JPS5856163A - 命令実行時間の測定方法 - Google Patents
命令実行時間の測定方法Info
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- JPS5856163A JPS5856163A JP56155086A JP15508681A JPS5856163A JP S5856163 A JPS5856163 A JP S5856163A JP 56155086 A JP56155086 A JP 56155086A JP 15508681 A JP15508681 A JP 15508681A JP S5856163 A JPS5856163 A JP S5856163A
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- Japan
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- time
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- measured
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は命令実行時間の測定方法、特に計算機内で実行
される命令の１つ１つについてその実行時間を測定する
方法に関する。
される命令の１つ１つについてその実行時間を測定する
方法に関する。
計算機は多種多数の命令によって動作する。この場合、
各命令がどの位の時間をかけて実行されるかを知ること
がしばしば要求される。システムの性能判定に重要な因
子の１つとなるからである。
各命令がどの位の時間をかけて実行されるかを知ること
がしばしば要求される。システムの性能判定に重要な因
子の１つとなるからである。
通常、これらの命令実行時間は設計段階で大体の見当が
つけられている。然し、正確にこれら命令実行時間を測
定することは容品ではない。
つけられている。然し、正確にこれら命令実行時間を測
定することは容品ではない。
従来、計時機構を備えた計算機において命令実行時間を
測定する場合、ある被測定命令の実行開始時に８ＴＣＫ
（ストア・クロック）という命令を実行し、この時の時
刻ｔ、を読み取り、諌被測定命令の終了時に再び命令８
ＴＣＫを実行し、この時の時刻ｔ、を読み取る。そうす
ると、（ｔ２−ｔ、）がその被測定命令の実行時間とい
うことになる。然しこの従来の方法は、その被測定命令
の実行時間が相当に長くない限り精度が劣る。なぜなら
、（１，−１，）の中に、不要な命令８ＴＣＫＯ実行時
間まで包含してしまうからである。
測定する場合、ある被測定命令の実行開始時に８ＴＣＫ
（ストア・クロック）という命令を実行し、この時の時
刻ｔ、を読み取り、諌被測定命令の終了時に再び命令８
ＴＣＫを実行し、この時の時刻ｔ、を読み取る。そうす
ると、（ｔ２−ｔ、）がその被測定命令の実行時間とい
うことになる。然しこの従来の方法は、その被測定命令
の実行時間が相当に長くない限り精度が劣る。なぜなら
、（１，−１，）の中に、不要な命令８ＴＣＫＯ実行時
間まで包含してしまうからである。
この丸め、このような命令５ＴＣＫの実行時間を見かけ
上零にするため、被測定命令を例えば１００万回繰り返
し実行して、前述した時間（１，−１，）相当の時間を
測定し、その時間を前記１００万で除して１命令の実行
時間を測定するという提案がなされ丸、ところが、この
提案によると、前記１００万回の繰返し実行に到達する
ための分岐命令の実行時間が再び不要時間として含まれ
てしまい、結局正確な命令実行時間の測定が実現されな
かった。
上零にするため、被測定命令を例えば１００万回繰り返
し実行して、前述した時間（１，−１，）相当の時間を
測定し、その時間を前記１００万で除して１命令の実行
時間を測定するという提案がなされ丸、ところが、この
提案によると、前記１００万回の繰返し実行に到達する
ための分岐命令の実行時間が再び不要時間として含まれ
てしまい、結局正確な命令実行時間の測定が実現されな
かった。
従って本発明の目的は、従来に比して精度の高い測定が
行な見る、命令実行時間の測定方法を提案することであ
る。
行な見る、命令実行時間の測定方法を提案することであ
る。
上記目的に従い本発明は、計時機構を有する計算機にお
いて、 命令実行時間を測定すべき禎測宮命令と所定の環境設定
命令とこれら２つの命令を回数Ｎだけ繰シ返し実行させ
る分岐命令とからなる第１チエツクルーチンを設定し、
そのルーチン実行の開始時刻Ｔ１および終了時刻Ｔ・１
を計時する第１工程と、前記所定の環境設定命令とこの
命令を前記所定の回数Ｎだけ繰り返し実行させる前記分
岐命令とからなる第２チエツクルーチンを設定し、その
ルーチン実行の開始時刻ＴＩ２および終了時刻Ｔｅ２を
計時する第２工鵬と、 つの前記被測定命令の実行時間ｔを得る第３工程、とか
らなることを特徴とするものである。
いて、 命令実行時間を測定すべき禎測宮命令と所定の環境設定
命令とこれら２つの命令を回数Ｎだけ繰シ返し実行させ
る分岐命令とからなる第１チエツクルーチンを設定し、
そのルーチン実行の開始時刻Ｔ１および終了時刻Ｔ・１
を計時する第１工程と、前記所定の環境設定命令とこの
命令を前記所定の回数Ｎだけ繰り返し実行させる前記分
岐命令とからなる第２チエツクルーチンを設定し、その
ルーチン実行の開始時刻ＴＩ２および終了時刻Ｔｅ２を
計時する第２工鵬と、 つの前記被測定命令の実行時間ｔを得る第３工程、とか
らなることを特徴とするものである。
以下図面に従って本発明を説明する。
第１Ａ図は本発明に係る第１チ、ツクルーチンを図解的
に説明するための図であり、第１Ｂ図は本発明に係る第
２チエツクルーチンを図解的に説明するための図である
。第１人因に示す第１チエツクルーチンでは、命令実行
時間を測定すべき被測定命令と引続く環境設定命令とが
対になっており、これらの命令の対が、Ｎ回、分岐命令
によって繰り返し実行される。この第１チエツクルーチ
ンの実行開始時刻Ｔｓ１および終了時刻Ｔｅ１が、轟該
計算機に内蔵された計時機構により読取られる。
に説明するための図であり、第１Ｂ図は本発明に係る第
２チエツクルーチンを図解的に説明するための図である
。第１人因に示す第１チエツクルーチンでは、命令実行
時間を測定すべき被測定命令と引続く環境設定命令とが
対になっており、これらの命令の対が、Ｎ回、分岐命令
によって繰り返し実行される。この第１チエツクルーチ
ンの実行開始時刻Ｔｓ１および終了時刻Ｔｅ１が、轟該
計算機に内蔵された計時機構により読取られる。
そうすると、第１チエツクルーチンの実行時間は（Ｔｏ
ｌ−Ｔｓｌ） テ与えられる。
ｌ−Ｔｓｌ） テ与えられる。
次に第１Ｂ図に示す第２チエツクルーチンで社、（）を
付した被測定命令を除いて、前 述と同様の環境設定命令とＮ回の分岐命令を実行し、前
記計時機構により、該ルーチンの実行開始時刻Ｔｌｆお
よび終了時刻−２を読堰る。そうすると、第１チエツク
ルーチンの実行時間は（Ｔｅｘ −Ｔｅ２ ）で与えら
れる。
付した被測定命令を除いて、前 述と同様の環境設定命令とＮ回の分岐命令を実行し、前
記計時機構により、該ルーチンの実行開始時刻Ｔｌｆお
よび終了時刻−２を読堰る。そうすると、第１チエツク
ルーチンの実行時間は（Ｔｅｘ −Ｔｅ２ ）で与えら
れる。
ここで前記実行時間（Ｔｅ１−Ｔｓｌ） および（ＴＩ
！−Ｔａｍ）についてみると、 （ＴＩ １−ＴＩ） ＞ （Ｔｅｘ−Ｔｓｔ ）である
、このような大小関係が生じたのは、第１Ｂ図の第２チ
、ツクルーチンで、被測定命令のＮ回の実行を排除した
からである。このことから、被測定命令をＮ１１実行す
るに要した時間は（（ＴＩ １−Ｔｌ １ ）−（Ｔｅ
ｘ−Ｔｓｔ ） ）であることが判明し、さらに１つの
被測定命令を実行するに要した時間ｔは、これをＮで除
して求められる（ｔｘ（（Ｔｅ１−Ｔ１）−（Ｔｅｘ−
Ｔａｘ））ＸＮ）＠かくして従来の方法における不都金
、すなわち既述した、命令５ＴＣＫに要した時間の混入
、ならびに分岐命令に要した時間の混入が避けられる。
！−Ｔａｍ）についてみると、 （ＴＩ １−ＴＩ） ＞ （Ｔｅｘ−Ｔｓｔ ）である
、このような大小関係が生じたのは、第１Ｂ図の第２チ
、ツクルーチンで、被測定命令のＮ回の実行を排除した
からである。このことから、被測定命令をＮ１１実行す
るに要した時間は（（ＴＩ １−Ｔｌ １ ）−（Ｔｅ
ｘ−Ｔｓｔ ） ）であることが判明し、さらに１つの
被測定命令を実行するに要した時間ｔは、これをＮで除
して求められる（ｔｘ（（Ｔｅ１−Ｔ１）−（Ｔｅｘ−
Ｔａｘ））ＸＮ）＠かくして従来の方法における不都金
、すなわち既述した、命令５ＴＣＫに要した時間の混入
、ならびに分岐命令に要した時間の混入が避けられる。
前記命令５ＴＣＫに要した時間の混入が防げたのは、ｗ
Ｉ、１および第２チエツクルーチンで同一命令８ＴＣＫ
（時刻読取り）を行なうことにより両者を相殺できるか
らである。又、前記分岐命令に要した時間の混入が防げ
たのは、環境設定命令を導入したからであり、この命令
はいわばダミー命令とも考えられる。前記分岐命令に要
した時間は、被測定命令を組み入れた第１チエツクルー
チンの実行時間と被一定命令を組み入れない第２チ、ツ
クルーチンの実行時間との差をとれば、相殺される。
Ｉ、１および第２チエツクルーチンで同一命令８ＴＣＫ
（時刻読取り）を行なうことにより両者を相殺できるか
らである。又、前記分岐命令に要した時間の混入が防げ
たのは、環境設定命令を導入したからであり、この命令
はいわばダミー命令とも考えられる。前記分岐命令に要
した時間は、被測定命令を組み入れた第１チエツクルー
チンの実行時間と被一定命令を組み入れない第２チ、ツ
クルーチンの実行時間との差をとれば、相殺される。
前記所定の回数Ｎ１すなわち分岐回数は原理的に１でも
構わないが、時刻読取り命令の実行だけでも声Ｓオーダ
の時間を費やしてしまうので、ｎ８オーダの測定時間を
問題とする本発明にあっては、例えば被測定命令（およ
び環境設定命令）を１００万回程度繰シ返し実行し時間
的なバランスをとるのが望ましい、１００万回実行し九
としても、チェックルーチンの一巡は高々数秒以内で終
了する。
構わないが、時刻読取り命令の実行だけでも声Ｓオーダ
の時間を費やしてしまうので、ｎ８オーダの測定時間を
問題とする本発明にあっては、例えば被測定命令（およ
び環境設定命令）を１００万回程度繰シ返し実行し時間
的なバランスをとるのが望ましい、１００万回実行し九
としても、チェックルーチンの一巡は高々数秒以内で終
了する。
第２人図および第２Ｂ図は本発明の測定方法を実施した
第１例を図解的に示す図である。被測定命令としては人
（人ＤＤ命令）を対象とする。動作は次のとお如である
。
第１例を図解的に示す図である。被測定命令としては人
（人ＤＤ命令）を対象とする。動作は次のとお如である
。
■ ＧＲ１ｓに繰り返しの回数Ｎを置く（図中の・・・
■参照、以下同様）、Ｌはｌ、ａｎｄ Ｏ意味であり、
１５は汎用レジスタの意味であシ、Ｆは１４進でという
意味である。なお前記のＧＲ１５は汎用レジスタからな
るカウンタを意味する。
■参照、以下同様）、Ｌはｌ、ａｎｄ Ｏ意味であり、
１５は汎用レジスタの意味であシ、Ｆは１４進でという
意味である。なお前記のＧＲ１５は汎用レジスタからな
るカウンタを意味する。
■ チェックルーチンの実行開始時刻を命令８ＴＣＫに
よシ読取る。
よシ読取る。
■ ＡＤＤ命令はレジスタ４のデータとメモリ内のデー
タ１（ム０１）とを加算する。被加算データはレジスタ
４にＴｏ）演算結果は再びレジスタ４に戻される。これ
が前記被測定命令の実行の具体例である。
タ１（ム０１）とを加算する。被加算データはレジスタ
４にＴｏ）演算結果は再びレジスタ４に戻される。これ
が前記被測定命令の実行の具体例である。
■ ＤＢは割算命令を意味し、
■ Ｎ０ＰＲは何もしないことを意味する。これら■お
よび■は前記環境設定命令であり、いわばダミー命令で
ある。従って、どのような命令を置いて本構わない、こ
の第１例では、ベクトルプロセッナを用いたパイプライ
ン処場を想定してｂるので、パイプラインのつま抄を無
くす丸め、なるべく処理時間のかかる命令を選択しただ
けである。なお、図中、■、■欄の８、！、０はレジス
タを意味している。
よび■は前記環境設定命令であり、いわばダミー命令で
ある。従って、どのような命令を置いて本構わない、こ
の第１例では、ベクトルプロセッナを用いたパイプライ
ン処場を想定してｂるので、パイプラインのつま抄を無
くす丸め、なるべく処理時間のかかる命令を選択しただ
けである。なお、図中、■、■欄の８、！、０はレジス
タを意味している。
■ ここで前記の分岐命◆ＢＣＴが行なわれ、レジスタ
１５にストアにされ九回数Ｎだけ■１■■のステップを
繰シ返し実行する。
１５にストアにされ九回数Ｎだけ■１■■のステップを
繰シ返し実行する。
■ チェックルーチンの実行終了時刻を命令８ＴＣＫに
よシ読取る。
よシ読取る。
第２Ｂ図は第２チエツクルーチンであり、第２人図の禎
測定命令囚が実行対象から外され丸だけで、各ステップ
■〜■の内容は第２λ図の第１チエツクルーチンの場合
と変らない。
測定命令囚が実行対象から外され丸だけで、各ステップ
■〜■の内容は第２λ図の第１チエツクルーチンの場合
と変らない。
第３Ａｌｅｌおよび第３Ｂ図は本発明の測定方法を実施
した第２例を図解的に示す図で６る。第５Ａ図が嬉１チ
ｘＦクルーチン、第３Ｂ図が杭２チ凰ｙクルーテンであ
ることについては前述のとおりであに、基本的には何ら
変わるところはない、九だし、被測定命令がＥｄ目命令
ＥＤである点が異なる。こ○Ｅ旧」命令ＥＤはあるパタ
ーンがあって、あるツースがあるとき、このソースをみ
ながら編集をかけていくという性質の命令であり、１園
命令が実行されるごとにそのパターンは全く変わったも
のとなってしまう、このようにパターンがくるくる変わ
って行くものに対して命令実行時間を測定しても意味が
なくなる。そこでこの種の命令ＥＤを対象とする場合に
は、パターンを戻して再設定し直すことが必要である。
した第２例を図解的に示す図で６る。第５Ａ図が嬉１チ
ｘＦクルーチン、第３Ｂ図が杭２チ凰ｙクルーテンであ
ることについては前述のとおりであに、基本的には何ら
変わるところはない、九だし、被測定命令がＥｄ目命令
ＥＤである点が異なる。こ○Ｅ旧」命令ＥＤはあるパタ
ーンがあって、あるツースがあるとき、このソースをみ
ながら編集をかけていくという性質の命令であり、１園
命令が実行されるごとにそのパターンは全く変わったも
のとなってしまう、このようにパターンがくるくる変わ
って行くものに対して命令実行時間を測定しても意味が
なくなる。そこでこの種の命令ＥＤを対象とする場合に
は、パターンを戻して再設定し直すことが必要である。
このため、環境設定命令の中にムーブ命令Ｍ Ｍ Ｃを
導入し、元のパターン（オペランド０Ｐ１）に戻すとい
う操作ヲ加える。ＯＰｌの（８）は８バイトを意味する
。又、ｏｐｚは第２オペランドであり、編集される藺の
元のパターンであって、メモリに一旦スドア畜れるぺ自
パターンを意味する。前記命令ＭＶＣはこのメモリ内の
パターンＯＰ２を、尤のパターンＯＰ１として再読出し
することを役目とする。
導入し、元のパターン（オペランド０Ｐ１）に戻すとい
う操作ヲ加える。ＯＰｌの（８）は８バイトを意味する
。又、ｏｐｚは第２オペランドであり、編集される藺の
元のパターンであって、メモリに一旦スドア畜れるぺ自
パターンを意味する。前記命令ＭＶＣはこのメモリ内の
パターンＯＰ２を、尤のパターンＯＰ１として再読出し
することを役目とする。
以上説明したように本発明によれば、従来法に比して高
精度に１命令の実行時間を測定することができる。又、
本発明の測定方法はプログラム化が容易なので、測定結
果をＩｌｏに出力できるし、必要であれば、期惨値との
差も求怜−られる。さらに又、本発明は相殺方式をベー
スにしているので、グイナ建ツクメモリのりフレッ７１
に要する時間（普通数１０ｐ８に１回メモリの書直しを
定期的に行なう）が混入しても第１および第２チｍｌク
ルーチン間で相殺され、被測定命令の実行時間の精度に
゛何ら悪影響を及ぼさない。
精度に１命令の実行時間を測定することができる。又、
本発明の測定方法はプログラム化が容易なので、測定結
果をＩｌｏに出力できるし、必要であれば、期惨値との
差も求怜−られる。さらに又、本発明は相殺方式をベー
スにしているので、グイナ建ツクメモリのりフレッ７１
に要する時間（普通数１０ｐ８に１回メモリの書直しを
定期的に行なう）が混入しても第１および第２チｍｌク
ルーチン間で相殺され、被測定命令の実行時間の精度に
゛何ら悪影響を及ぼさない。
第１Ａ図は本発明に係る第１チ、ツクルーチンを図解的
に説明するための図、 第１Ｂ図は本発明に係る第２チエツクルーチンを図解的
に説明するための図、 第２ム図および第２Ｂ図は本弛明の測定方法を集確した
第１例を図解的に示す図、 第暴人図および第５Ｂ図は本発明の測定方法を実施し九
第２例を図解的に示す図である。 ’ｌ’「１Ｔｌ・・・チェックルーチンの実行開始時刻
Ｔｅ１．Ｔ＠ｆｆｉ・・・チェックルーチンの実行終了
時刻Ｎ ・・・・・・分岐命令の繰抄返し数８ＴＣＫ
・・・時刻読取り命令 特許出願人 富士通株式金社 特許出願代覇人 弁理士 青 木 朗 弁理士 両 舘 和 之 弁理士内田幸男 弁理士 山 口 昭 之 第１Ａ蘭 時刻読取り −−−Ｔｓ＋ 準１Ｂ面 ！ ２Ａ ｖ！！Ｊ 第２８習 第３Ａ面 ｌ１ｌｓ ３８１！ｌ ５ＴＣに Ｔｅｚ
に説明するための図、 第１Ｂ図は本発明に係る第２チエツクルーチンを図解的
に説明するための図、 第２ム図および第２Ｂ図は本弛明の測定方法を集確した
第１例を図解的に示す図、 第暴人図および第５Ｂ図は本発明の測定方法を実施し九
第２例を図解的に示す図である。 ’ｌ’「１Ｔｌ・・・チェックルーチンの実行開始時刻
Ｔｅ１．Ｔ＠ｆｆｉ・・・チェックルーチンの実行終了
時刻Ｎ ・・・・・・分岐命令の繰抄返し数８ＴＣＫ
・・・時刻読取り命令 特許出願人 富士通株式金社 特許出願代覇人 弁理士 青 木 朗 弁理士 両 舘 和 之 弁理士内田幸男 弁理士 山 口 昭 之 第１Ａ蘭 時刻読取り −−−Ｔｓ＋ 準１Ｂ面 ！ ２Ａ ｖ！！Ｊ 第２８習 第３Ａ面 ｌ１ｌｓ ３８１！ｌ ５ＴＣに Ｔｅｚ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｔ 計時機構を有する計算機において、命令実行時間を
測定すべき被測定命令と所定の環境設定命令とこれら２
つの命令を所定の回数Ｎだけ繰り返し実行させる分岐命
令とからなる第１チエツクルーチンを設定し、そのルー
チン実行の開始時刻Ｔ１および終了時刻Ｔｅ１を計時す
る第１工程と、 前記所定の環境設定命令とこの命令を前記所定の回数Ｎ
だけ繰シ返し実行させる前記分岐命令とからなる第２チ
エツクルーチンを設定し、そのルーチン実行ＯＳ始時刻
Ｔｌ１２および終了時刻Ｔｅ２を計時する第２工福と、 １つの前記被測定命令の実行時間ｔを得る第５工程、と
からなることを特徴とする命令実行時間の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56155086A JPS5856163A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 命令実行時間の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56155086A JPS5856163A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 命令実行時間の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5856163A true JPS5856163A (ja) | 1983-04-02 |
| JPS642980B2 JPS642980B2 (ja) | 1989-01-19 |
Family
ID=15598340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56155086A Granted JPS5856163A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 命令実行時間の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5856163A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6365543A (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-24 | Hitachi Ltd | 命令性能の測定方式 |
| JPH0394341A (ja) * | 1989-09-07 | 1991-04-19 | Furuno Electric Co Ltd | タイマ装置 |
| JPH03116245A (ja) * | 1989-09-28 | 1991-05-17 | Hitachi Ltd | 命令性能測定装置 |
| JP2012064146A (ja) * | 2010-09-17 | 2012-03-29 | Ntt Docomo Inc | 負荷量推定システム、負荷量推定方法、及び負荷量推定プログラム、並びに、負荷係数生成システム、負荷係数生成方法、及び負荷係数生成プログラム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5816356A (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-31 | Nec Corp | コンピユ−タインストラクシヨン実行時間測定装置 |
-
1981
- 1981-09-30 JP JP56155086A patent/JPS5856163A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5816356A (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-31 | Nec Corp | コンピユ−タインストラクシヨン実行時間測定装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6365543A (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-24 | Hitachi Ltd | 命令性能の測定方式 |
| JPH0394341A (ja) * | 1989-09-07 | 1991-04-19 | Furuno Electric Co Ltd | タイマ装置 |
| JPH0529937B2 (ja) * | 1989-09-07 | 1993-05-06 | Furuno Electric Co | |
| JPH03116245A (ja) * | 1989-09-28 | 1991-05-17 | Hitachi Ltd | 命令性能測定装置 |
| JP2012064146A (ja) * | 2010-09-17 | 2012-03-29 | Ntt Docomo Inc | 負荷量推定システム、負荷量推定方法、及び負荷量推定プログラム、並びに、負荷係数生成システム、負荷係数生成方法、及び負荷係数生成プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS642980B2 (ja) | 1989-01-19 |
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