JPH0265152U - - Google Patents

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JPH0265152U
JPH0265152U JP14579888U JP14579888U JPH0265152U JP H0265152 U JPH0265152 U JP H0265152U JP 14579888 U JP14579888 U JP 14579888U JP 14579888 U JP14579888 U JP 14579888U JP H0265152 U JPH0265152 U JP H0265152U
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microinfrared
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は基板上に形成される有機化合物パター
ンの作成方法を説明するための図、第2図はフオ
トマスクを使用した有機化合物パターンの作成方
法を説明するための図、第3図は基板上に作成さ
れた有機化合物パターンの例を示す図、第4図は
実施例1の描画パターンを示す図、第5図はポリ
グリシジルメタクリレートを用いたパターンにお
けるエポキシ基の吸収特性を示す図である。 1…基板、2…クロム、3…レジスト、4…紫
外光、5…露光部、6…現像後のパターン。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 赤外光を反射あるいは透過する基板上に、順次
    数ミクロンから数ミリメートルの大きさの異なる
    丸形あるいは多角形の有機化合物からなるパター
    ンを形成したことを特徴とする顕微赤外分光光度
    計用標準試料。
JP14579888U 1988-11-07 1988-11-07 Pending JPH0265152U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018230318A1 (ja) * 2017-06-15 2018-12-20 国立研究開発法人産業技術総合研究所 スケール、撮像装置、撮像システム、キット、および撮像装置の調整方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018230318A1 (ja) * 2017-06-15 2018-12-20 国立研究開発法人産業技術総合研究所 スケール、撮像装置、撮像システム、キット、および撮像装置の調整方法
JPWO2018230318A1 (ja) * 2017-06-15 2020-05-21 国立研究開発法人産業技術総合研究所 スケール、撮像装置、撮像システム、キット、および撮像装置の調整方法

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