JPH0266427A - 直接散乱ライト検出による微粒子測定装置 - Google Patents
直接散乱ライト検出による微粒子測定装置Info
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- JPH0266427A JPH0266427A JP1176979A JP17697989A JPH0266427A JP H0266427 A JPH0266427 A JP H0266427A JP 1176979 A JP1176979 A JP 1176979A JP 17697989 A JP17697989 A JP 17697989A JP H0266427 A JPH0266427 A JP H0266427A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/05—Flow-through cuvettes
- G01N2021/052—Tubular type; cavity type; multireflective
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は流体ストリーム内に含まれている微粒子の大き
さを測定する装置、詳しくは、微粒子が流体ストリーム
に導入されたライトビームを通過する時に微粒子から散
乱するライトにより微粒子の大きさを測定する装置に関
する。
さを測定する装置、詳しくは、微粒子が流体ストリーム
に導入されたライトビームを通過する時に微粒子から散
乱するライトにより微粒子の大きさを測定する装置に関
する。
(従来の技術)
米国特許出願N o 、 144,255において、本
発明と関連した微粒子測定装置が開示されている。前記
出願に開示されているように、流体内の微粒子は、ライ
トビームを流体ストリームに通過させ、ライトビームを
通過している微粒子から前方に散乱した光を検出してパ
ルスを発生させ、そのパルスの振幅と長さを微粒子の大
きさとして測定することにより、測定されている。
発明と関連した微粒子測定装置が開示されている。前記
出願に開示されているように、流体内の微粒子は、ライ
トビームを流体ストリームに通過させ、ライトビームを
通過している微粒子から前方に散乱した光を検出してパ
ルスを発生させ、そのパルスの振幅と長さを微粒子の大
きさとして測定することにより、測定されている。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、このような従来の微粒子装置にあっては
、微粒子からの散乱ライトを効率よく検出できないとい
う問題点があった。
、微粒子からの散乱ライトを効率よく検出できないとい
う問題点があった。
本発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされたもの
であって、微粒子からの散乱ライトを従来よりも効率よ
(検出できるようにした微粒子測定装置を提供すること
を目的としている。
であって、微粒子からの散乱ライトを従来よりも効率よ
(検出できるようにした微粒子測定装置を提供すること
を目的としている。
(課題を解決するための手段)
前記目的を達成するために、本発明においては、ライト
ビームを通過している微粒子から前方散乱したライトを
検出する代わりに、光検出器をライトビームを通過して
いる流体ストリームを形成するチューブの壁に設けてい
る。
ビームを通過している微粒子から前方散乱したライトを
検出する代わりに、光検出器をライトビームを通過して
いる流体ストリームを形成するチューブの壁に設けてい
る。
本発明の一実施例に従って、測定室の中央部から延在し
ているチューブは透明であり、光検出器はレーザービー
ムの上下の透明チューブを包囲している。
ているチューブは透明であり、光検出器はレーザービー
ムの上下の透明チューブを包囲している。
本発明の他の実施例に従って、鏡面がレーザービームの
上下の壁に設けられ、チューブの壁に設けられた光検出
器にライトを反射している。
上下の壁に設けられ、チューブの壁に設けられた光検出
器にライトを反射している。
これらの実施例により、微粒子からの散乱ライトがより
多く光検出器の表面に直接集光され、散乱光を従来技術
よりも効率よく検出することができる。
多く光検出器の表面に直接集光され、散乱光を従来技術
よりも効率よく検出することができる。
(実施例)
以下、本発明を図面に基づいて説明する。
第1図に示されるように、本発明の装置においては、レ
ーザー11は平行レーザービーム13を発生し、そのビ
ーム13はレーザーイクスパンダー17に導入される。
ーザー11は平行レーザービーム13を発生し、そのビ
ーム13はレーザーイクスパンダー17に導入される。
レーザーイクスパンダー17は、レーザービーム13を
フラットシート状のビーム19の形にし、本実施例にお
いては、その幅が1ミリメートルで厚さが35ミクロン
である。フラットシート形状ビーム19は測定室23の
透明窓21を通過し、測定室23はレーザービーム19
が試験流体のサンプルを通過できるように配置されてい
る。ビームのフラット形状の面は、試験流体の方向に対
して垂直である。本実′施例においては、その流体は流
体であるが、本発明はガス中の微粒子のサイズの測定に
も適用することができる。また、第1図に示される実施
例においては、流体の方向はレーザービームを上方に横
切るが、その方向は、測定室23の方向を変えることに
より、いずれの方向でもよい。
フラットシート状のビーム19の形にし、本実施例にお
いては、その幅が1ミリメートルで厚さが35ミクロン
である。フラットシート形状ビーム19は測定室23の
透明窓21を通過し、測定室23はレーザービーム19
が試験流体のサンプルを通過できるように配置されてい
る。ビームのフラット形状の面は、試験流体の方向に対
して垂直である。本実′施例においては、その流体は流
体であるが、本発明はガス中の微粒子のサイズの測定に
も適用することができる。また、第1図に示される実施
例においては、流体の方向はレーザービームを上方に横
切るが、その方向は、測定室23の方向を変えることに
より、いずれの方向でもよい。
レーザービームは、流体がレーザービームを通過するよ
うに、流体の断面に均一に光を投じるようになっている
。測定室23内の流体を通過しているレーザービームは
、測定室23の出口窓25を介して測定室から退出する
。測定室23を通過している流体内の微粒子と遭遇する
レーザーライト19は、その微粒子により部分的に散乱
する。測定室23は、レーザービームの通過方向と垂直
に延在する透明チューブ27を有する。チューブ27に
は、光検出器29が設けられている。微粒子により散乱
したライトは光検出器29により検出され、光検出器2
9は散乱ライトをパルスに変換する。光検出器29から
のパルスは、総和回路31で、各微粒子に対応して1つ
のパルスが発生するように、合計され単一のパルスにさ
れ、微粒子サイズ測定回路機構33に導入される。微粒
子を有する流体は、圧力源35により測定室23を通過
する。測定室23の下流側にはバルブ37が設けられ、
バルブ37により、測定室23を通過する流量が一定に
なるように制御されている。
うに、流体の断面に均一に光を投じるようになっている
。測定室23内の流体を通過しているレーザービームは
、測定室23の出口窓25を介して測定室から退出する
。測定室23を通過している流体内の微粒子と遭遇する
レーザーライト19は、その微粒子により部分的に散乱
する。測定室23は、レーザービームの通過方向と垂直
に延在する透明チューブ27を有する。チューブ27に
は、光検出器29が設けられている。微粒子により散乱
したライトは光検出器29により検出され、光検出器2
9は散乱ライトをパルスに変換する。光検出器29から
のパルスは、総和回路31で、各微粒子に対応して1つ
のパルスが発生するように、合計され単一のパルスにさ
れ、微粒子サイズ測定回路機構33に導入される。微粒
子を有する流体は、圧力源35により測定室23を通過
する。測定室23の下流側にはバルブ37が設けられ、
バルブ37により、測定室23を通過する流量が一定に
なるように制御されている。
微粒子サイズ測定回路機構33は、米国特許出願No、
144,225に記載されているのと同一の方法で、
パルスの振幅と幅により微粒子サイズを測定する。
144,225に記載されているのと同一の方法で、
パルスの振幅と幅により微粒子サイズを測定する。
第2〜4図に示される実施例においては、測定室23の
透明チューブ27は、直径1.5 ミリメートルの丸い
内部チャネルを有する。丸チューブ27は、入口窓21
と出口窓25を形成するフラット面を有する。窓21と
25のフラット面は、チューブ27の円筒壁に形成され
たグループ27により形成される。グループ41は、第
2図に示されるように上端から下端の幅が0.5ミリメ
ートルになっている。光検出器29は、円筒形であり、
透明チューブ27を完全に包囲し、グループ41の両端
から上下方向に延在する。光検出器29は、チューブ2
7に非晶質シリコンを直接付着することによりチューブ
27に形成されている。光検出器29は、流体を包囲す
る円筒状の内部感光表面を有し、その感光表面に衝突す
るライトを光電池モードで検出する。
透明チューブ27は、直径1.5 ミリメートルの丸い
内部チャネルを有する。丸チューブ27は、入口窓21
と出口窓25を形成するフラット面を有する。窓21と
25のフラット面は、チューブ27の円筒壁に形成され
たグループ27により形成される。グループ41は、第
2図に示されるように上端から下端の幅が0.5ミリメ
ートルになっている。光検出器29は、円筒形であり、
透明チューブ27を完全に包囲し、グループ41の両端
から上下方向に延在する。光検出器29は、チューブ2
7に非晶質シリコンを直接付着することによりチューブ
27に形成されている。光検出器29は、流体を包囲す
る円筒状の内部感光表面を有し、その感光表面に衝突す
るライトを光電池モードで検出する。
レーザービームからの散乱光をより多く収集するために
、追加の光検出器を設けることができる。
、追加の光検出器を設けることができる。
第5図および6図に示される測定室は、第2図から4図
の実施例における場合と同様に、丸形透明チューブ42
と測定室の中心に対し122 ”の角度で延在するセグ
メント形状の光検出器43とからなる。光検出器43は
、一方便に44度のギャップを有しレーザービームのた
めの入口窓45を形成し、反対側の40度にギャップを
有しレーザービームのための出口窓46を形成している
。第6図に示されるように、入口窓45の円柱面に入光
するレーザービーム19は、微粒子を含んだ流体が通過
する円柱通路47に集光される。窓45の弓形の面によ
り、レーザービームが円柱通路47の大きさに一致した
量だけ収束する。このような方法で、レーザービーム1
9は、通路47の断面をレーザービームで満たされ、微
粒子と衝突したレーザービームの密度が強められるよう
に、円柱面45のフォーカス効果により集光される。
の実施例における場合と同様に、丸形透明チューブ42
と測定室の中心に対し122 ”の角度で延在するセグ
メント形状の光検出器43とからなる。光検出器43は
、一方便に44度のギャップを有しレーザービームのた
めの入口窓45を形成し、反対側の40度にギャップを
有しレーザービームのための出口窓46を形成している
。第6図に示されるように、入口窓45の円柱面に入光
するレーザービーム19は、微粒子を含んだ流体が通過
する円柱通路47に集光される。窓45の弓形の面によ
り、レーザービームが円柱通路47の大きさに一致した
量だけ収束する。このような方法で、レーザービーム1
9は、通路47の断面をレーザービームで満たされ、微
粒子と衝突したレーザービームの密度が強められるよう
に、円柱面45のフォーカス効果により集光される。
第2図から4図の実施例の場合と同様に、光検出器43
は、レーザービーム45を通過している流体中の微粒子
から散乱したライトを検出し、各微粒子に対応して電気
パルスを発生する。希望すれば、微粒子からの追加の散
乱ライトを集めるために、追加の光検出器を光検出器4
3の間のギャップにおいてレーザービームの上下のチュ
ーブ壁に設けることができる。
は、レーザービーム45を通過している流体中の微粒子
から散乱したライトを検出し、各微粒子に対応して電気
パルスを発生する。希望すれば、微粒子からの追加の散
乱ライトを集めるために、追加の光検出器を光検出器4
3の間のギャップにおいてレーザービームの上下のチュ
ーブ壁に設けることができる。
第2図〜6図の実施例は、丸形チューブを使用するとい
う利点を有する。しかしながら、円筒チューブに光検出
器を形成するという困難を有する。
う利点を有する。しかしながら、円筒チューブに光検出
器を形成するという困難を有する。
第7図〜9図の実施例においては、測定室は、測定室の
透明チューブ51が丸形でなく矩形になっている以外は
第2〜6図のそれと同様である。したがって、透明チュ
ーブ上に円筒形状の光検出器を形成する代わりに、測定
室は8個の矩形PIN光ダイオード52からなり、その
うちの4個はレーザービームの真上の矩形壁に、残りの
4個はし−ザービームの真下の矩形壁に取り付けられて
いる。光ダイオード52の感光表面は、流体に直面し包
囲する。矩形チューブの前面と後面上の光ダイオードは
、入口窓54と出口窓56を形成するために、0.5ミ
リメートルだけ分離されている。矩形チューブの外部寸
法は3ミリメートルの四角形であり、測定室内の矩形チ
ャネルは各側面で1.3ミリメートルの内部寸法を有す
る。
透明チューブ51が丸形でなく矩形になっている以外は
第2〜6図のそれと同様である。したがって、透明チュ
ーブ上に円筒形状の光検出器を形成する代わりに、測定
室は8個の矩形PIN光ダイオード52からなり、その
うちの4個はレーザービームの真上の矩形壁に、残りの
4個はし−ザービームの真下の矩形壁に取り付けられて
いる。光ダイオード52の感光表面は、流体に直面し包
囲する。矩形チューブの前面と後面上の光ダイオードは
、入口窓54と出口窓56を形成するために、0.5ミ
リメートルだけ分離されている。矩形チューブの外部寸
法は3ミリメートルの四角形であり、測定室内の矩形チ
ャネルは各側面で1.3ミリメートルの内部寸法を有す
る。
光検出器が矩形になっているので、光検出器は透明接着
剤によりチューブ壁に取り付けることができる。したが
って、従来の半導体光ダイオードを使用することができ
る。
剤によりチューブ壁に取り付けることができる。したが
って、従来の半導体光ダイオードを使用することができ
る。
第10〜12図に示される微粒子測定室の実施例におい
ては、その室の丸形チューブ58は、その上端と下端で
直角ベンド59に成形され水平部分を有する。測定室の
中心においては、測定室の外側円筒壁に0.5ミリメー
トルのグループ62が設けられ、入口フラット面64と
出口フラット面64を形成する。
ては、その室の丸形チューブ58は、その上端と下端で
直角ベンド59に成形され水平部分を有する。測定室の
中心においては、測定室の外側円筒壁に0.5ミリメー
トルのグループ62が設けられ、入口フラット面64と
出口フラット面64を形成する。
チューブ58の垂直部の内部壁面、すなわち、グループ
62が形成されている所の測定室の中心から垂直に延在
している部分は、正反射するコーティング67で鏡にな
っている。コーティング67は、チューブが直角ベンド
59を形成する点に向かって上下方向に延在している。
62が形成されている所の測定室の中心から垂直に延在
している部分は、正反射するコーティング67で鏡にな
っている。コーティング67は、チューブが直角ベンド
59を形成する点に向かって上下方向に延在している。
各直角ベンド59で、チューブの垂直部の軸と一致した
チューブの外部壁にフラット68が設けられている。こ
れらのフラット68は、チューブのコーナーからチュー
ブの反対側の外側垂直壁の円筒形の中心を超えて延在し
、その結果、フラット68が鏡面の円筒形中心の全部に
重なり合うことになる。フラットと完全に重なり合うよ
うに、PIN光ダイオード70が設けられている。光ダ
イオード70の感光面は流体と直面し、流体の流れを形
成するチューブの内側壁の近傍に位置する。測定室のチ
ューブはガラスから作られ、その全長に亘って透明であ
ってもよい。しかしながら、本実施例におけるチューブ
は、入口窓64と出口窓66の反対側で、および光ダイ
オード70の反対側で、透明であればよい。
チューブの外部壁にフラット68が設けられている。こ
れらのフラット68は、チューブのコーナーからチュー
ブの反対側の外側垂直壁の円筒形の中心を超えて延在し
、その結果、フラット68が鏡面の円筒形中心の全部に
重なり合うことになる。フラットと完全に重なり合うよ
うに、PIN光ダイオード70が設けられている。光ダ
イオード70の感光面は流体と直面し、流体の流れを形
成するチューブの内側壁の近傍に位置する。測定室のチ
ューブはガラスから作られ、その全長に亘って透明であ
ってもよい。しかしながら、本実施例におけるチューブ
は、入口窓64と出口窓66の反対側で、および光ダイ
オード70の反対側で、透明であればよい。
チューブの内部壁に鏡面を設ける代わりに、チューブの
垂直部が透明である場合には鏡面を外側壁に設けてもよ
い。入口窓と出口窓をフラットにする代わりに、レーザ
ービームを流体通路に集中する第5図と6図の実施例に
ように、チューブの外側面をフォーカス効果を達成する
ために丸形のままにしておくこともできる。
垂直部が透明である場合には鏡面を外側壁に設けてもよ
い。入口窓と出口窓をフラットにする代わりに、レーザ
ービームを流体通路に集中する第5図と6図の実施例に
ように、チューブの外側面をフォーカス効果を達成する
ために丸形のままにしておくこともできる。
レーザービームが第10〜12図の測定室の中心で微粒
子と遭遇しライトが微粒子から散乱すると、散乱ライト
はコーティング67から数回反射され光ダイオード70
に導入されて、光ダイオード70により電気パルスに変
換される。
子と遭遇しライトが微粒子から散乱すると、散乱ライト
はコーティング67から数回反射され光ダイオード70
に導入されて、光ダイオード70により電気パルスに変
換される。
第13図に示される微粒子測定室の実施例は、測定室の
チューブ72が丸形でなく矩形になっている以外は第1
O〜12図に示される測定室と同様である。
チューブ72が丸形でなく矩形になっている以外は第1
O〜12図に示される測定室と同様である。
その結果、フラット窓を形成するためのグループを測定
室の壁に設ける必要がなく、またチューブが曲がる所に
フラットを設ける必要もない。その代わり、PIN光ダ
イオード74は、光ダイオードが側面から側面まで延在
しチューブのコーナーからチューブの反対側の外側壁の
垂直部の中心を超える点まで延在した状態で、チューブ
が直角ベンドを形成する所の測定室の外側フラット面に
直接取り付けられている。その結果、光ダイオード74
は、チューブの反射コーティング76により全ての四面
上のチューブの内側チャネルに設けられた矩形反射面の
中心と重複する。この実施例においては、チューブの反
射コーティング76は、第10−12図の実施例と同様
に、散乱ライトを光ダイオード74に反射する。また、
この実施例においても、反射面を内側面の代わりに外側
面に形成してもよい。
室の壁に設ける必要がなく、またチューブが曲がる所に
フラットを設ける必要もない。その代わり、PIN光ダ
イオード74は、光ダイオードが側面から側面まで延在
しチューブのコーナーからチューブの反対側の外側壁の
垂直部の中心を超える点まで延在した状態で、チューブ
が直角ベンドを形成する所の測定室の外側フラット面に
直接取り付けられている。その結果、光ダイオード74
は、チューブの反射コーティング76により全ての四面
上のチューブの内側チャネルに設けられた矩形反射面の
中心と重複する。この実施例においては、チューブの反
射コーティング76は、第10−12図の実施例と同様
に、散乱ライトを光ダイオード74に反射する。また、
この実施例においても、反射面を内側面の代わりに外側
面に形成してもよい。
第10〜12図の実施例と同様に、チューブを透明にし
、ガラスから作ってもよい。
、ガラスから作ってもよい。
上述の各実施例において、レーザービームを通過してい
る微粒子から散乱したライトは、後方散乱又は前方散乱
のわずかな部分を除いて、各微粒子から散乱した光のほ
とんど全てが光電池室により収集されるので、光検出器
により充分に収集される。その結果、光電池室は、与え
られた微粒子から散乱したライトに応じて比較的高い振
幅パルスを発生し、高精度で微粒子サイズの区別を可能
にしている。また、散乱ライトを集光するためのレンズ
が不要になる。
る微粒子から散乱したライトは、後方散乱又は前方散乱
のわずかな部分を除いて、各微粒子から散乱した光のほ
とんど全てが光電池室により収集されるので、光検出器
により充分に収集される。その結果、光電池室は、与え
られた微粒子から散乱したライトに応じて比較的高い振
幅パルスを発生し、高精度で微粒子サイズの区別を可能
にしている。また、散乱ライトを集光するためのレンズ
が不要になる。
(発明の効果)
以上説明してきたように、本発明の一実施例に従って、
測定室の中央部から延在しているチューブは透明であり
、光検出器はレーザービームの上下の透明チューブを包
囲している。
測定室の中央部から延在しているチューブは透明であり
、光検出器はレーザービームの上下の透明チューブを包
囲している。
本発明の他の実施例に従って、鏡面がレーザービームの
上下の壁に設けられ、チューブの壁に設けられた光検出
器にライトを反射している。
上下の壁に設けられ、チューブの壁に設けられた光検出
器にライトを反射している。
これらの実施例により、微粒子からの散乱ライトがより
多く光検出器の表面に直接集光され、散乱光を従来技術
よりも効率よく検出することができる。
多く光検出器の表面に直接集光され、散乱光を従来技術
よりも効率よく検出することができる。
第1図は本発明を示す全体構成図、第2図は本発明の一
実施例に係る装置の測定室の拡大断面図、第3図は第2
図の3−3に沿った断面図、第4図は第2図に示される
測定室の立面図、第5図は本発明の第2実施例に係る装
置の測定室の立面図、第6図は第5図の6−6に沿った
断面図、第7図は本発明の第3実施例に係る装置の測定
室の拡大断面図、第8図は第7図の8−8に沿った断面
図、第9図は第7図に示される測定室の立面図、第10
図は本発明の第4実施例に係る装置の測定室の拡大断面
図、第11図は第10図の11−11に沿った断面図、
第12図は第11図の12−12に沿った断面図、第1
3図は本発明の第5実施例に係る装置の測定室の拡大断
面図である。 11・・・・・・ライトビームを流体ストリームに導入
する手段、 27・・・・・・チューフ、 29・・・・・・光検出器、 35・・・・・・流体をチューブに通過させる手段。
実施例に係る装置の測定室の拡大断面図、第3図は第2
図の3−3に沿った断面図、第4図は第2図に示される
測定室の立面図、第5図は本発明の第2実施例に係る装
置の測定室の立面図、第6図は第5図の6−6に沿った
断面図、第7図は本発明の第3実施例に係る装置の測定
室の拡大断面図、第8図は第7図の8−8に沿った断面
図、第9図は第7図に示される測定室の立面図、第10
図は本発明の第4実施例に係る装置の測定室の拡大断面
図、第11図は第10図の11−11に沿った断面図、
第12図は第11図の12−12に沿った断面図、第1
3図は本発明の第5実施例に係る装置の測定室の拡大断
面図である。 11・・・・・・ライトビームを流体ストリームに導入
する手段、 27・・・・・・チューフ、 29・・・・・・光検出器、 35・・・・・・流体をチューブに通過させる手段。
Claims (12)
- (1)チューブと、測定微粒子を含んだ流体が流体スト
リームで前記チューブを通過するための手段と、前記チ
ューブが前記ストリームの流れを形成する内側壁面を有
し、ライトビームを前記チューブ内の前記ストリームに
ストリームの流れと直角に導入する手段と、前記チュー
ブの内側壁面の近傍に位置され、微粒子によりビームか
ら散乱したライトを検出するように配置された感光面を
有し、前記チューブの壁に設けられた少なくとも1つの
光検出器と、を備えたことを特徴とする微粒子測定装置
。 - (2)前記光検出器を、感光面が前記ライトビームの近
傍に位置するように、前記チューブの壁に設けたことを
特徴とする請求項第1項記載の微粒子測定装置。 - (3)前記チューブを透明にし、前記光検出器を感光面
が流体ストリームに面するようにチューブの外側壁に設
けたことを特徴とする請求項第2項記載の微粒子測定装
置。 - (4)前記感光面を、チューブを通過しているライトビ
ームの近傍で前記ストリームを包囲するようにしたこと
を特徴とする請求項第2項記載の微粒子測定装置。 - (5)前記チューブを断面形状が矩形にしたことを特徴
とする請求項第2項記載の微粒子測定装置。 - (6)前記チューブが丸形、前記感光面が円筒形である
ことを特徴とする請求項第2項記載の微粒子測定装置。 - (7)前記ストリームを通過しているライトビームの近
傍にストリームに面した円筒形状の感光面を有する第2
光検出器をチューブの壁に設け、ライトビームが光検出
器間でチューブの壁を通過するようにしたことを特徴と
する請求項第6項記載の微粒子測定装置。 - (8)前記チューブが光検出器間のチューブの外側壁に
形成されるフラット面を有することを特徴とする請求項
第7項記載の微粒子測定装置。 - (9)前記チューブが直角ベンドを有し、前記ストリー
ム中の微粒子により前記ビームから散乱したライトを反
射するために、鏡面を前記チューブの壁に形成し、前記
鏡面が前記ストリームを通過しているビームの近傍から
前記直角ベンドまで延在し、前記光検出器を、ビームか
ら散乱し鏡面により反射されたライトを受光するように
感光面を位置させた状態で、前記チューブの壁に設けた
ことを特徴とする請求項第1項記載の微粒子測定装置。 - (10)前記チューブが、前記ライトビームが通過する
円筒状の表面を有する円筒形状であり、前記円筒状表面
がビームを集光するようになっていることを特徴とする
請求項第1項記載の微粒子測定装置。 - (11)前記光検出器を前記チューブの外側壁に設け、
前記チューブの壁を前記感光面の近傍で透明にしたこと
を特徴とする請求項第10項記載の微粒子測定装置。 - (12)前記検出器を前記感光面が前記ライトビームの
近傍に位置するように前記チューブの壁に設け、前記の
第1光検出器の感光面と対向して配置された感光面を有
する第2光検出器を第1光検出器と反対側のチューブの
壁に設けたことを特徴とする請求項第10項記載の微粒
子測定装置。
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