JPH0295876U - - Google Patents

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JPH0295876U
JPH0295876U JP358589U JP358589U JPH0295876U JP H0295876 U JPH0295876 U JP H0295876U JP 358589 U JP358589 U JP 358589U JP 358589 U JP358589 U JP 358589U JP H0295876 U JPH0295876 U JP H0295876U
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【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図はこの考案の実施例を示すも
ので、第1図は一実施例の回路構成を示すブロツ
ク図、第2図は他の実施例の回路構成を示すブロ
ツク図、第3図はLSI内の2つのブロツクが接
続した状態を示す図、第4図は第3図のテスト回
路を含む回路構成を示すブロツク図、第5図は第
4図の具体的な回路構成を示すブロツク図である
。 11,21……Aブロツク、11a,21a…
…A処理回路、11b,21b……インバータ(
出力回路)、12,22……Bブロツク、12a
,22b……B処理回路、12b,22b……イ
ンバータ(入力回路)、13,25……出力切換
テスト回路、14,24……バス切換回路、15
,23……入力切換テスト回路、26……タイミ
ング回路。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 第1の回路ブロツク内にあつて第2の回路ブロ
    ツクの入力テストを行なう入力切換テスト回路と
    、 第2の回路ブロツク内にあつて第1の回路ブロ
    ツクの出力テストを行なう出力切換テスト回路と
    、 上記第1の回路ブロツクの出力を上記第2の回
    路ブロツクに入力するよう接続する接続手段と、 上記第1の回路ブロツクの出力テスト時に上記
    出力切換テスト回路からの出力を検出すると共に
    、第2の回路ブロツクの入力テスト時に上記入力
    切換テスト回路へテスト信号を入力する制御手段
    とを具備したことを特徴とする論理試験回路。
JP358589U 1989-01-17 1989-01-17 Pending JPH0295876U (ja)

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JP358589U JPH0295876U (ja) 1989-01-17 1989-01-17

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JPH0295876U true JPH0295876U (ja) 1990-07-31

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ID=31205352

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6463562B1 (en) 1999-04-06 2002-10-08 Nec Corporation Semiconductor device including macros and its testing method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6463562B1 (en) 1999-04-06 2002-10-08 Nec Corporation Semiconductor device including macros and its testing method

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