 A JP20196683 A JP 20196683A JP S6093940 A JPS6093940 A JP S6093940A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/10—Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state
- G01N1/20—Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state for flowing or falling materials
- G01N1/2035—Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state for flowing or falling materials by deviating part of a fluid stream, e.g. by drawing-off or tapping
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、たとえば食品、医薬品、半導体産業で超純水
中の微生物を含む微粒子の形状や個数を測定する場合、
あるいは発酵、医嗅品産業で微生物培養液の微生物濃度
を測定する場合などにおける、微粒子を含む測定液体か
らその測定液体の一部を試料として連続的に採増して測
定装置に導入するサンプリング装置、特にサンプリング
装置から微粒子の発生することが少なく、かつ測定装置
に供給する試料の脈動が少なく、この結果測定装置の測
定精度が向上し、さらにサンプリング装置から発生した
微粒子が測定液体を汚染することのない装置構成に関す
る。
中の微生物を含む微粒子の形状や個数を測定する場合、
あるいは発酵、医嗅品産業で微生物培養液の微生物濃度
を測定する場合などにおける、微粒子を含む測定液体か
らその測定液体の一部を試料として連続的に採増して測
定装置に導入するサンプリング装置、特にサンプリング
装置から微粒子の発生することが少なく、かつ測定装置
に供給する試料の脈動が少なく、この結果測定装置の測
定精度が向上し、さらにサンプリング装置から発生した
微粒子が測定液体を汚染することのない装置構成に関す
る。
この測定装置でたとえば光を試料に投射してこの光の散
乱状態を検出し、この検出ｌこよってえられる信号ｉこ
対して波形処理や微分演算等の信号処理を適宜行って所
望の測定結果を得るという方法が一般によく採用されて
いるが、この場合測定装置に導入する試料の流量が変動
したりあるいはこの試料が乱流状帽になっていたりする
と、測定装置で単位時間当りに検出される微粒子の個数
が変動したりあるいは前記の信号処理が不充分になって
測定結果に誤差を生じるのが通例で、このため従来気体
中の微粒子に対して測定を行うのに第１図に示したよう
なサンプリング装置が用いられている。
乱状態を検出し、この検出ｌこよってえられる信号ｉこ
対して波形処理や微分演算等の信号処理を適宜行って所
望の測定結果を得るという方法が一般によく採用されて
いるが、この場合測定装置に導入する試料の流量が変動
したりあるいはこの試料が乱流状帽になっていたりする
と、測定装置で単位時間当りに検出される微粒子の個数
が変動したりあるいは前記の信号処理が不充分になって
測定結果に誤差を生じるのが通例で、このため従来気体
中の微粒子に対して測定を行うのに第１図に示したよう
なサンプリング装置が用いられている。
第１図において、１は微粒子を含む測定気体１ａが流れ
ている主配管、Ｆ矢印はその流動方向、２は一端が主配
管１の上流側の点Ａに接続さｎ他端が主配管１の下流側
の点Ｂに接続されて、測定気体１ａの一部を試料２ａと
して主配管１に対して分流させるようにしたサンプリン
グ管、３，４および５は点Ａから点Ｂｔこ向ってサンプ
リング管２に順次設けられたそれぞれ定流量ポンプ、流
量指示計、測定装置で、本図では定流量ポンプ３によっ
て点Ａから試料２ａが連続的にサンプリング管２に定流
量で採取さｎて測定装置ｉ＃５に４入さ豹、測定装＃５
に導入された試料２ａはこの装置を直流した後ＡＢから
主配管１ζこ戻さｎ、測定装置［１，５では試料２ａが
直流する過程で所定の測定が行われる。流量指示計４は
試料２ａの流動状態を監視するためのもので、６は上述
のサンプリング管２、定流量ポンプ３および流量指示計
４からなるサンプリング装置である。このサンプリング
装＃６では定流量ポンプ３にダイヤフラムポンプが用い
られているので、主配管１から採取さｎた気体試料２ａ
はその圧縮性のためｌこ少ない脈動でかつ定流量で測定
装置５１こ導かれる。
ている主配管、Ｆ矢印はその流動方向、２は一端が主配
管１の上流側の点Ａに接続さｎ他端が主配管１の下流側
の点Ｂに接続されて、測定気体１ａの一部を試料２ａと
して主配管１に対して分流させるようにしたサンプリン
グ管、３，４および５は点Ａから点Ｂｔこ向ってサンプ
リング管２に順次設けられたそれぞれ定流量ポンプ、流
量指示計、測定装置で、本図では定流量ポンプ３によっ
て点Ａから試料２ａが連続的にサンプリング管２に定流
量で採取さｎて測定装置ｉ＃５に４入さ豹、測定装＃５
に導入された試料２ａはこの装置を直流した後ＡＢから
主配管１ζこ戻さｎ、測定装置［１，５では試料２ａが
直流する過程で所定の測定が行われる。流量指示計４は
試料２ａの流動状態を監視するためのもので、６は上述
のサンプリング管２、定流量ポンプ３および流量指示計
４からなるサンプリング装置である。このサンプリング
装＃６では定流量ポンプ３にダイヤフラムポンプが用い
られているので、主配管１から採取さｎた気体試料２ａ
はその圧縮性のためｌこ少ない脈動でかつ定流量で測定
装置５１こ導かれる。
第１図のサンプリング装置６は上述のように構成されて
いるので、このようなサンプリング装置を気体中の微粒
子測定に採用すると測定を精度低下を招くことなく行う
ことができるが、このサンプリング装置を液体中の微粒
子測定に適用するとダイヤフラムポンプによる試料の脈
動が液体の非圧縮性のために大きくなって測定積度が著
しく低下する。したがってサンプリング装置６はこのま
才では液体中の敵粒子測定には使用できないという問題
がある。このため定流量ポンプを採用するとしてギヤー
ポンプを採用すると試料の脈動を抑制することができる
が、この場合ギヤーポンプから摩耗によって微粒子が発
生するので、このポンプが測定装置げよりも上流側に設
置さｎているとポンプから発生した微粒子によって測定
装置の測定結果に誤差を生じ、またポンプが測定装置よ
りも下流側に設置さｎていると測定装置がポンプの吸い
込み側にあることになるので、試料温変がサンプリング
装置近傍の気温よりも低いと試料から気泡が発生し鴫く
、この気泡ζこよって測定装置の測定結果に誤差を生じ
、さらにまたサンプリング管が第１図に示したように試
料を主配管１に還流させるように配設さｎ、ていると、
ギヤーポンプから発生した微粒子によって主配管ｌ内の
測定液体が汚染され充りいう間Ｖ−がある。
いるので、このようなサンプリング装置を気体中の微粒
子測定に採用すると測定を精度低下を招くことなく行う
ことができるが、このサンプリング装置を液体中の微粒
子測定に適用するとダイヤフラムポンプによる試料の脈
動が液体の非圧縮性のために大きくなって測定積度が著
しく低下する。したがってサンプリング装置６はこのま
才では液体中の敵粒子測定には使用できないという問題
がある。このため定流量ポンプを採用するとしてギヤー
ポンプを採用すると試料の脈動を抑制することができる
が、この場合ギヤーポンプから摩耗によって微粒子が発
生するので、このポンプが測定装置げよりも上流側に設
置さｎているとポンプから発生した微粒子によって測定
装置の測定結果に誤差を生じ、またポンプが測定装置よ
りも下流側に設置さｎていると測定装置がポンプの吸い
込み側にあることになるので、試料温変がサンプリング
装置近傍の気温よりも低いと試料から気泡が発生し鴫く
、この気泡ζこよって測定装置の測定結果に誤差を生じ
、さらにまたサンプリング管が第１図に示したように試
料を主配管１に還流させるように配設さｎ、ていると、
ギヤーポンプから発生した微粒子によって主配管ｌ内の
測定液体が汚染され充りいう間Ｖ−がある。
５一
本発明は、液体中の微粒子を測定しようとする場合に生
じる上述のような試料採取上の問題を解決して、脈動を
生じることなく試料を一定流量で連続的に採取でき、か
つこのようにして試料を裸地するサンプリング装置自体
から微粒子や気泡を発生することがなく、その上仮にサ
ンプリング装置から若干の微粒子が発生してもこの微粒
子が測を 定液体を汚染することのない、液体中の微粒−１１１定
するための液体試料採取用のサンプリング装置を提供す
ることを目的とするものである。
じる上述のような試料採取上の問題を解決して、脈動を
生じることなく試料を一定流量で連続的に採取でき、か
つこのようにして試料を裸地するサンプリング装置自体
から微粒子や気泡を発生することがなく、その上仮にサ
ンプリング装置から若干の微粒子が発生してもこの微粒
子が測を 定液体を汚染することのない、液体中の微粒−１１１定
するための液体試料採取用のサンプリング装置を提供す
ることを目的とするものである。
本発明は上記の目的を達成するために、主配管に流れて
いる測定液体の圧力Ｐ１よりも低いほぼ一定の圧力Ｐ、
を有する空所、たとえば大気に開放された試料排出槽と
前記主配管とを一本のサンプリング管で接続してこのサ
ンプリング管に圧力Ｐ１とＰ、との差圧によって主配管
から測定液体の試料が導入されるようにし、このサンプ
リング管の途中に、弁側膏を制御して、流入する試料を
圧力Ｐ１とＰ、との間のほぼ一定の圧力Ｐ３にし６− て流出させる圧力調整装置を設け、さらにこの圧力調整
装置の主配管側または試料排出槽側のいずれかのサンプ
リング管を途中で上流側部分と下流側部分とに分離して
両管端に接続口を設けてサンプリング装置を構成したも
ので、本発明はこのようにサンプリング装置を構成する
ことによって、サンプリング管の前述した一ヒ流側部分
と下流側部分との間に測定液体中の微粒子を測定する測
定装置を接続してこの測定装置に圧力Ｐ、と圧力Ｐ。
いる測定液体の圧力Ｐ１よりも低いほぼ一定の圧力Ｐ、
を有する空所、たとえば大気に開放された試料排出槽と
前記主配管とを一本のサンプリング管で接続してこのサ
ンプリング管に圧力Ｐ１とＰ、との差圧によって主配管
から測定液体の試料が導入されるようにし、このサンプ
リング管の途中に、弁側膏を制御して、流入する試料を
圧力Ｐ１とＰ、との間のほぼ一定の圧力Ｐ３にし６− て流出させる圧力調整装置を設け、さらにこの圧力調整
装置の主配管側または試料排出槽側のいずれかのサンプ
リング管を途中で上流側部分と下流側部分とに分離して
両管端に接続口を設けてサンプリング装置を構成したも
ので、本発明はこのようにサンプリング装置を構成する
ことによって、サンプリング管の前述した一ヒ流側部分
と下流側部分との間に測定液体中の微粒子を測定する測
定装置を接続してこの測定装置に圧力Ｐ、と圧力Ｐ。
古の間の一定差圧によって脈動のない一定流量の試料が
流わるよ６にし、かつサンプリング装置にポンプを使用
しないようにしてこのサンプリング装置から発生する微
粒子が極めて少なくなるようにし、この結果測定装置の
精度が低下しないようにしたうえ、さらにサンプリング
装置からたとえ若干の微粒子が発生したとしてもこの微
粒子が試料排出槽に排出されて主配管内の測定液体を汚
染しないにうにしたものである。
流わるよ６にし、かつサンプリング装置にポンプを使用
しないようにしてこのサンプリング装置から発生する微
粒子が極めて少なくなるようにし、この結果測定装置の
精度が低下しないようにしたうえ、さらにサンプリング
装置からたとえ若干の微粒子が発生したとしてもこの微
粒子が試料排出槽に排出されて主配管内の測定液体を汚
染しないにうにしたものである。
、４２図は本発明によるサンプリング装置の第１実施例
の構成図である。図において７は微粒子を含む測定液体
７ａが流れている主配管、矢印Ｇは測定液体７ａの流動
方向、８はほぼ一定の圧力Ｐ１を有する空所としての大
気に開放された試料排出槽で、排出槽８は内圧が圧力Ｐ
、に制御さｎた密閉タングであってもよい。９は一端が
主配管７から分岐するようにこの主配管に接続さｎ１他
端が試料排出槽８に接続されたサンプリング管、Ｐｌは
主配管７とサンプリング管９との接続点附近に８ける測
定液体７ａの圧力で、この場合この圧力はＰｌ＞Ｐ、に
設定されているので圧力Ｐ、と圧力Ｐ、との差圧によっ
て測定液体７ａの一部が試料９ａとして主配管７からサ
ンプリング管９に採取され、この採取された試料は試料
排出４１Ｉ８に排出される。ＩＯはサンプリング管９の
途中に投けられた圧力調整装置としてのダイアフラム式
自動圧力調整弁で、調整弁１０は流入する試料９ａの圧
力が変動しても弁開度を自動的に制御してこの試料を圧
力Ｐ１と圧力Ｐ、との間の所定圧力Ｐ。
の構成図である。図において７は微粒子を含む測定液体
７ａが流れている主配管、矢印Ｇは測定液体７ａの流動
方向、８はほぼ一定の圧力Ｐ１を有する空所としての大
気に開放された試料排出槽で、排出槽８は内圧が圧力Ｐ
、に制御さｎた密閉タングであってもよい。９は一端が
主配管７から分岐するようにこの主配管に接続さｎ１他
端が試料排出槽８に接続されたサンプリング管、Ｐｌは
主配管７とサンプリング管９との接続点附近に８ける測
定液体７ａの圧力で、この場合この圧力はＰｌ＞Ｐ、に
設定されているので圧力Ｐ、と圧力Ｐ、との差圧によっ
て測定液体７ａの一部が試料９ａとして主配管７からサ
ンプリング管９に採取され、この採取された試料は試料
排出４１Ｉ８に排出される。ＩＯはサンプリング管９の
途中に投けられた圧力調整装置としてのダイアフラム式
自動圧力調整弁で、調整弁１０は流入する試料９ａの圧
力が変動しても弁開度を自動的に制御してこの試料を圧
力Ｐ１と圧力Ｐ、との間の所定圧力Ｐ。
にして流出させる。９１ａ、９２ａは圧力調整弁１０の
試料排出槽８側のサンプリング管９を上流側部分９１と
下流側部分９２とに分離してこの分離したサンプリング
前の各管端に設けた上流側接続口、下流側接続口で、本
図では流量指示計４は圧力調整弁１０と上流側接続口９
１ａとの間のサンプリング管に設けらｎているが、この
指示計４は下流側接続口９２ａと試料排出槽８との間の
サンプリング管に設けられてもよい。５１，５２はそれ
ぞｎ測定装置ｆ ５の試料流入口、試料流出口で、この
場合上流側接続口９１ａは試料流入口５Ｈこ、下流側接
続口９２ａは試料流出口５２に接続されている。１１は
上述の上ｆ＆側部分９１および下流側部分９２を含むサ
ンプリング管９と、圧力調整弁１０と、流量指示計４と
、試料排出槽８とからなるサンプリング装＋ｉｆである
。
試料排出槽８側のサンプリング管９を上流側部分９１と
下流側部分９２とに分離してこの分離したサンプリング
前の各管端に設けた上流側接続口、下流側接続口で、本
図では流量指示計４は圧力調整弁１０と上流側接続口９
１ａとの間のサンプリング管に設けらｎているが、この
指示計４は下流側接続口９２ａと試料排出槽８との間の
サンプリング管に設けられてもよい。５１，５２はそれ
ぞｎ測定装置ｆ ５の試料流入口、試料流出口で、この
場合上流側接続口９１ａは試料流入口５Ｈこ、下流側接
続口９２ａは試料流出口５２に接続されている。１１は
上述の上ｆ＆側部分９１および下流側部分９２を含むサ
ンプリング管９と、圧力調整弁１０と、流量指示計４と
、試料排出槽８とからなるサンプリング装＋ｉｆである
。
このサンプリング装置は上述のように構成されているの
で、ポンプを用いることなく試料９ａが上記したように
して圧力Ｐ、と圧力Ｐ、との差によってサンプリング管
９に連続的に採取され、採取された試料９ａは圧力調整
弁１０の出口で一定 ９− 圧力Ｐ、にさｎて測定装置５に流入する。この測定装置
に流入する試料は圧力Ｐ、と圧力Ｐ、との差によって流
動するものであり、この場合圧力Ｐ３と圧力Ｐ、とはそ
れぞれ一定であるから測定装置５を貫流する試料の流量
は一定であり、またこの試料の流動には脈動はなく、さ
らにこのようなサンプリング装置ではサンプリング管９
、圧力調整弁１０および流量計４を予め洗浄しておけば
測定装置５によって測定を行う際これら各部材から微粒
子が発生することは殆どないので、測定装置５によって
測定液体７ａ中の微粒子が正確に測定されるうえ、たと
えサンプリング装置１１から微粒子が発生したとしても
この微粒子は試料排出１１８に排出さｎるのでこの微粒
子によって測定液体７ａが汚染されることはない。また
このサンプリング装置１１にはポンプのような激しく動
く部材がないのでこのようなサンプリング装置は耐久性
がある。
で、ポンプを用いることなく試料９ａが上記したように
して圧力Ｐ、と圧力Ｐ、との差によってサンプリング管
９に連続的に採取され、採取された試料９ａは圧力調整
弁１０の出口で一定 ９− 圧力Ｐ、にさｎて測定装置５に流入する。この測定装置
に流入する試料は圧力Ｐ、と圧力Ｐ、との差によって流
動するものであり、この場合圧力Ｐ３と圧力Ｐ、とはそ
れぞれ一定であるから測定装置５を貫流する試料の流量
は一定であり、またこの試料の流動には脈動はなく、さ
らにこのようなサンプリング装置ではサンプリング管９
、圧力調整弁１０および流量計４を予め洗浄しておけば
測定装置５によって測定を行う際これら各部材から微粒
子が発生することは殆どないので、測定装置５によって
測定液体７ａ中の微粒子が正確に測定されるうえ、たと
えサンプリング装置１１から微粒子が発生したとしても
この微粒子は試料排出１１８に排出さｎるのでこの微粒
子によって測定液体７ａが汚染されることはない。また
このサンプリング装置１１にはポンプのような激しく動
く部材がないのでこのようなサンプリング装置は耐久性
がある。
第３図は本発明によるサンプリング装置の第２実施例の
構成図で、本図の第２図と異なる所は、 １０− 圧力調整弁１０の主配管７側のサンプリング管９が上流
側部分９１と下流側部分９２とに分離され、こわら画部
分のｒ１！Ｉｌこ測定装置５が介装さｎ、下流側部分９
２の途中に測定装置５から試料排出槽８に向ってＩＩＦ
１次王力ＩＡＩ 給弁１０、流量指示計４が設けられて
いる点で、１２はこのように構成されたサンプリング管
９（１！：圧力調整弁１０と流量指示計４と試料排出槽
８とからなるサンプリング装置である。このサンプリン
グ装置１２は上述のようｌこ構成されているので、第２
図のサンプリング装置と同様に、試ｆ４９８が連続的に
採俄さね、！１１１１１定装置晴５を疼流する試料９ａ
は脈動のない一定流量古なろう乙、サンプリング管の下
流側部分９２、圧力調整弁１０．流晴指示計４から仮に
微粒子が発生してもこの微粒子によって徂１定装置の測
定拮果が左右されるこ吉はなく、また第２図のサンプリ
ング装置におけると同様にこの微粒子が制定液体７ａを
汚染するこよはない。
構成図で、本図の第２図と異なる所は、 １０− 圧力調整弁１０の主配管７側のサンプリング管９が上流
側部分９１と下流側部分９２とに分離され、こわら画部
分のｒ１！Ｉｌこ測定装置５が介装さｎ、下流側部分９
２の途中に測定装置５から試料排出槽８に向ってＩＩＦ
１次王力ＩＡＩ 給弁１０、流量指示計４が設けられて
いる点で、１２はこのように構成されたサンプリング管
９（１！：圧力調整弁１０と流量指示計４と試料排出槽
８とからなるサンプリング装置である。このサンプリン
グ装置１２は上述のようｌこ構成されているので、第２
図のサンプリング装置と同様に、試ｆ４９８が連続的に
採俄さね、！１１１１１定装置晴５を疼流する試料９ａ
は脈動のない一定流量古なろう乙、サンプリング管の下
流側部分９２、圧力調整弁１０．流晴指示計４から仮に
微粒子が発生してもこの微粒子によって徂１定装置の測
定拮果が左右されるこ吉はなく、また第２図のサンプリ
ング装置におけると同様にこの微粒子が制定液体７ａを
汚染するこよはない。
第４図は不発明によるサンプリング装置の第３実施例の
構成図で、本図の第２図と異なる所は、圧力調整弁１０
の代りに圧力センサ１３と圧力制御弁１４とからなる圧
力調整装置１５を設けたことである。この場合圧力制御
装置１５は、制御弁１４の出口側の試料９ａの圧力を圧
力センサ１３で検出してその検出信号１３ａにもとづい
て制御弁１４に組みこまれた図示していない制御部を動
作させ、この制御部によって制御弁１４の弁開度を自動
的に制御してその出口側の圧力をＰ、とＰ２との間の所
定圧力Ｐ、に維持する才うに構成されている。したがっ
て上述のように構成されたサンプリング管９と圧力調整
装置１５と流量指示計４と試料排出槽８とからなるサン
プリング装置１６の作用ならびに効果が、第２図のサン
プリング装置１１の作用ならびに効果と同様になること
は特に説明するまでもなく明らかである。なお第４図の
サンプリング装置１６においては圧力調整装置１５を測
定装置５よりも上流側に配置したが、第３図の場合の圧
力調整弁１０と同様に圧力調整装置１５は測定装置５の
下流側に配置してもよく、この場合のサンプリング装置
の作用および効果が第３図のサンプリング装置１２にお
けるそれらと同様になることもまた明らかである。
構成図で、本図の第２図と異なる所は、圧力調整弁１０
の代りに圧力センサ１３と圧力制御弁１４とからなる圧
力調整装置１５を設けたことである。この場合圧力制御
装置１５は、制御弁１４の出口側の試料９ａの圧力を圧
力センサ１３で検出してその検出信号１３ａにもとづい
て制御弁１４に組みこまれた図示していない制御部を動
作させ、この制御部によって制御弁１４の弁開度を自動
的に制御してその出口側の圧力をＰ、とＰ２との間の所
定圧力Ｐ、に維持する才うに構成されている。したがっ
て上述のように構成されたサンプリング管９と圧力調整
装置１５と流量指示計４と試料排出槽８とからなるサン
プリング装置１６の作用ならびに効果が、第２図のサン
プリング装置１１の作用ならびに効果と同様になること
は特に説明するまでもなく明らかである。なお第４図の
サンプリング装置１６においては圧力調整装置１５を測
定装置５よりも上流側に配置したが、第３図の場合の圧
力調整弁１０と同様に圧力調整装置１５は測定装置５の
下流側に配置してもよく、この場合のサンプリング装置
の作用および効果が第３図のサンプリング装置１２にお
けるそれらと同様になることもまた明らかである。
以上の実施例の時開においては各サンプリング装置に流
量指示計４を設けたが、この指示計は必要がなければ設
けなくてもよいものである。
量指示計４を設けたが、この指示計は必要がなければ設
けなくてもよいものである。
上述したように本発明においては、サンプリング装置を
、測定液体が流れている主配管に一端を接続して測定液
体の一部を試料として採取するサンプリング管と、この
サンプリング管の他端を接続した、測定液体の圧力Ｐ１
よりも低いほぼ一定の圧力Ｐ、を有する空所き、流入す
る試料を弁開度を制御してＰ、とＰ、との間のほぼ一定
の圧力Ｐ、にして流出させる、サンプリング管の途中に
設けた圧力１１ｉＩ整装置とで構成し、さらに圧力調整
装置の主配管側または空所側のサンプリング管を途中で
上流側部分と下流側部分とに分離して、この画部分の管
端の各々ｌこ試料中の微粒子の形状や個数４度等を測定
する測定装置の試料流入口および試料流出口を接続する
ようにしたので、このよ １３− うなサンプリング装置によれば、測定液体の圧力Ｐ、と
空所の圧力Ｐ、との圧力差によって測定液体の一部が試
料として連続的にサンプリング管に採取されて測定装置
を貫流し、したがってこの測定装置によって連続的な測
定が行われるが、このこの差圧はほぼ一定でちるから前
記ｆ＆量は脈動のないほぼ一定の流量となる。このため
このようなサンプリング装置には液体試料中の微粒子の
形状や個数濃度等を測定する測定装置の測定精度を向上
させる効果がある。また本発明によるサンプリング装置
では上述したような構成によって微粒子を発生し易いポ
ンプを使用しないようにしたので、このようなサンプリ
ング装置で発生する微粒子は極めて少なく、このため本
発明ζこはサンプリング装置から発生する微粒子によっ
て測定装置の測定精度が左右されることは殆どないとい
う効果もあり、さらにまた本発明のサンプリング装置で
は測定装置を貫流させた試料を空所に排出して主配管１
４− に戻さないようにし７たので、本発明によればサンプリ
ング装置から発生する微粒子によって主配管中の測定液
体が汚染されることはないという効果もある。
、測定液体が流れている主配管に一端を接続して測定液
体の一部を試料として採取するサンプリング管と、この
サンプリング管の他端を接続した、測定液体の圧力Ｐ１
よりも低いほぼ一定の圧力Ｐ、を有する空所き、流入す
る試料を弁開度を制御してＰ、とＰ、との間のほぼ一定
の圧力Ｐ、にして流出させる、サンプリング管の途中に
設けた圧力１１ｉＩ整装置とで構成し、さらに圧力調整
装置の主配管側または空所側のサンプリング管を途中で
上流側部分と下流側部分とに分離して、この画部分の管
端の各々ｌこ試料中の微粒子の形状や個数４度等を測定
する測定装置の試料流入口および試料流出口を接続する
ようにしたので、このよ １３− うなサンプリング装置によれば、測定液体の圧力Ｐ、と
空所の圧力Ｐ、との圧力差によって測定液体の一部が試
料として連続的にサンプリング管に採取されて測定装置
を貫流し、したがってこの測定装置によって連続的な測
定が行われるが、このこの差圧はほぼ一定でちるから前
記ｆ＆量は脈動のないほぼ一定の流量となる。このため
このようなサンプリング装置には液体試料中の微粒子の
形状や個数濃度等を測定する測定装置の測定精度を向上
させる効果がある。また本発明によるサンプリング装置
では上述したような構成によって微粒子を発生し易いポ
ンプを使用しないようにしたので、このようなサンプリ
ング装置で発生する微粒子は極めて少なく、このため本
発明ζこはサンプリング装置から発生する微粒子によっ
て測定装置の測定精度が左右されることは殆どないとい
う効果もあり、さらにまた本発明のサンプリング装置で
は測定装置を貫流させた試料を空所に排出して主配管１
４− に戻さないようにし７たので、本発明によればサンプリ
ング装置から発生する微粒子によって主配管中の測定液
体が汚染されることはないという効果もある。
第１図は気体中の微粒子測定用の従来のサンプリング装
置の構成図、第２図、第３図および第４はそれぞれ本発
明によるサンプリング装置の第１、第２８よび第３実施
例の各構成図である。 １・・・・・・主配管、２・・・・・・サンプリング管
、２ａ・・・・・・試料、５・・・・・・ｎ１１１定湊
置、６・・・・・・サンプリング装置、７・・・・・・
主配管、 ７ａ・・・・・・測定液体、８・・・・・・
空所としての試料排出槽、９・・・・・・サンプリング
管、９ａ・・・・・・試料、１０・・・・・・圧力調整
装置としての圧力調整弁、１１．１２・・・・・・サン
プリング装置、１５・・・・・・圧力調整装置、１６・
・・・・・サンプリング装置、５１・・・・・・試料流
入口、５２・・・・・・試料流出口、９１・・・・・・
上流側部分、９１ａ・・・・・・上流側接続口、９２・
・・・・・下流側部分、第３図 第４図
置の構成図、第２図、第３図および第４はそれぞれ本発
明によるサンプリング装置の第１、第２８よび第３実施
例の各構成図である。 １・・・・・・主配管、２・・・・・・サンプリング管
、２ａ・・・・・・試料、５・・・・・・ｎ１１１定湊
置、６・・・・・・サンプリング装置、７・・・・・・
主配管、 ７ａ・・・・・・測定液体、８・・・・・・
空所としての試料排出槽、９・・・・・・サンプリング
管、９ａ・・・・・・試料、１０・・・・・・圧力調整
装置としての圧力調整弁、１１．１２・・・・・・サン
プリング装置、１５・・・・・・圧力調整装置、１６・
・・・・・サンプリング装置、５１・・・・・・試料流
入口、５２・・・・・・試料流出口、９１・・・・・・
上流側部分、９１ａ・・・・・・上流側接続口、９２・
・・・・・下流側部分、第３図 第４図
Claims (1)
- 微粒子を含む測定液体が流れている主配管に一端が接続
さｎた、前記測定液体の試料を採取するサンプリング管
と、前記サンプリング管の他端が接続された、前記主配
管と前記サンプリング管との接続部附近における前記測
定液体の圧力Ｐ、よりも低いほぼ一定の圧力Ｐ、を有す
る空所と、前記サンプリング管の途中に設けられ、流入
する前記試料を弁開度を制御して前記圧力Ｐ、と前記圧
力Ｐ、との間のほぼ一定の圧力Ｐ、にして流出させる圧
力調整装置きからなり、前記圧力調整装置の前記主配管
側または前記空所側の前記サンプリング管を、管端に上
流側接続口および下流側接続口のそれぞれを設けた分離
された上流側部分と下流側部分とで構成して、前記試料
が貫流して前記試料中の前記微粒子を検出する測定装置
の試料流入口に前記上流側接続口を接続し、前記測定装
置の試料流出口に前記下流側接続口を接続するようにし
たことを特徴とするサンプリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58201966A JPS6093940A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | サンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58201966A JPS6093940A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | サンプリング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6093940A true JPS6093940A (ja) | 1985-05-25 |
| JPH0311657B2 JPH0311657B2 (ja) | 1991-02-18 |
Family
ID=16449711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58201966A Granted JPS6093940A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | サンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6093940A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6222069A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-01-30 | Toshiba Corp | 液体分配装置 |
| JPS62175645A (ja) * | 1986-01-30 | 1987-08-01 | Nikkiso Co Ltd | 粉粒体粒度オンライン自動分析装置 |
| JP2012127834A (ja) * | 2010-12-16 | 2012-07-05 | Kirin Engineering Co Ltd | 背圧弁を用いた液体のサンプリング計測システム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5882653U (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | 株式会社島津製作所 | 油分濃度測定装置 |
| JPS6231880U (ja) * | 1985-08-13 | 1987-02-25 |
-
1983
- 1983-10-28 JP JP58201966A patent/JPS6093940A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5882653U (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | 株式会社島津製作所 | 油分濃度測定装置 |
| JPS6231880U (ja) * | 1985-08-13 | 1987-02-25 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6222069A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-01-30 | Toshiba Corp | 液体分配装置 |
| JPS62175645A (ja) * | 1986-01-30 | 1987-08-01 | Nikkiso Co Ltd | 粉粒体粒度オンライン自動分析装置 |
| JP2012127834A (ja) * | 2010-12-16 | 2012-07-05 | Kirin Engineering Co Ltd | 背圧弁を用いた液体のサンプリング計測システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0311657B2 (ja) | 1991-02-18 |
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