JPH027615A - 電源電圧検出回路 - Google Patents

電源電圧検出回路

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JPH027615A
JPH027615A JP15715088A JP15715088A JPH027615A JP H027615 A JPH027615 A JP H027615A JP 15715088 A JP15715088 A JP 15715088A JP 15715088 A JP15715088 A JP 15715088A JP H027615 A JPH027615 A JP H027615A
Authority
JP
Japan
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power supply
node
comparator
diode means
supply voltage
Prior art date
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Pending
Application number
JP15715088A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriyuki Onishi
大西 範行
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP15715088A priority Critical patent/JPH027615A/ja
Publication of JPH027615A publication Critical patent/JPH027615A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は電源電圧が印加されたことを検出し制御用信号
を出力する電源電圧検出回路に関するものである。
従来の技術 例えば半導体集積回路においては、電源を立ち上げた際
に動作が不安定となり、そのため初期出力が確定されな
い回路がある。場合によってはこの回路の初期出力を確
定させる必要がある。
第3図はこのような確定しない初期出力を有する回路に
出力確定用制御信号を供給する電源電圧検出回路のMO
S型電界効果トランジスタを用いた従来例である。
第3図において、1.2は抵抗、11.12はPチャネ
ル形のMO8型電界効果トランジスタ(以下P形MOS
FETと記す)、13.14゜15はNチャネル形のM
O8型電界効果トランジスタ(以下N形MO8FETと
記す)、30はコンパレータ、31.32はコンパレー
タ30の入力端子、33はコンパレータ30の出力端子
、40は波形整形用増幅器であり、41は波形整形用増
幅器40の出力端子である。
以上のように構成された従来の電源電圧検出回路につい
て、以下その動作を説明する。
第3図において、抵抗1,2は電源電位VDDと接°地
電位VSS間に直列に接続され、これらによって電源電
位vDDを分圧した基準電位をコンパレータ30の入力
端子32に供給する。P形MOSFET11.12及び
N形MO8FET13,14.15はカレントミラー回
路構成され、N形MO8FET15のドレイン電位をコ
ンパレータ30の入力端子31に供給する。コンパレー
タ30の入力端子31に入力される電圧値は、電源電位
vDDがある値より高くなり、P形MOSFETI 1
、N形MO8FET14.15に電流が流れる状態にお
いては、N形MO8FETのしきい値電圧をVTll、
 p形MO8FETのしきい値電圧をVTPとすると、
はぼVoo −l VTP l −l VTN l l
::設定される。
第4図に電源電圧に対するコンパレータ30の各入力端
子電位の温度依存性を示す。電源電圧VDDを上げてい
き、ある値(以後リセット解除電圧値と記す)に達する
と、コンパレータ30の入力端子31に入力される入力
信号の電圧値が入力端子32に入力される入力信号の電
圧値より大きくなり、コンパレータ30の出力端子33
の出力値が変化する。その出力信号は増幅器40により
増幅されて出力端子41から出力される。電源電圧印加
により半導体装置中の各回路に初期出力値を決定させる
リセット信号が加わり、出力端子41の出力変化により
リセットが解除される。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、前記従来の構成では、入力端子32に入
力される出力値が電源電圧及びP形MO8FETのしき
い値電圧とN形MO8FETのしきい値電圧によって決
まるためにしきい値電圧の温度依存性がそのまま反映さ
れる。第4図に示すように高温時にはしきい値、電圧は
小さくなり、出力端子33にリセット解除信号を出力す
る時のリセット解除電圧値が設定値より小さくなり、パ
ルス幅が狭くリセットパルスとして認識されない場合が
ある。
本発明は上記問題点を解決するもので、リセット解除電
圧値の温度依存性を小さくすることを目的とする。
課題を解決するための手段 この目的を達成するために、本発明の半導体集積回路は
、コンパレータの各入力端子に入力する電圧値を決める
のにどちらもダイオードを用い温度変化に応じたしきい
値電圧変化をするような構成をとっている。
作用 この構成によれば、MOSFETのしきい値電圧の温度
依存性はコンパレータの入力時に相殺される。
実施例 以下本発明の実施例について図面にもとづいて説明する
。第1図は本発明の一実施例であり、ダイオード手段と
してドレインとゲートを接続したMOSFETを用いた
場合を示す。
第1図において電源電位VDDと接地電位の間を、第1
のノード5を介してMO8FET16と抵抗3を直列接
続し、また第2のノード6を介して抵抗4とMOSFE
T17を直列接続し、第1のノード5および第2のノー
ド6をそれぞれコンパレータ30の入力端子31および
32に接続し、コンパレータ結果を波形整形用増幅器4
0を通して出力する構成である。
第2図は、電源電圧に対するコンパレータ30の各入力
端子電位の温度依存性を示す。
以下第1図および第2図を用いて、本発明の電原電圧検
出回路の動作を説明する。
電源電位VDDが接地電位からMOSFETのしきい値
電圧に達するまではMOSFET16および17は非導
通状態で第1のノード5の電位は接地電位、第2のノー
ド6の電位は電源電位vDDである。電源電位vDDが
しきい値電圧以上になると、MOSFET16および1
7が導通状態となり抵抗とMOSFETの飽和特性によ
って分圧された電位が第1のノード5および第2のノー
ド6に出力され、それぞれコンパレータ30の入力端子
31および32に入力される。入力端子31の電位は電
源電位VDDよりほぼP形MO8FETのしきい値電圧
VTPだけ低く、入力端子32の電位はほぼN形MOS
FETのしきい値電圧VTNとなる。電源電位VDDが
太き(なり、リセット解除電圧値以上になると、入力端
子31および32の電位の大小関係が反転する。コンパ
レータ30の出力33は、電源電圧が印加され、リセッ
ト解除電圧に達するまでの期間、リセットパルスを出力
する。この出力33は、波形整形用増幅器40により波
形整形され、出力41より他の回路にリセット信号を伝
達する。
発明の詳細 な説明したように本発明は、電源電圧によって回路網に
制御用信号を出力する電源電圧検出回路において、リセ
ット電圧値の温度依存性を小さくすることを可能にして
いる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における電源電圧検出回路の
回路図、第2図は本発明の一実施例における電源電圧検
出回路の入力端子25.26に入力される電圧値と電源
電圧の関係を示す特性図、第3図は従来例の電源電圧検
出回路の回路図、第4図は従来例の電源電圧検出回路の
入力端子21゜22に入力される電圧値と電源電圧の関
係を示す特性図である。 1〜4・・・・・・抵抗、11,12.16・・・・・
・Pチャネル形MO8FET、13.14,15.17
・・・・・・Nチャネル形MO8FET、30・・・・
・・コンパレータ、40・・・・・・波形整形用増幅器
、VDD・・・・・・電源電圧、3132・・・・・・
コンパレータの入力端子、33・・・・・・コンパレー
タの出力端子、41・・・・・・電源電圧検出回路の出
力端子。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第 1 図 t6 −−− P+e7Ay#  Mo、5FFTパー
−−〜+v Z yL # MOJ FE7第 図 第 図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)カソードが電源端子に結合された第1のダイオー
    ド手段と前記第1のダイオード手段のアノードが接続さ
    れた第1のノードと、前記第1のノードと接地端子との
    間に接続された第1の抵抗手段と、アノードが前記接地
    端子に結合された第2のダイオード手段と、前記第2の
    ダイオード手段のカソードが接続された第2のノードと
    、前記第2のノードと前記接地端子との間に接続された
    第2の抵抗手段と、前記電源端子に印加される電位より
    、前記第1のダイオード手段の両極間の電圧だけ下った
    前記第1のノードの電位と前記第2のダイオード手段の
    両極間の電圧を示す前記第2のノードの電位との大小比
    較で出力が変化する比較器とからなる電源電圧検出回路
  2. (2)第1のダイオード手段および第2のダイオード手
    段の少なくとも一方をダイオード接続されたトランジス
    タで構成した請求項1記載の電源電圧検出回路。
  3. (3)第1のダイオード手段および第2のダイオード手
    段の少なくとも一方をドレインとゲートを接続したMO
    S型電界効果トランジスタで構成した請求項1または2
    記載の電源電圧検出回路。
JP15715088A 1988-06-24 1988-06-24 電源電圧検出回路 Pending JPH027615A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6016025A (en) * 1997-05-15 2000-01-18 M-Tron Industries, Inc. Selected overtone resonator with channels
US6281738B1 (en) 1998-09-04 2001-08-28 Nec Corporation Bus driver, output adjusting method and driver
JP2004236306A (ja) * 2003-01-10 2004-08-19 Stmicroelectronics Inc 運動感受性パワースイッチング集積回路を包含する電子装置及び関連する方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60211520A (ja) * 1984-04-06 1985-10-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電源電圧検出回路

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