JPH03108965A - 画素欠陥補償システム - Google Patents

画素欠陥補償システム

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JPH03108965A
JPH03108965A JP1245325A JP24532589A JPH03108965A JP H03108965 A JPH03108965 A JP H03108965A JP 1245325 A JP1245325 A JP 1245325A JP 24532589 A JP24532589 A JP 24532589A JP H03108965 A JPH03108965 A JP H03108965A
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誠 雫石
Yasumasa Hasegawa
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、撮像デバイス中の欠陥画素で発生した画素信
号を補償して再生画像の画質劣下を防止するための画素
欠陥補償システムに関する。
〔従来の技術〕
従来、電荷結合型面体撮像デバイス(CCD)の受光領
域中の欠陥画素で発生した欠陥信号を補償する画素欠陥
補償システムとして、特公昭6〇−13549号、特公
昭62−40917号などに開示されたものがある。
これらのシステムは前置補完方式と呼ばれる手法を適用
したものであり、まず、第8図及び第9図に基づいて従
来システムを概説する。
まず構成を説明すると、第8図において、1はインター
ライン転送方式の電荷結合型固体撮像デバイスの受光領
域であり、画素に対応する複数の受光エレメントと、こ
れらの受光エレメントに発生した信号電荷を水平電荷転
送路2側へ転送するために隣接して設けられた複数の垂
直電荷転送路3を備えている。
受光エレメントから垂直電荷転送路3に移された信号電
荷は、各水平ブランキング期間において駆動回路4から
の例えば4相駆動力式の駆動信号φ□〜φ1.に同期し
て1水平ラインずつ水平電荷転送路2側へ転送され、水
平電荷転送路2が、転送されてきた信号電荷を各水平走
査期間(IH)内に例えば2相駆動力式の駆動信号φ□
、φF+2に同期して水平転送読み出しすることにより
、受光エメントに対応する画素信号を出力アンプを介し
て時系列的に出力する。更に、このように出力された画
素信号Svは、サンプルホールド回路5において、′駆
動信号φ□3.φH2に同期したサンプル−ホールドパ
ルス信号SPに同期してサンプルホールドされ、各受光
エレメントに発生した信号電荷に対応する画素データS
。を出力する。
6はシステム全体の動作タイミングを制御するための各
種タイミング信号を発生するタイミングジェネレータで
ある。
7はROM (Read 0nly Memory )
等で構成されたルックアップテーブルであり、受光領域
1中の欠陥画素に相当する受光エレメントの場所を示す
データを予め記憶している。
8はタイミングジェネレータ6から供給されるクロック
信号Qxを計数し、その計数データをルックアップテー
ブル7のアドレスデータAdとして出力するアドレスカ
ウンタである。
9はANDゲートであり、タイミングジェネレータ6か
ら出力されるクランプタイミング信号αとルックアップ
テーブル7から出力されるマスクデータβとの論理積演
算を行い、演算結果のクランプパルス信号CPをサンプ
ルホールド回路5に供給する。
10はANDゲートであり、タイミングジェネレータ6
から供給されるサンプリングタイミング信号Tとルック
アップテーブル7から出力されるマスクデータβの論理
積演算を行い、演算結果のサンプルホールドパルス信号
SPをサンプルホールド回路5へ供給する。
次に、ルックアップテーブル7に記憶されるデータ構成
を説明する。説明の都合上、m行n列に配列された合計
nxm個の受光エレメントを、図示の受光領域1の最上
列左端から水平方向に順番にdII + d12 + 
 ・  +dl11とし、次の列の左端から順番にdI
I + d12 +  ・・・・・・ +dl11とし
、残余の列についても同様にし、そして最後の列をd1
* dII2 +  ・   d−で示すものとし、任
意の受光エレメントをdjlとする。
ルックアップテーブル7は、アドレスカウンタ8から供
給されるアドレスデータAdと受光エレメントの配列位
置とが1対1に対応付けられており、受光エレメントd
Jiに対しアドレスデータAdが(j−1)Xm+iの
値に対応している。
そして、欠陥受光エレメントの位置に対応するアドレス
のメモリ領域には欠陥を示す“0”のデータ、正常な受
光エレメントについては欠陥の無いことを示す“1”の
データが格納されている。
次に、欠陥の受光エレメントに発生した異常信号を補償
するための処理動作を第9図と共に説明する。
タイミングジェネレータ6から出力されるクロック信号
Qx1クランプタイミング信号α及びサンプリングタイ
ミング信号Tは全て水平駆動信号φ°旧、φ112に同
期したタイミングで発生する矩形信号であり、点順次走
査のタイミングで水平電荷転送路2から画素信号Svが
読出されるのと同一のタイミングに設定されている。
したがって、水平電荷転送路2から画素信号Svが出力
されるのに同期して、ルックアップテーブル7からは各
画素信号が異常か正常かを示す“0”又は“1″のマス
クデータβを出力する。
正常な受光エレメントに対する画素信号を読み出してい
る場合は、β=1であるから、第9図の時点t。以前と
時点t2以後の期間において示すように、サンプルホー
ルド回路5へのクランプパルス信号CPとサンプルホー
ルドパルス信号5Plt所定の周期で発生し、画素信号
Svから画素データS0を得る。
一方、成る受光エレメントdjlが欠陥である場合、ア
ドレスデータAdが(j−1)xm+iの値となると同
時に、β=0となる(第9図中の時点t。−tlの期間
に出力される)ので、ANDゲー)9.1(lのマスク
作用によってクランプパルス信号CPとサンプルホール
ドパルス信号SPが発生せず、次のサンプルホールド動
作が停止される。
この結果、先のサンプルホールド動作でホールドされた
画素データS0が次の周期(第6図中の時点t1〜t2
の期間)にも出力されることとなり、欠陥受光エレメン
トで発生した信号の出力が禁止されて、前のサンプルホ
ールドによる画素データが続いて出力される。
このように、異常な画素データを1つ前の周期の画素デ
ータで補完する手法は、被写体の大きさに対して受光エ
レメントが極めて微細であることから、画質劣下を防止
する上で効果的である。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、このような従来の前置補完方式のシステ
ムにあっては、受光エレメントが少ない場合、即ち画素
数が少ない場合には、読出し走査の周波数が低く且つル
ックアップテーブルのアクセス周波数も低くて済むため
、低速のROMなどを適用することができるが、画素数
が多くなると読出し走査の高周波数に対応し得なくなり
、技術的に実現が困難となる問題があった。
具体例で説明すると、40万画素の解像度で約525T
V本の標準テレビジョン方式に対応する撮像装置におい
て、水平解像度800本の画素群(n=800)を1水
平走査期間(52,7μs)に読出そうとすると、1画
素分の画素データを読出すための読出し周期Tは約66
nSとなるので、通常のROMのアクセス時間(200
nS〜1μs)では実現が不可能となる。
又、従来例によれば、回路を形成するための集積回路や
電子部品数が多くなり、実装面積が増大する問題がある
又、今後の撮像デバイスの多画素化に伴い、半導体製造
工程での欠陥画素の発生を防止することが更に困難とな
ることから、多画素化、高速化に対応し得る画素欠陥補
償システムの開発が望まれている。
本発明はこのような課題に鑑みて成されたものであり、
多画素化、高速化に対応し得る小型の画素欠陥補正シス
テムを提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
まず、本発明は前置補完方式を適用した画素欠陥補償シ
ステムを対象とし、上記の目的を達成するために、撮像
デバイスの点順次走査周波数以上の周波数に設定された
基準クロック信号CKを撮像デバイスの水平及び垂直走
査読出しのタイミングに同期して計数し、更に撮像デバ
イス中の欠陥画素に対応する画素信号が読み出される時
に同期してサンプリングを禁止するマスク信号を該計数
データをデコードすることに形成するようにした。
第1図は本発明の原理構成図であり、図中の点線で示す
ように、撮像デバイスを作動させるための各種駆動信号
や、撮像デバイスから読み出された信号を処理するため
の各種同期信号を発生する信号発生手段を備える。即ち
、信号発生手段は、多数段のカウンタで基準クロック信
号CKを計数する計数手段11と、計数手段11から出
力される信号をデコードするデコード手段12を備える
基準クロック信号CKは、水平及び垂直走査読出しによ
って撮像デバイスの各画素から画素信号を読み出すため
の駆動信号に同期しており、したがって、計数手段11
も画素信号の読出しタイミングに同期して計数動作する
。 デコード手段12は、計数手段11の各段から出力
される計数データをデコードして、欠陥画素に対応する
画素信号が出力されるタイミングに同期してサンプルホ
ールドするための信号SPの発生を禁止するマスク信号
MSを形成する。
尚、計数手段は、撮像デバイスの走査読出しを行う以外
に、信号処理に必要な各種同期信号を形成する同期信号
形成手段を併用してもよい。
又、デコード手段を実現するために、ディスクリートの
論理回路を適用してもよいし、プログラム可能なプログ
ラマブルロジックデバイス(Programable 
Logic Device )を適用してもよい。
〔作用〕
このような構成を有する本発明の画素欠陥補償システム
によれば、例えば第2図に示すように、撮像デバイス中
の最も左上00行0列に位置する画素を基準として、j
行i列の位置に欠陥画素が存在するものとすると、撮像
デバイスから画素信号を順次に走査読出しするタイミン
グに同期して基準クロック信号CKを計数手段11が計
数し、計数データが欠陥画素の位置に相当するときにデ
コード手段12がこれをデコードしてマスク信号MSを
出力することとなる。したがって、マスク信号MSが出
力しないときは、撮像デバイスから点順次走査のタイミ
ングで画素信号が出力されるのに同期し且つ同一周期Δ
でサンプルホールドのための信号SPが出力されるので
、正常な画素信号をサンプルし、一方、マスク信号MS
が出力するときtjiには信号SPの発生をマスクして
その時点でのサンプリングを禁止することにより、先の
サンプリング周期でサンプリングした画素信号を欠陥画
素に対応する画素信号として補完する前置補完方式の処
理が行われる。
このような構成とすると、従来のROM等のルックアッ
プテーブルを使用した場合より、回路規模を小さくする
ことができるので、実装面積を減少することが可能とな
る。又、ハードロジックのため高速化が可能となり、ア
クセスタイムの遅いROM等を使用する従来の場合と比
較すると大幅な高速化を実現でき、多画素の撮像デバイ
スに十分対応することができる。
又、撮像デバイスの1水平ライン中に複数の欠陥画素が
存在する場合でも、デコード手段の設定の仕方によって
容易に対応し得る。
又、プログラム可能なプログラマブルロジックデバイス
を適用するのに好適なシステム構成となっているので、
個々の撮像デバイスの欠陥位置に対応するように計数手
段あるいはデコード手段をプログラムすることによって
欠陥補償ができ、撮像デバイスの製品検査等で欠陥画素
の検出漏れをしたような場合でも、撮像デバイスを映像
機器等に組み込んだ後の出荷前の品質検査等において、
欠陥画素のデコード情報を容易に調整することができ、
製品の品質向上を図る上でも好適なシステムを提供する
ことができる。
又、本発明のシステムは、撮像デバイスとしてMO3型
面体撮像デバイス、電荷結合型面体操像デバイス又は撮
像管等を使用する撮像装置に適用することができる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面と共に説明する。
この実施例は、NTSCテレビジョン方式における各種
同期信号を形成するための同期信号発生装置に画素欠陥
補償システムを一体に内蔵した場合である。
まず、第3図に基づいて回路構成を説明する。
13は14.3MHzの基準クロック信号f1を出力す
る発振器、14は基準クロック信号f1をクロック入力
端子C1から入力して計数動作し、その計数値に対する
ビットデータを出力する第1カウンタ、15は基準クロ
ック信号f1をクロック入力端子C2から入力して計数
動作し、その計数値に対するビットデータを出力する第
2カウンタ、16は第1.第2カウンタ14.15の計
数値に対応する複数のビット出力を組み合わせてデコー
ドすることにより適宜の周波数や位相又はパルス幅の複
数種類の同期信号を形成するデ°コーダ、17はデコー
ダ16で形成された各種の同期信号を内部のフリップフ
ロップ回路などで一旦ラッチなどして基準クロック信号
f1に同期して出力する一出力回路である。
更に、第1カウンタ14はイネーブル端子E1に所定電
圧VCCが印加されて、常に計数動作可能状態(イネー
ブル状態)に設定され、又、デコーダ16の適宜のデコ
ーダ出力信号S1がリセット端子R1に帰還される。第
2カウンタ15のイネーブル端子E2にはデコード出力
信号S1が供給され、リセット端子R2にはデコーダ1
6から出力される他のデコード出力信号S2が帰還され
ている。
又、デコーダ16で一旦出力したデコード出力信号を1
/2分周して再びデコーダ16の入力として帰還する分
周回路18.19が設けられている。
第1カウンタ14は任意モジュロ数Mに設定されたグレ
イコードカウンタ、第2カウンタ15は任意モジニロ数
Nに設定されたグレイコードカウンタで構成されている
。即ち、第4図の10進数に対するコード表に示すよう
に、グレイコードカウンタは、数値が1単位ずつ増加す
ると1ビツトだけが入れ替わるように進行するカウンン
タであるので、バイナリカウンタのように全ビットが一
斉に計数動作のための反転動作せず、その結果、グリッ
ジの発生や電源変動、パルス性ノイズなどの発生が極め
て少なくなる。そして、第5図に示すような複数のセル
構造を接続した回路で実現し、各ビット出力Q o +
 (Q O2) 〜Q kt (Q k2 )が計数値
に対するビット出力となり、デコーダ16に入力する。
デコーダ16は論理和や論理積その他の論理演算回路で
構成され、所望のタイミングの同期信号を第1.第2カ
ウンタ14.15からの入力データを組み合わせること
によって形成する。
又、デコーダ16は、第1カウンタ14が基準クロック
信号f1を455個計数動作したときをデコードするこ
とによってデコード出力信号S1を出力し、この信号S
1に同期して第1カウンタ11をリセットするので、第
1カウンタ14の最大計数周期は約31.82 m (
即ち、約31.4KHz )のインターレースのための
周期となり、70nS(基準クロック信号f1の周期)
から約31゜82μs(最大計数周期)までの適宜のパ
ルス幅の同期信号を7On3間隔で形成することが可能
である。
又、分周回路18が信号S1を1/2分周してこれをデ
コーダ16に帰還するので、水平走査周波数(15,7
5にHz)に同期した同期信号を形成することができる
次に、第2カウンタ15は、基準クロック信号f1に同
期して第1カウンタ14の最大計数周期(約31.82
μs)毎に計数動作を行う。そして、デコーダ16は5
25個の計数動作が行われるときをデコードすることに
よって信号S2を出力し、この信号S2に同期して第2
カウンタ15をリセットするので、第2カウンタ15の
最大計数周期は約16.7mS (即ち、60Hz)の
フィールド走査周期に相当し、約31.82μsから約
16.7mSまでの間の適宜のパルス幅の同期信号を形
成することができる。更に、分周回路19が信号S2を
1/2分周してこれをデコーダ16に帰還するので、フ
レーム走査周波数に相当する3 0Hzの同期信号を形
成することができる。
このようにして、第1カウンタ14と第2カウンタ15
から出力される最小パルス幅が約70nS、最大パルス
幅が約33mSまでの複数のビット出力をデコーダ16
で適宜に組み合わせてデコードすることにより、15.
75KHzに同期した水平同期信号、60Hzに同期し
た垂直同期信号、これらを適宜に組み合わせて形成され
る複合同期信号、その他のNTSC方式に必要な各種同
期信号が形成されると共に、インクライントランスファ
方式で撮像動作する電荷結合型面体撮像デバイス(I 
L−COD)の受光部中の垂直電荷転送路の転送電極に
印加するための4相駆動信号φVl+φ、2.φ、3.
φV2、水平電荷転送路の転送電極に印加するための2
相駆動信号φ旧、φH2、更に、IL−CODから点順
次走査読出しのタイミングに同期して読み出される画素
信号Svをサンプルホールドするためのクランプタイミ
ング信号α及びサンプルタイミング信号T1サンプリン
グ動作を禁止するためのマスク信号MSが形成され、こ
れらの信号が出力回路17を介して出力される。
ここで、デコーダ16の内、画素欠陥補償システムに係
る部分の構成を説明すると、例えば、撮像デバイスの受
光部中、第1行目の水平ライン中の第1列目に欠陥画素
が存在する場合、第2カウンタ15から計数値jの計数
データが出力し且つ、第1カウンタ14から計数値iの
計数データが出力された時点で、これらの言1数データ
の論理積演算を行うことにより、3行・i列の欠陥画素
の位置を特定するマスク信号MSを出力する回路構成と
成っている。
又、クランプタイミング信号αとサンプルタイミング信
号Tは、点順次走査の周期に同期して第1カウンタ14
から出力される計数データを基準にしてデコードするこ
とによって形成する。
このように形成された信号は、第3図に示すように、A
NDゲート20.21に人力(マスク信号MSは反転し
て入力)されて論理積演算され、該論理積演算で形成さ
れたクランプパルス信号CPがクランプ回路22、サン
プリングパルス信号SPがサンプルホールド回路23に
夫々供給される。尚、24.25は信号CP、SPが“
H”レベルのときに導通、“L”レベルの時に非導通と
なるアナログスイッチである。
次にかかる実施例の作動を第6図に従って説明する。
第6図において、I L−CCDの画素信号S。
の読出しタイミングに同期して、クランプタイミング信
号αとサンプルタイミング信号γが所定の位相差を持っ
て出力され、正常な画素からの画素信号S、が読み出さ
れるときは、マスク信号MSが“L”レベルとなるので
、これらの信号α、Tに同期したクランプパルス信号C
Pとサンプリングパルス信号SPがクランプ回路22及
びサンプルホールド回路23に供給されて、画素信号S
から正常な画素データSoがサンプリングされ、一方、
欠陥画素に対する欠陥信号が出力されるときは、マスク
信号MSが”H”レベルとなって(第6図中の時点t0
〜t1の期間)クランプタイミング信号αとサンプルタ
イミング信号rがマスクされるので、この期間ではクラ
ンプパルス信号CPとサンプリングパルス信号SPが共
に“L″。
レベルとなり、その結果、先のサンプリング周期でサン
プリングした画素信号を欠陥信号の代わりに再度出力す
る前置補完処理が行われる。
このように、この実施例によれば、従来のようなROM
を用いたルックアップテーブルで欠陥画素の位置情報を
設定しないので、高速に画素データを読み出す撮像デバ
イスに対する欠陥画素補償システムとして好適である。
又、標準テレビジョン方式に必要な各種同期信号を形成
するための同期信号発生回路に内蔵することができるこ
とから、映像機器の小型化を図る上で効果的である。
更に、この実施例に示す第1.第2カウンタ及びデコー
ダと出力回路、分周回路をプログラマブルロジックデバ
イス等のプログラム可能なデバイスを使用することで、
極めて簡素且つ集積度の高い回路構成を実現することが
できる。
次に第7図に基づいて他の実施例を説明する。
尚、第3図中の各種の同期信号及び欠陥画素補償に係る
部分に対応する構成を示すものとし、第7図において第
3図と同−又は相当する部分を同一符号で示す。
第3図に示した先の実施例との相違点を述べると、グレ
イコード・カウンタで構成される任意モジユロNの第2
カウンク15のクロック入力端子C2に対して、第1カ
ウンタ14のリセット入力端子R1へ印加するリセット
信号S1を供給すると共に、イネーブル端子E2に一定
電圧V。Cを印加して常にイネーブル状態に設定する回
路となっている。したがって、第1カウンタ14は先の
実施例と同様の計数動作し、第2カウンタ15は第1カ
ウンタ14の最大計数周期に同期して計数動作を行い、
その計数値に対応するビット出力Q。2〜QN2をデコ
ーダ16へ出力する。この実施例によっても、グリッジ
やノイズの発生が極めて少なく、出力回路17から所望
の同期信号を得ることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、基準クロック周
波数から適宜の周波数までの計数出力を組み合わせてデ
コーダでデコードするので、デコーダを変更することで
所望の同期信号を容易に形成することができ、設計の自
由度を向上することができる。
又、回路を極めて単純な繰り返し構成で実現することが
できるので、半導体集積回路化等に適しており、特に、
個々の撮像デバイスの欠陥位置に対応して、欠陥位置情
報をプログラムできるプログラマブルロジックデバイス
で実現することにも適している。
又、従来のようにROM等のルックアップテーブルを使
用しないハードロジックで実現するので、高速の走査読
出しを必要とする画素欠陥補償システムを提供すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理構成図; 第2図は本発明の原理説明図; 第3図は本発明の実施例構成説明図: 第4図は第3図中の第1.第2カウンタの機能を説明す
る説明図; 第5図は第3図中の第1.第2カウンタの一回路例を示
す回路図; 第6図は実施例の作動を説明するためのタイミングチャ
ート】 第7図は本発明の他の実施例の構成説明図;ングチャー
トである。 図中の符号: 11:計数手段 12:デコード手段 13;発振器 14;第1カウンタ 15;第2カウンタ 16;デコーダ 17;出力回路 18.19;分周回路 20.21;ANDゲート 22;クランプ回路 23:サンプルホールド回路 24.25;アナログスイッチ 第 4 図 第 図 第 6 簡 手続補正書 平成1年11月(0日

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)垂直走査方向及び水平走査方向に沿って配列され
    た複数の画素に発生した画素信号を各水平走査方向に配
    列された画素毎に点順次走査で読出し、各画素毎に対応
    する読出タイミングに同期してサンプルホールドするこ
    とにより画素毎の時系列的な画素データを発生させると
    共に、欠陥画素に対する欠陥信号が読み出されるときは
    該サンプルホールドを停止することにより、先のサンプ
    ルホールドの周期で得られた画素信号を該欠陥信号に変
    えて出力する撮像デバイスの画素欠陥補償システムにお
    いて、 前記撮像デバイスの点順次走査周波数以上の周波数に設
    定された基準クロック信号を撮像デバイスの水平及び垂
    直走査読出しのタイミングに同期して計数する計数手段
    と、 撮像デバイス中の欠陥画素に対応する画素信号が読み出
    される時に同期してサンプリングを禁止するマスク信号
    を該計数データをデコードすることによって形成するデ
    コード手段とを備えたことを特徴とする画素欠陥補償シ
    ステム。
  2. (2)請求項(1)の画素欠陥補償システムにおいて、
    前記計数手段とデコード手段の少なくとも一方の手段を
    プログラマブルロジックデバイスで形成することを特徴
    とする画素欠陥補償システム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05183426A (ja) * 1991-08-29 1993-07-23 Sanyo Electric Co Ltd 低ノイズカウンタ

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