JPH0291580A - 電気回路及び電気回路における欠陥検出方法 - Google Patents

電気回路及び電気回路における欠陥検出方法

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JPH0291580A
JPH0291580A JP1166495A JP16649589A JPH0291580A JP H0291580 A JPH0291580 A JP H0291580A JP 1166495 A JP1166495 A JP 1166495A JP 16649589 A JP16649589 A JP 16649589A JP H0291580 A JPH0291580 A JP H0291580A
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Valerio Giorgetta
ヴァレリオ・ジオルゲッタ
Guido Ghisio
ギド・ジシオ
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Marelli Autronica SpA
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は電気回路、特に内燃エンジンの燃料噴射作用
の監視に用いられる電力回路及び該電気回路における欠
陥検出又は診断方法に関するものである。
（技術背景） 一般に、自動車燃料噴射装置における電力回路の技術分
野において、欠陥発生を検出することのみならず、その
欠陥の性質を識別することは重要なことである。
上記燃料噴射器のソレノイドバルブ監視用電力回路にお
いて、欠陥の発生は次のような現象の出現であると帰結
することが出来る。即ち、回路の負荷として作用する噴
射ソレノイドノ＜ルブとの接続部における断線（開路負
荷）、接地短絡回路の確立、又は 負荷電圧源又はバッテリー短絡回路の確立等である。
更に、−殻内な場合であるが、幾つかの電力回路（各噴
射器に対し１つ設けられる）が並列に作動せしめられる
ようなとき、何れのステージに欠陥が発生したかを特定
して指示することが重要である。
（解決しようとする課題） 本発明の目的は、たとえ複数の電力ステージが並列接続
配置されていようとも容易に集積化が可能であり、上述
した制限内で欠陥の検出及び診断が非常に複雑な回路を
必要とすることなく、特に簡単かつ確実に実行可能であ
り、自動車等におけるように比較的保護の少ない環境に
おいて使用出来る、電力回路を提供することにある。
本発明の目的は、以下に述べるような特徴を有する装置
及び方法によって達成される。
本発明を、それに限定することなく、純粋に１実施例を
示す添付図面とともに説明する。
（実施例） 図面において、全体的に符号１を付して示す電力回路は
内燃エンジンの燃料噴射監視用として使用される。
上記実施例の電力回路１は詳細に後述するような２つの
負荷Ａ及びＢを監視する、並列接続された２つのステー
ジを含んでいる。これらの負荷Ａ及びＢは図示しない内
燃エンジンにおける２つの個別噴射器のソレノイド又は
コイルから構成される。
各ソレノイドＡ、Ｂに再循環ダイオードＤＡ。
ＤＢとツェナーダイオードＺＡ、ＺＢを組合わせた回路
を接続し、スパイク等の瞬間過負荷現象の保護、放電時
の過電圧抑制等が図られている。
電力回路１の各ステージは原理的に、例えばモトローラ
６８ＨＣ１１マイクロプロセツサ等から構成された電子
制御回路Ｃから付与される制御信号に応じてソレノイド
Ａ及びＢの電流監視を行う。
制御回路又はマイクロプロセッサＣと電力回路１間に２
つ制御ラインＩＮ１、ＩＮ２が設けられ、マイクロプロ
セッサＣからこれらの制御ライン■Ｎｌ、ＩＮ２を介し
て電力回路１の２つのステージにそれぞれ一般に矩形波
から成る励磁信号が送られ、電力回路１の各ステージは
それぞれ該励磁信号を負荷Ａ、　　Ｂに対し対応する電
流監視信号に変換する。
自動車業界における従来装置におい°Ｃは、６負ｉＡ、
Ｂは電力回路１における各ステージの出力ＶＯＵＴ　ｌ
、ＶＯＵＴ２と当該自動車の燃料噴射器の給電（バッテ
リー）端子Ｖ十間に接続される。
マイクロプロセッサＣと回路１間にＤＩＡＧＡ。
ＤＩＡＧＢ、ＦＡＵＬＴ、５ＴＡＧＥ及びＲＥＳＥＴ等
の５つ以上のラインが設けられる。
以下に明らかにされるように、ＦＡＵＬＴラインは電力
回路１からマイクロプロセッサＣに、該回路１に欠陥が
発生したことを指示する信号を伝送する。これはマイク
ロプロセッサＣによって行われる尋問操作又は割り込み
論理によって実行される。
５ＴＡＧＥラインは欠陥が生じたステージの認定信号を
マイクロプロセッサＣに伝送する。
ＣＩ　ＡＧＡ及びＤＩＡにＢラインは共に診断状況の情
報、即ち検出された欠陥の種類を認定する信号をマイク
ロプロセッサＣに伝送する。
ＲＥＳＥＴラインはマイクロプロセッサＣから電力回路
１に総合リセット信号を伝送する。
主要事項の処理が混乱するのを回避するため、以下の説
明において並列操作される２つのステージを有する電力
回路１について説明する。しかしながら、この技術分野
の専門家の技術能力に基づいてｎ個のステージを含む回
路に発展させることが出来る。
この場合、マイクロプロセッサＣと電力回路１間に各監
視ラインＩＮ１、ＩＮ２．・・・ＩＮｎ、各認定信号を
伝送する複数の並列５ＴＡＧＥライン、又は−殻内にシ
リアルフォーマットにしたがって伝送される符号化信号
の伝送に用いられる単一の５ＴＡＧＥライン等を設ける
ようにしてもよい。
公知の方法により好ましくは単一の集積回路として製造
される電力回路１は各ステージに対し好ましくはダーリ
ントン回路から構成した電カニニット２Ａ、２Ｂを有し
、該各ダーリントン回路の共通出力コレクタは監視ユニ
ット３Δ、３Ｂから第１段トランジスタのベースに印加
されるスイッチング信号に応じてそれぞれ負荷Ａ、Ｂを
監視する。
監視ユニット３Ａ、３ＢはマイクロプロセッサＣからそ
れぞれライン■Ｎ１、ＩＮ２を介して受は取る監視信号
により順次作動させられる。
図示した点を除き、上記回路１の２つのステージは互い
に完全に同様のものである。本明細書および図面におい
て、両ステージに関して同一の構成部分には数字符号に
添字Ａ及びＢを付して示す。
監視ユニット３Ａ、３Ｂとダーリントン回路対２Ａ、２
Ｂの出力コレクター間にツェナーダイオード４Ａ、４Ｂ
を介在させ、各ダーリントン回路はバッテリーと遮断さ
れるとき等に生じる過大電圧に対し保護される。
更に、監視ユニット３Ａ、３Ｂが公知の方式の過熱保護
用ユニット５と接続される。このユニット５は当該回路
１の温度が予め定められた安全閾値を越えたとき該回路
１の作動を停止せしめる。
２つの回路６Ａ、６Ｂは公知の方法で作用電流制限する
回路で、各ダーリントン回路対２Ａ１２Ｂの第２段トラ
ンジスタのエミッタと監視ユニット３Ａ、３Ｂ間に接続
される。
上記電流制限は各ダーリントン回路２Ａ、２Ｂの第２段
トランジスタのエミッタと接地間に接続された電流検出
用抵抗７Ａ、７Ｂを介してその電流を検出することによ
り行われる。図示する実施例において、各抵抗７Ａ、７
Ｂは１００ｍΩオーダーの抵抗値を有し、各ダーリント
ン回路２Ａ。
２Ｂが導通した際に各抵抗７Ａ、７Ｂ１したがって各負
荷ＡＳＢを流れる電流は最大３．５〜４Ａのオーダーで
ある。
また、電流検出抵抗７Ａ及び７Ｂを介して検出された電
流強魔信号がそれぞれライン８Ａ及び８Ｂを介して診断
モジュール９Ａ及び９Ｂに送られる。これらの診断モジ
ュール９Ａ及び９Ｂの構成及び動作は詳細に後述する。
また、負荷、即ちダーリントン回路対２Ａ及び２Ｂと接
続された出力ラインＶＯＵＴ　ｌ及びｖ０ＵＴ２に現れ
る電圧レベルがそれぞれライン１０Ａ及び１０Ｂを介し
て診断モジュール９Ａ及び９Ｂに送られる。後者の診断
モジュール９Ａ及び９Ｂはまた詳細に後述する機能を有
する基準電圧を発生するユニット１１と接続される。該
基準電圧は例えばＯ，ＩＶ、０．４Ｖ、及び２Ｖであり
、これらの基準電圧は温度変化に対し安定化される。
詳細に後述する機能を有する診断動作を実行するモジュ
ールは符号１２を付して示す。
次に診断モジュール９Ａ及び９Ｂの構成を説明する。
簡単化のため、モジュール９Ａの構成についてのみ説明
し、モジュール９Ｂは該モジュール９Ａと全く同一の構
成であると理解すべきである。また、この場合、モジュ
ール９Ａの構成部分及びラインには数字又は参照符号に
添字Ａを付して示す。
図中、モジュール９Ｂにおける同一の構成部分及びライ
ンには同一の数字又は参照符号に添字Ｂを付して示す。
３つの比較器１３Ａ、１４Ａ及び１５Ａはライン８Ａ及
び１０Ａと接続されるとともにユニット１１によって発
生される安定化電圧源と接続される。
以下に更に詳細に説明するニ ー比較器１３Ａはライン１０Ａと接続した正入力及び２
ｖオーダーの基準電圧源と接続した負入力を有する。
一比較器１４Ａは０．４Ｖオーダーの基準電圧源と接続
した正入力及びライン１０Ａと接続した負人力を有する
。
比較１１１５　Ａは０．１ｖオーダーの基準電圧源と接
続した正入力及びライン８Ａと接続した負入力を有する
。
比較器１３Ａ及び１４Ａの出力■ｏＩＡ及びＶ０２Ａは
ともにオアゲート１６の入力と接続され、該オアゲート
１６の出力はアンドゲート１７Ａの２つの入力の一方と
接続される。アンドゲート１７Ａの他方の入力は、ライ
ンＩＮＩに供給されかつバズを防止するため遅延ライン
１８Ａで遅延せしめられた監視エネーブル信号を受ける
。
上記監視エネーブル信号はまたもう１つのアンド論理ゲ
ート１９Ａの一方の入力に送られる。該アンド論理ゲー
）１９Ａは他方の入力に比較器１５Ａから出力信号ＶＯ
３Ａを受ける。
実際上、アンド論理ゲート１７Ａ及び１９Ａは、ライン
ＩＮＩに励磁信号（論理゛ｌ”）が現れたときのみ該論
理ゲート１６Ａ及び比較器１５Ａの出力信号を当該モジ
ュール９Ａの出力に伝送する作用を行う。
上記説明を理解するには、モジュール９Ａの出力信号Ｄ
ＩＡ及びＤ２Ａは全ての意図及び目的に対しオア論理ゲ
ート１６Ａ及び比較器１５Ａの出力信号と一致したもの
とみなすことが出来る。
上述したように設定された電流検出抵抗７Ａ。
７Ｂの値に関し、バッテリーの電圧端子＋Ｖの電圧は一
般に６Ｖ以上とされることに注意する必要がある。導通
時、各ダーリントン回路２Ａ、２Ｂにはそれぞれ負荷Ａ
、Ｂとされるようにコレクタ電圧を０．４〜１，５■と
して１〜４Ａの電流が流通し、各診断モジュール９Ａ及
び９Ｂの動作は下状態 記の表に示される。
表 ８Ａ、８Ｂ　　１０Ａ、１０Ｂ　　ＶＯＩＡ　　ＶＯ２
Ａボルト：Ｐ：ルトＶＯＩＢ　　Ｖ０２Ｂ正常 動作　０．１−０．４　０．４−２ 電、原十Ｖ 短絡　　０．４　　　＞６ 接地 短イ３　　　　　　　０　　　　　　　　＜０．４開放 Ｏ３Ａ Ｏ３Ｂ ＤＩ＾ ＩＢ ■ ■ Ｄ２＾ ２Ｂ 特に、正常動作状態下では、ライン１０Ａ上の電圧は通
常０．４〜２ｖの範囲内のものとされ、即ち、比較器１
３Ａ、１４Ａにより確立される許容値で定められる領域
内のものとされる一方、ライン８Ａ上に現れる電流検出
信号は比較器１５Ａの閾電圧以上に保持される。信号Ｖ
ＯＩＡ、ＶＯ２Ａ、ＶＯ３Ａ、ｔ、たがって出力信号Ｄ
ＩＡ及びＤ２Ａは論理レベル０のままである。
バッテリー電源＋Ｖ短絡回路が生じると、ライン８Ａ上
の電圧は正常動作状態と比べて増大するが、これにより
比較器１５Ａの動作状態又は信号ＶＯ３Ａ及びＤ２Ａの
レベルが切り換わることはない。一方、ライン１０Ａ上
の電圧が変化し、該電圧がバッテリー電源Ｖ＋の電圧に
到達して比較器１３Ａの閾電圧を超えるとともに比較器
１３Ａ及び１４Ａにより画定される許容電圧領域から外
れた電圧となる。信号ＶＯＩＡは論理レベル“１′とな
り、これにしたがって出力信号ＤＩＡが切り換わる。
接地短絡回路が生じると、ダーリントン回路対を流れる
電流、したがってライン８Ａに現れる電圧は実質的にＯ
となり、比較器１５Ａの閾レベル以下に降下する。よっ
て、該比較器１５Ａの出力信号ＶＯ３Ａは論理レベル“
ビに切り換わり、これにしたがって信号Ｄ２Ａが切り換
わる。また、負荷における電圧、したがってライン１０
Ａに現れる電圧は比較器１４Ａの閾値以下の非常に低い
レベルとなり、即ち比較器１３Ａ及び１４Ａにより画定
される領域より低いレベルとなる。したがって、信号Ｖ
Ｏ２Ａの論理レベルが切り換わって信号ＤＩＡが論理レ
ベル“ビに切り換わる。
開放負荷状態、即ち負荷を流れる電流が無くなると、ラ
イン８Ａ上の電圧は比較器１５Ａの閾レベル以下に降下
し、よって信号ＶＯ３Ａ及びＤ２Ａが“１”に切り換わ
る。このような条件下で、ダーリントン回路対の導通時
、ライン１０Ａ上の電圧は、〔約０．１＋０．５〜０．
６■とされる、ダーリントン回路対の第２トランジスタ
のベース−エミッタ間電圧ＶＢ！〕＋〔ダーリントン回
路対２Ａの第１トランジスタのコレクターエミッタ間飽
和電圧ｖｃｏＡＴ〕に対応したものとなり、該電圧は比
較器１３ＡＳ　１４Ａにより画定される領域内の大きさ
となり、よって信号ＶＯＩＡ及びＶ０２Ａは出力信号Ｄ
ＩＡと同様論理レベル“Ｏ”に維持される。
正常動作状態及び３種類の欠陥状態として定義される、
４種類の動作状態が１対の信号ＤＩＡ及びＤ２Ａにより
想定される４種類の論理値と対応する。
上述したことは、モジュール９Ｂから発せられる１対の
信号ＤＩＢ及びＤ２Ｂに対しても妥当する。
要約すると、ライン１０Ａ及び１０Ｂに現れる電圧が比
較１ｉ！１３Ａ、１３Ｂ及び１４Ａ、１４Ｂにより画定
される領域内の大きさであり、かつ電流検出抵抗７Ａ、
７Ｂと接続されたライン８Ａ、８Ｂ上で検出される負荷
電流が比較器１５Ａ、１５Ｂにより設定された閾値以上
の大きさであると、正常動作が行われる。
バッテリーの正極性端子との短絡回路が生じたことは、
負荷に対する電圧■。Ｉｎが比較器１３Ａ。
１３Ｂ、１４Ａ、１４Ｂにより確立される許容電圧領域
を超え、かつ負荷を流れる電流が基準閾値以上に維持さ
れることにより検出される。
接地短絡回路又は負荷開放が生じると、負荷を流れる電
流強度が比較器１５Ａ及び１５Ｂにより設定された閾値
以下の大きさとなる。これら２種類の現象は負荷に対す
る電圧Ｖ。Ｉｆｆが比較器１３Ａ、１３ＢＳ　１４Ａ、
１４Ｂによって確立される電圧領域以下であるかどうか
によって識別される。
上記電圧Ｖ。ｔｌＪよ接地短絡回路が生じたときのみ上
記電圧領域以下に降下する。
換言すれば、回路１は信号ＤＩＡ、Ｄ２Ａ、ＤＩＢＳＤ
２Ｂの全てが論理レベル″０″であるときのみ正しい動
作が行われる。それらの信号ＤｉＡＳＤ２Ａ、ＤＩＢＳ
Ｄ２Ｂのうち１つでも論理レベル“１”であると、欠陥
が生じたことを示す。
欠陥が生じた１つのステージ又は複数のステージは何れ
の診断モジュール９Ａ、９Ｂが出力を“１”に切り換え
たかを検出することにより認定することが出来る。この
ようにして、各診断モジュール９Ａ、９Ｂの組み合わせ
出力値、１０，１１又は０１によって上述した表１に示
される判定基準に従って各ステージで生じた欠陥がどの
ような性質のものであるかを認定することが出来る。
何れのステージに欠陥が発生したかを認定しかつその診
断分析結果を信号化する作用はモジュール１２において
実行される。該モジュール１２は原理的にそれぞれ信号
ＤＩＡＳＤ２Δ及びＤＩＢ。
Ｄ２Ｂを入力に受ける２つのオア論理ゲート２ＯＡ及び
２０Ｂから構成される。
オア論理ゲート２０Ａ及び２０Ｂの出力は順次もう１つ
のオア論理ゲート２１の入力とアンド論理ゲート２２の
入力に接続される。該ナンド論理ゲート２２の入力とオ
ア論理ゲート２ＯＡの出力間にインバータ２３が介在さ
せられる。
実際上、オア論理ゲート２１の出力はモジュール９Ａ及
び９Ｂにより出力された全ての信号のオア論理判定結果
を示す。これは、モジュール９Ａ。
９Ｂの出力ラインの°いずれかが欠陥によって論理レベ
ル“１”となると論理ゲート２１の出力がレベル“１”
となることを意味する。
一方、アンド論理ゲート２２の出力は欠陥が電力回路１
の第１ステージ又は第２ステージの何れかに発生すると
それに応じて異なった論理値を示す。
上述した実施例において、論理ゲート２２の出力はモジ
ュール９Ａの２つの出力のうちの一方がレベル“ビに切
り換わる、即ち回路１の第１ステージに欠陥が発生する
と論理レベル“０”となる。一方、論理ゲート２２の出
力信号は回路１の第２ステージに欠陥が生じたときのみ
論理レベル“１″となる。
欠陥の発生を指示するゲート２１の出力信号はラッチＬ
ＡＴＣＨ回路２４の一方の入力２３に送られ、該ラッチ
回路２４は欠陥ＦＡＵＬＴ信号をマイクロプロセッサＣ
に伝送する。
回路図において、２つのアンド論理ゲートが符号２５．
２６を付して示される。
欠陥ステージを認定する信号はラッチ回路２４の第２人
力と接続された論理ゲート２６を介してステージ５ＴＡ
ＧＥ信号としてマイクロプロセッサＣに伝送される。
論理ゲート２２の出力信号は論理ゲート２５を介してマ
ルチプレクサ回路２９の制御人力２８に加えられ、該マ
ルチプレクサ回路２９からマイクロプロセッサＣに導か
れる出力ラインＤＩＡＧＡ又はＤＩＡＧＢに伝送可能と
されるニ ー論理ゲート２２の出力信号が電力回路ｌの第１ステー
ジでの欠陥発生を指示するとき、信号ＤＩＡ及びＤ２Ａ
が第１人力対２９Ａに印加される。
一輪理ゲート２２の出力信号が電力回路１の第２段ステ
ージでの欠陥発生を指示するとき、信号ＤＩＢ及びＤ２
Ｂが第２人力対２９Ｂに印加される。
マルチプレクサ２９及びラッチ回路２４の２つの入力３
０及び３１はそれぞれマイクロプロセッサＣのリセット
ラインと接続される。
信号ＤＩＡＳＤ２°Ａ、ＤＩＢ及びＤ２Ｂの変化状態は
セット−リセット形式の蓄積器を用いて自動的に蓄積さ
れる。
マイクロプロセッサＣはリセットＲＥＳＥＴラインにリ
セット信号を送出することによりマルチプレクサ２９及
びラッチ回路２４の両出力をＯに復帰せしめることが出
来る。このようにして、回路ｌの両ステージにおいて同
時に又はほとんど同時に欠陥が発生すると、マイクロプ
ロセッサＣは各欠陥情報並びにラインＤ　Ｉ　ＡＧＡ及
びＤＩＡＧＢに現れた診断信号を読み取ることが出来る
。
マイクロプロセッサＣは種々のラインＦＡＵＬＴ、５Ｔ
ＡＧＥ、ＤＩＡＧＡ及びＤＩＡＧＢに現れた信号を翻訳
処理し、対応した処理、例えば外部への可視表示、作動
中止等を行う。このような情報に対するマイクロプロセ
ッサＣによる制御標準は本発明の記述目的及び理解に意
味をなさずかつ種々に変形し得ることから、本明細書に
おいてそれらを詳述することは省略する。
第２図に示す論理回路は本発明の回路の実施可能性のあ
る種々の具体例のうちの１例を示すに過ぎないことは勿
論のことである。
第３図はナンド論理ゲート及びノア論理ゲートを用いて
構成した制御ユニットの概略図を示す。
特に、第３図の線図において、ナンド論理ゲート１０１
Ａ及び１０２Ａは共に一方の入力にエネーブル信号ＩＮ
Ｉを受けるとともにそれぞれ他方の入力に論理ゲート１
６Ａからの出力信号と信号ＶＯ３Ａとに対応した出力信
号を受ける。
ナントゲート１０１Ａ及び１０２Ａはそれぞれインバー
タ１０３Ａ及び１０４Ａと接続され、該インバータ１０
３Ａ及び１０４Ａの出力論理信号は信号ＣＩＡ及びＤ２
Ａと等価となる。
上記構成と同様の回路（各構成部分に添字Ｂを付して示
す）が設けられ、論理ゲート１５Ｂの出力信号及びエネ
ーブル信号ＩＮ２により制御される信号ＶＯ３Ｂが上述
したと同様に処理される。
２つのノア論理ゲート１２０Ａ及び１２０Ｂはそれらの
機能に関して実質的に第２図のオアゲート２０Ａ及び２
０Ｂと等価である。
ノアゲー１−１２０ＡＳ　１２０Ｂの出力信号は更に別
の２つのナントゲート１２１及び１２２に送られ、これ
らのナントゲート１２１及び１２２は第２図の論理ゲー
ト２１及び２５に相当する作用、即ち、ＦＡＵＬＴライ
ンに伝送すべくラッチステージ１２４の第１人力１２３
に送られる欠陥発生指示信号の発生作用及び電力回路１
において欠陥が発生したステージを認定する信号の発生
作用を行う。
上記欠陥発生ステージ特定信号はエネーブル信号として
それぞれ２つのステージ１３０．１３１及び１３２．１
３３を含むラッチ回路に送られる。
これらのラッチステージ１３０．１３１及び１３２．１
３３はそれぞれ１対のインバータ１３４及び１３５を介
してラインＤＩ　ＡＧＡ及びＤＩＡＧＢに送られ、これ
らのラインＤＩＡＧＡ及びＤＩＡＧＢは当該作動プロセ
ッサに診断信号を送る。
ラッチステージ１３０．１３１及び１３２．１３３はそ
れぞれ人力ライン信号ＤＩＡ、Ｄ２Ａ。
ＤＩＢ、及びＤ２Ｂを受ける。
再び、実質的に第２図に示すように、モジュール１２の
出力ラインを監視する全てのラッチステージ１２４．１
２８．１３１及び１３３は（本実施例においてはインバ
ータ１３６を介して）マイクロプロセッサＣと接続され
たリセットＲＥＳＥＴラインと接続される。
本発明の原理の同一性を維持して、本発明の範囲から逸
脱することな（上述した説明に基づいて上記実施例を種
々に変形出来ることは勿論のことである。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の電気回路の代表的な１例のブロック図
、 第２図は第１図のブロック回路におけるいくつかの構成
部分の具体例を示すブロック図、第３図は第２図のブロ
ック図の変形例である。 １・・・内燃エンジン用電力回路、 ２Ａ、２Ｂ・・・ダーリントン回路、 ３Ａ、３Ｂ・・・監視ユニット、 ５・・・過熱保護ユニット、 ６Ａ、６Ｂ・・・電流制限回路、 ７Ａ、７Ｂ・・・電流検出抵抗、 ９Ａ、９Ｂ・・・診断モジ一−ル、 １１・・・基準電圧信号発生ユニ、ト、１２・・・制ａ
ｌユニット（制御モジュール）、１３Ａ、１４Ａ、１５
Ａ・・・比較器、１３Ｂ、１４Ｂ、１５Ｂ・・・比較器
、２４・・・ラッチ回路、 ２９・・・マルチプレクサ回路、 １２４．１２８．１３０〜１３３・・・ラッチステージ
、Ａ、Ｂ・・・内燃エンジンのソレノイド（負荷）、Ｃ
・・・マイクロプロセッサ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、各負荷（Ａ、Ｂ）に給電する出力端子（ＶＯＵＴ１
    、ＶＯＵＴ２）を有する少なくとも１つのステージを含
    み、複数の欠陥状態及び正常作動状態となり得る電気回
    路において、 上記電気回路がある１つの欠陥状態であることを指示す
    る少なくとも１つの第１信号（ＦＡＵＬＴ）、及び 上記電気回路に発生する欠陥状態に応じた値をとる少な
    くとも１つの第２信号（ＤＩＡＧＡ、ＤＩＡＧＢ）を発
    生する、センサー手段（９Ａ、９Ｂ、１２）を含むこと
    を特徴とする、電気回路、 ２、各負荷（Ａ、Ｂ）に給電する出力端子（ＶＯＵＴ１
    、ＶＯＵＴ２）を有する複数のステージを含み、センサ
    ー手段（９Ａ、９Ｂ、１２）が何れのステージが欠陥状
    態であるかを示す少なくとも１つの第３信号（ＳＴＡＧ
    Ｅ）を発生する、第１項記載の電気回路。 ３、出力端子を介して負荷（Ａ、Ｂ）に印加される電圧
    を感知する第１センサー手段（１０Ａ、１０Ｂ）、 出力端子を介して負荷（Ａ、Ｂ）に供給された電流を感
    知する第２センサー手段（７Ａ、８Ａ；７Ｂ、８Ｂ）、 上記第１センサー手段（１０Ａ、１０Ｂ）と接続され、
    当該電気回路の正常動作時に負荷（Ａ、Ｂ）に印加し得
    る許容電圧範囲を定め、上記負荷間に印加された電圧が
    該許容電圧範囲内又は外のものであるかに応じて、それ
    ぞれ第１値（０）又は第２値（１）をとる第１論理信号
    （Ｄ１Ａ、Ｄ１Ｂ）を発生し得る、第１比較手段（１３
    Ａ、１４Ａ；１３Ｂ、１４Ｂ）、 上記第２センサー手段と接続され、当該電気回路の正常
    動作時に負荷（Ａ、Ｂ）に印加し得る許容電圧範囲を定
    め、上記負荷に印加された電圧が該許容電圧範囲内又は
    外のものであるかに応じてそれぞれ第１値（０）又は第
    ２値（１）とする第２論理信号を発生し得る、第２比較
    手段（１５Ａ、１５Ｂ）、及び 上記第１及び第２論理信号（Ｄ１Ａ、Ｄ１Ｂ、Ｄ２Ａ、
    Ｄ２Ｂ）を受け、それら論理信号のうち少なくとも１つ
    が第２値（１）であるとき少なくとも第１信号（ＦＡＵ
    ＬＴ）を発生する一方、上記第１及び第２論理信号によ
    りとり得る分布値（０１、１１、１０）に応じた値を有
    する、少なくとも１つの第２信号（ＤＩＡＧＡ、ＤＩＡ
    ＧＢ）を発生し得る、論理処理手段（２０Ａ、２０Ｂ；
    ２１〜３０；１２０Ａ、１２０Ｂ、１２１〜１３６）を
    含む、第１項又は第２項記載の電気回路。 ４、論理処理手段が、 第１論理信号が第２値（１）かつ第２論理信号が第１値
    （０）であるとき、第１値（１０）を、第１及び第２論
    理信号が共に第２値（１）であるとき、第２値（１１）
    を、及び 第１論理信号が第１値（０）かつ第２論理信号が第２値
    （１）であるとき、第３値（０１）を有する少なくとも
    １つの第２信号（ＤＩＡＧＡ、ＤＩＡＧＢ）を発生する
    ようにした、第３項記載の電気回路。 ５、当該電気回路の出力端子（ＶＯＵＴ１、ＶＯＵＴ２
    ）が負荷から遮断、接地に短絡、及び電源端子（Ｖ＋）
    に短絡可能とされ、これらの３種類の動作が複数の欠陥
    状態を画定する、第１項又は第４項記載の電気回路。 ６、第１比較手段が負荷に印加し得る許容印加電圧範囲
    を上限及び下限閾値により画定する領域比較モジュール
    （１３Ａ、１３Ｂ；１４Ａ）１４Ｂ）から構成され、該
    領域比較モジュールが第１論理信号（Ｄ１Ａ、Ｄ１Ｂ）
    を発生する、第３項記載の電気回路。 ７、第２比較手段が負荷に供給し得る許容供給電流範囲
    の下限を画定する単一閾比較モジュール（１５Ａ、１５
    Ｂ）から構成され、該単一閾比較モジュールの出力（Ｖ
    Ｏ３Ａ、ＶＯ３Ｂ）が第２論理信号を構成する、第３項
    又は第６項記載の電気回路。 ８、論理処理手段が電気回路の各ステージとそれぞれ接
    続された第１及び第２比較手段により発生された第１及
    び第２論理信号のうち少なくとも一方が第２値（１）に
    切り換わったことを感知する素子（２１；１２１）を含
    み、かつこの状態下で少なくとも１つの第３信号（ＳＴ
    ＡＧＥ）を発生可能である、第２又は第３項に記載の電
    気回路。 ９、当該電気回路の各ステージと組み合わされた第１及
    び第２比較手段により発生された第１及び第２論理信号
    が加えられる入力端子（２８、２９Ａ、２９Ｂ）、及び
    当該電気回路のステージのうち少なくともその１つに組
    合わされた第１及び第２比較手段により発生される第１
    及び第２論理信号が第３信号（ＳＴＡＧＥ）の値に応じ
    て伝送される出力端子（ＤＩＡＧＡ、ＤＩＡＧＢ）を有
    する、少なくとも１つのマルチプレクサ構成要素（２９
    ）を含む、第８項記載の電気回路。 １０、中継ラインを介して制御モジュール（Ｃ）と組み
    合わされ、当該電気回路から該制御モジュールに少なく
    とも１つの第１信号（ＦＡＵＬＴ）と少なくとも１つの
    第２信号（ＤＩＡＧＡ、ＤＩＡＧＢ）を伝送する、第１
    項〜第９項のいずれかに記載の電気回路。 １１、当該電気回路から制御モジュールに少なくとも１
    つの第３信号（ＳＴＡＧＥ）を伝送する、更にもう１つ
    のラインを設けた、第２項又は第９項記載の電気回路。 １２、集積回路を形成する、第１項〜第１１項のいずれ
    かに記載の電気回路。 １３、各負荷（Ａ、Ｂ）に給電する出力端子（ＶＯＵＴ
    Ｉ、ＶＯＵＴ２）を有する少なくとも１つのステージを
    含み、複数の欠陥状態及び正常作動状態となり得る電気
    回路における欠陥発生を検出するにあたり、 上記各負荷に上記出力端子を介して供給される電圧及び
    電流を検出し、 上記検出電圧を上記電気回路の正常動作時の許容電圧値
    範囲と比較し、負荷印加電圧が許容電圧値範囲内又は外
    のものであるとき、それぞれ第１値（０）又は第２値（
    １）とする第１論理信号（Ｄ１Ａ、Ｄ１Ｂ）を発生し、 上記検出電流を上記電気回路の正常動作時の許容電流値
    範囲と比較し、負荷供給電流が許容電流値範囲内又は外
    のものであるとき、それぞれ第１値（０）又は第２値（
    １）とする第２論理信号（Ｄ２Ａ、Ｄ２Ｂ）を発生し、
    及び 上記第１及び第２論理信号（Ｄ１Ａ、Ｄ１Ｂ及びＤ２Ａ
    、Ｄ２Ｂ）を処理し、該第１及び第２論理信号のうち少
    なくとも１つが第２値（１）であるとき、上記電気回路
    がある欠陥状態にあることを指示する少なくとも１つの
    第１信号（ＦＡＵＬＴ）を発生するとともに、上記第１
    及び第２論理信号の値の分布に応じて少なくとも１つの
    第２信号（ＤＩＡＧＡ、ＤＩＡＧＢ）を発生し、該第２
    信号が上記電気回路において複数の欠陥状態のうちいず
    れの欠陥状態が発生したかを指示することを特徴とする
    、電気回路における欠陥検出方法。 １４、少なくとも１つの第２信号（ＤＩＡＧＡ、ＤＩＡ
    ＧＢ）が、 第１論理信号（Ｄ１Ａ、Ｄ１Ｂ）が第２値（１）かつ第
    ２論理信号（Ｄ２Ａ、Ｄ２Ｂ）が第１値（０）であると
    き、第１値（１０）とし、第１及び第２論理信号（Ｄ１
    Ａ、Ｄ１Ｂ及びＤ２Ａ、Ｄ２Ｂ）が共に第２値（１）で
    あるとき第２値（１１）とし、及び 第１論理信号（Ｄ１Ａ、Ｄ１Ｂ）が第１値（０）かつ第
    ２論理信号（Ｄ２Ａ、Ｄ２Ｂ）が第２値（１）であると
    き、第３値（０１）とする、第１３項記載の方法。 １５、各負荷への給電用出力端子を有する複数のステー
    ジから構成される電気回路に適用され、上記電気回路の
    ステージにおいて負荷に印加される電圧及び該負荷に供
    給される電流のうち少なくとも１方が上記電気回路の正
    常動作時の許容値範囲から外れたとき、該ステージに対
    応した値を有する少なくとも１つの第３信号（ＳＴＡＧ
    Ｅ）を発生し、該第３信号（ＳＴＡＧＥ）が欠陥を発生
    したステージを指示する、第１３項又は第１４項記載の
    方法。
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