JPH0285824A - 液晶シャッターヘッド - Google Patents
液晶シャッターヘッドInfo
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- JPH0285824A JPH0285824A JP23758488A JP23758488A JPH0285824A JP H0285824 A JPH0285824 A JP H0285824A JP 23758488 A JP23758488 A JP 23758488A JP 23758488 A JP23758488 A JP 23758488A JP H0285824 A JPH0285824 A JP H0285824A
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- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電子写真方式液晶プリンター、特に液晶シャ
ッターヘッドを構成する強誘電性液晶を用いた液晶シャ
ッターセルの機能修復に関する。
ッターヘッドを構成する強誘電性液晶を用いた液晶シャ
ッターセルの機能修復に関する。
コンビｘ−ターのコストパフォーマンスの向上に伴って
、情報処理機器が普及し、その機能向上が強（要求され
ている。処理された情報を、印刷の形で人間に伝えるプ
リンターは、より複雑な情報を的確に表現するため、印
字分解能の向上、印字の高速化が要求されている。
、情報処理機器が普及し、その機能向上が強（要求され
ている。処理された情報を、印刷の形で人間に伝えるプ
リンターは、より複雑な情報を的確に表現するため、印
字分解能の向上、印字の高速化が要求されている。
前記要求に対応する方式として、電子写真方式ページプ
リンターがある。電子写真方式ページプリンターは感光
部材を帯電したのち、印字情報に従って感光部材に光書
き込みを行い、感光部材表面に静電潜像を形成し、トナ
ーを用いて可視像化するプリンターである。光書き込み
方式として、回転するポリゴンミラーでレーザー光を走
査するレーザ一方式、多数のＬＥＤを並べて、各ＬＥＤ
をオン、オフするＬＥＤ方式、液晶シャッターで光をオ
ン、オフする液晶方式がある。レーザ一方式はポリゴン
ミラーの回転数や、ミラー面の不均一に起因する印字位
置精度の不良、ＬＥＤ方式はＬＥＤの発光輝度の不均一
性に起因する印字むらの欠点がある。液晶方式は多数の
液晶シャッター画素を一括して形成できるので、低コス
トで印字精度が高い特徴を有する。
リンターがある。電子写真方式ページプリンターは感光
部材を帯電したのち、印字情報に従って感光部材に光書
き込みを行い、感光部材表面に静電潜像を形成し、トナ
ーを用いて可視像化するプリンターである。光書き込み
方式として、回転するポリゴンミラーでレーザー光を走
査するレーザ一方式、多数のＬＥＤを並べて、各ＬＥＤ
をオン、オフするＬＥＤ方式、液晶シャッターで光をオ
ン、オフする液晶方式がある。レーザ一方式はポリゴン
ミラーの回転数や、ミラー面の不均一に起因する印字位
置精度の不良、ＬＥＤ方式はＬＥＤの発光輝度の不均一
性に起因する印字むらの欠点がある。液晶方式は多数の
液晶シャッター画素を一括して形成できるので、低コス
トで印字精度が高い特徴を有する。
液晶シャッターセルに用いる液晶は、高速応答が要求さ
れるので、自発分極を有することで応答速度が速い強誘
電性液晶（カイラルスメクティックＣ液晶）が有望であ
る。
れるので、自発分極を有することで応答速度が速い強誘
電性液晶（カイラルスメクティックＣ液晶）が有望であ
る。
強誘電性液晶（カイラルスメクティックＣ液晶）は、現
在広く実用化されているネマティック液晶と同様に、−
２０度Ｃ程度の低温で液晶相から結晶相に変化する。ネ
マティック液晶を用いたセルでは結晶化した後、室温に
戻すと低温にさらされる前と同様に正常に動作する。し
かし強誘電性液晶を用いたセルでは、結晶化した後室温
に戻すと光の透過、非透過の切り替えが良好に制御出来
ない。これは強誘電性液晶が結晶相から液晶相に戻る過
程で、液晶層の配向が不均一化することに起因する。し
たがって強誘電性液晶を用いた液晶シャッターヘッドを
光書き込み部とした電子写真方式液晶プリンターは、低
温にさらされた後は印字が困難になる。
在広く実用化されているネマティック液晶と同様に、−
２０度Ｃ程度の低温で液晶相から結晶相に変化する。ネ
マティック液晶を用いたセルでは結晶化した後、室温に
戻すと低温にさらされる前と同様に正常に動作する。し
かし強誘電性液晶を用いたセルでは、結晶化した後室温
に戻すと光の透過、非透過の切り替えが良好に制御出来
ない。これは強誘電性液晶が結晶相から液晶相に戻る過
程で、液晶層の配向が不均一化することに起因する。し
たがって強誘電性液晶を用いた液晶シャッターヘッドを
光書き込み部とした電子写真方式液晶プリンターは、低
温にさらされた後は印字が困難になる。
本発明は、前記従来の問題点を除いた、低温にさらされ
た後も正常に機能する、強誘電性液晶を用いた液晶シャ
ッターヘッドを提供することを目的とする。
た後も正常に機能する、強誘電性液晶を用いた液晶シャ
ッターヘッドを提供することを目的とする。
本発明はこの目的を達成するために、液晶シャッターに
一対の液晶画素駆動電極の間に強誘電性液晶を設けたチ
ェック用画素部を形成し、チェック用画素部を利用して
液晶、シャッターの動作状況を観測する観測手段、液晶
シャッターが異常動作状況にある場合は、強誘電性液晶
のカイラルスメクティックＣ相を呈する温度範囲の上限
の温度以上に強誘電性液晶を加熱する加熱手段を有し、
液晶シャッターの機能修復を行う事を特徴としている。
一対の液晶画素駆動電極の間に強誘電性液晶を設けたチ
ェック用画素部を形成し、チェック用画素部を利用して
液晶、シャッターの動作状況を観測する観測手段、液晶
シャッターが異常動作状況にある場合は、強誘電性液晶
のカイラルスメクティックＣ相を呈する温度範囲の上限
の温度以上に強誘電性液晶を加熱する加熱手段を有し、
液晶シャッターの機能修復を行う事を特徴としている。
（実施例１）
以下本発明による実施例を図面に基づいて詳述する。第
１図（ａ）に本発明の液晶シャッターヘッドの構成を示
す。第１図［ｂ）は液晶シャッターの平面図である。光
源であるネオンラング１から出射された光は、それぞれ
独立に透過率を電気的に制御できる多数の画素で構成さ
れた液晶シャッター６のシャッタ一部１４で光強度が制
御される。シャッタ一部１４の画素の像は結像レンズ１
６で感光部材の表面に１：１に結像される。シャッタ一
部１４の画素の透過率を印字情報に従って制御して、所
望の静電潜像を感光部材の表面に形成する。
１図（ａ）に本発明の液晶シャッターヘッドの構成を示
す。第１図［ｂ）は液晶シャッターの平面図である。光
源であるネオンラング１から出射された光は、それぞれ
独立に透過率を電気的に制御できる多数の画素で構成さ
れた液晶シャッター６のシャッタ一部１４で光強度が制
御される。シャッタ一部１４の画素の像は結像レンズ１
６で感光部材の表面に１：１に結像される。シャッタ一
部１４の画素の透過率を印字情報に従って制御して、所
望の静電潜像を感光部材の表面に形成する。
液晶シャッター６は透明基板４で挾持された強誘電性液
晶層５、透明基板４の外側に設けた、互いに偏光軸がほ
ぼ直交した偏光板６および液晶層を加熱するためのヒー
ター２で構成した。強誘電性液晶層５は例えばチッソ■
の強誘電性液晶Ｃ８−１０１４を、ＳｉＯの斜方蒸着を
配向膜として用いて配向させて得た。
晶層５、透明基板４の外側に設けた、互いに偏光軸がほ
ぼ直交した偏光板６および液晶層を加熱するためのヒー
ター２で構成した。強誘電性液晶層５は例えばチッソ■
の強誘電性液晶Ｃ８−１０１４を、ＳｉＯの斜方蒸着を
配向膜として用いて配向させて得た。
強誘電性液晶層５は感光部材に光書き込みする光の強度
を制御するシャッタ一部１４と、強誘電性液晶の状態を
検出するためのチェック用画素部１５で構成した。チェ
ック用画素部１５ではチェック用画素駆動電極７で強誘
電性液晶を駆動する。
を制御するシャッタ一部１４と、強誘電性液晶の状態を
検出するためのチェック用画素部１５で構成した。チェ
ック用画素部１５ではチェック用画素駆動電極７で強誘
電性液晶を駆動する。
強誘電性液晶の状態を検出する方法と強誘電性液晶０動
作異常を検出した場合の機能修復方法を以下に述べる。
作異常を検出した場合の機能修復方法を以下に述べる。
本実施例は強誘電性液晶の動作状況を光学的に検出する
例である。
例である。
液晶ページプリンターの電源を入れる毎に、制御部１６
の制御のもとに強誘電性液晶の動作状況をチェックする
。ヒーター２を用いて加熱し、サーミスタ９で温度を検
出してフィードバック制御して、液晶シャッター６を４
５度Ｃ一定に保つ。
の制御のもとに強誘電性液晶の動作状況をチェックする
。ヒーター２を用いて加熱し、サーミスタ９で温度を検
出してフィードバック制御して、液晶シャッター６を４
５度Ｃ一定に保つ。
ネオンラング１を点灯しチェック用画素部１５を照射す
る。チェック用画素駆動電極７をチェック電極駆動部１
１で第２図の駆動波形１７で駆動し、チェック用画素部
を透過した光量の時間変化を光センサ−８および光セン
サー電流検出部１２で測定する。強誘電性液晶が正常に
動作しているときは、光センサー電流検出部１２の出力
は第２図の実線１８に示すように振幅が大きい。しかし
強誘電性液晶が低＠（Ｃ８−１０１４では一２０度Ｃ以
下）に長時間さらされて結晶化して配向が乱れた場合は
、強誘電性液晶の分子配列が印加電圧の正負で良好に制
御できないので、チェック用画素部のコントラスト比が
低下し、光センサー電流検出部１２の出力は第２図の点
線１９に示すよ５に振幅が小さい。したがって光センサ
ー電流検出部の出力波形の振幅の大小で、強誘電性液晶
が正常に動作しているか、動作が異常か判断できる。正
常に動作しているときは以上の手順で、強誘電性液晶の
動作チェックを終了する。
る。チェック用画素駆動電極７をチェック電極駆動部１
１で第２図の駆動波形１７で駆動し、チェック用画素部
を透過した光量の時間変化を光センサ−８および光セン
サー電流検出部１２で測定する。強誘電性液晶が正常に
動作しているときは、光センサー電流検出部１２の出力
は第２図の実線１８に示すように振幅が大きい。しかし
強誘電性液晶が低＠（Ｃ８−１０１４では一２０度Ｃ以
下）に長時間さらされて結晶化して配向が乱れた場合は
、強誘電性液晶の分子配列が印加電圧の正負で良好に制
御できないので、チェック用画素部のコントラスト比が
低下し、光センサー電流検出部１２の出力は第２図の点
線１９に示すよ５に振幅が小さい。したがって光センサ
ー電流検出部の出力波形の振幅の大小で、強誘電性液晶
が正常に動作しているか、動作が異常か判断できる。正
常に動作しているときは以上の手順で、強誘電性液晶の
動作チェックを終了する。
強誘電性液晶の動作が異常の場合は、以下に示す千頭で
、強誘電性液晶層５の機能修復を行う。
、強誘電性液晶層５の機能修復を行う。
ヒーター駆動部にてヒーター２に電流を流し、強誘電性
液晶層５を加熱し、少な（とも力イラルスメクティック
Ｃ相の上限温度以上にする。その後、自然冷却して再び
カイラルスメクテイックＣ相の温度範囲に戻すと（本実
施例では動作温度である４５度Ｃ）液晶の機能を修復が
なされる。本実施例の強誘電性液晶Ｃ８−・１０１４は
一２０度Ｃかも５５度ＣでカイラルスメクティックＣ相
を示し、５５度ＣでカイラルスメクティックＣ相からス
メクティックＡ相に転移し、６９度Ｃでスメクティック
入相からコレステリック相に転移し、８１度Ｃでコレス
テリック相から液体相に転移する。
液晶層５を加熱し、少な（とも力イラルスメクティック
Ｃ相の上限温度以上にする。その後、自然冷却して再び
カイラルスメクテイックＣ相の温度範囲に戻すと（本実
施例では動作温度である４５度Ｃ）液晶の機能を修復が
なされる。本実施例の強誘電性液晶Ｃ８−・１０１４は
一２０度Ｃかも５５度ＣでカイラルスメクティックＣ相
を示し、５５度ＣでカイラルスメクティックＣ相からス
メクティックＡ相に転移し、６９度Ｃでスメクティック
入相からコレステリック相に転移し、８１度Ｃでコレス
テリック相から液体相に転移する。
強誘電性液晶Ｃ８−１０１４について、加熱温度と配列
状部の修復の程度の関係を実験したところ、強誘電性液
晶Ｃ８−１０１４をカイラルスメクティックＣ相の上限
温度より高温のスメクテイツク人相に加熱して自然冷却
すると、液晶層の配列状態が修復する効果が生じ始める
。又、強誘電性液晶がコレステリック相を呈する＠度以
上に加熱して自然冷却すると、液晶層の配列状態は完全
に修復した。以上で強誘電性液晶層の動作チェックおよ
び機能修復を終了する。
状部の修復の程度の関係を実験したところ、強誘電性液
晶Ｃ８−１０１４をカイラルスメクティックＣ相の上限
温度より高温のスメクテイツク人相に加熱して自然冷却
すると、液晶層の配列状態が修復する効果が生じ始める
。又、強誘電性液晶がコレステリック相を呈する＠度以
上に加熱して自然冷却すると、液晶層の配列状態は完全
に修復した。以上で強誘電性液晶層の動作チェックおよ
び機能修復を終了する。
（実施例２）
本実施例による液晶シャッターヘッドの構成を第３図に
示す。本実施例では、実施例１の構成要素であった光セ
ンサーおよび光センサーを流検出部を削除１．、液晶駆
動電流検出部２０を設げる。
示す。本実施例では、実施例１の構成要素であった光セ
ンサーおよび光センサーを流検出部を削除１．、液晶駆
動電流検出部２０を設げる。
本実施例は、強誘電性液晶の動作状況を電気的に検出す
る場合である。
る場合である。
液晶ページプリンターの電源を入れる毎に、制御部１６
の制御のもとに強誘電性液晶の動作状況をチェックする
。ヒーターを用いて加熱し、サーミスタ９で温度を検出
してフィードバック制御して、液晶シャッター６を４５
度Ｃ一定に保つ。チェック用画素駆動電極７をチェック
電極駆動部１１で第４図の駆動波形２１で示す正負が交
互に変化する電圧波形で駆動し、電流波形を液晶駆動電
流検出部２０で測定する。強誘電性液晶が正常に動作し
ているときは、液晶駆動電流検出部２０の出力は、第４
図の実線２２に示すような波形である。しかし強誘電性
液晶が低温に長時間さらされて結晶化して配向が乱れた
場合は、強誘電性液晶の分子配列が印加電圧の正負で良
好に制御できないので、強誘電性液晶の分子反転時の駆
動電流の変化が少な（、液晶駆動電流検出部２０の出力
は第４図の点′ａ２６に示すような波形である。第４図
の波形２２と２６は、矢印２４で示す波形の肩の部分の
盛り上がりの様子が相違する。すなわちチェック用画素
部の強誘電性液晶の動作が正常の場合は、波形の肩の部
分の電流値が、強誘電性液晶の動作が異常の場合の電流
値より大きい。したがって液晶駆動電流検出部２０の出
力波形の肩の部分の電流値の大小で、強誘電性液晶が正
常に動作しているか、動作が異常か判断できる。正常に
動作しているときは以上の手順で、強誘電性液晶の動作
チェックを終了する。強誘電性液晶の動作が異常の場合
は、実施例１と同様の手順で強誘電性液晶層５０機能修
復を行う。
の制御のもとに強誘電性液晶の動作状況をチェックする
。ヒーターを用いて加熱し、サーミスタ９で温度を検出
してフィードバック制御して、液晶シャッター６を４５
度Ｃ一定に保つ。チェック用画素駆動電極７をチェック
電極駆動部１１で第４図の駆動波形２１で示す正負が交
互に変化する電圧波形で駆動し、電流波形を液晶駆動電
流検出部２０で測定する。強誘電性液晶が正常に動作し
ているときは、液晶駆動電流検出部２０の出力は、第４
図の実線２２に示すような波形である。しかし強誘電性
液晶が低温に長時間さらされて結晶化して配向が乱れた
場合は、強誘電性液晶の分子配列が印加電圧の正負で良
好に制御できないので、強誘電性液晶の分子反転時の駆
動電流の変化が少な（、液晶駆動電流検出部２０の出力
は第４図の点′ａ２６に示すような波形である。第４図
の波形２２と２６は、矢印２４で示す波形の肩の部分の
盛り上がりの様子が相違する。すなわちチェック用画素
部の強誘電性液晶の動作が正常の場合は、波形の肩の部
分の電流値が、強誘電性液晶の動作が異常の場合の電流
値より大きい。したがって液晶駆動電流検出部２０の出
力波形の肩の部分の電流値の大小で、強誘電性液晶が正
常に動作しているか、動作が異常か判断できる。正常に
動作しているときは以上の手順で、強誘電性液晶の動作
チェックを終了する。強誘電性液晶の動作が異常の場合
は、実施例１と同様の手順で強誘電性液晶層５０機能修
復を行う。
以上の説明で明らかなように１本発明によれば、強誘電
性液晶を用いた液晶シャッターヘッドの強誘電性液晶層
の配向状態が劣化して、シャッターのコントラスト比が
低下した状態を自動的に検出して機能修復をするので、
信頼性の高い液晶シャッターヘッドを得る。
性液晶を用いた液晶シャッターヘッドの強誘電性液晶層
の配向状態が劣化して、シャッターのコントラスト比が
低下した状態を自動的に検出して機能修復をするので、
信頼性の高い液晶シャッターヘッドを得る。
８・・・・・・光センサ−
１５・・・・・・チェック用画素部、
１６・・・・・・結像レンズ、
２０・・・・・・液晶駆動電流検出部。
チェック用画素部の駆動波形および透過光強度の時間変
化を示す波形図、第３図は本発明の実施例２の液晶シャ
ッターヘッドの構成を示す説明図、第４図は実施例２で
のチェック用画素部の駆動電圧波形および駆動電流波形
の時間変化を示す波形図である。
化を示す波形図、第３図は本発明の実施例２の液晶シャ
ッターヘッドの構成を示す説明図、第４図は実施例２で
のチェック用画素部の駆動電圧波形および駆動電流波形
の時間変化を示す波形図である。
１・・・・・・ネオンラング、
２・・・・・・ヒーター
５・・・・・・強誘電性液晶層。
６・・・・・・液晶シャッター
Claims (3)
- （１）光源、該光源からの光の透過率を制御する強誘電
性液晶を用いた多数の液晶画素を有する液晶シャッター
、前記液晶画素を駆動する駆動ＩＣおよび画素の像を感
光ドラム上に形成する光学系で構成される液晶シャッタ
ーヘッドにおいて、一対の液晶画素駆動電極と前記強誘
電性液晶からなるチェック用画素部を設けた前記液晶シ
ャッターと、チェック用画素部を通して液晶シャッター
の動作状況を観測する観測手段と、液晶シャッターが異
常動作状況にあると判断された場合、強誘電性液晶のカ
イラルスメクティックＣ相を呈する温度範囲の上限の温
度以上に強誘電性液晶を加熱する加熱手段とを有する事
を特徴とする液晶シャッターヘッド。 - （２）観測手段が、チェック用画素部の透過光強度を観
測する事を特徴とする請求項１記載の液晶シャッターヘ
ッド。 - （３）観測手段が、チェック用画素部の駆動電流波形を
観測する事を特徴とする請求項１記載の液晶シャッター
ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23758488A JPH0285824A (ja) | 1988-09-22 | 1988-09-22 | 液晶シャッターヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23758488A JPH0285824A (ja) | 1988-09-22 | 1988-09-22 | 液晶シャッターヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0285824A true JPH0285824A (ja) | 1990-03-27 |
Family
ID=17017484
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23758488A Pending JPH0285824A (ja) | 1988-09-22 | 1988-09-22 | 液晶シャッターヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0285824A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008298043A (ja) * | 2007-06-04 | 2008-12-11 | Keihin Corp | 内燃機関用吸気マニホールド装置 |
-
1988
- 1988-09-22 JP JP23758488A patent/JPH0285824A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008298043A (ja) * | 2007-06-04 | 2008-12-11 | Keihin Corp | 内燃機関用吸気マニホールド装置 |
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| JPH045367B2 (ja) | ||
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