JPH03116245A - 命令性能測定装置 - Google Patents

命令性能測定装置

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Publication number
JPH03116245A
JPH03116245A JP1255002A JP25500289A JPH03116245A JP H03116245 A JPH03116245 A JP H03116245A JP 1255002 A JP1255002 A JP 1255002A JP 25500289 A JP25500289 A JP 25500289A JP H03116245 A JPH03116245 A JP H03116245A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
instruction
cycle counter
measurement
measured
performance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1255002A
Other languages
English (en)
Inventor
Kaoru Suzuki
薫 鈴木
Zentaro Hirose
廣瀬 善太郎
Yoichi Shintani
洋一 新谷
Atsushi Sugiyama
杉山 厚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP1255002A priority Critical patent/JPH03116245A/ja
Publication of JPH03116245A publication Critical patent/JPH03116245A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、命令性能の測定装置に関し、特に論理シミュ
レータ上で実行される命令実行サイクル数を測定する命
令性能測定装置に関する。
〔従来技術〕
従来、命令性能を測定する方式として、対象ホスト計算
機の計時機構を用いて、被測定命令と環境設定命令及び
ダミー命令群をN回繰り返しその処理時間T□を求め、
次に環境設定命令及びダミー命令群のみをN回繰り返し
その処理時間T2を求め、この処理時間の差T2−T工
を前記Nで除して被測定命令の実行時間を求めるという
方法が提案されていた。なお、この種の技術としては、
例えば、特開昭58−56163号公報がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記した従来技術は、対象となる実計算機上での命令性
能測定を対象としており、また測定対象命令の実行時間
に比してクロックの精度が悪いので、被測定命令を含む
命令列を数万〜数百万回ループ実行することにより、測
定精度を保障していた。
ところで、論理シミュレーション段階で命令性能を測定
することが望まれているが、論理シミュレータの命令実
行性能は、実計算機に比して非常に遅いため、上記従来
技術をそのまま論理シミュレータでの命令性能測定に適
用した場合、その測定に莫大な時間が費やされるという
問題があった。
また、測定時間を短縮するために、測定ループ回数を減
らしたのでは、十分な測定精度が得られないという問題
があった。
本発明は、前記問題点を解決するためになされたもので
ある。
本発明の目的は、論理シミュレータ上で短時間にかつ十
分な精度で命令性能を測定する命令性能測定装置を提供
することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、 論理シミュレータ内の計時機構からクロック信号を抽出
し、所定タイミングにより、擬似ローカルストレージ内
に設けられているサイクルカウンタを+1づつ更新する
サイクルカウンタ機構を設ける。サイクルカウンタのカ
ウンタ値より被測定命令実行サイクル数を算出し、結果
を出力する測定結果算出/編集出力機構を設ける。
〔作 用〕 被測定命令を含む命令列Aと、被測定命令を含まない命
令列Bが用意される。
診断命令が発行されると、サイクルカウンタ値を指定さ
れた領域に格納した後、命令ユニットをリセットしてか
らスタートさせ、サイクルカウンタ値をクリアして命令
列Aの実行サイクル数の測定を開始する。そして、診断
命令によってサイクルカウンタ値が指定された領域に格
納されて、命令列Aの実行サイクル数が測定される。
命令列Bに対しても同様に実行サイクル数が測定される
命令列Aの実行サイクル数と命令列Bの実行サイクル数
の差から、測定すべき命令の実行サイクル数が求められ
る。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を用いて具体的に説明す
る。
なお、実施例を説明するための全回において。
同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返し
の説明は省略する。
第1図は1本発明の性能測定装置の一実施例のブロック
図であり、測定環境設定機構(120)は、測定対象デ
ータファイル(150)から測定対象データを読み出し
、擬似メモリ(100)に対して、命令列、レジスタデ
ータ、アドレス等を設定した後、論理シミュレータ(1
10)を起動する。サイクルカウンタ機構(130)は
、論理シミュレータ内の計時機構からクロック信号T0
を抽出し、所定タイミングにより、擬似ローカルストレ
ージ(101)内に設けられているサイクルカウンタ(
102)を+1づつ更新する。測定結果算出/編集出力
機構(140)は、サイクルカウンタ値より被測定命令
実行サイクル数を算出し、結果を編集し、プリンタ又は
結果ファイル又は端末コンソール(160)上に出力す
る。
第2図は、本発明のサイクルカウンタ機構(130)の
処理手順を示しており、サイクルカウンタ(102)を
ゼロクリア(200) した後、論理シミュレータの計
時機構からクロック信号T0が抽出されたかどうか判定
しく210) T、が抽出された場合、サイクルカウン
タ(102)を′+1′更新する処理を繰り返す。
第3図は、本発明の診断命令(DiAG命令)の処理手
順を示す。
この診断命令は、■データストア、■命令ユニット(工
U)をリセット、■命令ユニット(IU)をスタート、
■サイクルカウンタをクリア、する4ステツプを順次実
行する命令であり、まずサイクルカウンタ値を擬似メモ
リの命令発行時に指定された領域へ格納した後(300
) 、I Uリセット要求を行ない(310) 、 I
 Uビジー及びストアビジーが全て無くなった事を確認
した後(320) 。
IUスタート要求(330)を出し、サイクルカウンタ
値をゼロクリアする(340)。
第4a図、及び第4b図は、クロック信号T。
と診断命令(DiAG命令)の処理タイミングを示すタ
イミングチャートである。
このタイミングチャートを用いて本発明の測定動作を説
明すると、先に説明したように診断命令Aによって、サ
イクルカウンタ値を指定された領域に格納した後(ステ
ップの)、命令ユニットをリセットして(ステップ■)
からスタートさせ(ステップ■)、サイクルカウンタ値
をクリアして(ステップ■)測定対象命令群を含む命令
群の実行サイクルの測定を開始する。診断命令Bによっ
てサイクルカウンタ値が指定された領域に格納されて(
ステップ■)、実行サイクルの測定が終了する。そして
以下、先のステップ■〜■が繰り返される。
なお、診断命令Aにおけるステップ■と診断命令Bおけ
るステップ■〜■は、前記した測定に際しては意味のな
いステップである。また、最初のダミー命令群の前に設
けられている初期設定とは、測定に際して必要なメモリ
、レジスタ等を初期設定することをいう。
第5図は、本発明による測定方法と測定結果算出式を示
したものである。
命令列(A)は初期設定/ダミー命令群(510) 。
被測定命令群(520)及びダミー命令群を含むもので
あり、命令列(B)は、命令列(A)より被測定命令群
(520)を除いたものである。
診断命令(500,550)は、サイクルカウンタ値を
ゼロクリアし、診断命令(540,580)は、測定命
令列実行サイクル数(T s 、 Twt )をサイク
ルカウンタから読み出し、所定領域に格納する。
従って、測定すべき実行サイクル(590)は、命令列
(A)の実行サイクル数(−T s )から命令列(B
)の実行サイクル数(T、)を引いた値となる。
〔発明の効果〕
以上、説明したように、本発明の測定装置によれば、以
下に記載されるような効果を奏する。
■論理シミュレータ上での命令性能の測定が従来法に比
してループ実行を伴わないから、高速に実行できる。
■また命令の実行サイクル数が高精度に測定できる。
■複数命令による組合せ命令の性能測定が可能であり、
論理シミュレーション段階で、性能オーバヘッドの測定
ができる。
■製品開発早期段階で製品の性能把握及び性能不良の連
出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の性能測定装置の一実施例のブロック
図、 第2図は、本発明のサイクルカウンタ機構の処理手順を
示す図、 第3図は、本発明の診断命令(D i AG命令)の処
理手順を示す図、 第4a図、及び第4b図は、クロック信号T0と診断命
令(DiAG命令)の処理タイミングを示すタイミング
チャート、 第5図は9本発明の測定方法と測定結果算出式を示す図
である。 図中、100・・・擬似メモリ、101・・・擬似ロー
カルストレージ、102・・・サイクルカウンタ、11
0・・・論理シミュレータ、120・・・測定環境設定
機構、130・・・サイクルカウンタ機構、140・・
・測定結果算出/編集出力機構。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、論理シミュレータ上で命令性能を測定する装置にお
    いて、被測定命令を含む命令列の実行サイクル数と前記
    被測定命令を含まない命令列の実行サイクル数とをカウ
    ントするカウント手段と、前記カウント手段から前記被
    測定命令の実行サイクル数を算出する手段とを設けたこ
    とを特徴とする命令性能測定装置。
JP1255002A 1989-09-28 1989-09-28 命令性能測定装置 Pending JPH03116245A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1255002A JPH03116245A (ja) 1989-09-28 1989-09-28 命令性能測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1255002A JPH03116245A (ja) 1989-09-28 1989-09-28 命令性能測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03116245A true JPH03116245A (ja) 1991-05-17

Family

ID=17272838

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1255002A Pending JPH03116245A (ja) 1989-09-28 1989-09-28 命令性能測定装置

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JP (1) JPH03116245A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013069174A (ja) * 2011-09-22 2013-04-18 Fujitsu Semiconductor Ltd 協調検証方法及び協調検証装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5856163A (ja) * 1981-09-30 1983-04-02 Fujitsu Ltd 命令実行時間の測定方法
JPS62239247A (ja) * 1986-04-10 1987-10-20 Mitsubishi Electric Corp 電子計算機

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