JPH0291831A - 光再生ピックアップ - Google Patents
光再生ピックアップInfo
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- JPH0291831A JPH0291831A JP63243340A JP24334088A JPH0291831A JP H0291831 A JPH0291831 A JP H0291831A JP 63243340 A JP63243340 A JP 63243340A JP 24334088 A JP24334088 A JP 24334088A JP H0291831 A JPH0291831 A JP H0291831A
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Landscapes
- Optical Integrated Circuits (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高密度光磁気記録媒体から信号を再生する光
再生ピックアップに関する。
再生ピックアップに関する。
本発明は、高密度光磁気記録媒体から信号を再生する光
再生ピックアンプにおいて、記録媒体からの出射光を分
岐型光導波路により案内して記録媒体への入射光の偏光
面に対して第1の傾斜面を有する第1のモードフィルタ
ー及び第2の傾斜面を有する第2のモードフィルターを
介して夫々第1の光検出器及び第2の光検出器に入力さ
せ、この第1の光検出器と第2の光検出器の出力を差動
で検出するように構成することにより、光再生ピックア
ップの軽量スライダ上への形成を可能として高速アクセ
ス、狭トランク化を図ると共に、高S/N比で再生信号
を検出できるようにしたものである。
再生ピックアンプにおいて、記録媒体からの出射光を分
岐型光導波路により案内して記録媒体への入射光の偏光
面に対して第1の傾斜面を有する第1のモードフィルタ
ー及び第2の傾斜面を有する第2のモードフィルターを
介して夫々第1の光検出器及び第2の光検出器に入力さ
せ、この第1の光検出器と第2の光検出器の出力を差動
で検出するように構成することにより、光再生ピックア
ップの軽量スライダ上への形成を可能として高速アクセ
ス、狭トランク化を図ると共に、高S/N比で再生信号
を検出できるようにしたものである。
第26図は従来の光磁気ディスク用光再生ピンクアップ
の例を示す。同図において、(51)は記録媒体である
光磁気ディスク、(52)はレーザ光源を示す。レーザ
光源(52)からの光ビームはダレイティング(53)
、レンズ系(54)、偏光子(55)ミビームスプリッ
タ(56)及び対物レンズ(57)を経て光磁気ディス
ク(51)上に集光される。光磁気ディスク(51)を
反射した戻りの光ビームはビームスプリッタ(56)で
90°方向に反射され、172波長板(58)を経て偏
光ビームスプリッタ(59)とフォトダイオード(60
)、 (61) により差動検出されて再生信号が得
られる。なお(62)および(63)はシリンドリカル
・レンズである。
の例を示す。同図において、(51)は記録媒体である
光磁気ディスク、(52)はレーザ光源を示す。レーザ
光源(52)からの光ビームはダレイティング(53)
、レンズ系(54)、偏光子(55)ミビームスプリッ
タ(56)及び対物レンズ(57)を経て光磁気ディス
ク(51)上に集光される。光磁気ディスク(51)を
反射した戻りの光ビームはビームスプリッタ(56)で
90°方向に反射され、172波長板(58)を経て偏
光ビームスプリッタ(59)とフォトダイオード(60
)、 (61) により差動検出されて再生信号が得
られる。なお(62)および(63)はシリンドリカル
・レンズである。
最近、オーバライ)(1ビームの重ね書き)が可能な様
に第27図に示すように基板(71)、記録層(72)
及び保護層(73)からなる光磁気ディスク(51)の
一方の面に記録用レーザ光(74)を照射し、その照射
面と反対側から磁気ディスク用ヘッドと同様なスライダ
形状の磁気ヘッド(75)を配し、記録したい信号を磁
気ヘッド(75)に入力し、磁界変調方式で記録する光
磁気記録方式も出現している。再生は第26図の光再生
ピックアップで説明したようにレーザ光で行う。
に第27図に示すように基板(71)、記録層(72)
及び保護層(73)からなる光磁気ディスク(51)の
一方の面に記録用レーザ光(74)を照射し、その照射
面と反対側から磁気ディスク用ヘッドと同様なスライダ
形状の磁気ヘッド(75)を配し、記録したい信号を磁
気ヘッド(75)に入力し、磁界変調方式で記録する光
磁気記録方式も出現している。再生は第26図の光再生
ピックアップで説明したようにレーザ光で行う。
また、記録再生用の光ヘッドとして、分岐型光道波路を
用い、1方の分岐導波路の端部に光源となる半導体レー
ザを配し、他方の分岐導波路の端部に光検出器を配し、
共通導波路の先端を記録媒体に対向させ、半導体レーザ
からの射出光を1方の分岐導波路より共通導波路を通し
て記録媒体に入射させ、記録媒体からの反射光を共通導
波路の先端から他方の分岐導波路に導いて光検出器に人
。
用い、1方の分岐導波路の端部に光源となる半導体レー
ザを配し、他方の分岐導波路の端部に光検出器を配し、
共通導波路の先端を記録媒体に対向させ、半導体レーザ
からの射出光を1方の分岐導波路より共通導波路を通し
て記録媒体に入射させ、記録媒体からの反射光を共通導
波路の先端から他方の分岐導波路に導いて光検出器に人
。
射せしめ、再生信号を得るように構成したものが提案さ
れている(特開昭60−59547号、特開昭60−5
9548号、特開昭61−66238号参照)。さらに
同一基板上に半導体レーザとその両側に光検出器を一体
に形成し、半導体レーザの射出光が記録媒体に入射され
、その反射光を両側の光検出器で受光するようにした光
ヘッドも知られている(特開昭62−192032号参
照) 〔発明が解決しようとする課題〕 ところで、第27図の光ヘツド機構とスライダ形状の磁
気ヘッド(75)を用いた第26図に示す如き磁気変調
方式の光磁気記録方式においては、レーザ集光用の対物
レンズ(57)と磁気ヘッド(75)を同時に駆動する
必要があり、機構が複雑になり高速アクセスが困難であ
る。
れている(特開昭60−59547号、特開昭60−5
9548号、特開昭61−66238号参照)。さらに
同一基板上に半導体レーザとその両側に光検出器を一体
に形成し、半導体レーザの射出光が記録媒体に入射され
、その反射光を両側の光検出器で受光するようにした光
ヘッドも知られている(特開昭62−192032号参
照) 〔発明が解決しようとする課題〕 ところで、第27図の光ヘツド機構とスライダ形状の磁
気ヘッド(75)を用いた第26図に示す如き磁気変調
方式の光磁気記録方式においては、レーザ集光用の対物
レンズ(57)と磁気ヘッド(75)を同時に駆動する
必要があり、機構が複雑になり高速アクセスが困難であ
る。
また、今日の薄rA磁気ヘッドを用いた磁気ディスクシ
ステムでは軽量スライダ上に薄膜形成技術、フォトリン
グラフィ技術等を用いてヘッドを作成するた狛に軽量と
なり、高速アクセス(20ms)を実現している。しか
し、トラック密度は主に再生時の信号レベルの関係から
30007PI が限度である。
ステムでは軽量スライダ上に薄膜形成技術、フォトリン
グラフィ技術等を用いてヘッドを作成するた狛に軽量と
なり、高速アクセス(20ms)を実現している。しか
し、トラック密度は主に再生時の信号レベルの関係から
30007PI が限度である。
一方、本出願人は、先に特願昭63−99380号にお
いて、光源である半導体レーザからの光を案内して記録
媒体へ入射せしめる第1の先導波路と、記録媒体からの
出射光を案内して光検出器へ導く第2の先導波路を有し
、第1及び第2の先導波路に夫々絶縁層を介して^β層
を被着して成る金属クラッド型モードフィルターによる
偏光子及び検出子を設けて構成し、軽量スライダー上へ
の形成、高速アクセス、狭トランク化を可能にした光再
生ピックアップを提案した。
いて、光源である半導体レーザからの光を案内して記録
媒体へ入射せしめる第1の先導波路と、記録媒体からの
出射光を案内して光検出器へ導く第2の先導波路を有し
、第1及び第2の先導波路に夫々絶縁層を介して^β層
を被着して成る金属クラッド型モードフィルターによる
偏光子及び検出子を設けて構成し、軽量スライダー上へ
の形成、高速アクセス、狭トランク化を可能にした光再
生ピックアップを提案した。
本発明は、さらに改良して軽量スライダー上への形成、
高速アクセス、狭トラツク化を可能にすると共に、差動
構成を可能ならしめて高S / N比で再生信号を検出
することができる光再生ピックアップを提供するもので
ある。
高速アクセス、狭トラツク化を可能にすると共に、差動
構成を可能ならしめて高S / N比で再生信号を検出
することができる光再生ピックアップを提供するもので
ある。
本発明の光再生ピックアップは、光源(18)かろの光
を偏光子(5)を有する先導波路(21A) を通し
て記録媒体(11)に入射し、記録媒体り11)からの
出射光を分岐型光導波路(21B) により案内し、
記録媒体(11)への入射光の偏光面に対して所定の第
1の傾斜面を有する第1のモードフィルター(24)を
介して第1の光検出器(19)に入力すると共に、記録
媒体(11)への入射光の偏光面に対して所定の第2の
傾斜面を有する第2のモードフィルター(25)を介し
て第2の光検出器(20)に入力し、第1及び第2のモ
ードフィルター(24>、 (25> において出射
光を共通に受けて透過虫を互いに逆方向に変化し、第1
の光検出器(19)と上記第2の光検出器(20)の出
力を差動で検出するように構成する。
を偏光子(5)を有する先導波路(21A) を通し
て記録媒体(11)に入射し、記録媒体り11)からの
出射光を分岐型光導波路(21B) により案内し、
記録媒体(11)への入射光の偏光面に対して所定の第
1の傾斜面を有する第1のモードフィルター(24)を
介して第1の光検出器(19)に入力すると共に、記録
媒体(11)への入射光の偏光面に対して所定の第2の
傾斜面を有する第2のモードフィルター(25)を介し
て第2の光検出器(20)に入力し、第1及び第2のモ
ードフィルター(24>、 (25> において出射
光を共通に受けて透過虫を互いに逆方向に変化し、第1
の光検出器(19)と上記第2の光検出器(20)の出
力を差動で検出するように構成する。
上述の本発明の構成によれば、光源(18)からの射出
光は、偏光子(23)を介して光導波路(21A)
を通り、記録媒体(11)に直接入射される。次いで記
録媒体(11)で反射した出射光は分岐型導波路の夫々
の先導波路(21B、)、 (21B2) に案内さ
れる。一方の先導波路(21B、)に案内された光は、
第1の検光子(24)を介して第1の検出器(19)に
入力して第1の再生信号(Δ3.) に変換され、他
方の先導波路(21B2)に案内された光は、第2の検
光子(25)を介して第2の検出器(20)に入力して
第2の再生信号(ΔS2)に変換される。それぞれ第1
及び第2の再生信号(ΔS+) 及び(ΔS2) は
、さらに、差動アンプ(35)によって同相成分が除去
され、信号成分が2倍に変換される。従って、直流成分
に伴う雑音がなくなり、高S / N比で再生信号を検
出することができる。
光は、偏光子(23)を介して光導波路(21A)
を通り、記録媒体(11)に直接入射される。次いで記
録媒体(11)で反射した出射光は分岐型導波路の夫々
の先導波路(21B、)、 (21B2) に案内さ
れる。一方の先導波路(21B、)に案内された光は、
第1の検光子(24)を介して第1の検出器(19)に
入力して第1の再生信号(Δ3.) に変換され、他
方の先導波路(21B2)に案内された光は、第2の検
光子(25)を介して第2の検出器(20)に入力して
第2の再生信号(ΔS2)に変換される。それぞれ第1
及び第2の再生信号(ΔS+) 及び(ΔS2) は
、さらに、差動アンプ(35)によって同相成分が除去
され、信号成分が2倍に変換される。従って、直流成分
に伴う雑音がなくなり、高S / N比で再生信号を検
出することができる。
また、第1の検光子となる第1のモードフィルタ(24
)を記録媒体への入射光の偏光面に対して所定角度α、
とし、第2の検光子となる第2のモードフィルタ(25
)を記録媒体への入射光の偏光面に対して所定角度α2
として偏光子側を傾ける必要がなく、光源となるレーザ
ダイオード(18)の活性層を基板面と平行にすること
が可能となり、レーザダイオード(18)とのハイブリ
ット化が容易になる。
)を記録媒体への入射光の偏光面に対して所定角度α、
とし、第2の検光子となる第2のモードフィルタ(25
)を記録媒体への入射光の偏光面に対して所定角度α2
として偏光子側を傾ける必要がなく、光源となるレーザ
ダイオード(18)の活性層を基板面と平行にすること
が可能となり、レーザダイオード(18)とのハイブリ
ット化が容易になる。
そして、上述の本発明の光再生ピックアップは、従来の
ような大きなレンズ系に変えて光導波路を用い、また側
光子、検光子をモードフィルタを用いて構成するので、
軽量スライダ上への形成が可能となる。
ような大きなレンズ系に変えて光導波路を用い、また側
光子、検光子をモードフィルタを用いて構成するので、
軽量スライダ上への形成が可能となる。
先ず、本発明の理解を容易にするために、第20図乃至
第25図を用いて偏光子、検光子となるモードフィルタ
ーの異種の組合せによる光出力特性を説明する。第20
図において、(1)はY型分岐光導彼路、(2)は第1
の分岐先導波路(19)の1端部に配された光源となる
半導体レーザダイオード、(3)は第2分岐光導波路(
1b)の1端部に配されたフォトダイオードよりなる光
検出器、(4)は分岐先導波路(1)の他端に対向した
光磁気ディスクを示す。
第25図を用いて偏光子、検光子となるモードフィルタ
ーの異種の組合せによる光出力特性を説明する。第20
図において、(1)はY型分岐光導彼路、(2)は第1
の分岐先導波路(19)の1端部に配された光源となる
半導体レーザダイオード、(3)は第2分岐光導波路(
1b)の1端部に配されたフォトダイオードよりなる光
検出器、(4)は分岐先導波路(1)の他端に対向した
光磁気ディスクを示す。
先導波路(1)は例えばイオン交換によるガラス導波路
、′「1拡散LiNbO3導波路等にて形成される。
、′「1拡散LiNbO3導波路等にて形成される。
レーザダイオード(2)からの光は第1分岐光導波路(
1a)にガイドされ偏光子(5)を通過して光磁気ディ
スク(4)の間に入射され1、之よりの反射光(所謂出
射光)が第2分枝光導波路(1b)にガイドされ、検光
子を通過して光検出器(3)に入り、之より出力される
。
1a)にガイドされ偏光子(5)を通過して光磁気ディ
スク(4)の間に入射され1、之よりの反射光(所謂出
射光)が第2分枝光導波路(1b)にガイドされ、検光
子を通過して光検出器(3)に入り、之より出力される
。
ここで、第21図に示すように先導波路(1)上にSi
n、等のバッファ層(7)を介してA1層(8)を被着
形成して成るへβクラッド型モードフィルタと、第22
図に示されるように光導波路(1)上にバッファ層(9
)を介してアモルファスシリコン層(10)を被着形成
して成る。アモルファスS1クラツド型モードフイルタ
をいろいろな組合せにおいて偏光子(5)及び検光子(
6)に用いた場合を考える。
n、等のバッファ層(7)を介してA1層(8)を被着
形成して成るへβクラッド型モードフィルタと、第22
図に示されるように光導波路(1)上にバッファ層(9
)を介してアモルファスシリコン層(10)を被着形成
して成る。アモルファスS1クラツド型モードフイルタ
をいろいろな組合せにおいて偏光子(5)及び検光子(
6)に用いた場合を考える。
尚、Alクラッド層モードフィルタはA1層(8)に平
行な方向の電場成分を透過する即ちTEモード透過のモ
ードフィルタであり、アモルファスSiクラッド型はア
モルファスシリコン層(10)に垂直な方向の電場成分
を透過する即ちTMモード透過のモードフィルタである
。
行な方向の電場成分を透過する即ちTEモード透過のモ
ードフィルタであり、アモルファスSiクラッド型はア
モルファスシリコン層(10)に垂直な方向の電場成分
を透過する即ちTMモード透過のモードフィルタである
。
今、第23図において、偏光子(5)として八でクラッ
ド型モードフィルタを用い、検光子(6)としてへlク
ラッド型モードフィルタを用いた構成を考えると、偏光
子と検光子の間の角度αを変化したときの光検出器(3
)における光出力は第25図の曲線Cに示すようにco
s’αで変化する。
ド型モードフィルタを用い、検光子(6)としてへlク
ラッド型モードフィルタを用いた構成を考えると、偏光
子と検光子の間の角度αを変化したときの光検出器(3
)における光出力は第25図の曲線Cに示すようにco
s’αで変化する。
但し、レーザダイオード(2)からの出射光が活性層に
平行な方向に偏波面をもつ直線偏光であるので、レーザ
ダイオード(2)の活性層に対応して偏光子(5)のへ
βクラッド型モードフィルタをA1層が水平となるよう
に構成して、之を基準に検光子(6)側のモードフィル
タの角度αを変化させるようにした。
平行な方向に偏波面をもつ直線偏光であるので、レーザ
ダイオード(2)の活性層に対応して偏光子(5)のへ
βクラッド型モードフィルタをA1層が水平となるよう
に構成して、之を基準に検光子(6)側のモードフィル
タの角度αを変化させるようにした。
又、第24図に示すように偏光子(5)としてAfクラ
ッド型モードフィルタを用い、検光子(6)としてアモ
ルファスSiクラッド型モードフィルタを用いた構成を
考えると、光検出器(3)における光出力は第25図の
曲線C2に示すようにsin”αで変化する。
ッド型モードフィルタを用い、検光子(6)としてアモ
ルファスSiクラッド型モードフィルタを用いた構成を
考えると、光検出器(3)における光出力は第25図の
曲線C2に示すようにsin”αで変化する。
実用的に良好なS/N比を得るためには角αは最大角度
の45°よりも小さい方が良いことが知られている。
の45°よりも小さい方が良いことが知られている。
Alクラッド型モードフィルタだけを用いた場合(第2
3図参照)、第25図の曲線C1で明らかなようにα<
45°ではαの変化、つまりカー回転角の変化がないと
きでも直流的な一定の光出力が出てくる。この直流成分
は光再生信号の検出時、雑音となってあられれるため、
S/N比の低下につながる。之に対し、Alクラッド型
モードフィルタとアモルファスS1クラツド型モードフ
イルタの組合せの場合(第24図参照) 、第25図の
曲線C2で明らかなようにα<45°では直流成分は小
さく、S/N比の良い再生信号の検出が可能となる。
3図参照)、第25図の曲線C1で明らかなようにα<
45°ではαの変化、つまりカー回転角の変化がないと
きでも直流的な一定の光出力が出てくる。この直流成分
は光再生信号の検出時、雑音となってあられれるため、
S/N比の低下につながる。之に対し、Alクラッド型
モードフィルタとアモルファスS1クラツド型モードフ
イルタの組合せの場合(第24図参照) 、第25図の
曲線C2で明らかなようにα<45°では直流成分は小
さく、S/N比の良い再生信号の検出が可能となる。
一方、この光出力特性CI、C2を利用して検光子を2
つ設けると共に之に対応して光検出器も2つ設けること
により、差動検出を可能にする。
つ設けると共に之に対応して光検出器も2つ設けること
により、差動検出を可能にする。
即ち、2つの検光子としてA1クラッド型モードフィル
タ (TEモード)とアモルファスSiクラッド型モー
ドフィルタ(TMモード)の組合せ、AAクラッド型モ
ードフィルタ(TEモード)と^βクラッド型モードフ
ィルタ(TEモード)の組合せ、アモルファスS1クラ
ツド型モードフイルタ(TMモード)とアモルファスS
iクラッド型モードフィルタ(TMモード)の組合せを
夫々用いることができる。
タ (TEモード)とアモルファスSiクラッド型モー
ドフィルタ(TMモード)の組合せ、AAクラッド型モ
ードフィルタ(TEモード)と^βクラッド型モードフ
ィルタ(TEモード)の組合せ、アモルファスS1クラ
ツド型モードフイルタ(TMモード)とアモルファスS
iクラッド型モードフィルタ(TMモード)の組合せを
夫々用いることができる。
各組合せでの2つのモードフィルタの夫々の角度α1.
α2の好ましい関係を下記衣に示す。
α2の好ましい関係を下記衣に示す。
この場合、光磁気ディスクでのカー回転角度(±θ)の
変化に対して一方の光検出器から光出力が上昇(又は下
降)したとき、他方の光検出器からの光出力が下降(又
は上昇)する関係に選ばれる。
変化に対して一方の光検出器から光出力が上昇(又は下
降)したとき、他方の光検出器からの光出力が下降(又
は上昇)する関係に選ばれる。
上記表の■及び■、■の角度関係では同相成分である直
流成分が除去され信号成分としてシングルエンド構成の
2倍の出力が得られる。
流成分が除去され信号成分としてシングルエンド構成の
2倍の出力が得られる。
又、表の■及び■の角度関係では直流成分は残るが信号
成分として2倍の出力が得られる。
成分として2倍の出力が得られる。
本発明は上述の考えに基づくものであり、以下に実施例
を説明する。
を説明する。
第1図乃至第194図は本実施例に係る光再生ピックア
ップの一例である。
ップの一例である。
第1図において、(11)は記録媒体例えば高密度光磁
気ディスク、(12)はその記録トラック、(13)は
軽量スライダであり、その端面(13A> に上記光
再生ピックアップ(A)が形成される。
気ディスク、(12)はその記録トラック、(13)は
軽量スライダであり、その端面(13A> に上記光
再生ピックアップ(A)が形成される。
光再生ピックアップ(A)は、第2図に示すように、基
板(14)上に光源となる半導体レーザダイオード(例
えば、GaAs、 P N接合レーザダイオード)
(18)と例えばPINフォトダイオード又はアバラン
シェフォトダイオード等よりなる第1及び第2の光検出
器(19)及び(20)と、全体的に樹枝状に形成され
た分岐型先導波路(21)が設けられて成る。この先導
波路(21)は一端(21a、)がレーザダイオード(
18)に対接又は対向し、他端(21a2)が光磁気デ
ィスク(11)に対向し、レーザダイオード(18)か
らの射出光を光磁気ディスク(11)の面に直接入射せ
しめる第1の先導波路(21A> と、この第1の先
導波路(21A) の他端(2ia2)に近い位置よ
り分岐され、第1及び第2の光検出器(19)及び(2
0〉側に光磁気ディスク(11〉面での反射光を案内す
る第2の先導波路(21B) を有し、この第2の光
導波路(21B> がさらに分岐されて導波路(21
B) を有し、この第2の先導波路(21B) が
さらに分岐されて夫々の光導波路(21B、)及び(2
1B2)の端部(21b、)及び(21b、)に夫々第
1及び第2の光検出器(19)及び(20)が対向して
配される。
板(14)上に光源となる半導体レーザダイオード(例
えば、GaAs、 P N接合レーザダイオード)
(18)と例えばPINフォトダイオード又はアバラン
シェフォトダイオード等よりなる第1及び第2の光検出
器(19)及び(20)と、全体的に樹枝状に形成され
た分岐型先導波路(21)が設けられて成る。この先導
波路(21)は一端(21a、)がレーザダイオード(
18)に対接又は対向し、他端(21a2)が光磁気デ
ィスク(11)に対向し、レーザダイオード(18)か
らの射出光を光磁気ディスク(11)の面に直接入射せ
しめる第1の先導波路(21A> と、この第1の先
導波路(21A) の他端(2ia2)に近い位置よ
り分岐され、第1及び第2の光検出器(19)及び(2
0〉側に光磁気ディスク(11〉面での反射光を案内す
る第2の先導波路(21B) を有し、この第2の光
導波路(21B> がさらに分岐されて導波路(21
B) を有し、この第2の先導波路(21B) が
さらに分岐されて夫々の光導波路(21B、)及び(2
1B2)の端部(21b、)及び(21b、)に夫々第
1及び第2の光検出器(19)及び(20)が対向して
配される。
レーザダイオード(18)からの射出光は活性層に平行
な偏波面をもつ直接偏光であり、直線偏光を表わす偏光
比は80〜100である。このレーザ光はモード変換な
しに分岐型光導波路(21)に導かれる。
な偏波面をもつ直接偏光であり、直線偏光を表わす偏光
比は80〜100である。このレーザ光はモード変換な
しに分岐型光導波路(21)に導かれる。
分岐型光導波1id(21)は、例えばソーダガラスを
KNOz溶融液中に浸漬し、K°イオンとNa” イ
オン交換によるイオン変換導波路により構成される。
KNOz溶融液中に浸漬し、K°イオンとNa” イ
オン交換によるイオン変換導波路により構成される。
ここでは単一モード、即ち電場分布が先導波路内でガウ
ス分布的になるように先導波路の一端の幅と深さが調整
される。その他、分岐型光導波路(21)は例えばLi
NbL結晶基板にT1を拡散して成るT1拡散L+Nb
C1,導波路より構成することもできる。
ス分布的になるように先導波路の一端の幅と深さが調整
される。その他、分岐型光導波路(21)は例えばLi
NbL結晶基板にT1を拡散して成るT1拡散L+Nb
C1,導波路より構成することもできる。
(22)は熱イオン交換導波路あるいはT1拡散導波路
を作る際のガラス基板あるいはL+NbL結晶基板を示
す。
を作る際のガラス基板あるいはL+NbL結晶基板を示
す。
一方、レーザダイオード(18)は、十分な偏光比を有
する直接偏光であるが再生信号を最大にするために第1
の先導波路(2LA) に偏光子となるモードフィル
タ(23)が設けられ、第2の光導波路(21[1,)
及び(2182)の途上にそれぞれ第1及び第2の検光
子となる第1及び第2のモードフィルタ(24)及び(
25)が設けられる。これらモードフィルタ(23)。
する直接偏光であるが再生信号を最大にするために第1
の先導波路(2LA) に偏光子となるモードフィル
タ(23)が設けられ、第2の光導波路(21[1,)
及び(2182)の途上にそれぞれ第1及び第2の検光
子となる第1及び第2のモードフィルタ(24)及び(
25)が設けられる。これらモードフィルタ(23)。
(24)及び(25)は第3図、第4図及び第5図に示
すように第1の光導波路(21A) 、第2の光導波路
のうち一方の光導波路(21B、)及び他方の先導波路
(21B、)上にそれぞれ例えば5i02等の絶縁層か
ら成るバッファ層(26)、 (27) 及び(28
)を介して例えばAβ等の金属層(29)、 (30)
及び(31)を被着形成して構成する。
すように第1の光導波路(21A) 、第2の光導波路
のうち一方の光導波路(21B、)及び他方の先導波路
(21B、)上にそれぞれ例えば5i02等の絶縁層か
ら成るバッファ層(26)、 (27) 及び(28
)を介して例えばAβ等の金属層(29)、 (30)
及び(31)を被着形成して構成する。
そして第1の検光子となる第1のモードフィルタ(24
)及び第2の検光子となる第1のモードフィルタ(25
)は、偏光子となるモードフィルタ(23)に対してそ
れぞれ所定角度α1.α2を有するように形成されてい
る。尚、偏光子となるモードフィルタ(23)はレーザ
ダイオード責18)の活性層に対応するように基孕面(
fりに対して平行に形成されている。
)及び第2の検光子となる第1のモードフィルタ(25
)は、偏光子となるモードフィルタ(23)に対してそ
れぞれ所定角度α1.α2を有するように形成されてい
る。尚、偏光子となるモードフィルタ(23)はレーザ
ダイオード責18)の活性層に対応するように基孕面(
fりに対して平行に形成されている。
尚、(32)、 (33) 及び(34)は熱イオン
交換導波路に例をとった場合にはソーダガラスのスパッ
ク膜を示す。
交換導波路に例をとった場合にはソーダガラスのスパッ
ク膜を示す。
第1及び第2のモードフィルタ(24)及び(25)の
各傾斜角度α1.α2の関係は前述した表の■、■で示
す角度関係を選ぶことができる。
各傾斜角度α1.α2の関係は前述した表の■、■で示
す角度関係を選ぶことができる。
次に前述の表の■に対応する一例として第1のモードフ
ィルタ(24)の所定角度α1 を135°、第2のモ
ードフィルタ(25)の所定角度α2を45°とした場
合を第6図に基づいて説明する。
ィルタ(24)の所定角度α1 を135°、第2のモ
ードフィルタ(25)の所定角度α2を45°とした場
合を第6図に基づいて説明する。
この場合においては、レーザダイオード(18)からの
射出光が第1の先導波路(21A) に入り、偏光子
となるモードフィルタ(23)を伝搬して光磁気ディス
ク(11)の記録トラック面(2)に入射される。光磁
気ディスク(11)で反射した光の偏光面は入射光の偏
光面に対して光磁気ディスク(11)の記録磁化の方向
く例えば、上向き磁化、下向き磁化)に応じて角十〇、
角−θのカー回転角が生ずる。そして、反射光は夫々第
2の先導波路(21B、)及び(21B2)に案内され
、それぞれ第1の検光子となる第1のモードフィルタ(
24)及び第2の検光子となる第2のモードフィルタ(
25)に入る。
射出光が第1の先導波路(21A) に入り、偏光子
となるモードフィルタ(23)を伝搬して光磁気ディス
ク(11)の記録トラック面(2)に入射される。光磁
気ディスク(11)で反射した光の偏光面は入射光の偏
光面に対して光磁気ディスク(11)の記録磁化の方向
く例えば、上向き磁化、下向き磁化)に応じて角十〇、
角−θのカー回転角が生ずる。そして、反射光は夫々第
2の先導波路(21B、)及び(21B2)に案内され
、それぞれ第1の検光子となる第1のモードフィルタ(
24)及び第2の検光子となる第2のモードフィルタ(
25)に入る。
第1のモードフィルタ(24)は、偏光子となるモード
フィルタ(23)とのなす角がα、=135°であるこ
と及びAβ等から成る金属層り30)はTEモード透過
、TMモード吸収であることから第1のモードフィルタ
(24)透過後の光出力の変化(カー回転角±θでの)
は、cos2(135°±θ)となる。同様にα、=4
5”の第2のモードフィルタ(25)においてはcos
2(45@ ±θ)となる。
フィルタ(23)とのなす角がα、=135°であるこ
と及びAβ等から成る金属層り30)はTEモード透過
、TMモード吸収であることから第1のモードフィルタ
(24)透過後の光出力の変化(カー回転角±θでの)
は、cos2(135°±θ)となる。同様にα、=4
5”の第2のモードフィルタ(25)においてはcos
2(45@ ±θ)となる。
第6図已に記録トラック面(12)の磁化方向の変化に
おけるカー回転角(±θ)の変化を示し、同図Cに第1
及び第2のモードフィルタ(24)及び(25)の傾斜
角α1.α2に関する光出力の変化(cos2カーブC
1)を示すと共に、同図已に同図Cのcos’カーブC
1を基にα、=135° α2=45°におけるカー回
転角(±θ)の変化に伴う第1のモードフィルタ輯4)
及び第2のモードフィルタ(25)での光出力の変化を
第1及び第2の光検出器(19)及び(20)において
電気信号(ΔS+) 及び(ΔS2)に変換した場合の
その変化を示す。この同図りでの変化を見ると、第1の
モードフィルタ(24)と第2のモードフィルタ(25
)の光出力の変化は互いに逆相になっていることがわか
る。
おけるカー回転角(±θ)の変化を示し、同図Cに第1
及び第2のモードフィルタ(24)及び(25)の傾斜
角α1.α2に関する光出力の変化(cos2カーブC
1)を示すと共に、同図已に同図Cのcos’カーブC
1を基にα、=135° α2=45°におけるカー回
転角(±θ)の変化に伴う第1のモードフィルタ輯4)
及び第2のモードフィルタ(25)での光出力の変化を
第1及び第2の光検出器(19)及び(20)において
電気信号(ΔS+) 及び(ΔS2)に変換した場合の
その変化を示す。この同図りでの変化を見ると、第1の
モードフィルタ(24)と第2のモードフィルタ(25
)の光出力の変化は互いに逆相になっていることがわか
る。
そして、それぞれの信号(ΔS+)及び(ΔSt)を差
動アンプ(35)にて差をとると、同図Eで示すように
同相成分である直流成分が除去され、信号成分(ΔS+
)及び(ΔS、)は合成されて2倍の出力信号(Δ2S
) になる。この場合、直流成分が除去されているた
め、検出暗雑音が伴わず、S/N比が向上し確実に情報
(磁化方向)を再生することができる。本例のようにα
1=45° α2=45゜としたときには、最大精度が
得られる。
動アンプ(35)にて差をとると、同図Eで示すように
同相成分である直流成分が除去され、信号成分(ΔS+
)及び(ΔS、)は合成されて2倍の出力信号(Δ2S
) になる。この場合、直流成分が除去されているた
め、検出暗雑音が伴わず、S/N比が向上し確実に情報
(磁化方向)を再生することができる。本例のようにα
1=45° α2=45゜としたときには、最大精度が
得られる。
その他、第6図の構成において、表の■に対応する他側
を第8図に示す。この例ではα1=45°α2=35°
とした場合であり、上側と同様に信号(ΔSl)及び(
ΔS2)を差動アンプ(35)にて差をとると、同相成
分である直流成分が除去され、2倍の出力信号(Δ2S
) が得られる。
を第8図に示す。この例ではα1=45°α2=35°
とした場合であり、上側と同様に信号(ΔSl)及び(
ΔS2)を差動アンプ(35)にて差をとると、同相成
分である直流成分が除去され、2倍の出力信号(Δ2S
) が得られる。
また表の■に対応する例としては第9図に示すように例
えばα1=45°、α2=35°とすることができ、こ
のときには直流成分は多少残るが2倍の出力信号が得ら
れる。
えばα1=45°、α2=35°とすることができ、こ
のときには直流成分は多少残るが2倍の出力信号が得ら
れる。
次に、第7図を用いて第1のモードフィルタ(24)と
してA1層(30)をクラッドしたA1クラッド型モー
ドフィルタを用い、第2のモードフィルタ(25)とし
てアモルファスシリコン層(41)をクラッドしたアモ
ルファスSiクラッド型モードフィルタを用いた第2実
施例を説明する。
してA1層(30)をクラッドしたA1クラッド型モー
ドフィルタを用い、第2のモードフィルタ(25)とし
てアモルファスシリコン層(41)をクラッドしたアモ
ルファスSiクラッド型モードフィルタを用いた第2実
施例を説明する。
尚、偏光子となるモードフィルタ(23)の金属層(2
9)は上記第1実施例と同様WEとした。
9)は上記第1実施例と同様WEとした。
この場合、第1のモードフィルタ(24)はTEモード
透過、1Mモード吸収であり、第2のモードフィルタ(
25)は反対にTMモード透過、TEモード吸収である
。そしてこの第2実施例においては前述の表の■に対応
する一例として第1のモードフィルタ(24)の偏光子
となるモードフィルタ(23)とのなす角α、を45°
、第2のモードフィルタ(25)のモードフィルタ(2
3)とのなす角α2を45゜とした。モードフィルタ(
23)は第1実施例と同様に基準面(Iりに対して平行
になるように設定しである。
透過、1Mモード吸収であり、第2のモードフィルタ(
25)は反対にTMモード透過、TEモード吸収である
。そしてこの第2実施例においては前述の表の■に対応
する一例として第1のモードフィルタ(24)の偏光子
となるモードフィルタ(23)とのなす角α、を45°
、第2のモードフィルタ(25)のモードフィルタ(2
3)とのなす角α2を45゜とした。モードフィルタ(
23)は第1実施例と同様に基準面(Iりに対して平行
になるように設定しである。
また、第1実施例と同様に第7図已に記録トラック(1
2〉の磁化方向の変化におけるカー回転角(±θ)の変
化を示し、同図Cに第1のモードフィルタ(24)の傾
斜角α1 に関する光出力の変化(cos’カーブC3
)及び第2のモードフィルタ(25)の傾斜角度α2に
関する光出力の変化(sin”カーブC2)を示すと共
に、同図りに、同図Cのcos”カーブC3及びsin
”カーブC3を基にα1=45°、α2=45°におけ
るカー回転角(±O)の変化に伴う第1のモードフィル
タ(24)及び第2のモードフィルタ(25)での光出
力の変化を第1及び第2の光検出器(19)及び(20
)において電気信号(ΔS+)及び(ΔS2) に変
換した場合のその変化を示す。
2〉の磁化方向の変化におけるカー回転角(±θ)の変
化を示し、同図Cに第1のモードフィルタ(24)の傾
斜角α1 に関する光出力の変化(cos’カーブC3
)及び第2のモードフィルタ(25)の傾斜角度α2に
関する光出力の変化(sin”カーブC2)を示すと共
に、同図りに、同図Cのcos”カーブC3及びsin
”カーブC3を基にα1=45°、α2=45°におけ
るカー回転角(±O)の変化に伴う第1のモードフィル
タ(24)及び第2のモードフィルタ(25)での光出
力の変化を第1及び第2の光検出器(19)及び(20
)において電気信号(ΔS+)及び(ΔS2) に変
換した場合のその変化を示す。
この変化を見ると、上記第1実施例と同様に第1のモー
ドフィルタ(24)と第2のモードフィルタ(25)の
光出力の変化は互いに逆相になっている。
ドフィルタ(24)と第2のモードフィルタ(25)の
光出力の変化は互いに逆相になっている。
そのため、差動アンプ(35〉にて検出すると、第1実
施例と同様に直流成分が除去され、信号成分が倍加され
るため高S / N比でもって再生信号を検出すること
ができる。
施例と同様に直流成分が除去され、信号成分が倍加され
るため高S / N比でもって再生信号を検出すること
ができる。
その他用7図の構成において表の■に対応する他の例を
第10図に示す。この例ではα+−35゜α2=55”
とした場合であり、差動アンプ(35)で差をとると直
流成分が除去され、2倍の出力信号(Δ2S) が得
られる。また表の■に対応する例を第11図及び第12
図に示す。第11図はα1=α2=135°の場合、第
12図はα1=45°、α2=125゜の場合であり、
いずれも差動アンプ(35)で差をとると直流成分が除
去され、2倍の出力信号(Δ2S)が得られる。
第10図に示す。この例ではα+−35゜α2=55”
とした場合であり、差動アンプ(35)で差をとると直
流成分が除去され、2倍の出力信号(Δ2S) が得
られる。また表の■に対応する例を第11図及び第12
図に示す。第11図はα1=α2=135°の場合、第
12図はα1=45°、α2=125゜の場合であり、
いずれも差動アンプ(35)で差をとると直流成分が除
去され、2倍の出力信号(Δ2S)が得られる。
また、表の■に対応する例を第13図に示し、ここでは
例えばα1−α2−40°としている。この例において
は、差動アンプ(35)で差をとると直流成分が多少残
るが、2倍の出力信′号(Δ2S) が得られる。
例えばα1−α2−40°としている。この例において
は、差動アンプ(35)で差をとると直流成分が多少残
るが、2倍の出力信′号(Δ2S) が得られる。
尚、上述の第1実施例では第1及び第2のモードフィル
タ(24)及び(25)を共にAIクラッド型モードフ
ィルタとする組合せとし、第2実施例では一方例えば第
1のモードフィルタ(24)をAE型モードフィルタと
し他方例えば第2のモードフィルタ(25) ヲアモル
ファスSiクラッド型モードフィルタとする組合せにし
たが、その信実1及び第2のモートフィルタ(24)
l ヒ(25)を共にアモルファスS1クラツド型モー
ドフイルタとする組合せも可能である。この場合、第1
実施例と同じ表の■、■の角度で設定する。第14図〜
第16図にその一例を示す。
タ(24)及び(25)を共にAIクラッド型モードフ
ィルタとする組合せとし、第2実施例では一方例えば第
1のモードフィルタ(24)をAE型モードフィルタと
し他方例えば第2のモードフィルタ(25) ヲアモル
ファスSiクラッド型モードフィルタとする組合せにし
たが、その信実1及び第2のモートフィルタ(24)
l ヒ(25)を共にアモルファスS1クラツド型モー
ドフイルタとする組合せも可能である。この場合、第1
実施例と同じ表の■、■の角度で設定する。第14図〜
第16図にその一例を示す。
上記第2実施例において、第2のモードフィルタ(25
)としてアモルファスシリコン層(41)を被着したア
モルファスSiクラッド型モードフィルタを用いたが、
このアモルファスシリコン層は通常TMモード透過、T
Eモード吸収であるが、層の厚さを変えることによって
その透過モードが変化、即ちTMモード透過又はTEモ
ード透過となり得る(参考文献:TflE TRANS
ACTIONS OF TIIE IBICII:。
)としてアモルファスシリコン層(41)を被着したア
モルファスSiクラッド型モードフィルタを用いたが、
このアモルファスシリコン層は通常TMモード透過、T
Eモード吸収であるが、層の厚さを変えることによって
その透過モードが変化、即ちTMモード透過又はTEモ
ード透過となり得る(参考文献:TflE TRANS
ACTIONS OF TIIE IBICII:。
VOL、[E70. NO,4APRIL 198
7. LETTER<1987 NatlConv
、、 March 26−29) Multilaye
r IIIaveguidePolar+zer II
I+th a−3+:HFtlm C1ad)ので、全
てのモードフィルタ(23)、 (24) 及び(2
5)をアモルファスシリコン層(41)を被着したアモ
ルファスS1クラツド型モードフイルタで構成すること
も可能である。
7. LETTER<1987 NatlConv
、、 March 26−29) Multilaye
r IIIaveguidePolar+zer II
I+th a−3+:HFtlm C1ad)ので、全
てのモードフィルタ(23)、 (24) 及び(2
5)をアモルファスシリコン層(41)を被着したアモ
ルファスS1クラツド型モードフイルタで構成すること
も可能である。
上述の如く、本例によれば、検光子となるモードフィル
タ(24)及び(25)の透過モードが同じ場合、或は
モードフィルタ(24)及び(25)の透過モードが互
いに異なる場合、いずれにおいても第1のモードフィル
タ(24)の傾斜角α、と、第2のモードフィルタ(2
5)の傾斜角α2を選定することにより、光出力の変化
を感度良く検出できると共に、検出時の雑音の原因であ
る直流成分が除かれ、反対に信号成分は2倍となるため
高S/N比で再生信号を検出することができる。
タ(24)及び(25)の透過モードが同じ場合、或は
モードフィルタ(24)及び(25)の透過モードが互
いに異なる場合、いずれにおいても第1のモードフィル
タ(24)の傾斜角α、と、第2のモードフィルタ(2
5)の傾斜角α2を選定することにより、光出力の変化
を感度良く検出できると共に、検出時の雑音の原因であ
る直流成分が除かれ、反対に信号成分は2倍となるため
高S/N比で再生信号を検出することができる。
また、偏光子となるモードフィルタ(23)を基準面(
Iりに対し平行に設定するようにしたので光源となるレ
ーザダイオード(18)、特にその活性層が基板(17
)に対し平行となるため、レーザダイオード(18)と
のハイブリッド化が容易になる。
Iりに対し平行に設定するようにしたので光源となるレ
ーザダイオード(18)、特にその活性層が基板(17
)に対し平行となるため、レーザダイオード(18)と
のハイブリッド化が容易になる。
また、従来のような大きなレンズ系に変えて先導波路を
用い、さらに偏光子及び検光子をモードフィルタを用い
て構成したので軽量スライダ(13)上への形成が可能
となり、高速アクセス、狭トラツク化を図ることができ
る。
用い、さらに偏光子及び検光子をモードフィルタを用い
て構成したので軽量スライダ(13)上への形成が可能
となり、高速アクセス、狭トラツク化を図ることができ
る。
尚、上記実施例においては、分岐型光導波路(21)と
して第2図に示すような樹枝状のものを用いたが、第1
7図に示すように、第1の先導波路(21A) と第
2の先導波路(21B> を交差させて交差型光方向
性結合器(36)を構成したものを用いてもよい。この
交差型光方向性結合器(36)は第18図に示すように
、ソーダガラス基板(37)上のガラススパッタ膜(3
8)にイオン交換による第1の先導波路(21^)が形
成され、この上にさらにガラススパッタ膜(39)を形
成してこのガラススパッタ膜(39)i:イオン交換に
よる第2の光導波路(21B) が形成されて構成さ
れている。この交差型光方向性結合器(36)を用いた
場合、光源への戻り光が少なく、レーデダイオード(1
8)の発振が不安定になるのが防止される。
して第2図に示すような樹枝状のものを用いたが、第1
7図に示すように、第1の先導波路(21A) と第
2の先導波路(21B> を交差させて交差型光方向
性結合器(36)を構成したものを用いてもよい。この
交差型光方向性結合器(36)は第18図に示すように
、ソーダガラス基板(37)上のガラススパッタ膜(3
8)にイオン交換による第1の先導波路(21^)が形
成され、この上にさらにガラススパッタ膜(39)を形
成してこのガラススパッタ膜(39)i:イオン交換に
よる第2の光導波路(21B) が形成されて構成さ
れている。この交差型光方向性結合器(36)を用いた
場合、光源への戻り光が少なく、レーデダイオード(1
8)の発振が不安定になるのが防止される。
その他、第19図に示すように、分岐型光導波路として
第1の先導波路においては、光磁気ディスク(11)に
対向する−1(40A2)に向かうにしたがって細くな
る(幅Wが小になる)ように形成したテーパ状の先導波
路(40A) を用い、第2の光導波路においては第
1の光導波路の途中から分岐してるのではなく、その一
端(40B2>も磁気ディスク(II)に対向して、か
つその断面積が第1の先導波路(40A) の一端(
40A2)の断面積よりも大に形成したもの(40B)
を用いるようにしてもよい。この場合は、光磁気デ
ィスク(11)からの反射光が効率良く集光され、再生
信号の出力が向上する。またこの場合においCも反射光
の第1の光導波路(40A) への戻り光が少く、光
源としてのレーザダイオード(18)の発振が不安定に
なるのが防止される。
第1の先導波路においては、光磁気ディスク(11)に
対向する−1(40A2)に向かうにしたがって細くな
る(幅Wが小になる)ように形成したテーパ状の先導波
路(40A) を用い、第2の光導波路においては第
1の光導波路の途中から分岐してるのではなく、その一
端(40B2>も磁気ディスク(II)に対向して、か
つその断面積が第1の先導波路(40A) の一端(
40A2)の断面積よりも大に形成したもの(40B)
を用いるようにしてもよい。この場合は、光磁気デ
ィスク(11)からの反射光が効率良く集光され、再生
信号の出力が向上する。またこの場合においCも反射光
の第1の光導波路(40A) への戻り光が少く、光
源としてのレーザダイオード(18)の発振が不安定に
なるのが防止される。
本発明に係る光再生ピックアップは光再生ピックアップ
の軽量スライダ上への形成が可能となり、高速アクセス
、狭トラツク化を図ることができると共に、光源となる
半導体レーザとのハイブリッド化が容易に実現でき、ま
た高S/N比で再生信号を検出することができる。
の軽量スライダ上への形成が可能となり、高速アクセス
、狭トラツク化を図ることができると共に、光源となる
半導体レーザとのハイブリッド化が容易に実現でき、ま
た高S/N比で再生信号を検出することができる。
第1図は本実施例に係る光再生ピックアップを軽量スラ
イダに配した例を示す構成図、第2図は本実施例を示す
平面図、 第3図は第2図のA−A線上の断面図、第4図は第2図
のB−B線上の断面図、第5図は第2図のC−C線上の
断面図、第6図は第1実施例における光出力及び再生信
号の変化を示す図、 第7図は第2実施例における光出力及び再生信号の変化
を示す図、 第8図は第1実施例において表■に対応する他の例を示
す図。 第9図は表■に対応する例を示す図、 第1O図は第2実施例において表■に対応する他の例を
示す図、 第11図は表■に対応する例を示す図、第12図は表■
に対応する他の例を示す図、第13図は表■に対応する
例を示す図、第14図は第3実施例において表■に対応
する例を示す図、 第15図は表■に対応する他の例を示す図、第16図は
表■に対応する例を示す図、第17図は分岐型先導波路
に交差型光方向性結合器を用いた場合を示す平面図 第18図は第17図のD−D線上の断面図、第19図は
分岐型光導波路の他の例を示す平面図、第20図はY型
分岐先導波路を用いた場合を示す平面図、 第21図はAIツクラッドモードフィルタを示す構成図
、 第22図はアモルファスS1クラツド型モードフイルタ
を示す構成図、 第23図は偏光子(八β)と検光子(八l)との組合せ
を示す図、 第24図は偏光子(AIり と検光子(アモルファス
Si) との組合せを示す図、 第25図は角度αにおける光出力の変化を示す図、第2
6図は従来例を示す図、 第27図は他の従来例を示す図である。 (11)は光磁気ディスク、(12)は磁気トラック、
(13)は軽量スライダ、(17)は基板、(18)は
レーザダイオード、(19)は第1の光検出器、(20
)は第2の光検出器、(21)は分岐型光導波路、(2
3)はモードフィルタ(偏光子) 、(24)は第1の
モードフィルタ(第1の検光子) 、(25)は第2の
モードフィルタ(第2の検光子) 、(29)はi層(
偏光子側)、(30)は八fM(第1の検光子側) 、
(31)はAi’層(第2の検光子側”) 、(35)
は差動アンプ、(41)はアモルファスシリコン層であ
る。 代 理 人 伊 藤 貞wノ■
主仁!パlワ7・すブと申蚤量スつイタう(二配し巳僧
”道πQ客宅島5ζ図第1図 同 松 隈 秀 盛−式 θ1 表のに対民・する他の佇]と示す図 第8図 一 く禰 ′tL■1;対忘膚う夕”」包爪斉図 第 図 表■に対忘償ろセ1便送示有図 第10図 来■に2丈4が3・肯う他のイシ′1欠jぼJヤロ]表
■に対九する奮J左示す図 第11図 舎 (ダ一、oh) 、&$l:’6寸Azr6イク(」之已テ八zr円4箪
13図 第11図 fα−・第1分岐光を通悠 tb−一・負12リキ山甑デε塩鉤、ン毘3名。 Y型竹喰光県遣鉢4尾いと場合の平面図第20図 AI’tつ・ノド型モーVフィ)しり苫j斤l含オー1
戊図第21図 7モ)のスSiりうワド型し一ドフィルワ址示穿構「督
図第22図 偏光↓(Aλ)と検光÷CAl1’Jとの絽9合亡乞示
ず型用23図 偏光、÷(#)ヒ検光+(7モー1し)7又51)ヒの
組合上と示檜図角嵐dにおりる光巳りの変化と爪w図
イダに配した例を示す構成図、第2図は本実施例を示す
平面図、 第3図は第2図のA−A線上の断面図、第4図は第2図
のB−B線上の断面図、第5図は第2図のC−C線上の
断面図、第6図は第1実施例における光出力及び再生信
号の変化を示す図、 第7図は第2実施例における光出力及び再生信号の変化
を示す図、 第8図は第1実施例において表■に対応する他の例を示
す図。 第9図は表■に対応する例を示す図、 第1O図は第2実施例において表■に対応する他の例を
示す図、 第11図は表■に対応する例を示す図、第12図は表■
に対応する他の例を示す図、第13図は表■に対応する
例を示す図、第14図は第3実施例において表■に対応
する例を示す図、 第15図は表■に対応する他の例を示す図、第16図は
表■に対応する例を示す図、第17図は分岐型先導波路
に交差型光方向性結合器を用いた場合を示す平面図 第18図は第17図のD−D線上の断面図、第19図は
分岐型光導波路の他の例を示す平面図、第20図はY型
分岐先導波路を用いた場合を示す平面図、 第21図はAIツクラッドモードフィルタを示す構成図
、 第22図はアモルファスS1クラツド型モードフイルタ
を示す構成図、 第23図は偏光子(八β)と検光子(八l)との組合せ
を示す図、 第24図は偏光子(AIり と検光子(アモルファス
Si) との組合せを示す図、 第25図は角度αにおける光出力の変化を示す図、第2
6図は従来例を示す図、 第27図は他の従来例を示す図である。 (11)は光磁気ディスク、(12)は磁気トラック、
(13)は軽量スライダ、(17)は基板、(18)は
レーザダイオード、(19)は第1の光検出器、(20
)は第2の光検出器、(21)は分岐型光導波路、(2
3)はモードフィルタ(偏光子) 、(24)は第1の
モードフィルタ(第1の検光子) 、(25)は第2の
モードフィルタ(第2の検光子) 、(29)はi層(
偏光子側)、(30)は八fM(第1の検光子側) 、
(31)はAi’層(第2の検光子側”) 、(35)
は差動アンプ、(41)はアモルファスシリコン層であ
る。 代 理 人 伊 藤 貞wノ■
主仁!パlワ7・すブと申蚤量スつイタう(二配し巳僧
”道πQ客宅島5ζ図第1図 同 松 隈 秀 盛−式 θ1 表のに対民・する他の佇]と示す図 第8図 一 く禰 ′tL■1;対忘膚う夕”」包爪斉図 第 図 表■に対忘償ろセ1便送示有図 第10図 来■に2丈4が3・肯う他のイシ′1欠jぼJヤロ]表
■に対九する奮J左示す図 第11図 舎 (ダ一、oh) 、&$l:’6寸Azr6イク(」之已テ八zr円4箪
13図 第11図 fα−・第1分岐光を通悠 tb−一・負12リキ山甑デε塩鉤、ン毘3名。 Y型竹喰光県遣鉢4尾いと場合の平面図第20図 AI’tつ・ノド型モーVフィ)しり苫j斤l含オー1
戊図第21図 7モ)のスSiりうワド型し一ドフィルワ址示穿構「督
図第22図 偏光↓(Aλ)と検光÷CAl1’Jとの絽9合亡乞示
ず型用23図 偏光、÷(#)ヒ検光+(7モー1し)7又51)ヒの
組合上と示檜図角嵐dにおりる光巳りの変化と爪w図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 記録媒体からの出射光を分岐型光導波路により案内し、 上記記録媒体への入射光の偏光面に対して所定の第1の
傾斜面を有する第1のモードフィルターを介して第1の
光検出器に入力すると共に、上記記録媒体への入射光の
偏光面に対して所定の第2の傾斜面を有する第2のモー
ドフィルターを介して第2の光検出器に入力し、 上記第1及び第2のモードフィルターは上記出射光を共
通に受けて透過量が互いに逆方向に変化し、 上記第1の光検出器と上記第2の光検出器の出力を差動
で検出することを特徴とする光再生ピックアップ。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63243340A JPH0291831A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 光再生ピックアップ |
US07/341,115 US5065390A (en) | 1988-04-22 | 1989-04-20 | Optical playback head |
EP89304020A EP0338864B1 (en) | 1988-04-22 | 1989-04-21 | Magneto-optical playback heads |
DE89304020T DE68910570T2 (de) | 1988-04-22 | 1989-04-21 | Magneto-optische Wiedergabeköpfe. |
KR1019890005257A KR970008229B1 (ko) | 1988-04-22 | 1989-04-21 | 자기-광학 재생 헤드 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63243340A JPH0291831A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 光再生ピックアップ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0291831A true JPH0291831A (ja) | 1990-03-30 |
Family
ID=17102369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63243340A Pending JPH0291831A (ja) | 1988-04-22 | 1988-09-28 | 光再生ピックアップ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0291831A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999049462A1 (fr) * | 1998-03-24 | 1999-09-30 | Seiko Instruments Inc. | Tete optique a champ proche |
WO1999049463A1 (fr) * | 1998-03-24 | 1999-09-30 | Seiko Instruments Inc. | Tete optique en champ proche |
US7260295B2 (en) | 2003-01-30 | 2007-08-21 | Sony Corporation | Optical waveguide and optical transmitting/receiving module |
-
1988
- 1988-09-28 JP JP63243340A patent/JPH0291831A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999049462A1 (fr) * | 1998-03-24 | 1999-09-30 | Seiko Instruments Inc. | Tete optique a champ proche |
WO1999049463A1 (fr) * | 1998-03-24 | 1999-09-30 | Seiko Instruments Inc. | Tete optique en champ proche |
US6625109B1 (en) * | 1998-03-24 | 2003-09-23 | Seiko Instruments Inc. | Near-field optical head and head support assembly having near-field optical head |
US7260295B2 (en) | 2003-01-30 | 2007-08-21 | Sony Corporation | Optical waveguide and optical transmitting/receiving module |
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