JPH027580U - - Google Patents

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JPH027580U
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voltage
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係る半導体素子の検査装置の
一実施例を示す概略回路ブロツク図、第2図は電
子回路の具体例を示す回路図、第3図は入出力電
圧及び貫通電流を示す波形図である。第4図は検
査装置の従来例を示す概略回路ブロツク図、第5
図は入出力電圧を示す波形図である。 10……被検査半導体素子、11……電子回路
、14……入力電圧発生部、15……貫通電流検
出部、22……スレツシユホールド電圧判定部、
VIN……入力電圧、I……貫通電流。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 複数の電子回路を組込んだ被検査半導体素子の
    良否をスレツシユホールド電圧で判別する装置で
    あつて、 上記被検査半導体素子の各電子回路に入力電圧
    を印加する入力電圧発生部と、 入力電圧に基づいて各電子回路の出力レベルが
    切換わる時に各電子回路に瞬間的に流れる貫通電
    流を検出する貫通電流検出部と、 貫通電流に基づいて入力電圧のスレツシユホー
    ルド電圧が規格値内であるか否かを判別するスレ
    ツシユホールド電圧判定部とを具備したことを特
    徴とする半導体素子の検査装置。
JP8751888U 1988-06-30 1988-06-30 Pending JPH027580U (ja)

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