JPH0283513A - 光無瞬断アッテネータ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 光強度を無瞬断で可変する光無瞬断アッテネータに関し
、 ステップエラーの発生を抑止し、−時的にも瞬断が発生
することがない光熱瞬断アッティネータを提供すること
を目的とし、 ステップ減衰部及びリニア減衰部の減衰量を検出する第
１／第２の減衰量検出部と、減衰板制御部を介して予め
設定された減衰量と第１７第２の減衰量検出部で検出し
た減衰量とを比較し、その差をエラーとして検出する減
衰量エラー検出部と、減衰量エラー検出部で検出したエ
ラー値に相当する分だけステップ減衰部及びリニア減衰
部を通った光強度の減衰を補正する第３の光減衰部と、
第３の光減衰部における減衰量を検出する第３の減衰量
検出部とを備え、予め設定された減衰量に対して、ステ
ップ減衰部及びリニア減衰部で可変した減衰量に差が発
生した場合、その差に相当する減衰量をステップ減衰部
及びリニア減衰部の後段に設置されている第３の光減衰
部で補正するように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、光強度を無瞬断で可変する光無瞬断アッテネ
ータに関する。

所定強度より低いレーザー光等の光強度を可変する機器
として、光アッテネータが使用されている。

一般に、光アッテネータはその構成上減衰量可変時に発
生するエラー等により光出力が瞬断することがあり、光
通信技術等が発達する伴いかかる瞬断のない光アッテネ
ータに対する要望が強（なった。

〔従来の技術〕

第５図は従来例を説明するブロック図、第６図はステッ
プ減衰板とリニア減衰板を説明する図、第７図は従来例
の減衰特性を説明する図をそれぞれ示す。

第６図（Ａ）に示すステップ減衰板２ｂはモータからな
る駆動部２ａで駆動され、所定速度（例えば１回転１秒
程度）で回転するもので、このステップ減衰板２ｂの一
点に例えば、第５図で示すように光フィイバ（ａｌから
出力されるレーザー光を当てるように設定する。

ステップ減衰板２ｂは第６図（Ａ）に示すように、所定
領域毎にその減衰量が割り当てられており、例えばＯｄ
Ｂ領域、１０ｄＢ領域、・・・００６！域等に分割され
ている。尚、ＯｄＢ領域は透明な板の部分であり、それ
以降は光フィイバ（ａ）からの光を少しずつ透し難いよ
うに処理が施されている。

一方、第６図（Ｂ）に示すリニア減衰板３ｂもモータか
らなる駆動部３ａで駆動され、所定速度で回転させるよ
うに構成され、例えば時計方向に回転するに伴い順次減
衰量が増加するように処理されている。

尚、通常ステップ減衰板２ｂは一度に多くの減衰量が得
られ、リニア減衰板３ｂは回転角度に比例して順次減衰
量が増加し、微調整程度の減衰量が得られるように構成
されている。

ステップ減衰板２ｂ及びリニア減衰板３ｂ共にその減衰
量は予め減衰板制御部５を介して設定され、設定値に応
じた位置にステップ減衰板２ｂ及びリニア減衰板３ｂ共
に回転させて置くことになる。

第７図は設定値（（１）に示す）に対するステップ減衰
板２ｂ及びリニア減衰板３ｂの減衰特性（（２）及び（
３）に示す）を示し、この２つの減衰板２ｂ。

３ｂを経て可変された総合減衰量を（４）に示す。

尚、ステップ減衰板２ｂ及びリニア減衰板３ｂを通過さ
せる光フィイバ（ａｌからの光は、コリメートレンズＬ
１を介して平行光となり、ステップ減衰板２ｂ及びリニ
ア減衰＋ｆｆ１３ｂを通過させ所定光強度に可変された
光は集束レンズＬ２で光フィイバ（ｂｌ内へ集束される
。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述のような従来例の光アッティネータは原理的に２枚
の減衰板、即ち段階的に減衰量が変化するステップ減衰
板２ｂと、なだらかに減衰量が変化するリニア減衰板３
ｂとを組み合わせて使用すると、ステップ減衰板２ｂの
変化にリニア減衰板３ｂの変化が対応仕切れない場合が
発生する。

この時、その差がステップエラーとなり減衰量可変時に
一時的に異常な値になることがある。

本発明は、ステップエラーの発生を抑止し、時的にも瞬
断が発生することがない光無瞬断アッティネータを提供
することを目的とする。

かかる手段を具備することにより本課題を解決するため
の手段とする。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の詳細な説明するブロック図を示す。

第１図に示す本発明の原理ブロック図中の６０゜７０は
ステップ減衰部２及びリニア減衰部３での減衰量を検出
する第１／第２の減衰量検出部であり・ ８０は予め設定された減衰量と第１／第２の減衰量検出
部６０，７０で検出した減衰量とを比較し、その差をエ
ラーとして検出する減衰量エラー検出部であり、 ９０は減衰量エラー検出部８０で検出したエラー値に相
当する分だけステップ減衰部２及びリニア減衰部３を通
った光強度の減衰を補正する第３の光減衰部であり、 １００は第３の光減衰部９０における減衰量を検出する
第３の減衰量検出部であり、 〔作　用〕 予めステップ減衰部２及びリニア減衰部３に設定された
減衰量に対して、このステップ減衰部２及びリニア減衰
部３に実際に光が通過した時の減衰量を第１／第２の減
衰量検出部６０，７０で検出し、その検出した減衰量と
の間に差が発生した場合、その差に相当する減衰量をエ
ラーとしてステップ減衰部２及びリニア減衰部３の後段
に設置されている第３の光減衰部９０で補正することに
より、ステップエラーを確実に抑えることが可能となる
。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第２図〜第４図に示す実施例により
具体的に説明する。

第２図は本発明の詳細な説明するブロック図、第３図は
本発明の実施例におけるタイムチャートを説明する図、
第４図は本発明の実施例における固定リニア減衰板とガ
ルバノミラ−角度による減衰量を説明する図をそれぞれ
を示す。尚、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す
。

第２図に示す本発明の実施例は第１図で説明した第１／
第２の減衰量検出部６０，７０として、ステップ減衰部
２及びリニア減衰部３内エンコーダ２ｃ、３ｃからの信
号によりステップ減衰板２ｂ及びリニア減衰板３ｂが設
定されている位置の減衰量を予めメモリ　（ＲＯＭ）６
２，７：Ｈ，：Ｉき込まれているデータに基づき検出す
る減衰量検出回路６１．７１と、ステップ減衰板２ｂ及
びリニア減衰板３ｂの減衰特性を事前に測定し書き込ん
でいるメモリ　（ＲＯＭ）６２，７２からなる減衰量検
出部６０ａ、７０ａ、 減衰量エラー検出部８０として、減衰板制御部５から設
定された減衰量を基準として減衰量検出回路６１，７１
及び１０１から出力される減衰量を比較し、その差を増
幅する差動増幅器８１と、同じく減衰量検出回路６１，
７１の出力を減衰板制御部５から設定された減衰量とし
比較し、ステップ減衰部２及びリニア減衰部３内アクチ
ュエータ２ａ　Ｚ　　３ａ　’を補正動作する差動増幅
器８２．８３からなる減衰量エラー検出部８０ａ、第３
の光減衰部９０として、ガルバノミラ−９２を駆動する
アクチュエータ９１と、入光した光を所定角度方向に反
射するガルバノミラ−９２と、ガルバノミラ−９２で反
射された光を平行光とするレンズＬ３と、固定したリニ
ア減衰板９４と、固定したリニア減衰板９４からの光を
集束するレンズＬ４とからなる光減衰部９０ａ、 第３の減衰量検出部１００として、アクチュエータ９１
の回転角から光減衰部９０ａの減衰量を検出する減衰量
検出回路１０１と、光減衰部９０ａの減衰特性を事前に
測定し書き込んでいるメモリ　（ＲＯＭ）１０２からな
る減衰量検出部１００ａから構成した例である。

尚、本実施例は上述の各機能ブロックの他にアクチュエ
ータ２ａ’、３ａ’、９１をそれぞれアクセスするため
のドライバ５ｂ、５ｃ、６が具備されている。

又、本実施例は第５図で説明したステップ減衰部２及び
リニア減衰部３内駆動部２ａ、３ａをアクチュエータと
し、ステップ減衰部２及びリニア減衰部３における減衰
量はエンコーダ２ｃ、３ｃで変換して出力するものとす
る。

光減衰部９０ａで使用されている固定したリニア減衰板
９４は第４図（Ａ）に示すように、例えば左側を減衰量
ゼロとすると、右側を減衰量無限大とし、左から右側へ
行く程リニアに減衰量が増大する方向に変化する。

従って、固定リニア減衰板９４を通過する光をガルバノ
ミラ−９２の角度をアクチュエータ９１で移動すること
により、減衰量が変化することになる。

即ち、第４図（Ｂ）はガルバノミラ−９２の角度に対す
る減衰量を示し、ガルバノミラ−９２の角度は固定リニ
ア減衰板９４の減衰量の変化位置と対応するように設定
されている。

ガルバノミラ−９２の角度は、減衰板制御部５からの設
定値をドライバ６を介してアクチュエータ９１を回転し
、設定される。この時のアクチュエータ９１の回転角は
減衰量検出回路１０１で検出され、メモリ　（ＲＯＭ）
１▽０▽２に予め書き込まれている光減衰部９０ａの減
衰特性と比較して異なる場合は、差動増幅器８１を介し
て再度アクチュエータ９１を回転する。

このようにして予め所定角度に設定された時の減衰量は
、ステップ減衰部２及びリニア減衰部３における減衰量
を補正するものとして設定されることになる。

今、減衰量を５ｄＢから２２ｄＢに設定する場合を例に
取ると、この場合ステップ減衰部２の減衰量を大きくな
る方向に回転する必要があるので、減衰量が大きくなり
過ぎるのを防止する必要がある。

そこで、最初にリニア減衰部３をＯｄＢに設定すると同
時に、光減衰部９０ａを動かして全体の減衰量に変化が
無い減衰量とする。尚、これを第３図に示す■の期間で
行う。

次に、ステップ減衰部２を設定する。この時同時に光減
衰部９０ａを動かしてステップエラー発生を抑える方向
（例えば、減衰量を減らす方向）に減衰板制御部５で制
御し設定する。尚、これを第３図に示す■の期間で行う
。

次に、リニア減衰部３が所定の減衰量の位置へ設定され
ると、光減衰部９０ａはＯｄＢ位置へ戻し、設定が完了
する。

上述のように、光減衰部、９０ａの目標減衰量への設定
速度は、リニア減衰部３が所定の減衰量の位置へ設定さ
れる速度より高速である必要があり、従って、上述の光
減衰部９０ａは数１００Ｈｚの速度で目標減衰量に設定
することが可能なように構成されている。

上述の動作例は減衰量を大きい方向に設定する場合を例
に取り説明したが、減衰量を小さい方向に設定する場合
も同様なシーケンスで処理することにより達成される。

尚、第３図のタイムチャートは上記シーケンスを示すも
ので、（１）が設定値、（２）がステップ減衰部２の減
衰量、　（３１がリニア減衰部３の減衰量、（５）が光
減衰部９０ａの減衰量、（４）が総合減衰量をそれぞれ
示す。

この図でも明らかなようにステップ減衰部２のの動作に
リニア減衰部３の動作が追従出来ない間を光減衰部９０
ａで補正することにより、第７図に示す総合減衰量で発
生しているステップエラーが完全に抑えられている。

〔発明の効果〕

以上のような本発明によれば、ステップエラーが発生し
ない光熱瞬断アッテネータを提供することが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の詳細な説明するブロック図、第２図は
本発明の詳細な▽説明するブロック図、第３図は本発明
の実施例におけるタイムチャートを説明する図、 第４図は本発明の実施例における固定リニア減衰板とガ
ルバノミラ−角度による減衰量を説明する図、 第５図は従来例を説明するブロック図、第６図はステッ
プ減衰板とリニア減衰板を説明する図、 第７図は従来例の減衰特性を説明する図、をそれぞれ示
す。 図において、 ２はステップ減衰部、　２ａ、３ａは駆動部、２ａ　’
　、３ａ　　、９１はアクチュエータ、２ｂはステップ
減衰板、２ｃ、３ｃはエンコーダ、３はリニア減衰部、
　　３ｂはリニア減衰板、５は減衰板制御部、　　６，
５ｂ、５ｃはドライバ、６０．７０．１００は第１〜第
３の減衰量検出部、６０ａ　、　７０ａ　、　１００ａ
は減衰量検出部、６１．７１．１０１は減衰量検出回路
、６２．７２．１０２　はメモリ　（ＲＯＭ）、８０、
８０ａは減衰量エラー検出部、 ８１〜８３は差動増幅器、　９０．９０ａは光減衰部、
９２はガルバノミラ−９４は固定リニア減衰板、市名番
明の原裡念名兇ヨ月するブ°口・７り后ｖ７／　　図 、？−４も明の笑プり伊１１；ｆ５１ｊろタイム４ヤー
ド毛名先８片する口Ｃ固定漁奈ゴ反のが乗置） （Ａ） ＣＢ） 第 図 本発明の笑施伊ｔ−ｔｔｙｔ明するブＤ−，り図第　２
　口 入子・・ｌブ塙裏板ヒリニアが蓑板名説ｅ肘ろ口第　　
６　　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 所定光強度を所定段階毎に減衰して可変するステップ減
   衰部（２）と、直線的に減衰を可変するリニア減衰部（
   ３）とを通して所定強度を有する光を予め減衰板制御部
   （５）にて設定した減衰量を持って可変する光アッテネ
   ータにおいて、前記ステップ減衰部（２）及びリニア減
   衰部（３）の減衰量を検出する第１／第２の減衰量検出
   部（６０、７０）と、前記減衰板制御部（５）を介して
   予め設定された減衰量と前記第１／第２の減衰量検出部
   （６０、７０）で検出した減衰量とを比較し、その差を
   エラーとして検出する減衰量エラー検出部（８０）と、 前記減衰量エラー検出部（８０）で検出したエラー値に
   相当する分だけ前記ステップ減衰部（２）及びリニア減
   衰部（３）を通った光強度の減衰を補正する第３の光減
   衰部（９０）と、 前記第３の光減衰部（９０）における減衰量を検出する
   第３の減衰量検出部（１００）とを備え、予め設定され
   た減衰量に対して、前記ステップ減衰部（２）及びリニ
   ア減衰部（３）で可変した減衰量に差が発生した場合、
   その差に相当する減衰量を前記ステップ減衰部（２）及
   びリニア減衰部（３）の後段に設置されている前記第３
   の光減衰部（９０）で補正することを特徴とする光無瞬
   断アッテネータ。