JPH0298845A - 光ディスク基板 - Google Patents

光ディスク基板

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Publication number
JPH0298845A
JPH0298845A JP63250927A JP25092788A JPH0298845A JP H0298845 A JPH0298845 A JP H0298845A JP 63250927 A JP63250927 A JP 63250927A JP 25092788 A JP25092788 A JP 25092788A JP H0298845 A JPH0298845 A JP H0298845A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phenyl
disk substrate
hydroxyphenyl
bis
polyester resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63250927A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideji Sakamoto
坂元 秀治
Shigeru Murakami
滋 村上
Shigenori Shiromizu
重憲 白水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Idemitsu Kosan Co Ltd
Original Assignee
Idemitsu Kosan Co Ltd
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Publication date
Application filed by Idemitsu Kosan Co Ltd filed Critical Idemitsu Kosan Co Ltd
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  • Polyesters Or Polycarbonates (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光メモリ−ディスク等に用いられる光デイス
ク基板に関するものである。
〔式中、Xは単結合、−〇− S− 5Ot− (ただし、nは2〜10、pは4〜10の整数であり、
R2及びR3はそれぞれ水素原子、炭素数1〜6のアル
キル基又はフェニル基を示す )、R1は水素原子、ハ
ロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基又はフェニル基
であり、mは1〜4の整数を示す。〕 で表される繰り返し単位を有するポリエステ〔従来の技
術〕 光デイスク基板は透明性に優れるとともに光学的歪みの
小さいことが必要である。さらに、耐熱性や耐湿性、機
械強度においても十分な性能が要求される。
従来、光デイスク基板はポリメチルメタクリレートや2
.2′−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパンを原
料とするポリカーボネート樹脂などが用いられている。
ところが、前者は光学的特性には優れるが、耐熱性、耐
湿性、耐衝撃性においては十分な性能を存していない、
一方、後者は耐熱性、耐湿性、耐衝撃性などにおいて優
れているものの、流動性が低(、射出成形等の成形加工
時に発生する応力により光学的異方性が生じ易いという
欠点を有しており、超精密成形品に用いるには問題があ
る。
また、ポリエステル樹脂は、耐熱性、透明性に優れ、ま
た、屈折率も高く強靭な樹脂であるが、耐透湿性が低い
うえ、流動性が低く、成形時の歪みにより光学異方性が
生じ易いという欠点を有している。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は、耐透湿性に優れ、光弾性係数も小さく、流動
性に優れた樹脂により成形され、成形時の残留応力によ
る光学的異方性が低減され、複屈折が小さい光学的に均
質な成形品からなる光デイスク基板を提供することを目
的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明者らは前記目的を達成するために鋭意研究を重ね
た結果、芳香核の密度の高い特定構造を有する芳香族ポ
リエステルを射出成形してなる光デイスク基板により前
記目的が達成されることを見出し、この知見に基づいて
本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明は、 次式 〔式中、Xは単結合、−0−−5−−3O1−(ただし
、nは2〜■0、pは4〜10の整数であり、R2及び
R3はそれぞれ水素原子、炭素数1〜6のアルキル基又
はフェニル基を示す。)、R1は水素原子、ハロゲン原
子、炭素数1〜6のアルキル基又はフェニル基であり、
mは1〜4の整数を示す。) で表される繰り返し単位を有するポリエステル樹脂を射
出成形してなる光デイスク基板を提供するものである。
本発明に用いられるポリエステル樹脂は塩化メチレンを
溶媒とする0、5g/dl濃度の20″Cにおける還元
粘度が0.2〜3.0dl/gであることが好ましい、
還元粘度が0.2d1/g未満では成形品の機械的強度
が充分でなく、3.(1/g超えると流動性が低下し成
形体の光学的特性が低下する。
本発明に用いられる芳香族ポリエステルとして好ましい
ポリエステルは、式 で表される繰り返し単位又は式 共重合体である。
式(r)と式(II)で表される繰り返し単位の割合は
任意の割合とすることができ、N)が100モル%であ
っても(U)が100モル%であってもよい。
本発明に用いられるポリエステル樹脂は、例えば、式 (式中、Xは上記と同じ意味を有する。)で表される二
価フェノールと、テレフタル酸及び/又はイソフタル酸
、あるいはテレフタル酸の反応性誘導体及び/又はイソ
フタル酸の反応性誘導体、あるいはこれらのフェニレン
基が1で置換されている化合物とを反応させることによ
り製造することができる。
ポリエステル樹脂の製造法において用いられる式(II
I)の二価フェノールとしては、例えば、3゜3′−ジ
フェニル−4,4′〜ジヒドロキシビフヱニル、ビス(
3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)エーテル、ビ
ス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)スルフィ
ド、ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ス
ルホン、ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル
)メタン、1.2−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキ
シフェニル)エタン、1.3−ビス(3−フェニル−4
−ヒドロキシフェニル)プロパン、1,4−ビス(3−
フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ブタン、1.6−
ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサ
ン、1.8−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェ
ニル)オクタン、1,10−ビス(3−フェニル−4−
ヒドロキシフェニル)デカン、1,1−ビス(3−フェ
ニル−4−ヒドロキシフェニル)エタン、11−ビス(
3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、1
−フェニル−1,l−ビス(3−フェニル−4−ヒドロ
キシフェニル)メタン、2.2−ビス(3−フェニル−
4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(3
−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ブタン、3.3
−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)ペン
タン、■−フェニルー1,1−ビス(3−フェニル−4
−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1−ビス(3−フ
ェニル−4−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサン、1
.1−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)
シクロベンクン、2.2−ビス(3−フェニル−4−ヒ
ドロキシフェニル)オクタン、ジフェニル−ビス(3−
フェニル−4−ヒドロキシフェニル)メタンなどを挙げ
ることができる。
これらの中でも、2,2−ビス(3−フェニル−4−ヒ
ドロキシフェニル)プロパン、1.1.−ビス(3−フ
ェニル−4−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサン、1
−フェニル−1,1−ビス(3−フェニル−4−ヒドロ
キシフェニル)エタン、ビス(3−フェニル−4−ヒド
ロキシフェニル)スルホンが好適である。
上記イソフタル酸の反応性誘導体とはイソフタル酸エス
テル、例えばイソフタル酸ジフェニルエステル、及びイ
ソフタル酸ハライド、例えばイソフタル酸ジクロリドを
意味する。
上記テレフタル酸の反応性誘導体とはテレフタル酸エス
テル、例えばテレフタル酸ジフェニルエステル、及びテ
レフタル酸ハライド、例えばテレフタル酸ジクロリドを
意味する。
本発明に用いられる芳香族ポリエステル樹脂を製造する
にあたっては、溶融重合法、溶液重合法、及び界面重合
法のいずれをも採用することができる。
溶融重合法の場合、式(III)の二価フェノールの酢
酸エステルとイソフタル酸及び/又はテレフタル酸、あ
るいは二価フェノールとイソフタル酸ジフェニルエステ
ル及び/又はテレフタル酸ジフェニルエステルとを、溶
融させ、通常120〜300°Cの温度で、減圧下に1
〜10時間反応させ、目的とする芳香族ポリエステル樹
脂を得る。
溶液重合法の場合、式(1)の二価フェノールとイソフ
タル酸ハライド及び/又はテレフタル酸ハライドとを、
有機溶媒中、脱ハロゲン酸剤の存在下、5〜100″C
の温度で、1〜10時間反応させ目的とする芳香族ポリ
エステル樹脂を得る。
使用しうる有機溶媒としては、ベンゼン、トルエン、ク
ロロホルム、1.2−ジクロロエタン、クロロベンゼン
等が挙げられる。また、使用しうる脱ハロゲン酸剤とし
ては、トリエチルアミン等のアミン類が挙げられる。こ
の方法においては、触媒は必須ではないが、通常、第4
級アンモニウム塩、スルホニウム塩などが触媒として用
いられる。
界面重合法の場合、式(III)の二価フェノールをア
ルカリ水溶液に溶解し、イソフタル酸ハライド及び/又
はテレフタル酸ハライドを水と混ざらない溶媒に溶解し
、得られた再溶液を撹拌混合して反応させ、目的とする
芳香族ポリエステル樹脂を得る。反応温度は通常、2°
Cから使用する有機溶媒の沸点以下、好ましくは5〜5
0°Cであり、反応時間は通常1分から24時間、好ま
しくは0゜1〜2時間である。アルカリ水溶液としては
、例えば水酸化カリウム水溶液、水酸化ナトリウム水溶
液、水酸化リチウム水溶液を用いることができ、使用す
るビスフェノール類を完全に溶解する濃度とする。上記
の水と混ざらない溶媒としては、塩化メチレン、四塩化
炭素、クロロホルム等を用いることができる。さらに、
重縮合反応を促進するために、トリエチルアミンなどの
第3級アミン類、トリメチルベンジルアンモニウムクロ
リドなどのアンモニウム塩等の触媒を添加して反応を行
うことが望ましい。触媒の添加量はポリマー1モルに対
し0.1〜100ミリモルとすることが好ましい。
イソフタル酸ハライド′及び/又はテレフタル酸ハライ
ドは通常有機溶剤に1〜40W/V%、好ましくは5〜
30W/V%、ビスフェノール類はアルカリ水溶液に通
常1〜30W/V%、好ましくは5〜20W/V%の濃
度になるようにして反応させる。また、重合度を調整す
るために、フェノール、O−フェニルフェノール等のフ
ェニルフェノール、ハロゲン化フェノール、p−L−ブ
チルフェノール、ノニルフェノール、オクチルフェノー
ル、ヒドロキシ安息香酸エステル類、ヒドロキシフェニ
ルカルボン酸エステル類などの分子量調節剤を添加する
ことが望ましい。
このようにして得られた芳香族ポリエステル樹脂は、耐
透湿性にすぐれ、流動性もよく、光弾性係数も低く、従
って成形時に発生する歪みが小さく、光学的に均質な成
形品を提供しうるちのである。
本発明においては、前記芳香族ポリエステル樹脂をその
まま成形してもよいが、必要に応じ、酸化防止剤、H燃
剤、紫外線吸収剤、帯電防止剤、滑剤、通常ポリエステ
ル樹脂に添加される添加剤を配合することができる。
使用される酸化防止剤としては、例えば、2゜6−ジー
t−ブチル−p−クレゾール、ブチル化ヒドロキシアニ
ソール、2.6−ジーt−ブチル−4−エチルフェノー
ル、ステアリル−β−(35−’、;−t−ブチルー4
−ヒドロキシフェニル)プロピオネート、2,2゛−メ
チレンビス(4−メチル−6−1−ブチルフェノール)
、2.2’−メチレン−ビス(4−エチル−6−t、 
−’7”チルフェノール)、4.4’−チオビス(3−
メチル−6−t−ブチルフェノール)、4.4’−ブチ
リデンビス(3−メチル−6−1−ブチルフェノール)
、テトラキス〔メチレン−3−(3’、5−ジ−t−ブ
チル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート)メタ
ン、1,1.3−トリス(2−メチル−4−ヒドロキシ
−5−t−ブチルフェニル)ブタン等のフェノール系化
合物、フェニル−β−ナフチルアミン、N、N’−ジフ
ェニル−p−フェニレンジアミン等のアミン系化合物、
トリス(ノニルフェニル)ホスファイト、トリフェニル
フォスファイト、トリオクタデシルフォスファイト、ジ
フェニルイソデシルフォスファイト等のリン系化合物、
ジラウリルチオジプロピオネート、シミリスチルチオジ
プロピオネート、ジステアリルチオジプロピオネート等
の硫黄化合物などが挙げられる。
使用される紫外線吸収剤としては、例えば、フェニルサ
リシレート、p−t−7’チルフエニルサリシレート等
のサリチル酸系紫外線吸収剤、2゜4−ジヒドロキシベ
ンゾフェノン、2−ヒドロキシ−4−メトキシベンゾフ
ェノン等のベンゾフェノン系紫外線吸収剤、l−(2’
 −ヒドロキシ5′−メチルフェニル)ベンゾトリアゾ
ール、2−(2′−ヒドロキシ−5′−t−ブチルフェ
ニル)ベンゾトリアゾール等のベンゾトリアゾール系紫
外線吸収剤等が挙げられる。
使用される帯電防止剤としては、例えば、ポリオキシエ
チレンアルキルアミン、ポリオキシエチレンアルキルア
ミド等の非イオン系帯電防止剤、アルキルスルホネート
、アルキルベンゼンスルホネート等のアニオン系帯電防
止剤、第4級アンモニウムクロライド、第4級アンモニ
ウムサルフェート等のカチオン系帯電防止剤、アルキル
ベタイン型、アルキルイミダシリン型等の両性帯電防止
剤等が挙げられる。
使用される滑剤としては、脂肪族系炭化水素、高級脂肪
族系アルコール、脂肪酸アマイド系、金属石鹸系、脂肪
酸エステル系などの滑剤が挙げられる。
さらに、本発明の芳香族ポリエステルには、成形に際し
、さらに他の成分、例えば着色や透明性の劣化を防止す
るための亜リン酸エステル類、メルトインデックス値を
増大させるための可塑剤等を添加することができる。
また、可塑剤としては、例えば2−エチルへキシルフタ
レート、n〜ブチルフタレート、イソデシルフタレート
、トリデシルフタレート、ヘプチルフタレート、ノニル
フタレート等のアルキルフタレート類、2−エチルへキ
シルアジペート、2−エチルへキシルセバケート等の二
塩基酸のアルキルエステル類、リン酸トリブチル、リン
酸トリオクチル、リン酸トリクレジル、リン酸トリフェ
ニル等のリン酸アルキルエステル類、エポキシ化オレイ
ン酸オクチル、エポキシ化オレイン酸ブチル等のエポキ
シ化脂肪酸エステル類、あるいはポリエステル形可塑剤
、塩素化脂肪酸エステル類などが挙げられる。
また、本発明の光デイスク基板特性を損なわない範囲で
、他の樹脂を配合した樹脂を用いて成形してもよい。
本発明の光デイスク基板は前記したポリエステル樹脂を
射出成形することにより得ることができる。
〔実施例) 次に実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本
発明はこれらの例によってなんら限定されるものではな
い。
実施例1 反応容器中で水8i!、に対して水酸化カリウム448
gを溶解し、この水溶液に2.2−ビス(3−フェニル
−4−ヒドロキシフェニル)プロパン760gと、5重
量%濃度のトリエチルアミン水溶液200IIfl及び
P−ターシャリブチルフェノール1gを加えて溶解させ
、液温を10℃に冷却した。一方、イソフタル酸クロリ
ド406gを塩化メチレン3.!に溶解し、これを10
°Cに冷却した。
次に、前者の水溶液中に攪拌下、後者の塩化メチレン溶
液を速やかに添加し、攪拌しながら50分間反応を行っ
た。
反応終了後、攪拌をやめて静置分離し、有機層を取り出
して、これを希塩酸で中和し、さらに水洗を5回繰り返
した。このようにして得られた重合体の塩化メチレン溶
液をメタノール中に注入して重合体を沈澱させて回収し
た。この重合体を80°Cにおいて24時間乾燥した。
得られた重合体は赤外線吸収スペクトル分析により、次
の繰り返し単位からなるものと認められた。
次いでこのポリエステル樹脂につき、塩化メチレンを溶
媒とする濃度0.5g/aの溶液の20°Cにおける還
元粘度[ηsp/c]を測定(以下の実施例も同条件で
測定)したところ、0.45a/gであった。またこの
ポリエステル樹脂のガラス転移温度は153°Cであっ
た。
次に、このポリエステル樹脂の熔融時の光弾性係数を測
定した結果、4,100XIO−”c己/dyneであ
った。この溶融時の光弾性係数は、樹脂をキャビログラ
フで溶融紡糸して巻き取り、その際、糸にかかる応力を
横軸にとり、その糸の複屈折をたて軸にとったときの直
線の傾きを指すものであり、この値は、射出成形品に現
れる複屈折の大きさにおおきな影響を与える樹脂固有の
定数である。
さらに、このポリエステル樹脂を、360°Cにおいて
射出成形して得た直径130Illlの光デイスク基板
についてその中心より60auo位置の4点で複屈折を
測定した。この結果、複屈折の平均値の値は20nm(
ダブルパルス)であった。これらの結果をまとめて第1
表に示す。
実施例2 イソフタル酸クロリドに代えてテレフタル酸クロリド2
03gとイソフタル酸クロリド203gとの混合物を用
いたほかは、実施例1と同様の操作をして、下記繰り返
し単位を下記の割合で含有操作をして、下記繰り返し単
位を有する重合体をこのポリエステルの還元粘度〔ηs
p/c)は0.48cU/gであった。また、このもの
の耐熱性、光学的性質については、第1表に示すとおり
であっ実施例3 22−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)
プロパンに代えて、1,1−ビス(3フェニル−4−ヒ
ドロキシフェニル)シクロヘキサン840gを用いたほ
かは実施例1と同様のこのポリエステルの還元粘度〔η
sp/clは0.46dl/gであった。また、このも
のの耐熱性、光学的性質については、第1表に示すとお
りであった。
実施例4 2.2−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル
)プロパンに代えて、■−フェニルー1゜1−ビス(3
−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)エタンを884
g用いたほかは実施例1と同様の操作をして、下記繰り
返し単位を有する重合体を得た。
学的性質については、第1表に示すとおりであった。
二のポリエステルの還元粘度〔ηsp/c)は0.5d
i/gであった。また、このものの耐熱性、光学的性質
については、第1表に示すとおりであった。
実施例5 2.2−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル
)プロパンに代えて、ビス(3−フェニル−4−ヒドロ
キシフェニル)スルホンを804g用いたほかは実施例
1と同様の操作をして、下記繰り返し単位を有する重合
体を得た。
比較例1 2.2−ビス(3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル
)プロパンに代えて、2,2−ビス(4−ヒドロキシフ
ェニル)プロパン456gを用いた以外は実施例1と同
様の操作をして、下記繰り返し単位を有する重合体を得
た。
このポリエステルの還元粘度〔ηsp/c)は0.57
d/gであった。また、このものの耐熱性、光学的性質
については、第1表に示すとおりであった。
このポリエステルの還元粘度〔ηsp/c)は0.51
dl/gであった。また、このものの耐熱性、光〔発明
の効果〕 本発明によれば、良好な耐熱性、透明性、耐透湿性及び
機械的強度を有するのみならず、光学異方性の低減した
複屈折の小さい光学特性に優れた光デイスク基板が得ら
れる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、次式 ▲数式、化学式、表等があります▼ 〔式中、Xは単結合、−O−、−S−、−SO_2−、
    ▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、
    表等があります▼又は▲数式、化学式、表等があります
    ▼であり (ただし、nは2〜10、pは4〜10の整数であり、
    R^2及びR^3はそれぞれ水素原子、炭素数1〜6の
    アルキル基又はフェニル基を示す。)、R^1は水素原
    子、ハロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基又はフェ
    ニル基であり、mは1〜4の整数を示す。〕 で表される繰り返し単位を有するポリエステル樹脂を射
    出成形してなる光ディスク基板。
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