JPH0298845A - 光ディスク基板 - Google Patents
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Landscapes
- Polyesters Or Polycarbonates (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光メモリ−ディスク等に用いられる光デイス
ク基板に関するものである。
ク基板に関するものである。
〔式中、Xは単結合、−〇−
S−
5Ot−
(ただし、nは2〜10、pは4〜10の整数であり、
R2及びR3はそれぞれ水素原子、炭素数1〜6のアル
キル基又はフェニル基を示す )、R1は水素原子、ハ
ロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基又はフェニル基
であり、mは1〜4の整数を示す。〕 で表される繰り返し単位を有するポリエステ〔従来の技
術〕 光デイスク基板は透明性に優れるとともに光学的歪みの
小さいことが必要である。さらに、耐熱性や耐湿性、機
械強度においても十分な性能が要求される。
R2及びR3はそれぞれ水素原子、炭素数1〜6のアル
キル基又はフェニル基を示す )、R1は水素原子、ハ
ロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基又はフェニル基
であり、mは1〜4の整数を示す。〕 で表される繰り返し単位を有するポリエステ〔従来の技
術〕 光デイスク基板は透明性に優れるとともに光学的歪みの
小さいことが必要である。さらに、耐熱性や耐湿性、機
械強度においても十分な性能が要求される。
従来、光デイスク基板はポリメチルメタクリレートや2
.2′−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパンを原
料とするポリカーボネート樹脂などが用いられている。
.2′−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパンを原
料とするポリカーボネート樹脂などが用いられている。
ところが、前者は光学的特性には優れるが、耐熱性、耐
湿性、耐衝撃性においては十分な性能を存していない、
一方、後者は耐熱性、耐湿性、耐衝撃性などにおいて優
れているものの、流動性が低(、射出成形等の成形加工
時に発生する応力により光学的異方性が生じ易いという
欠点を有しており、超精密成形品に用いるには問題があ
る。
湿性、耐衝撃性においては十分な性能を存していない、
一方、後者は耐熱性、耐湿性、耐衝撃性などにおいて優
れているものの、流動性が低(、射出成形等の成形加工
時に発生する応力により光学的異方性が生じ易いという
欠点を有しており、超精密成形品に用いるには問題があ
る。
また、ポリエステル樹脂は、耐熱性、透明性に優れ、ま
た、屈折率も高く強靭な樹脂であるが、耐透湿性が低い
うえ、流動性が低く、成形時の歪みにより光学異方性が
生じ易いという欠点を有している。
た、屈折率も高く強靭な樹脂であるが、耐透湿性が低い
うえ、流動性が低く、成形時の歪みにより光学異方性が
生じ易いという欠点を有している。
本発明は、耐透湿性に優れ、光弾性係数も小さく、流動
性に優れた樹脂により成形され、成形時の残留応力によ
る光学的異方性が低減され、複屈折が小さい光学的に均
質な成形品からなる光デイスク基板を提供することを目
的とする。
性に優れた樹脂により成形され、成形時の残留応力によ
る光学的異方性が低減され、複屈折が小さい光学的に均
質な成形品からなる光デイスク基板を提供することを目
的とする。
本発明者らは前記目的を達成するために鋭意研究を重ね
た結果、芳香核の密度の高い特定構造を有する芳香族ポ
リエステルを射出成形してなる光デイスク基板により前
記目的が達成されることを見出し、この知見に基づいて
本発明を完成するに至った。
た結果、芳香核の密度の高い特定構造を有する芳香族ポ
リエステルを射出成形してなる光デイスク基板により前
記目的が達成されることを見出し、この知見に基づいて
本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明は、
次式
〔式中、Xは単結合、−0−−5−−3O1−(ただし
、nは2〜■0、pは4〜10の整数であり、R2及び
R3はそれぞれ水素原子、炭素数1〜6のアルキル基又
はフェニル基を示す。)、R1は水素原子、ハロゲン原
子、炭素数1〜6のアルキル基又はフェニル基であり、
mは1〜4の整数を示す。) で表される繰り返し単位を有するポリエステル樹脂を射
出成形してなる光デイスク基板を提供するものである。
、nは2〜■0、pは4〜10の整数であり、R2及び
R3はそれぞれ水素原子、炭素数1〜6のアルキル基又
はフェニル基を示す。)、R1は水素原子、ハロゲン原
子、炭素数1〜6のアルキル基又はフェニル基であり、
mは1〜4の整数を示す。) で表される繰り返し単位を有するポリエステル樹脂を射
出成形してなる光デイスク基板を提供するものである。
本発明に用いられるポリエステル樹脂は塩化メチレンを
溶媒とする0、5g/dl濃度の20″Cにおける還元
粘度が0.2〜3.0dl/gであることが好ましい、
還元粘度が0.2d1/g未満では成形品の機械的強度
が充分でなく、3.(1/g超えると流動性が低下し成
形体の光学的特性が低下する。
溶媒とする0、5g/dl濃度の20″Cにおける還元
粘度が0.2〜3.0dl/gであることが好ましい、
還元粘度が0.2d1/g未満では成形品の機械的強度
が充分でなく、3.(1/g超えると流動性が低下し成
形体の光学的特性が低下する。
本発明に用いられる芳香族ポリエステルとして好ましい
ポリエステルは、式 で表される繰り返し単位又は式 共重合体である。
ポリエステルは、式 で表される繰り返し単位又は式 共重合体である。
式(r)と式(II)で表される繰り返し単位の割合は
任意の割合とすることができ、N)が100モル%であ
っても(U)が100モル%であってもよい。
任意の割合とすることができ、N)が100モル%であ
っても(U)が100モル%であってもよい。
本発明に用いられるポリエステル樹脂は、例えば、式
(式中、Xは上記と同じ意味を有する。)で表される二
価フェノールと、テレフタル酸及び/又はイソフタル酸
、あるいはテレフタル酸の反応性誘導体及び/又はイソ
フタル酸の反応性誘導体、あるいはこれらのフェニレン
基が1で置換されている化合物とを反応させることによ
り製造することができる。
価フェノールと、テレフタル酸及び/又はイソフタル酸
、あるいはテレフタル酸の反応性誘導体及び/又はイソ
フタル酸の反応性誘導体、あるいはこれらのフェニレン
基が1で置換されている化合物とを反応させることによ
り製造することができる。
ポリエステル樹脂の製造法において用いられる式(II
I)の二価フェノールとしては、例えば、3゜3′−ジ
フェニル−4,4′〜ジヒドロキシビフヱニル、ビス(
3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)エーテル、ビ
ス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)スルフィ
ド、ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ス
ルホン、ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル
)メタン、1.2−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキ
シフェニル)エタン、1.3−ビス(3−フェニル−4
−ヒドロキシフェニル)プロパン、1,4−ビス(3−
フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ブタン、1.6−
ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサ
ン、1.8−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェ
ニル)オクタン、1,10−ビス(3−フェニル−4−
ヒドロキシフェニル)デカン、1,1−ビス(3−フェ
ニル−4−ヒドロキシフェニル)エタン、11−ビス(
3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、1
−フェニル−1,l−ビス(3−フェニル−4−ヒドロ
キシフェニル)メタン、2.2−ビス(3−フェニル−
4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(3
−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ブタン、3.3
−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ペン
タン、■−フェニルー1,1−ビス(3−フェニル−4
−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1−ビス(3−フ
ェニル−4−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサン、1
.1−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)
シクロベンクン、2.2−ビス(3−フェニル−4−ヒ
ドロキシフェニル)オクタン、ジフェニル−ビス(3−
フェニル−4−ヒドロキシフェニル)メタンなどを挙げ
ることができる。
I)の二価フェノールとしては、例えば、3゜3′−ジ
フェニル−4,4′〜ジヒドロキシビフヱニル、ビス(
3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)エーテル、ビ
ス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)スルフィ
ド、ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ス
ルホン、ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル
)メタン、1.2−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキ
シフェニル)エタン、1.3−ビス(3−フェニル−4
−ヒドロキシフェニル)プロパン、1,4−ビス(3−
フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ブタン、1.6−
ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサ
ン、1.8−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェ
ニル)オクタン、1,10−ビス(3−フェニル−4−
ヒドロキシフェニル)デカン、1,1−ビス(3−フェ
ニル−4−ヒドロキシフェニル)エタン、11−ビス(
3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、1
−フェニル−1,l−ビス(3−フェニル−4−ヒドロ
キシフェニル)メタン、2.2−ビス(3−フェニル−
4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(3
−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ブタン、3.3
−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ペン
タン、■−フェニルー1,1−ビス(3−フェニル−4
−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1−ビス(3−フ
ェニル−4−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサン、1
.1−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)
シクロベンクン、2.2−ビス(3−フェニル−4−ヒ
ドロキシフェニル)オクタン、ジフェニル−ビス(3−
フェニル−4−ヒドロキシフェニル)メタンなどを挙げ
ることができる。
これらの中でも、2,2−ビス(3−フェニル−4−ヒ
ドロキシフェニル)プロパン、1.1.−ビス(3−フ
ェニル−4−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサン、1
−フェニル−1,1−ビス(3−フェニル−4−ヒドロ
キシフェニル)エタン、ビス(3−フェニル−4−ヒド
ロキシフェニル)スルホンが好適である。
ドロキシフェニル)プロパン、1.1.−ビス(3−フ
ェニル−4−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサン、1
−フェニル−1,1−ビス(3−フェニル−4−ヒドロ
キシフェニル)エタン、ビス(3−フェニル−4−ヒド
ロキシフェニル)スルホンが好適である。
上記イソフタル酸の反応性誘導体とはイソフタル酸エス
テル、例えばイソフタル酸ジフェニルエステル、及びイ
ソフタル酸ハライド、例えばイソフタル酸ジクロリドを
意味する。
テル、例えばイソフタル酸ジフェニルエステル、及びイ
ソフタル酸ハライド、例えばイソフタル酸ジクロリドを
意味する。
上記テレフタル酸の反応性誘導体とはテレフタル酸エス
テル、例えばテレフタル酸ジフェニルエステル、及びテ
レフタル酸ハライド、例えばテレフタル酸ジクロリドを
意味する。
テル、例えばテレフタル酸ジフェニルエステル、及びテ
レフタル酸ハライド、例えばテレフタル酸ジクロリドを
意味する。
本発明に用いられる芳香族ポリエステル樹脂を製造する
にあたっては、溶融重合法、溶液重合法、及び界面重合
法のいずれをも採用することができる。
にあたっては、溶融重合法、溶液重合法、及び界面重合
法のいずれをも採用することができる。
溶融重合法の場合、式(III)の二価フェノールの酢
酸エステルとイソフタル酸及び/又はテレフタル酸、あ
るいは二価フェノールとイソフタル酸ジフェニルエステ
ル及び/又はテレフタル酸ジフェニルエステルとを、溶
融させ、通常120〜300°Cの温度で、減圧下に1
〜10時間反応させ、目的とする芳香族ポリエステル樹
脂を得る。
酸エステルとイソフタル酸及び/又はテレフタル酸、あ
るいは二価フェノールとイソフタル酸ジフェニルエステ
ル及び/又はテレフタル酸ジフェニルエステルとを、溶
融させ、通常120〜300°Cの温度で、減圧下に1
〜10時間反応させ、目的とする芳香族ポリエステル樹
脂を得る。
溶液重合法の場合、式(1)の二価フェノールとイソフ
タル酸ハライド及び/又はテレフタル酸ハライドとを、
有機溶媒中、脱ハロゲン酸剤の存在下、5〜100″C
の温度で、1〜10時間反応させ目的とする芳香族ポリ
エステル樹脂を得る。
タル酸ハライド及び/又はテレフタル酸ハライドとを、
有機溶媒中、脱ハロゲン酸剤の存在下、5〜100″C
の温度で、1〜10時間反応させ目的とする芳香族ポリ
エステル樹脂を得る。
使用しうる有機溶媒としては、ベンゼン、トルエン、ク
ロロホルム、1.2−ジクロロエタン、クロロベンゼン
等が挙げられる。また、使用しうる脱ハロゲン酸剤とし
ては、トリエチルアミン等のアミン類が挙げられる。こ
の方法においては、触媒は必須ではないが、通常、第4
級アンモニウム塩、スルホニウム塩などが触媒として用
いられる。
ロロホルム、1.2−ジクロロエタン、クロロベンゼン
等が挙げられる。また、使用しうる脱ハロゲン酸剤とし
ては、トリエチルアミン等のアミン類が挙げられる。こ
の方法においては、触媒は必須ではないが、通常、第4
級アンモニウム塩、スルホニウム塩などが触媒として用
いられる。
界面重合法の場合、式(III)の二価フェノールをア
ルカリ水溶液に溶解し、イソフタル酸ハライド及び/又
はテレフタル酸ハライドを水と混ざらない溶媒に溶解し
、得られた再溶液を撹拌混合して反応させ、目的とする
芳香族ポリエステル樹脂を得る。反応温度は通常、2°
Cから使用する有機溶媒の沸点以下、好ましくは5〜5
0°Cであり、反応時間は通常1分から24時間、好ま
しくは0゜1〜2時間である。アルカリ水溶液としては
、例えば水酸化カリウム水溶液、水酸化ナトリウム水溶
液、水酸化リチウム水溶液を用いることができ、使用す
るビスフェノール類を完全に溶解する濃度とする。上記
の水と混ざらない溶媒としては、塩化メチレン、四塩化
炭素、クロロホルム等を用いることができる。さらに、
重縮合反応を促進するために、トリエチルアミンなどの
第3級アミン類、トリメチルベンジルアンモニウムクロ
リドなどのアンモニウム塩等の触媒を添加して反応を行
うことが望ましい。触媒の添加量はポリマー1モルに対
し0.1〜100ミリモルとすることが好ましい。
ルカリ水溶液に溶解し、イソフタル酸ハライド及び/又
はテレフタル酸ハライドを水と混ざらない溶媒に溶解し
、得られた再溶液を撹拌混合して反応させ、目的とする
芳香族ポリエステル樹脂を得る。反応温度は通常、2°
Cから使用する有機溶媒の沸点以下、好ましくは5〜5
0°Cであり、反応時間は通常1分から24時間、好ま
しくは0゜1〜2時間である。アルカリ水溶液としては
、例えば水酸化カリウム水溶液、水酸化ナトリウム水溶
液、水酸化リチウム水溶液を用いることができ、使用す
るビスフェノール類を完全に溶解する濃度とする。上記
の水と混ざらない溶媒としては、塩化メチレン、四塩化
炭素、クロロホルム等を用いることができる。さらに、
重縮合反応を促進するために、トリエチルアミンなどの
第3級アミン類、トリメチルベンジルアンモニウムクロ
リドなどのアンモニウム塩等の触媒を添加して反応を行
うことが望ましい。触媒の添加量はポリマー1モルに対
し0.1〜100ミリモルとすることが好ましい。
イソフタル酸ハライド′及び/又はテレフタル酸ハライ
ドは通常有機溶剤に1〜40W/V%、好ましくは5〜
30W/V%、ビスフェノール類はアルカリ水溶液に通
常1〜30W/V%、好ましくは5〜20W/V%の濃
度になるようにして反応させる。また、重合度を調整す
るために、フェノール、O−フェニルフェノール等のフ
ェニルフェノール、ハロゲン化フェノール、p−L−ブ
チルフェノール、ノニルフェノール、オクチルフェノー
ル、ヒドロキシ安息香酸エステル類、ヒドロキシフェニ
ルカルボン酸エステル類などの分子量調節剤を添加する
ことが望ましい。
ドは通常有機溶剤に1〜40W/V%、好ましくは5〜
30W/V%、ビスフェノール類はアルカリ水溶液に通
常1〜30W/V%、好ましくは5〜20W/V%の濃
度になるようにして反応させる。また、重合度を調整す
るために、フェノール、O−フェニルフェノール等のフ
ェニルフェノール、ハロゲン化フェノール、p−L−ブ
チルフェノール、ノニルフェノール、オクチルフェノー
ル、ヒドロキシ安息香酸エステル類、ヒドロキシフェニ
ルカルボン酸エステル類などの分子量調節剤を添加する
ことが望ましい。
このようにして得られた芳香族ポリエステル樹脂は、耐
透湿性にすぐれ、流動性もよく、光弾性係数も低く、従
って成形時に発生する歪みが小さく、光学的に均質な成
形品を提供しうるちのである。
透湿性にすぐれ、流動性もよく、光弾性係数も低く、従
って成形時に発生する歪みが小さく、光学的に均質な成
形品を提供しうるちのである。
本発明においては、前記芳香族ポリエステル樹脂をその
まま成形してもよいが、必要に応じ、酸化防止剤、H燃
剤、紫外線吸収剤、帯電防止剤、滑剤、通常ポリエステ
ル樹脂に添加される添加剤を配合することができる。
まま成形してもよいが、必要に応じ、酸化防止剤、H燃
剤、紫外線吸収剤、帯電防止剤、滑剤、通常ポリエステ
ル樹脂に添加される添加剤を配合することができる。
使用される酸化防止剤としては、例えば、2゜6−ジー
t−ブチル−p−クレゾール、ブチル化ヒドロキシアニ
ソール、2.6−ジーt−ブチル−4−エチルフェノー
ル、ステアリル−β−(35−’、;−t−ブチルー4
−ヒドロキシフェニル)プロピオネート、2,2゛−メ
チレンビス(4−メチル−6−1−ブチルフェノール)
、2.2’−メチレン−ビス(4−エチル−6−t、
−’7”チルフェノール)、4.4’−チオビス(3−
メチル−6−t−ブチルフェノール)、4.4’−ブチ
リデンビス(3−メチル−6−1−ブチルフェノール)
、テトラキス〔メチレン−3−(3’、5−ジ−t−ブ
チル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート)メタ
ン、1,1.3−トリス(2−メチル−4−ヒドロキシ
−5−t−ブチルフェニル)ブタン等のフェノール系化
合物、フェニル−β−ナフチルアミン、N、N’−ジフ
ェニル−p−フェニレンジアミン等のアミン系化合物、
トリス(ノニルフェニル)ホスファイト、トリフェニル
フォスファイト、トリオクタデシルフォスファイト、ジ
フェニルイソデシルフォスファイト等のリン系化合物、
ジラウリルチオジプロピオネート、シミリスチルチオジ
プロピオネート、ジステアリルチオジプロピオネート等
の硫黄化合物などが挙げられる。
t−ブチル−p−クレゾール、ブチル化ヒドロキシアニ
ソール、2.6−ジーt−ブチル−4−エチルフェノー
ル、ステアリル−β−(35−’、;−t−ブチルー4
−ヒドロキシフェニル)プロピオネート、2,2゛−メ
チレンビス(4−メチル−6−1−ブチルフェノール)
、2.2’−メチレン−ビス(4−エチル−6−t、
−’7”チルフェノール)、4.4’−チオビス(3−
メチル−6−t−ブチルフェノール)、4.4’−ブチ
リデンビス(3−メチル−6−1−ブチルフェノール)
、テトラキス〔メチレン−3−(3’、5−ジ−t−ブ
チル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート)メタ
ン、1,1.3−トリス(2−メチル−4−ヒドロキシ
−5−t−ブチルフェニル)ブタン等のフェノール系化
合物、フェニル−β−ナフチルアミン、N、N’−ジフ
ェニル−p−フェニレンジアミン等のアミン系化合物、
トリス(ノニルフェニル)ホスファイト、トリフェニル
フォスファイト、トリオクタデシルフォスファイト、ジ
フェニルイソデシルフォスファイト等のリン系化合物、
ジラウリルチオジプロピオネート、シミリスチルチオジ
プロピオネート、ジステアリルチオジプロピオネート等
の硫黄化合物などが挙げられる。
使用される紫外線吸収剤としては、例えば、フェニルサ
リシレート、p−t−7’チルフエニルサリシレート等
のサリチル酸系紫外線吸収剤、2゜4−ジヒドロキシベ
ンゾフェノン、2−ヒドロキシ−4−メトキシベンゾフ
ェノン等のベンゾフェノン系紫外線吸収剤、l−(2’
−ヒドロキシ5′−メチルフェニル)ベンゾトリアゾ
ール、2−(2′−ヒドロキシ−5′−t−ブチルフェ
ニル)ベンゾトリアゾール等のベンゾトリアゾール系紫
外線吸収剤等が挙げられる。
リシレート、p−t−7’チルフエニルサリシレート等
のサリチル酸系紫外線吸収剤、2゜4−ジヒドロキシベ
ンゾフェノン、2−ヒドロキシ−4−メトキシベンゾフ
ェノン等のベンゾフェノン系紫外線吸収剤、l−(2’
−ヒドロキシ5′−メチルフェニル)ベンゾトリアゾ
ール、2−(2′−ヒドロキシ−5′−t−ブチルフェ
ニル)ベンゾトリアゾール等のベンゾトリアゾール系紫
外線吸収剤等が挙げられる。
使用される帯電防止剤としては、例えば、ポリオキシエ
チレンアルキルアミン、ポリオキシエチレンアルキルア
ミド等の非イオン系帯電防止剤、アルキルスルホネート
、アルキルベンゼンスルホネート等のアニオン系帯電防
止剤、第4級アンモニウムクロライド、第4級アンモニ
ウムサルフェート等のカチオン系帯電防止剤、アルキル
ベタイン型、アルキルイミダシリン型等の両性帯電防止
剤等が挙げられる。
チレンアルキルアミン、ポリオキシエチレンアルキルア
ミド等の非イオン系帯電防止剤、アルキルスルホネート
、アルキルベンゼンスルホネート等のアニオン系帯電防
止剤、第4級アンモニウムクロライド、第4級アンモニ
ウムサルフェート等のカチオン系帯電防止剤、アルキル
ベタイン型、アルキルイミダシリン型等の両性帯電防止
剤等が挙げられる。
使用される滑剤としては、脂肪族系炭化水素、高級脂肪
族系アルコール、脂肪酸アマイド系、金属石鹸系、脂肪
酸エステル系などの滑剤が挙げられる。
族系アルコール、脂肪酸アマイド系、金属石鹸系、脂肪
酸エステル系などの滑剤が挙げられる。
さらに、本発明の芳香族ポリエステルには、成形に際し
、さらに他の成分、例えば着色や透明性の劣化を防止す
るための亜リン酸エステル類、メルトインデックス値を
増大させるための可塑剤等を添加することができる。
、さらに他の成分、例えば着色や透明性の劣化を防止す
るための亜リン酸エステル類、メルトインデックス値を
増大させるための可塑剤等を添加することができる。
また、可塑剤としては、例えば2−エチルへキシルフタ
レート、n〜ブチルフタレート、イソデシルフタレート
、トリデシルフタレート、ヘプチルフタレート、ノニル
フタレート等のアルキルフタレート類、2−エチルへキ
シルアジペート、2−エチルへキシルセバケート等の二
塩基酸のアルキルエステル類、リン酸トリブチル、リン
酸トリオクチル、リン酸トリクレジル、リン酸トリフェ
ニル等のリン酸アルキルエステル類、エポキシ化オレイ
ン酸オクチル、エポキシ化オレイン酸ブチル等のエポキ
シ化脂肪酸エステル類、あるいはポリエステル形可塑剤
、塩素化脂肪酸エステル類などが挙げられる。
レート、n〜ブチルフタレート、イソデシルフタレート
、トリデシルフタレート、ヘプチルフタレート、ノニル
フタレート等のアルキルフタレート類、2−エチルへキ
シルアジペート、2−エチルへキシルセバケート等の二
塩基酸のアルキルエステル類、リン酸トリブチル、リン
酸トリオクチル、リン酸トリクレジル、リン酸トリフェ
ニル等のリン酸アルキルエステル類、エポキシ化オレイ
ン酸オクチル、エポキシ化オレイン酸ブチル等のエポキ
シ化脂肪酸エステル類、あるいはポリエステル形可塑剤
、塩素化脂肪酸エステル類などが挙げられる。
また、本発明の光デイスク基板特性を損なわない範囲で
、他の樹脂を配合した樹脂を用いて成形してもよい。
、他の樹脂を配合した樹脂を用いて成形してもよい。
本発明の光デイスク基板は前記したポリエステル樹脂を
射出成形することにより得ることができる。
射出成形することにより得ることができる。
〔実施例)
次に実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本
発明はこれらの例によってなんら限定されるものではな
い。
発明はこれらの例によってなんら限定されるものではな
い。
実施例1
反応容器中で水8i!、に対して水酸化カリウム448
gを溶解し、この水溶液に2.2−ビス(3−フェニル
−4−ヒドロキシフェニル)プロパン760gと、5重
量%濃度のトリエチルアミン水溶液200IIfl及び
P−ターシャリブチルフェノール1gを加えて溶解させ
、液温を10℃に冷却した。一方、イソフタル酸クロリ
ド406gを塩化メチレン3.!に溶解し、これを10
°Cに冷却した。
gを溶解し、この水溶液に2.2−ビス(3−フェニル
−4−ヒドロキシフェニル)プロパン760gと、5重
量%濃度のトリエチルアミン水溶液200IIfl及び
P−ターシャリブチルフェノール1gを加えて溶解させ
、液温を10℃に冷却した。一方、イソフタル酸クロリ
ド406gを塩化メチレン3.!に溶解し、これを10
°Cに冷却した。
次に、前者の水溶液中に攪拌下、後者の塩化メチレン溶
液を速やかに添加し、攪拌しながら50分間反応を行っ
た。
液を速やかに添加し、攪拌しながら50分間反応を行っ
た。
反応終了後、攪拌をやめて静置分離し、有機層を取り出
して、これを希塩酸で中和し、さらに水洗を5回繰り返
した。このようにして得られた重合体の塩化メチレン溶
液をメタノール中に注入して重合体を沈澱させて回収し
た。この重合体を80°Cにおいて24時間乾燥した。
して、これを希塩酸で中和し、さらに水洗を5回繰り返
した。このようにして得られた重合体の塩化メチレン溶
液をメタノール中に注入して重合体を沈澱させて回収し
た。この重合体を80°Cにおいて24時間乾燥した。
得られた重合体は赤外線吸収スペクトル分析により、次
の繰り返し単位からなるものと認められた。
の繰り返し単位からなるものと認められた。
次いでこのポリエステル樹脂につき、塩化メチレンを溶
媒とする濃度0.5g/aの溶液の20°Cにおける還
元粘度[ηsp/c]を測定(以下の実施例も同条件で
測定)したところ、0.45a/gであった。またこの
ポリエステル樹脂のガラス転移温度は153°Cであっ
た。
媒とする濃度0.5g/aの溶液の20°Cにおける還
元粘度[ηsp/c]を測定(以下の実施例も同条件で
測定)したところ、0.45a/gであった。またこの
ポリエステル樹脂のガラス転移温度は153°Cであっ
た。
次に、このポリエステル樹脂の熔融時の光弾性係数を測
定した結果、4,100XIO−”c己/dyneであ
った。この溶融時の光弾性係数は、樹脂をキャビログラ
フで溶融紡糸して巻き取り、その際、糸にかかる応力を
横軸にとり、その糸の複屈折をたて軸にとったときの直
線の傾きを指すものであり、この値は、射出成形品に現
れる複屈折の大きさにおおきな影響を与える樹脂固有の
定数である。
定した結果、4,100XIO−”c己/dyneであ
った。この溶融時の光弾性係数は、樹脂をキャビログラ
フで溶融紡糸して巻き取り、その際、糸にかかる応力を
横軸にとり、その糸の複屈折をたて軸にとったときの直
線の傾きを指すものであり、この値は、射出成形品に現
れる複屈折の大きさにおおきな影響を与える樹脂固有の
定数である。
さらに、このポリエステル樹脂を、360°Cにおいて
射出成形して得た直径130Illlの光デイスク基板
についてその中心より60auo位置の4点で複屈折を
測定した。この結果、複屈折の平均値の値は20nm(
ダブルパルス)であった。これらの結果をまとめて第1
表に示す。
射出成形して得た直径130Illlの光デイスク基板
についてその中心より60auo位置の4点で複屈折を
測定した。この結果、複屈折の平均値の値は20nm(
ダブルパルス)であった。これらの結果をまとめて第1
表に示す。
実施例2
イソフタル酸クロリドに代えてテレフタル酸クロリド2
03gとイソフタル酸クロリド203gとの混合物を用
いたほかは、実施例1と同様の操作をして、下記繰り返
し単位を下記の割合で含有操作をして、下記繰り返し単
位を有する重合体をこのポリエステルの還元粘度〔ηs
p/c)は0.48cU/gであった。また、このもの
の耐熱性、光学的性質については、第1表に示すとおり
であっ実施例3 22−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)
プロパンに代えて、1,1−ビス(3フェニル−4−ヒ
ドロキシフェニル)シクロヘキサン840gを用いたほ
かは実施例1と同様のこのポリエステルの還元粘度〔η
sp/clは0.46dl/gであった。また、このも
のの耐熱性、光学的性質については、第1表に示すとお
りであった。
03gとイソフタル酸クロリド203gとの混合物を用
いたほかは、実施例1と同様の操作をして、下記繰り返
し単位を下記の割合で含有操作をして、下記繰り返し単
位を有する重合体をこのポリエステルの還元粘度〔ηs
p/c)は0.48cU/gであった。また、このもの
の耐熱性、光学的性質については、第1表に示すとおり
であっ実施例3 22−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)
プロパンに代えて、1,1−ビス(3フェニル−4−ヒ
ドロキシフェニル)シクロヘキサン840gを用いたほ
かは実施例1と同様のこのポリエステルの還元粘度〔η
sp/clは0.46dl/gであった。また、このも
のの耐熱性、光学的性質については、第1表に示すとお
りであった。
実施例4
2.2−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル
)プロパンに代えて、■−フェニルー1゜1−ビス(3
−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)エタンを884
g用いたほかは実施例1と同様の操作をして、下記繰り
返し単位を有する重合体を得た。
)プロパンに代えて、■−フェニルー1゜1−ビス(3
−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)エタンを884
g用いたほかは実施例1と同様の操作をして、下記繰り
返し単位を有する重合体を得た。
学的性質については、第1表に示すとおりであった。
二のポリエステルの還元粘度〔ηsp/c)は0.5d
i/gであった。また、このものの耐熱性、光学的性質
については、第1表に示すとおりであった。
i/gであった。また、このものの耐熱性、光学的性質
については、第1表に示すとおりであった。
実施例5
2.2−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル
)プロパンに代えて、ビス(3−フェニル−4−ヒドロ
キシフェニル)スルホンを804g用いたほかは実施例
1と同様の操作をして、下記繰り返し単位を有する重合
体を得た。
)プロパンに代えて、ビス(3−フェニル−4−ヒドロ
キシフェニル)スルホンを804g用いたほかは実施例
1と同様の操作をして、下記繰り返し単位を有する重合
体を得た。
比較例1
2.2−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル
)プロパンに代えて、2,2−ビス(4−ヒドロキシフ
ェニル)プロパン456gを用いた以外は実施例1と同
様の操作をして、下記繰り返し単位を有する重合体を得
た。
)プロパンに代えて、2,2−ビス(4−ヒドロキシフ
ェニル)プロパン456gを用いた以外は実施例1と同
様の操作をして、下記繰り返し単位を有する重合体を得
た。
このポリエステルの還元粘度〔ηsp/c)は0.57
d/gであった。また、このものの耐熱性、光学的性質
については、第1表に示すとおりであった。
d/gであった。また、このものの耐熱性、光学的性質
については、第1表に示すとおりであった。
このポリエステルの還元粘度〔ηsp/c)は0.51
dl/gであった。また、このものの耐熱性、光〔発明
の効果〕 本発明によれば、良好な耐熱性、透明性、耐透湿性及び
機械的強度を有するのみならず、光学異方性の低減した
複屈折の小さい光学特性に優れた光デイスク基板が得ら
れる。
dl/gであった。また、このものの耐熱性、光〔発明
の効果〕 本発明によれば、良好な耐熱性、透明性、耐透湿性及び
機械的強度を有するのみならず、光学異方性の低減した
複屈折の小さい光学特性に優れた光デイスク基板が得ら
れる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、次式 ▲数式、化学式、表等があります▼ 〔式中、Xは単結合、−O−、−S−、−SO_2−、
▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、
表等があります▼又は▲数式、化学式、表等があります
▼であり (ただし、nは2〜10、pは4〜10の整数であり、
R^2及びR^3はそれぞれ水素原子、炭素数1〜6の
アルキル基又はフェニル基を示す。)、R^1は水素原
子、ハロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基又はフェ
ニル基であり、mは1〜4の整数を示す。〕 で表される繰り返し単位を有するポリエステル樹脂を射
出成形してなる光ディスク基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63250927A JPH0298845A (ja) | 1988-10-06 | 1988-10-06 | 光ディスク基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63250927A JPH0298845A (ja) | 1988-10-06 | 1988-10-06 | 光ディスク基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0298845A true JPH0298845A (ja) | 1990-04-11 |
Family
ID=17215089
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63250927A Pending JPH0298845A (ja) | 1988-10-06 | 1988-10-06 | 光ディスク基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0298845A (ja) |
-
1988
- 1988-10-06 JP JP63250927A patent/JPH0298845A/ja active Pending
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