JPH0270063A - プラズマ/イオン生成源およびプラズマ/イオン処理装置 - Google Patents

プラズマ/イオン生成源およびプラズマ/イオン処理装置

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JPH0270063A
JPH0270063A JP63218503A JP21850388A JPH0270063A JP H0270063 A JPH0270063 A JP H0270063A JP 63218503 A JP63218503 A JP 63218503A JP 21850388 A JP21850388 A JP 21850388A JP H0270063 A JPH0270063 A JP H0270063A
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鳥居 康弘
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巌 渡辺
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、プラズマ/イオン生成源およびそれを用いた
プラズマCVD装置やプラズマエツチング装置のような
プラズマ/イオン処理装置の高性能化に関し、特に大き
な面積の試着を処理するのに好適なプラズマ/イオン生
成源およびそれを用いたプラズマ/イオン処理装置に関
するものである。
[従来の技術] 半導体製造のプロセス技術として、トライプロセスが半
導体装置の微細化および高集積化のために非常に重要な
技術となってきた。このようなトライプロセスにおいて
、エツチング、デポジション、イオン打ち込みなどをプ
ラズマ・イオンを用いて行うプラズマ処理装置が最近使
用されつつある。また、次世代材料の創成、材料の表面
特性を改質する新プロセス技術としても、このようなイ
オン・プラズマを用いたイオン・プラズマアシスト技術
が注目されている。これらの代表的な装M例としては、
プラズマCvD装置、イオンシャワーエツチング装置、
プラズマ流エツチング装置、イオン打ち込み装置、ダイ
ナミックイオンビームミキシング装置、イオンアシスト
デポジション装置等がある。
第7図に従来のECR放電を用いたプラズマ生成源およ
びそれを用いたECRCVD装置の基本構成を示す(例
えば、Jpn、J 、Appl、Phys、vol 、
22.no、4(1983)1210〜212参照)。
第7図において、1はプラズマ生成室であり、このプラ
ズマ生成室】には、マイクロ波発振源(図示省略)から
アイソレータおよび整合器(図示省略)を介して得たマ
イクロ波(たとえば2.45GH2)を、導波管2およ
びマイクロ波導入窓3を介して導く。プラズマ生成室1
の周囲には電子サイクロトロン共03%(EcR)のた
めの磁気コイル4を配置する。プラズマ生成室1にはガ
ス導入口5よりプラズマ化すべきガスを導入する。6は
プラズマ生成室1の外壁に冷却水を導く冷却水通路であ
る。
プラズマ生成室lの底部にはプラズマリミッタ7を設り
、プラズマ生成室1で発生させたプラズマを、このプラ
ズマリミッタ7を介してプラズマ流8として取り出し、
試料室9内に配置した試料台10上の試料IIに導く。
12は試料室9に対するガス導入口である。13は、プ
ラズマ生成室1および試料室9を真空に引くための排気
系である。
プラズマ生成室1にガス導入口5よりガスを導入すると
共に、導波管2からマイクロ波(例えば2.45G)1
2)を導入し、磁気コイル4によって電子サイクロトロ
ン共[%(ECR)条件の直流磁場(875ガウス)を
マイクロ波電界に対して直角方向に印加すると、これら
の相互作用て、プラズマ発生室1に導入されたガスはプ
ラズマになる。例えば、試料(Siウニ八へ)11の上
に5102をデポジションする場合には、ガス導入口5
から酸素ガスを導入してプラズマ化し、ガス導入口12
からSiH4を導入することにより、試料11を加熱す
ることなくその試料11の上に緻密な膜か低温で形成さ
れる。また、試料11の表面の5in2をエツチングす
る場合には、ガス導入口5から導入したCF4などのガ
スをプラズマ化して試料IIを照射することによりSi
O2かエツチングされる。
また、第7図の装置において、プラズマリミッタ7によ
るプラズマの引き出し口にイオン引き出し電極を取り付
けて、プラズマ中のイオンのみを取り出し、しかもその
イオンエネルギを制御することによって、この装置をイ
オンシャワーエツチング装置として使用することもてき
る。
[発明が解決しようとする課題] 従来、この種のマイクロ波励起によるプラズマ生成室の
空洞は、直径2.0cm程度であり、これにより極端に
大きな、たとえば長さが1m程度以上の試料を加工する
のは困難であフた。この要求に応えるためには、大口径
のプラズマを生成するプラズマ生成源を用いた大口径プ
ラズマデポジション/エツチング装置やダイナミックイ
オンビームミキシング装置の開発が必要である。そのた
めには、大口径ビームのプラズマを生成するプラズマ生
成源の開発か必須である。
ところか、第7図のようなプラズマ生成源においては、
単純にプラズマ生成室を大きくして、大口径のプラズマ
生成源を構成しても、マイクロ波の電界強度は周辺で弱
くなり、しかもマイクロ波の伝播モーI〜も多重モート
になり電界強度の不均一化か生しるため、プラズマ密度
か低下するばかりか、均一性を得る条件が厳しくなって
くる。さらにまた、複数個のプラズマ生成源をJIL純
に並べて面積を大粗くすることを試みても、比較的大き
な磁気回路を用いているため、プラズマ生成源の間隙を
空ける必要かあり、プラズマビーム均一化が困難であっ
たり、あるいはプラズマ密度が低下してしまうという問
題かあった。
すなわち、従来のECRプラズマ生成源では、ブイラズ
マ生成室の空洞を犬きくしても均一なプラズマが得られ
ず、均一で大口径のビームを得るためには限界かあった
。さらにまた、ECRプラズマ生成源は、比較的大きな
磁場を発生する磁気コイルを用いているため、間隙を空
けることなしにプラズマ生成源を設置できなかったため
、複数個のプラズマ生成源を単純に並へても均一で大面
積のプラズマビームを得ることは困難であった。
このような目的に対処するためには、均一な大口径プラ
ズマを発生するプラズマ生成源の開発か重要な課題にな
っている。
そこて、本発明の目的は、均一で大口径のプラズマ/イ
オンを発生するプラズマ/イオン生成源を提供すること
にある。
本発明の他の目的は、かかるプラズマ/イオン生成源を
用いて、大面積の試料を処理できるプラズマ/イオン処
理装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明プラズマ生成
源は、複数列の形態で配列され、プラズマを生成する複
数個のプラズマ生成部と、複数個のプラズマ生成部でそ
れぞれ生成された複数のプラズマが導かれるプラズマ結
合用空洞部と、複数列の各々の列のプラズマ生成部から
のプラズマをプラズマ結合用空洞部内において重ね合わ
せるプラズマ結合手段とを具えたことを特徴とする。
本発明プラズマ処理装置は、複数列の形態で配列され、
プラズマを生成する複数個のプラズマ生成部と、複数個
のプラズマ生成部でそれぞれ生成された複数のプラズマ
が導かれるプラズマ結合用空洞部と、複数列の各々の列
のプラズマ生成部からのプラズマをプラズマ結合用空洞
部内において重ね合わせるプラズマ結合手段と、プラズ
マ結合用空洞に接続された試料室と、試料室内に配置さ
れ、複数個のプラズマ生成部からのプラズマにより処理
される試料を載置可能な試料台とを具え、複数列の各々
の列の複数個のプラズマ生成部からのプラズマが試料の
上に重ね合わされて照射されるようにしたことを特徴と
する。
本発明イオン生成源は、複数列の形態で配列され、プラ
ズマを生成する複数個のプラズマ生成部と、複数個のプ
ラズマ生成部でそれぞれ生成された複数のプラズマか導
かれるプラズマ結合用空洞部と、複数列の各々の列のプ
ラズマ生成部からのプラズマをプラズマ結合用空洞部内
において重ね合わせるプラズマ結合手段と、プラズマ結
合用空洞部からイオンを引き出すイオン引き出し電極系
とを具えたことを特徴とする。
本発明イオン処理装置は、複数列の形態て配列され、プ
ラズマを生成する複数個のプラズマ生成部と、複数個の
プラズマ生成部でそれぞれ生成された複数のプラズマが
導かれるプラズマ結合用空洞部と、複数列の各々の列の
プラズマ生成部からのプラズマをプラズマ結合用空洞部
内において重ね合わせるプラズマ結合手段と、プラズマ
結合用空洞部からイオンを引き出すイオン引き出し電極
系と、プラズマ結合用空洞に接続された試料室と、試料
室内に配置され、イオンにより処理される試料を載置可
能な試料台とを具え、イオン引ぎ出し電極系からのイオ
ンが試料の上に重ね合わされて照射されるようにしたこ
とを特徴とする。
[作 用] 本発明では、プラズマを生成する複数のECRブラズマ
生成部を2列以上設置し、しかも異なる列のプラズマ生
成部のプラズマを重ね合わせる磁気回路などのプラズマ
結合手段を具備することにより、大口径で均一なプラズ
マ/イオンビームを生成することかてきる。これによフ
て複数個のプラズマ/イオン生成源を間隙を空けないて
配置したのと等価にてきるとともに、プラズマ/イオン
の重ね合わさる度合いを制御できるので、プラズマビー
ム イオンビームの均一性を向上てきる。しかもまた、
このようにすることにより、1つのプラズマ/イオン生
成源のプラズマ/イオン密度と同程度以上のプラズマ/
イオン密度で試料を照射てきるので、大面積の試料を高
速に処理できる。
[実施例] 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
実施例1 第1図(A)および(B)は本発明ECRプラズマ生成
源の一実施例を示す構成図であって、第】図(A)はこ
のプラズマ生成源を横から見た構成図、第1図(8)は
同しく上から見た構成図を示す。
第1図(Δ)およびCB)において、21は複数個のE
CRプラズマ生成生成水す。プラズマ生成部21の各々
それ自体は第7図示の従来公知の構成てJ:く、プラズ
マ生成室1としてのプラズマ生成用空洞、マイクロ波導
入用の導波管2、マイクロ波導入窓3、磁気コイル4、
ガス導入口5、冷却水通路(図示せず)、プラズマリミ
ッタ7を有する。
22はプラズマ結合用の矩形状の空洞部であって、複数
のプラズマ生成部21を2列に分けて、この空洞部22
の互いに対向する側面に配置する。それにより、各プラ
ズマ生成部21のプラズマリミッタ7より取り出された
プラズマ流23をこの空洞部22内に導く。このプラズ
マ結合用空洞部22の外周部には、プラズマ結合用磁気
回路を構成する磁気コイル24を配置して、その磁力線
によって各プラズマ流23を同一方向、すなわちこの磁
力線の方向に偏向させる。
ECRプラズマ生成生成部下1形状のプラズマ結合用空
洞部22の周囲の互いに対向する側面に2個以上(本例
では金側で8個)が配列されている。たとえは、ECR
イオン生成部210列方向の外寸を20cmとすると、
プラズマ結合用空洞部22の列方向の長さは!10cm
程度どなる。ECRプラズマ生成生成部下1気コイル4
については、通常、2.45GIIzに対するECR条
件である875ガウス近傍の磁場が使われており、比較
的大きな磁場が外側まできている。本実施例では、この
ようなECRプラズマ生成生成部下1気コイル4で発生
する磁界の磁力線の方向と直交する磁力線を発生し、か
つ双方の磁力線の方向か連続するように磁気回路4と2
4の相互の極性を定めて、プラズマ結合用の磁気回路2
4を構成配置し、それによりECRプラズマ生成生成部
下1成されたプラズマは、プラズマ結合用の磁力線に沿
い、かつその磁力線の方向に曲げられ、重ね合わされて
結合プラズマ流27となる。
プラズマ結合用の磁気回路24は、たとえはプラズマ結
合用空洞22の形状にあわせて、矩形状に導線を巻いた
矩形状の磁気コイルで構成することがてきる。
本実施例はこのような構成になフているので、ECRプ
ラズマ生成生成部下1ラズマ生成用空洞1にガス導入口
5からガス、マイクロ波導入導波管2からマイクロ波を
導入し、マグネットコイル4て磁場を発生すれば、プラ
ズマが生成される。このようにして生成されたプラズマ
生成用空洞1がらのプラズマ流23は、プラズマ結合用
磁気回路24で発生する磁場の作用で、お互いに列方向
に重なり合うように引き出し電極系25の方向に110
デられる。この重ね合わされたプラズマ流27は、引き
出し電極系25がなければ、このままプラズマ生成源と
して、プラズマ処理に使うことかできる。
あるいはまた、第1図(八)に示すように、重ね合わさ
れたプラズマ滝27の下流側にイオン引き出し電極系2
5を配置することにより、プラズマ中からイオンビーム
26を取り出すとともに、そのイオンエネルギを必要と
するエネルギに制御することかてきる。なお、第1図(
八)では、イオン引き出し電極系25として、3枚電極
の構成例を示しであるか、制御するイオンエネルギに対
応して、2枚電極、1枚電極、!8.葉メツシュ電極な
どの各種弓ぎ出し電極を使用することができる。
本実施例では、このように複数個のプラズマ生成部を列
の形態で配置した構成であるから、プラズマ密度とその
均一性を損なうことなく、列方向に非常に長いプラズマ
ビーム27もしくはイオンビーム26を生成てきる。原
理的には、プラズマ生成部21の個数を増大することに
より、ビームの列方向の長さを制限なく大きくてきる。
したがって、本発明は、一方向に長い試料に対して有効
なことは勿論のこと、他方向には試料を動かすことによ
り2次元の面積の大きな試料の処理ができる。また、各
ECRプラズマ生成部21が200mAに相当するプラ
ズマを生成すれは、8個のプラズマ生成部21によって
合計で1.5八を越えるような大電流プラズマ生成源を
構成することができる。しかもまた、結合用磁気回路2
4の配置と位置および磁場の強さを適切に定めることに
より、ビームの均一性を制御することができる。
なお、第1図(A)においては、イオン引き出し電極系
25を用いてイオンビームを生成するイオン源の形態の
例を示したが、上述したように、引き出し電極系を設け
ずにプラズマ流27自体を用いるプラズマ生成源として
使用できることは言うまでもない。
さらにまた、本実施例では、第1図(八)に示すように
、プラズマ結合用空洞部22の対向側面に、はぼ同一水
平面上に2列にプラズマ生成部2】を配置したが、この
ような水平面を複数設定して、各水平面に沿って、第1
図(八)に示したような形態て、3列あるいは4列以上
にプラズマ生成部21を配列した多段重ね合わせの形態
としてもよい。
犬族■ス 第2図(八)および(II)は本発明プラズマ加工装置
の一実施例であって、本発明実施例1のプラズマ生成源
を用いたプラズマCVD装置/イオン流エツチング装置
の構成例である。第2図(八)において、プラズマ結合
用空洞部22の下部に設けたプラズマリミッタ7および
試料室の構造は第7図の従来例と同様である。符号56
は光を空洞部22に導入する窓硝子、57は紫外線1赤
外線のような光である。
列の形態で配着された複数個のプラズマ生成部21で生
成されたプラズマはプラズマ結合用の空洞部22のなか
で相互に重ね合わされて、プラズマ密度の高い結合プラ
ズマ流27として試料台lOの方向に輸送される。
あるいはまた、プラズマリミッタ7の代わりに引き出し
電オタ系を設置することにより、イオンを引き出し、そ
のエネルギを制御することができる。
この試料台lOの上に種々の試料11を設置することに
より、デポジション、エツチング等のプラズマ処理、イ
オンビーム処理を行うことができる。
例えば、不活性ガス、水素化物、ハロゲン化物、有機金
属化合物ガスなどの各種のガス(ArKr、R2,02
,5i)14.GeH4,As113.GaR3,八l
1R3,CFa?、< ど)を用いて、絶縁膜、金属膜
、化合物(Si、5i02Si3N4.Ge、八ft 
、Ga八へなど)の膜形成やエツチングを行うことがで
きる。この装置によれば、先に説明したように、生成さ
れるプラズマ流あるいはイオンビームを列方向にいくら
でも大きなビーム径にできるので、非席に大きな試料を
処理てぎ、たとえは1mを越える試料の処理に刻して特
に有効である。すなわち、本実施例によれば、一方向に
均一なプラズマ処理ができるから、他方向には、矢印で
示すように試料11を移動することにより、大面積の試
料に高品質の膜を形成したり、高精度にエツチングした
り、高イオンエネルギのイオンを照射して表面を改質し
たりすることができる。例えば、大面積のステンレス鋼
、鉄、プラスチックの表面に、低温で5i02,5iJ
4の絶縁体を付着して腐食性、耐摩耗特性を向上させる
場合に有効である。しかもまた、複数個のプラズマ生成
部21を用いて、プラズマ密度が低下することなくプラ
ズマ処理しているので、高速に(l!l!理できる。
あるいはまた、第2図(A)に示すように、窓硝子56
を介して、紫外線、赤外線のような光57で試料11を
照射することにより、試料表面の温度を上げたり、表面
反応を促進したり、表面の汚れを除去したりして、より
高度のIA埋を付加することができる。
なお、第2図(A)では、各ECRプラズマ生成部21
からのプラズマ流23を直角方向に曲げて結合する例を
示したが、一般にはこの偏向角度は小さいほどプラズマ
流を重ね合わせやすい。そこて偏向角度を小さくした構
成の具体例を第3図に示す。
第3図において、28はプラズマ結合用空洞部であって
、その上部には傾斜をつけたテーパ面を形成し、そのテ
ーパ面に複数個のECRプラズマ生成部21を配設して
、プラズマ流23の偏向角度を90度より小さくする。
この実施例において、残余の構成および動作は第2図の
場合と全く同じである。また、第3図ては、試料室9へ
のガスの供給方法として、カスか試料11の近傍に均一
に供給されるようにガス供給機構29を試料11の近傍
に配置した。
実施例3 第4図は本発明の別の実施例を示し、ここで符号31は
プラズマの進行方向に磁力線を有しなかったり、あるい
は弱い磁場でプラズマを生成しているプラズマ生成部で
ある。32はプラズマ生成部31から取り出したプラズ
マ流23を制御するための補助磁気回路である。ここで
、プラズマ制御用の補助磁気回路32の磁力線の方向は
、プラズマをプラズマ結合用空洞部22から引き出す方
向、すなわちプラズマ結合用磁気回路24の磁力線の方
向と直交し、かつ双方の磁力線の方向が連続するように
磁気回路24と32の相互の極性を定めるものとする。
本実施例の残余の構成および動作は第2図(A)および
(B)の場合と全く同様であり、これらの磁場の作用に
よりプラズマ生成部31て生成されたプラズマ流33は
、磁気回路24による磁力線の方向に曲げられるととも
に重ね合わされて結合プラズマ流27として、試料11
を照射して加工する。
釆施例4 第5図は本発明の実施例4の構成を示す図であって、プ
ラズマ生成部の個数を増大させるために、第2図(Δ)
および(B)の基本構成に加えて、プラズマ生成部41
を付加した例である。すなわち、ここでは、ECRプラ
ズマ生成生成部上1し構成の1個または複数個のプラズ
マ生成部41をプラズマ結合用空洞部22の上面に列状
に配置する。なお、プラズマ生成部41としては、他の
形態のプラズマ生成部を用いても、同様に構成できる。
第5図において、ECRプラズマ生成生成部上1気回路
4による磁力線の向きは、第2図(A)および(B)の
構成と同様に、プラズマ結合用の磁気回路24の磁力線
の向きと直交し、かつ双方の磁力線か連続するように磁
気回路24と4の相互の極性を定めておく。一方、EC
Rプラズマ生成部41の磁気回路4は、それによる磁力
線の向きが、ECRプラズマ生成生成部上1気回路4に
よる磁力線の向きと一致せず、すなわち連続せず反発す
る方向に向くように構成されている。第2図(八)およ
び(B)の構成の場合と同様に、プラズマ生成部21か
らのプラズマ流23は、引き出し電極系25の方向に重
なり合うように曲げられる。さらに、プラズマ生成部4
1からのプラズマは、プラズマ生成部21の磁気回路4
からの磁場によって、発散しないようにプラズマ流42
として直進する。これらのプラズマ流23と42とは合
流して、結合プラズマ流43として、試料11を照射す
る。本実施例では、このようにして、さらにプラズマ密
度、イオン電流が増大したプラズマを用いて加工できる
衷】1吐旦 第6図は本発明のさらに別の実施例であり、ここては、
プラズマ結合用の磁気回路61を試料台lOの下側に設
置する。第6図では、この磁気回路61として永久磁石
の例を示したが、磁気コイルでもよいことは言うまでも
ない。上述した実施例と同様に、プラズマ生成部21で
生成されたプラズマは、磁気回路61による磁力線に沿
って、試料11の方向に結合プラズマ流27として曲げ
られ、試料11を照射する。この構成は、プラズマ結合
用の磁気回路61を永久磁石で構成しやすい利点がある
とともに、この磁気回路61の位置を動かしやすいのて
、プラズマ処理中に磁気回路61を周期的に動かずこと
により均一性をさらに向上させることかできる。
[発明の効果コ 以上説明したように、本発明によれば、複数のプラズマ
生成部を列の形態で配置1することによって、均一な大
口径のプラズマビーム/イオンビームを生成てきるのて
、長さ1m以上の大面積の試料を処理で診る。しかも、
高密度のプラズマ/イオンビームの生成に適した構成に
なっているので、高速に処理できる。本発明プラズマ/
イオン処理装置はプラズマ/イオンを応用したプラズマ
デポジション エツチング さらにはイオンビームダイ
ナミックミキシング、イオンアシストデポジションなど
を行うのに用いて、きわめて有効である。
さらにまた、本発明のプラズマ/イオン生成源およびプ
ラズマ/イオン処理装置は、イオントピング、半導体表
面の清浄化などにも有効に適用できる。
さらにまた、本発明のプラズマ/イオン生成源は、イオ
ンドーピング、半導体表面の清浄化などのプラズマ加工
装置にも使用して、きわめて有効である。
なお、本発明はプラズマ生成源およびそれを用いたプラ
ズマ処理装置にのみ限られるものではなく、上述したよ
うにプラズマ生成源にイオン引き出し電極系を単に付加
するのみてイオン生成源を構成し、あるいはそのイオン
生成源を用いたイオン処理装置をも構成で計ることは明
らかであり、ここでいうプラズマ生成源およびプラズマ
処理装置とは、プラズマのみならずイオンをも包含する
ように広義に解釈するものとする。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)および(B)は本発明プラズマ/イオン生
成源の一実施例を示す構成図、 第2図(A)および(8)、第3図、第4図、第5図お
よび第6図は本発明プラズマ/イオン処理装置の種々の
実施例を示す構成図、 第7図は従来のECR(IVD装置の構成例を示す構成
図である。 1・・・プラズマ生成室(プラズマ生成用空洞)、2・
・・マイクロ波導入窓、 3・・・導波管、 4・・・磁気コイル、 5、 +2.29.51・・・ガス導入口、6・・・冷
却水通路、 7・・・プラズマリミッタ、 8・・・プラズマ流、 9・・・試料室、 10・・・試料台、 11・・・試料、 13・・・排気系、 21、41・・・EC1+プラズマ生成部、22、28
・・・プラズマ結合用空洞部、23、 ’12・・・プ
ラズマ流、 24、61・・・プラズマ結合用の磁気回路、25・・
・引ぎ出し電極系、 26・・・イオンビーム、 27、43・・・結合プラズマ流、 31・・・プラズマ生成源、 32・・・プラズマ制御用の補助磁気回路、56・・・
窓硝子、 57・・・紫外線、赤外線などの光。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)複数列の形態で配列され、プラズマを生成する複数
    個のプラズマ生成部と、 該複数個のプラズマ生成部でそれぞれ生成された複数の
    プラズマが導かれるプラズマ結合用空洞部と、 前記複数列の各々の列のプラズマ生成部からのプラズマ
    を前記プラズマ結合用空洞部内において重ね合わせるプ
    ラズマ結合手段と を具えたことを特徴とするプラズマ生成源。 2)複数列の形態で配列され、プラズマを生成する複数
    個のプラズマ生成部と、 該複数個のプラズマ生成部でそれぞれ生成され前記複数
    列の各々の列のプラズマ生成部からのプラズマを前記プ
    ラズマ結合用空洞部内において重ね合わせるプラズマ結
    合手段と、前記プラズマ結合用空洞に接続された試料室
    と、 該試料室内に配置され、前記複数個のプラズマ生成部か
    らのプラズマにより処理される試料を載置可能な試料台
    と を具え、前記複数列の各々の列の複数個のプラズマ生成
    部からのプラズマが前記試料の上に重ね合わされて照射
    されるようにしたことを特徴とするプラズマ処理装置。 3)複数列の形態で配列され、プラズマを生成する複数
    個のプラズマ生成部と、 該複数個のプラズマ生成部でそれぞれ生成された複数の
    プラズマが導かれるプラズマ結合用空洞部と、 前記複数列の各々の列のプラズマ生成部からのプラズマ
    を前記プラズマ結合用空洞部内において重ね合わせるプ
    ラズマ結合手段と、 前記プラズマ結合用空洞部からイオンを引き出すイオン
    引き出し電極系と を具えたことを特徴とするイオン生成源。 4)複数列の形態で配列され、プラズマを生成する複数
    個のプラズマ生成部と、 該複数個のプラズマ生成部でそれぞれ生成された複数の
    プラズマが導かれるプラズマ結合用空洞部と、 前記複数列の各々の列のプラズマ生成部からのプラズマ
    を前記プラズマ結合用空洞部内において重ね合わせるプ
    ラズマ結合手段と、 前記プラズマ結合用空洞部からイオンを引き出すイオン
    引き出し電極系と、 前記プラズマ結合用空洞に接続された試料室と、 該試料室内に配置され、イオンにより処理される試料を
    載置可能な試料台と を具え、前記イオン引き出し電極系からのイオンが前記
    試料の上に重ね合わされて照射されるようにしたことを
    特徴とするイオン処理装置。
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