JPH0275925A - 分布型圧覚センサ - Google Patents

分布型圧覚センサ

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JPH0275925A
JPH0275925A JP63227432A JP22743288A JPH0275925A JP H0275925 A JPH0275925 A JP H0275925A JP 63227432 A JP63227432 A JP 63227432A JP 22743288 A JP22743288 A JP 22743288A JP H0275925 A JPH0275925 A JP H0275925A
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cross
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Mitsuo Kobayashi
光男 小林
Masahiro Ooka
昌博 大岡
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、分布型圧覚センサに関し、詳しくはロボット
ハンド等の表面に取りつけられ、ロボットハンド等が物
体を把持する時に、加えられる力従来、ロボットハンド
等に取付けて、ハンドに対して垂直方向に加わる力の分
布を検出する分布型の圧覚センサとして、検出素子に導
電性を有するゴムまたはプラスチックを用いたものが提
案されている。第11図はその1例を示し、本例は、互
いに直交させるように細い導電性ゴム条1および2を2
層にして組合わせたものである。この分布型圧覚センサ
のゴム条配列面に対して垂直方向の力が加わると、導電
性ゴム条1と2との接触部分の面積が増加し抵抗が変化
する。従って第12図に示すように電圧端子3に、例え
ば5vの電圧を1000Ωの抵抗4を介して印加してお
き、出力点5の電圧変化を測定することにより、加えら
れた力の大きさを知ることができる。
また第13図は別の例で、ホール素子6を磁石7の対向
位置に設け、センサヘッド8に垂直方向の力が加わった
時にホール素子6をばね9のばね力に抗して変位させ、
ホール素子6における磁束密度が変化するのをホール素
子6により検出することで、加えられた力の大きさを知
るものである。
ところで、第11図に示したような導電性ゴムを1用い
た分布型圧覚センサでは、加えられた力に比例して接触
部分の面積が変化するとは限らないため、接触部分の抵
抗値変化が力に比例せずセンサ出力が非線型になること
、および電圧端子、グランド端子、出力端子をそれぞれ
のゴム条に接続しなけらばならないため、力の分布を高
密度に検出しようとすると配線数が多くなってしまうと
いう欠点がある。また、第13図に示したような圧覚セ
ンサでは、構造が複雑であるため小型化が困難であるこ
とや、被把持物体が磁性体であるか非磁性体であるかに
より、出力感度が異るという欠点がある。
そこで、本発明者は、先に第14図および第15図に示
すような分布型圧覚センサを提案した。
本提案では、第15図に示すように半導体基板の表面に
半導体ストレンゲージ11およびIC回路12を形成し
、その裏面側に第14図に示すように縦横に深溝部13
.浅溝部14および基板を貫通する長方形の貫通孔15
を穿設して、上記の半導体ストレンゲージ11を有する
縦横方向の独立した微小な梁構造113を形成し、更に
その中央部に受圧部としての突起17を形成する。かく
して梁構造16に力を加えると梁が撓み、半導体ストレ
ンゲージ11の抵抗値が変化することから、半導体スト
レンゲージ11を組込んだ不図示のブリッジ回路を介し
てこれらの信号を取出し、IC回路12で処理して加え
られた力の大きさを検出することができる。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した提案による分圧型圧覚センサで
は、基板面に垂直な方向の分力を検出素子の分布密度と
同じ密度で検出できるのに対し、基板面に沿った互いに
直交する2方向の分力は、梁の方向が交互に異なるよう
にしであるため垂直方向の分力の分布に対し、その半分
の密度でしか検出できないという課題が残されていた。
そこで、本発明の目的は、上述の課題を解決すべく、個
々の検出素子ごとに垂直方向の分力および水平方向の2
分力が検出可能で、しかも高分布、高密度で荷重の検出
が可能な分布型圧覚センサを提供することにある。
[課題を解決するための手段] かかる目的を達成するために、本発明は、半導体基板上
の互いに直交するX方向およびY方向に、複数のX方向
およびY方向に対して軸対称を保つ正多角形または円形
の貫通孔をそれぞれ配列させて穿設すると共に、複数の
正多角形または円形の貫通孔によって取囲まれた部分に
X方向およびY方向に延在する十字型梁部を構成し、半
導体基板の一方の面における十字型梁部の各スパン中央
の交叉部に突起部を設け、突起部、の両側のスパンに薄
肉部を形成すると共に薄肉部のさらに両側にそれぞれ梁
支持部を形成し、半導体基板の他方の面における十字型
梁部のX方向およびY方向に複数の半導体ストレンゲー
ジを配設して、複数の半導体ストレンゲージにより突起
部の各々に加えられた力の半導体基板に対する垂直方向
の分力、X方向およびY方向の分力が検出可能な検出素
子を構成し、複数の半導体ストレンゲージからの検出信
号を処理する信号処理回路を半導体基板の他方の面の一
部に形成したことを特徴とする。
[作用] 本発明によれば、十字型梁部がX方向およびY方向にマ
トリックス状に配列させて穿設した貫通孔により、整然
と格子状に構成され、しかも各十字型梁はその上面の交
叉する中央部に受圧部としての突起部を有すると共にス
パンを形成する薄肉部の両端を厚肉の支持部によって保
持される形態となし、その十字型をなす梁部の裏面側に
は各スパンに沿って複数の半導体ストレンゲージが設け
られているので、各受圧部に加えられた垂直方向の力お
よび半導体基板上の互いに直交する2つの方向の力を十
字型梁部に設けた半導体ストレンゲージを介して、個々
に検出することが可能となり、全体として各方向の力の
分圧を高感度、高密度で検出することができるようにな
った。
[実施例] 以下に、図面に基づいて本発明の実施例を詳細かつ具体
的に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す。第1図はその分布型
センサをシリコンウェハの裏面から見た図であり、本例
の場合、センサを2×2のアレイとして構成した場合を
示す。なお、アレイの大きさは2×2に限られるもので
はなく、本発明の意図を逸脱しない限り任意の大きさの
アレイにすることができる。
ここで、■は分布型圧覚センサであり、シリコンウェハ
から切出して形成され、その左半分に検出部30Aが、
また右半分にIC回路を有する信号処理部30Bが構成
される。また、この分布型圧覚センサ30において、そ
の検出部30^の裏面側に斜線を施して示した部分は同
−深さでダイサ等により穿削加工した、Y方向の深溝部
31およびX方向の深溝部32であり、更に、これらの
深溝部31および32によって囲まれ、交叉線を施して
示した部分は正方形の貫通孔33であって、これらは放
電加工またはレーザ加工により形成される。また、第1
図で点々を付して示した部分は、浅溝部34であり、浅
溝部34はXおよびY方向に深溝部32および31を形
成した後、図示の部分を深溝加工に用いたダイサの砥石
よりもやや厚い砥石で、X方向およびY方向に走査する
ことにより加工できる。そこで、このような加工を分布
型圧覚センサ其の裏面側に施すことによって検出部30
^に4個の突起部35を備えた梁を形成することができ
る。
第2図は第1図のP−P断面を示したものであり、第2
図から分るように深溝部31、浅漬部34、および突起
部35によって2つのY方向の梁すが形成される。また
、第3図は第1図のQ−Q断面を示したものであり、第
3図からも分るように深溝部31.浅漬部34、および
突起部35によって2つのX方向の梁■が形成される。
第4図は分布型圧覚センサ且の表面側を示す。
第4図からも明らかなように16個の貫通孔33によっ
てY方向の梁部とX方向の梁Uとを組合わせた4個の十
字形状の梁(以下で十字梁という)が形成されているこ
とが分かる。そこで、本例ではこのような十字梁42の
中央部と周辺固定部に、1つの十字梁Uに対して8個の
半導体ストレンゲージ11を配設する。
第5図は十字梁Uの1つを取出して模式的に示すもので
あり、第6図はその裏面側を示す、いまこのような十字
梁Uに対し中央の突起部35に3方向の力FX、FY、
FZがそれぞれ加わった場合を考えると、力Fxが加わ
った場合、第6図に示す半導体ストレンゲージ111お
よび113の位置ではαμ5trainの引張歪が、ま
た半導体ストレンゲージ112および114の位置では
βμ5trainの圧縮歪が発生する。
なおこのとき、Y方向の梁部の部分に設けた半導体スト
レンゲージの位置では、ねじりによりせん断歪のみが発
生し、X軸方向の歪が発生しない。
次に力F1が加わった場合は、第6図に示す半導体スト
レンゲージ115および117の位置ではγμm  1
14の位置ではY軸方向の歪は発生しない。また力F2
が加わった場合は半導体ストレンゲージ112゜113
.116および117の位置にφp 5trainの引
張歪が、また半導体ストレンゲージ111,1i4,1
15および118の位置にψμ5trainの圧縮歪が
発生する。
第7図はこれらの力Fx、FY、F、と、各半導体スト
レンゲージ111〜118の位置に発生する歪εとの関
係を示す。なおここでは、力Fx、FyおよびF2の3
つの力が同時に加わった時に、各半導体ストレンゲージ
に発生する合計の歪も示しである。
そこで、このようにして各半導体ストレンゲージ111
−118に発生する歪の組合わせを以下のような演算に
従って算出することにより力Fx、FyおよびF2のそ
れぞれの力に応じた歪量を他方向の力の干渉を受けるこ
となく独立に取出すことができる。
すなわち、 (イ)力Fxを取出す場合 (61目−6,、、) −(εl 14’″ε目3)・
((α−ψ)−(−β+φ))−((−β−ψ)−(α
◆φ))・2(α+β)(1) (0)力FYを取出す場合 (ε14.−ε、、、) −(6,6−ε、17)−(
(γ−ψ)−(−δ+φ))−((−δ−ψ)−(Y+
φ))−2(γ+δ)(2) (八)力F2を取出す場合 (61目−6112) +(ε114−ε目3)・((
α−ψ)−(−β+φ))−((−β−ψ)=(α+ 
φ))−一2 (φ+ψ)(3) または (6■5−ε116)  ÷ (ε1111−6117
)−((γ−ψ)−(−δ+φ))+((−δ−ψ)−
(γ+φ))−一2 (φ+ψ)          
     (3) ’また、式(1)〜(3)゛の演算
を電子回路で実現するには、次のようにすればよい。
(イ)力FXを取出す場合 式(1)の実現には第8図に示すように半導体ストレン
ゲージ111および112の組合せと半導体ストレンゲ
ージ114および113の組合せとで2つのハーフブリ
ッジを構成し、それらの出力を増幅器41で差動増幅し
てFX信号42を発生させる。
(0)力FYを取出す場合 式(2)の実現には第9図に示すように半導体ストレン
ゲージ115および116の組合せと半導体ストレンゲ
ージ11Bおよび117の組合せとで2つのハーフブリ
ッジを構成し、それらの出力を増幅器43で差動増幅し
てFY信号44を発生させる。
(八)力F2を取出す場合 式(3)の実現には第8図に示すように、2つのハーフ
ブリッジの出力を増幅器45で加算増幅してFZI信号
46をつくるか、または第9図に示すように2つのハー
フブリッジの出力を増幅器47で加算増幅してF22信
号48をつくればよい。
ざらにFil信号46およびFZ2信号48を図示はし
ないが再度加算増幅すれば、感度の高いFZ信号を作り
出すことができることはいうまでもない。
第1θ図は本発明の他の実施例を示す。本例は、貫通孔
53の形状を溝の幅に等しい直径を有する円孔に形成し
たもので、それ以外の構成及び機能は第1実施例と同一
である。シリコンウェハに放電加工で円孔に加工する場
合は、放電電極を回転させることが可能であるため放電
電極の真円度に依存しないきれいな孔をあけることがで
きる。このため、本実施例では、第1実施例に比べて貫
通孔のばらつきが少ないという利点が得られる。
なお、以上の実施例では貫通孔を正方形または円形の孔
とした場合について述べたが、貫通孔の形状はこれらに
限られるものではなく、正八角形、正十二角形等、X軸
およびY軸に対して軸対称の正多角形形状であればどの
ような形状であってもよいことは勿論である。
[発明の効果] 以上説明してきたように、本発明によれば、個々の検出
素子を同一基板上においてそれぞれ3方向の分力の検出
が可能なように十字型梁部に構成し、これらの検出素子
を連続させてマトリックス状に配列させるようにしたの
で、基板面に垂直方向の分力と基板面に水平な2方向の
分力との3方向の分力の分布を均一な高密度で検出する
ことができ、また基板面に垂直な方向の分力を8個の半
導体ストレンゲージにより検出する構成としたので、最
も高感度に検出したいセンサ面に垂直方向の分力の感度
を、基板面に水平な2方向の分力の感度のほぼ2倍で検
出することができる。
さらに、本発明の第2実施例においては、貫通
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明分布型圧覚センサの構成の一例を示す裏
面図、 第2図および第3図は第1図のP−P線およびQ−Q線
断面図、 第4図は第1図に示す分布型圧覚センサの表面図、 第5図は本発明にかかる分布型圧覚センサの1つの検出
素子を取出して模式的に示す斜視図、第6図は第5図の
R方向から見た矢視図、第7図は1つの検出素子に設け
られる複数の半導体ストレンゲージに3方向に発生する
歪のテーブル図、 第8図および第9図はその歪を測定するための回路の構
成図、 第1O図は本発明の他の実施例の構成を示す裏面図、 第11図は従来の分布型圧覚センサの構成の一例を示す
斜視図、 第12図は第11図に示す分布型圧覚センサの回路図、 第13図は従来の圧覚センサの他の構成例を示す断面図
、 第14図は本発明者が先に提案した分布型圧覚セン°す
の構成の一例を示す裏面図、 第15図はN14図に示す分布型圧覚センサの表面図で
ある。 其・・・分布型圧覚センサ、 30A・・・検出部、 30B・・・信号処理部、 13.31.32・・・深溝部、 14.34・・・浅溝部、 15.33・・・貫通孔、 17.35・・・突起部、 U・・・Y方向の梁、 U・・・X方向の梁、 U・・・十字型状の梁、 11.111〜118・・・半導体ストレンゲージ。 特許出願人工業技術院長飯工家幸工 第1図/)P−P緯鱈面図 vJl (21OQ−Qg!ffff1[21第3図 狛1に示ごす今布髭五覚α区ンすの表面図第4図 ト尤明1:σで゛ろ撞云素チを取水しで示す木十ネ克区
第5図 第5図に示す械jf)の稟囮区 第6図 紮)■ 垢71]+″−ホす歪のンHIJえ月回井の碑ぺ図第8
図 療7mに示す歪の)ロリ更用回陸の8へ図案9図 34シ々ζシ1唱円1チ下 杏疹明のイ名0莢カ乞例0庚面区 第10図 14電引Lコ゛ム躊; ネ垣3民の、イッー野・コ2,5三貧ヒンiのろ転成0
−e″1と示す夕今子見図案ti図 v)1zl:示7今界型圧貢七ンプO口詮O構成図第1
2図 8也ンすヘット・ イ足禾の圧覚ゼンサの化の構がd夕’It示す吋面図第
13図 $&日月者すq先に逢某しT二 扮五β丘寛七ンブの185図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)半導体基板上の互いに直交するX方向およびY方向
    に、複数の前記X方向およびY方向に対して軸対称を保
    つ正多角形または円形の貫通孔をそれぞれ配列させて穿
    設すると共に、前記複数の正多角形または円形の貫通孔
    によって取囲まれた部分にX方向およびY方向に延在す
    る十字型梁部を構成し、 前記半導体基板の一方の面における前記十字型梁部の各
    スパン中央の交叉部に突起部を設け、該突起部の両側の
    スパンに薄肉部を形成すると共に該薄肉部のさらに両側
    にそれぞれ梁支持部を形成し、 前記半導体基板の他方の面における前記十字型梁部の前
    記X方向およびY方向に複数の半導体ストレンゲージを
    配設して、該複数の半導体ストレンゲージにより前記突
    起部の各々に加えられた力の前記半導体基板に対する垂
    直方向の分力、前記X方向およびY方向の分力が検出可
    能な検出素子を構成し、 前記複数の半導体ストレンゲージからの検出信号を処理
    する信号処理回路を前記半導体基板の他方の面の一部に
    形成したことを特徴とする分布型圧覚センサ。
JP63227432A 1988-09-13 1988-09-13 分布型圧覚センサ Expired - Lifetime JPH0676929B2 (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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