JPH0295876U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0295876U JPH0295876U JP358589U JP358589U JPH0295876U JP H0295876 U JPH0295876 U JP H0295876U JP 358589 U JP358589 U JP 358589U JP 358589 U JP358589 U JP 358589U JP H0295876 U JPH0295876 U JP H0295876U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- test
- circuit block
- output
- input
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第1図及び第2図はこの考案の実施例を示すも
ので、第1図は一実施例の回路構成を示すブロツ
ク図、第2図は他の実施例の回路構成を示すブロ
ツク図、第3図はLSI内の2つのブロツクが接
続した状態を示す図、第4図は第3図のテスト回
路を含む回路構成を示すブロツク図、第5図は第
4図の具体的な回路構成を示すブロツク図である
。 11,21……Aブロツク、11a,21a…
…A処理回路、11b,21b……インバータ(
出力回路)、12,22……Bブロツク、12a
,22b……B処理回路、12b,22b……イ
ンバータ(入力回路)、13,25……出力切換
テスト回路、14,24……バス切換回路、15
,23……入力切換テスト回路、26……タイミ
ング回路。
ので、第1図は一実施例の回路構成を示すブロツ
ク図、第2図は他の実施例の回路構成を示すブロ
ツク図、第3図はLSI内の2つのブロツクが接
続した状態を示す図、第4図は第3図のテスト回
路を含む回路構成を示すブロツク図、第5図は第
4図の具体的な回路構成を示すブロツク図である
。 11,21……Aブロツク、11a,21a…
…A処理回路、11b,21b……インバータ(
出力回路)、12,22……Bブロツク、12a
,22b……B処理回路、12b,22b……イ
ンバータ(入力回路)、13,25……出力切換
テスト回路、14,24……バス切換回路、15
,23……入力切換テスト回路、26……タイミ
ング回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 第1の回路ブロツク内にあつて第2の回路ブロ
ツクの入力テストを行なう入力切換テスト回路と
、 第2の回路ブロツク内にあつて第1の回路ブロ
ツクの出力テストを行なう出力切換テスト回路と
、 上記第1の回路ブロツクの出力を上記第2の回
路ブロツクに入力するよう接続する接続手段と、 上記第1の回路ブロツクの出力テスト時に上記
出力切換テスト回路からの出力を検出すると共に
、第2の回路ブロツクの入力テスト時に上記入力
切換テスト回路へテスト信号を入力する制御手段
とを具備したことを特徴とする論理試験回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP358589U JPH0295876U (ja) | 1989-01-17 | 1989-01-17 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP358589U JPH0295876U (ja) | 1989-01-17 | 1989-01-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0295876U true JPH0295876U (ja) | 1990-07-31 |
Family
ID=31205352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP358589U Pending JPH0295876U (ja) | 1989-01-17 | 1989-01-17 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0295876U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6463562B1 (en) | 1999-04-06 | 2002-10-08 | Nec Corporation | Semiconductor device including macros and its testing method |
-
1989
- 1989-01-17 JP JP358589U patent/JPH0295876U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6463562B1 (en) | 1999-04-06 | 2002-10-08 | Nec Corporation | Semiconductor device including macros and its testing method |