JPH0281408U - - Google Patents

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JPH0281408U
JPH0281408U JP16103088U JP16103088U JPH0281408U JP H0281408 U JPH0281408 U JP H0281408U JP 16103088 U JP16103088 U JP 16103088U JP 16103088 U JP16103088 U JP 16103088U JP H0281408 U JPH0281408 U JP H0281408U
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  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係るレーザ干渉測定装置を使
用した変位測定システムの原理図、第2図は本考
案に係るレーザ干渉測定装置の光学系の説明図、
第3図は従来のレーザ干渉測定装置を使用した変
位測定システムの原理図である。 10……レーザ光、12……第1のビームスプ
リツタ、14……第2のビームスプリツタ、16
……第3のビームスプリツタ、18……光電変換
部、20……第1の透過光、22……第1の反射
光、20A……反射透過光、20A′……第2の
透過光、20A″……第2の反射光、54……可
動反射鏡。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 レーザ光を発射するレーザ光源と、 該レーザ光の光軸上に配設され該レーザ光を第
    1の透過光とこれに直交する第1の反射光とに分
    割する第1のビームスプリツタと、 被測定物に設置され分割された第1の透過光を
    反射させる可動反射鏡と、 前記可動反射鏡から反射された第1の透過光が
    入射し該第1の透過光を第2の透過光とこれに直
    交する第2の反射光とに分割する第2のビームス
    プリツタと、 第1の反射光と第2の反射光とが入射し、第1
    の反射光と第2の反射光とを干渉させる第3のビ
    ームスプリツタと、 からなることを特徴とするレーザ干渉測定装置
JP16103088U 1988-12-12 1988-12-12 レーザ干渉測定装置 Expired - Lifetime JPH067291Y2 (ja)

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JP16103088U JPH067291Y2 (ja) 1988-12-12 1988-12-12 レーザ干渉測定装置

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JP16103088U JPH067291Y2 (ja) 1988-12-12 1988-12-12 レーザ干渉測定装置

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Publication Number Publication Date
JPH0281408U true JPH0281408U (ja) 1990-06-22
JPH067291Y2 JPH067291Y2 (ja) 1994-02-23

Family

ID=31443619

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JP16103088U Expired - Lifetime JPH067291Y2 (ja) 1988-12-12 1988-12-12 レーザ干渉測定装置

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