JPH0256679B2 - - Google Patents
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- JPH0256679B2 JPH0256679B2 JP58148013A JP14801383A JPH0256679B2 JP H0256679 B2 JPH0256679 B2 JP H0256679B2 JP 58148013 A JP58148013 A JP 58148013A JP 14801383 A JP14801383 A JP 14801383A JP H0256679 B2 JPH0256679 B2 JP H0256679B2
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- circuit
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- 238000005034 decoration Methods 0.000 claims description 28
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 13
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 5
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Description
【発明の詳細な説明】
（発明の属する分野）
本発明は、漢字を含む文字を任意の倍率で縮小
する文字パターン縮小装置に関するものである。
する文字パターン縮小装置に関するものである。
（従来の技術）
文字パターンを例えば24×24のドツトマトリク
スで表わし、各々のドツトは２値の０か１によつ
て文字の白か黒の部分を表わすものとしたとき、
この文字パターンを例えば18×18の大きさの文字
パターンに縮小する方式には、 (i) 元となる文字パターン上に存在する値１をも
つドツトの位置座標を倍率に応じた何らかの演
算結果に従つて写像することによつて縮小する
方式と、 (ii) 何らかの選択基準によつて選ばれたドツトマ
トリクスの行または列を縮小倍率に応じた数だ
け間引くことによつて縮小する方式と、 (iii) 元となる文字パターンを小さなサイズの部分
パターンに分割して、その部分パターン単位に
倍率に応じたサイズの部分パターンに置き換え
ることにより縮小する方式 がある。本発明は、上記(i)の方式即ち黒ドツトの
位置座標を演算結果に従つて写像する方式に関す
るものである。
スで表わし、各々のドツトは２値の０か１によつ
て文字の白か黒の部分を表わすものとしたとき、
この文字パターンを例えば18×18の大きさの文字
パターンに縮小する方式には、 (i) 元となる文字パターン上に存在する値１をも
つドツトの位置座標を倍率に応じた何らかの演
算結果に従つて写像することによつて縮小する
方式と、 (ii) 何らかの選択基準によつて選ばれたドツトマ
トリクスの行または列を縮小倍率に応じた数だ
け間引くことによつて縮小する方式と、 (iii) 元となる文字パターンを小さなサイズの部分
パターンに分割して、その部分パターン単位に
倍率に応じたサイズの部分パターンに置き換え
ることにより縮小する方式 がある。本発明は、上記(i)の方式即ち黒ドツトの
位置座標を演算結果に従つて写像する方式に関す
るものである。
従来から、黒ドツトの位置座標を演算結果に従
つて写像する方式として多くの方法があり、その
一つとして比例法がある。比例法は黒ドツトの位
置座標を倍率に応じて比例的に写像する方法であ
り、例えばｉ行ｊ列の位置にある黒ドツトは、縦
方向の倍率をRi、横方向の倍率をRjとしたとき
に、［Ri・ｉ＋0.5］行［Rj・ｊ＋0.5］列に写像
される。ただし［ ］はガウス記号である。
つて写像する方式として多くの方法があり、その
一つとして比例法がある。比例法は黒ドツトの位
置座標を倍率に応じて比例的に写像する方法であ
り、例えばｉ行ｊ列の位置にある黒ドツトは、縦
方向の倍率をRi、横方向の倍率をRjとしたとき
に、［Ri・ｉ＋0.5］行［Rj・ｊ＋0.5］列に写像
される。ただし［ ］はガウス記号である。
比例法は、縮小された文字パターンにおいて文
字バランスが良く保たれること、特に付加情報を
必要としないこと、処理が単純であること、など
の特徴をもつが、例えば、文字パターンの書体が
明朝体であつた場合には、縦線分や斜曲線が太
く、横線分が細いという特徴を持つているため、
これを縮小したパターンにおいては、文字の線の
幅が揃わなくなつたり、線分の間隙が消滅して文
字がつぶれたり、明朝体線端飾りの形状が変化し
て文字品質が劣化するという問題があつた。
字バランスが良く保たれること、特に付加情報を
必要としないこと、処理が単純であること、など
の特徴をもつが、例えば、文字パターンの書体が
明朝体であつた場合には、縦線分や斜曲線が太
く、横線分が細いという特徴を持つているため、
これを縮小したパターンにおいては、文字の線の
幅が揃わなくなつたり、線分の間隙が消滅して文
字がつぶれたり、明朝体線端飾りの形状が変化し
て文字品質が劣化するという問題があつた。
（発明の目的）
本発明は、これらの問題点を解決するものであ
り、文字パターンに比例法を適用する以前に、文
字品質の劣化の原因となる書体線端飾りを除去
し、線幅の不揃いの原因となる線幅２以上の太い
縦線分や水平に近い太い斜曲線（以下、太い横線
分という）の除去および斜曲線を細線化すること
により、比例法適用後の縮小パターンの文字品質
を良好に保つことを可能ならしめる文字パターン
縮小装置を提供することにある。以下、図面によ
り本発明の内容を詳細に説明する。
り、文字パターンに比例法を適用する以前に、文
字品質の劣化の原因となる書体線端飾りを除去
し、線幅の不揃いの原因となる線幅２以上の太い
縦線分や水平に近い太い斜曲線（以下、太い横線
分という）の除去および斜曲線を細線化すること
により、比例法適用後の縮小パターンの文字品質
を良好に保つことを可能ならしめる文字パターン
縮小装置を提供することにある。以下、図面によ
り本発明の内容を詳細に説明する。
（発明の構成および作用）
第１図は本発明の文字パターン縮小装置の一実
施例の構成を示すブロツク図で、１１は縮小変換
される文字パターンの情報を記憶する文字パター
ン用レジスタ、１２はレジスタ制御回路、１３は
書体線端飾り除去回路、１４は細線化処理回路、
１５は縮小変換回路である。
施例の構成を示すブロツク図で、１１は縮小変換
される文字パターンの情報を記憶する文字パター
ン用レジスタ、１２はレジスタ制御回路、１３は
書体線端飾り除去回路、１４は細線化処理回路、
１５は縮小変換回路である。
第２図は文字パターン用レジスタ１１の一例を
示すもので、24×24ビツトの文字パターンを記憶
するためにここでは水平方向の各ラインは24ビツ
トの容量を持つレジスタが24本で１文字分の容量
となる。
示すもので、24×24ビツトの文字パターンを記憶
するためにここでは水平方向の各ラインは24ビツ
トの容量を持つレジスタが24本で１文字分の容量
となる。
以下、例えば書体として明朝体を例にして説明
する。
する。
第３図はかど鱗を検出するためのマスクで、書
体線端飾りを検出するための一実施例であり斜線
を付したドツトは黒ドツトであることを条件とし
ている。文字パターン用レジスタ１１に記憶され
ている文字パターンに検出マスクと一致する箇所
があつた場合、例えば第３図のかど鱗検出マスク
と一致した場合、その箇所をかど鱗除去マスクに
置換することにより明朝体線端飾りを除去するも
のである。
体線端飾りを検出するための一実施例であり斜線
を付したドツトは黒ドツトであることを条件とし
ている。文字パターン用レジスタ１１に記憶され
ている文字パターンに検出マスクと一致する箇所
があつた場合、例えば第３図のかど鱗検出マスク
と一致した場合、その箇所をかど鱗除去マスクに
置換することにより明朝体線端飾りを除去するも
のである。
第４図は第３図のかど鱗検出マスクに対応する
かど鱗除去マスクの一例を示すものである。
かど鱗除去マスクの一例を示すものである。
第５図は第１図における書体線端飾り除去回路
１３の詳細な構成を示す一実施例のブロツク図で
あり、５１は飾り形状マスク用シフトレジスタ、
５２はAND回路、５３は飾り検出マスク用シフ
トレジスタ、５４はEX−OR回路、５５は飾り
除去用シフトレジスタ、５６はNOT回路、５７
は検出判定回路、５８はEX−OR回路であり、
その他の符号は第１図に示したものと同じであ
る。
１３の詳細な構成を示す一実施例のブロツク図で
あり、５１は飾り形状マスク用シフトレジスタ、
５２はAND回路、５３は飾り検出マスク用シフ
トレジスタ、５４はEX−OR回路、５５は飾り
除去用シフトレジスタ、５６はNOT回路、５７
は検出判定回路、５８はEX−OR回路であり、
その他の符号は第１図に示したものと同じであ
る。
ここで、飾り形状マスク用シフトレジスタ５１
は文字パターン用レジスタ１１からマスクの外形
にあたる部分を切り出すために用いる。例えば、
第３図に示すかど鱗検出マスクの場合、第６図に
示すように、マスクの外形にあたる箇所が値１を
もつ６１，６２，６３，６４の24ビツトのシフト
レジスタ４本から構成される。AND回路５２は
文字パターン用レジスタ１１と飾り形状マスク用
シフトレジスタ５１のライン毎の論理積をとるも
のであり、これによりマスクで判定すべき箇所が
切り出される。飾り検出マスク用シフトレジスタ
５３は第７図に示すように、第３図に示したかど
鱗を検出するためのマスクの黒ドツトに対応する
箇所が値１をもつ24ビツトのシフトレジスタ７
１，７２，７３，７４の４本から構成される。
EX−OR回路５４はAND回路５２の出力と飾り
検出マスク用シフトレジスタ５３のライン毎の排
他的論理和をとるものである。検出判定回路５７
はマスクにより飾りが検出されたかどうかを判定
するものであり、EX−OR回路５４の出力とし
てすべてのシフトレジスタの各ビツトが値０を持
つ時、飾りが検出されたと判定しEX−OR回路
５８へ判定結果を出力する。
は文字パターン用レジスタ１１からマスクの外形
にあたる部分を切り出すために用いる。例えば、
第３図に示すかど鱗検出マスクの場合、第６図に
示すように、マスクの外形にあたる箇所が値１を
もつ６１，６２，６３，６４の24ビツトのシフト
レジスタ４本から構成される。AND回路５２は
文字パターン用レジスタ１１と飾り形状マスク用
シフトレジスタ５１のライン毎の論理積をとるも
のであり、これによりマスクで判定すべき箇所が
切り出される。飾り検出マスク用シフトレジスタ
５３は第７図に示すように、第３図に示したかど
鱗を検出するためのマスクの黒ドツトに対応する
箇所が値１をもつ24ビツトのシフトレジスタ７
１，７２，７３，７４の４本から構成される。
EX−OR回路５４はAND回路５２の出力と飾り
検出マスク用シフトレジスタ５３のライン毎の排
他的論理和をとるものである。検出判定回路５７
はマスクにより飾りが検出されたかどうかを判定
するものであり、EX−OR回路５４の出力とし
てすべてのシフトレジスタの各ビツトが値０を持
つ時、飾りが検出されたと判定しEX−OR回路
５８へ判定結果を出力する。
飾り除去用シフトレジスタ５５は第８図に示す
ように、第３図に示すかど鱗検出マスクの場合に
は、第３図のかど鱗検出マスクと第４図のかど鱗
除去マスクとで変化したドツトに対応する箇所が
値１を持つ24ビツトの４本のシフトレジスタ８
１，８２，８３，８４で構成される。NOT回路
５６は飾り除去用シフトレジスタ５５の各レジス
タの値の論理否定をとる回路である。AND回路
５８はNOT回路５６の出力と文字パターン用レ
ジスタ１１のライン毎の論理積を、検出判定回路
５７からの判定信号が飾りを検出した場合にのみ
とるものであり、その結果を文字パターン用レジ
スタ１１に出力して書き込む。
ように、第３図に示すかど鱗検出マスクの場合に
は、第３図のかど鱗検出マスクと第４図のかど鱗
除去マスクとで変化したドツトに対応する箇所が
値１を持つ24ビツトの４本のシフトレジスタ８
１，８２，８３，８４で構成される。NOT回路
５６は飾り除去用シフトレジスタ５５の各レジス
タの値の論理否定をとる回路である。AND回路
５８はNOT回路５６の出力と文字パターン用レ
ジスタ１１のライン毎の論理積を、検出判定回路
５７からの判定信号が飾りを検出した場合にのみ
とるものであり、その結果を文字パターン用レジ
スタ１１に出力して書き込む。
検出判定回路５７からEX−OR回路５８へ判
定信号が出た後、但し、飾りが検出除去された場
合は文字パターン用レジスタへ書き込みが終了し
た後、レジスタ制御回路１２は、飾り形状マスク
用シフトレジスタ５１、飾り検出マスク用シフト
レジスタ５３および飾り除去用シフトレジスタ５
５の各レジスタの各ラインに対し右方向へ１ビツ
トシフトさせる信号を出力する。但し、飾り形状
マスク用シフトレジスタ５１の各ラインの中で最
右端のビツトが値１をもつている場合には、各レ
ジスタは初期状態にもどし、文字パターン用レジ
スタ１１への適用を１ライン下げた４ラインに対
して行うようにする。そして最終的に文字パター
ン用レジスタ１１の文字パターンをすべて処理し
終ると、別の種々の飾り検出マスクを適用し、最
終的にすべてのマスクを適用し終れば細線化処理
回路１４へ制御を渡す。
定信号が出た後、但し、飾りが検出除去された場
合は文字パターン用レジスタへ書き込みが終了し
た後、レジスタ制御回路１２は、飾り形状マスク
用シフトレジスタ５１、飾り検出マスク用シフト
レジスタ５３および飾り除去用シフトレジスタ５
５の各レジスタの各ラインに対し右方向へ１ビツ
トシフトさせる信号を出力する。但し、飾り形状
マスク用シフトレジスタ５１の各ラインの中で最
右端のビツトが値１をもつている場合には、各レ
ジスタは初期状態にもどし、文字パターン用レジ
スタ１１への適用を１ライン下げた４ラインに対
して行うようにする。そして最終的に文字パター
ン用レジスタ１１の文字パターンをすべて処理し
終ると、別の種々の飾り検出マスクを適用し、最
終的にすべてのマスクを適用し終れば細線化処理
回路１４へ制御を渡す。
第９図は細線化処理１４の一実施例のブロツク
図を示す。本処理では、太い縦線分や斜曲線を検
出し細線化を行う。９１は横線分検出回路で細線
化を必要としない横線分を検出する。文字パター
ン用レジスタ１１のパターンを水平方向にスキヤ
ンしていく途中で値１をもつビツトを見つける
と、横方向の長さがある範囲に入つているかどう
かを調べる。入つていない場合は線幅が１の細い
縦線分の１部か横線分であると判定し、スキヤン
を続行する。入つている場合は、第１０図に示す
ようなマスクを適用しパターンを検出すると、そ
の線分は横線分であると判定しスキヤンを続行す
る。ここでマスクを適用するとは、マスクと文字
パターン用レジスタの各ビツト間の排他的論理和
をとることをいい、その結果のすべての値が０で
ある場合にそのマスクパターンが検出されたとい
う。第１０図に示すようなパターンが検出されな
かつた場合は、次の縦線分検出回路９２へ行く。
縦線分検出回路９２ではその点から文字パターン
用レジスタ１１の文字パターンを縦方向に走査
し、第１１図に示すようなマスクを適用してその
パターンを検出すると、その線分は線幅１の細い
縦線分であると判定し、水平方向のスキヤンを実
行する。検出しないときは、ある画素が線分の終
点であるのか連結点であるのかを決定する８連結
数算出回路９３へ行き、８連結数＝１ならばその
ビツトを１から０へと反転させることにより文字
の連結性を崩すことなく縦線分または斜曲線を細
線化できる。ここで８連結数とは、ある画素P0
をとりまく８近傍の画素をP1，P2，P3，P4，P5，
P6，P7，P8，としたとき、８連結数Ncは Nc＝1＋3＋5＋7−（1・2・3）−（3
・4・5）−（5・6・7）−（7・8・1）
ただし、はＰの論理否定、（・）は論理積を
表わし、（＋）と（−）は論理値である０と１を
整数とみなしたときの加算と減算を表わす。Nc
は０，１，２，３，４のいずれかの値をとり、
Nc＝１となるP0はその黒ドツトを消去しても図
形の連結性は変化しない。９４は縦線分細線化回
路で、細線化の可能となつた点から太い縦線分ま
たは斜曲線にそつて細線化を繰り返す。
図を示す。本処理では、太い縦線分や斜曲線を検
出し細線化を行う。９１は横線分検出回路で細線
化を必要としない横線分を検出する。文字パター
ン用レジスタ１１のパターンを水平方向にスキヤ
ンしていく途中で値１をもつビツトを見つける
と、横方向の長さがある範囲に入つているかどう
かを調べる。入つていない場合は線幅が１の細い
縦線分の１部か横線分であると判定し、スキヤン
を続行する。入つている場合は、第１０図に示す
ようなマスクを適用しパターンを検出すると、そ
の線分は横線分であると判定しスキヤンを続行す
る。ここでマスクを適用するとは、マスクと文字
パターン用レジスタの各ビツト間の排他的論理和
をとることをいい、その結果のすべての値が０で
ある場合にそのマスクパターンが検出されたとい
う。第１０図に示すようなパターンが検出されな
かつた場合は、次の縦線分検出回路９２へ行く。
縦線分検出回路９２ではその点から文字パターン
用レジスタ１１の文字パターンを縦方向に走査
し、第１１図に示すようなマスクを適用してその
パターンを検出すると、その線分は線幅１の細い
縦線分であると判定し、水平方向のスキヤンを実
行する。検出しないときは、ある画素が線分の終
点であるのか連結点であるのかを決定する８連結
数算出回路９３へ行き、８連結数＝１ならばその
ビツトを１から０へと反転させることにより文字
の連結性を崩すことなく縦線分または斜曲線を細
線化できる。ここで８連結数とは、ある画素P0
をとりまく８近傍の画素をP1，P2，P3，P4，P5，
P6，P7，P8，としたとき、８連結数Ncは Nc＝1＋3＋5＋7−（1・2・3）−（3
・4・5）−（5・6・7）−（7・8・1）
ただし、はＰの論理否定、（・）は論理積を
表わし、（＋）と（−）は論理値である０と１を
整数とみなしたときの加算と減算を表わす。Nc
は０，１，２，３，４のいずれかの値をとり、
Nc＝１となるP0はその黒ドツトを消去しても図
形の連結性は変化しない。９４は縦線分細線化回
路で、細線化の可能となつた点から太い縦線分ま
たは斜曲線にそつて細線化を繰り返す。
第１２図は縮小変換回路１５の一実施例のブロ
ツク図を示す。１２１は横方向の倍率値を記憶す
る横方向倍率メモリ、１２２は縦方向の倍率値を
記憶する縦方向倍率メモリであり、１２３はそれ
らの倍率値から文字パターン用レジスタ１１の文
字パターンにおいて間引かれる行または列値を算
出する間引き行列算出回路、１２４はOR回路で
ある。例えば、第１３図で上から第８行と第９行
の２行が同じ行に写像されることにより１行とな
り間引かれるとすると、レジスタ制御回路１２は
文字パターン用レジスタ１１から第８行のレジス
タ１３１と第９行のレジスタ１３２を制御し、
OR回路１２４により第８行および第９行のレジ
スタ１３１と１３２の論理和をとり文字パターン
用レジスタ１１に書き込む。これにより縦方向の
縮小変換が可能である。文字パターン用レジスタ
１１は水平方向に24ビツトのレジスタが24本とい
う構成であるが、第１３図の１３３，１３４に示
すように、列方向にもアクセスすることが可能な
構成であり、例えば１３３は左から第９列、１３
４は第10列の情報を記憶できる。これによりレジ
スタ制御回路１２とOR回路１２４を用いて第９
列と第10列の論理和をとり、文字パターン用レジ
スタ１１に書き込むことができ、横方向の縮小変
換が行われる。
ツク図を示す。１２１は横方向の倍率値を記憶す
る横方向倍率メモリ、１２２は縦方向の倍率値を
記憶する縦方向倍率メモリであり、１２３はそれ
らの倍率値から文字パターン用レジスタ１１の文
字パターンにおいて間引かれる行または列値を算
出する間引き行列算出回路、１２４はOR回路で
ある。例えば、第１３図で上から第８行と第９行
の２行が同じ行に写像されることにより１行とな
り間引かれるとすると、レジスタ制御回路１２は
文字パターン用レジスタ１１から第８行のレジス
タ１３１と第９行のレジスタ１３２を制御し、
OR回路１２４により第８行および第９行のレジ
スタ１３１と１３２の論理和をとり文字パターン
用レジスタ１１に書き込む。これにより縦方向の
縮小変換が可能である。文字パターン用レジスタ
１１は水平方向に24ビツトのレジスタが24本とい
う構成であるが、第１３図の１３３，１３４に示
すように、列方向にもアクセスすることが可能な
構成であり、例えば１３３は左から第９列、１３
４は第10列の情報を記憶できる。これによりレジ
スタ制御回路１２とOR回路１２４を用いて第９
列と第10列の論理和をとり、文字パターン用レジ
スタ１１に書き込むことができ、横方向の縮小変
換が行われる。
縮小変換では、画数の多い文字パターンの場合
には、縮小後の文字のサイズが小さくなるに従つ
て字体のつぶれの発生率が高くなる。第１４図は
第１水準漢字340字について、従来の比例縮小法
と本願発明の方法による文字のつぶれ発生率を比
較したものである。第１４図から明らかなよう
に、縮小後の文字サイズが小さくなるに従つて、
本発明は従来の約1/2につぶれ発生率が改善され
る。
には、縮小後の文字のサイズが小さくなるに従つ
て字体のつぶれの発生率が高くなる。第１４図は
第１水準漢字340字について、従来の比例縮小法
と本願発明の方法による文字のつぶれ発生率を比
較したものである。第１４図から明らかなよう
に、縮小後の文字サイズが小さくなるに従つて、
本発明は従来の約1/2につぶれ発生率が改善され
る。
なお、ここで、縮小前の文字サイズは24×24ド
ツトであり、また、つぶれ発生率（％）は次のよ
うに定義したものである。
ツトであり、また、つぶれ発生率（％）は次のよ
うに定義したものである。
つぶれ発生率（％）＝線分間げきの消
滅が１箇所でもある漢字の個数／340×100 （効果） 以上述べたように、本発明によれば縮小変換を
行う前に縮小変換による文字品質の劣化の原因
を、書体線端飾りの除去と、縦線分や横線分及び
斜曲線の細線化により除去するため、画数の多い
文字パターンの縮小後の文字サイズが小さい場合
に対しても文字つぶれ発生率の少ない、行、列方
向独立に任意倍率の縮小変換文字パターンを得る
ことができる。
滅が１箇所でもある漢字の個数／340×100 （効果） 以上述べたように、本発明によれば縮小変換を
行う前に縮小変換による文字品質の劣化の原因
を、書体線端飾りの除去と、縦線分や横線分及び
斜曲線の細線化により除去するため、画数の多い
文字パターンの縮小後の文字サイズが小さい場合
に対しても文字つぶれ発生率の少ない、行、列方
向独立に任意倍率の縮小変換文字パターンを得る
ことができる。
また、書体線端飾りの除去と縦線分や横線分お
よび斜曲線の細線化のみを行い、縮小変換を行わ
ないことにより、その書体から細ゴシツク体への
書体変換を実現できるという利点がある。
よび斜曲線の細線化のみを行い、縮小変換を行わ
ないことにより、その書体から細ゴシツク体への
書体変換を実現できるという利点がある。
第１図は本発明の文字パターン縮小装置の一実
施例の構成を示すブロツク図、第２図は文字パタ
ーン用レジスタの一例を示す図、第３図は書体線
端飾りを検出するためのかど鱗検出マスクの一例
を示す図、第４図はかど鱗除去マスクの一例を示
す図、第５図は書体線端飾り除去回路の詳細な構
成を示す一実施例のブロツク図、第６図、第７図
および第８図は第３図に示したかど鱗検出マスク
を対象としたときの各シフトレジスタを説明する
ための図、第９図は細線化処理回路の一実施例の
ブロツク図、第１０図及び第１１図は横線分検出
と縦線分検出に用いるマスクの一例を示す図、第
１２図は縮小変換回路の一実施例のブロツク図、
第１３図は縮小変換回路の動作を説明するための
図、第１４図は本発明と従来例におけるつぶれの
発生率（％）を示す図である。 １１…文字パターン用レジスタ、１２…レジス
タ制御回路、１３…書体線端飾り除去回路、１４
…細線化処理回路、１５…縮小変換回路、５１…
飾り形状マスク用シフトレジスタ、５２，５８…
AND回路、５３…飾り検出マスク用シフトレジ
スタ、５４…EX−OR回路、９１…横線分検出
回路、９２…縦線分検出回路、９３…８連結数算
出回路、９４…縦線分細線化回路、１２１…横方
向倍率メモリ、１２２…縦方向倍率メモリ、１２
３…間引き行列算出回路、１２４…OR回路。
施例の構成を示すブロツク図、第２図は文字パタ
ーン用レジスタの一例を示す図、第３図は書体線
端飾りを検出するためのかど鱗検出マスクの一例
を示す図、第４図はかど鱗除去マスクの一例を示
す図、第５図は書体線端飾り除去回路の詳細な構
成を示す一実施例のブロツク図、第６図、第７図
および第８図は第３図に示したかど鱗検出マスク
を対象としたときの各シフトレジスタを説明する
ための図、第９図は細線化処理回路の一実施例の
ブロツク図、第１０図及び第１１図は横線分検出
と縦線分検出に用いるマスクの一例を示す図、第
１２図は縮小変換回路の一実施例のブロツク図、
第１３図は縮小変換回路の動作を説明するための
図、第１４図は本発明と従来例におけるつぶれの
発生率（％）を示す図である。 １１…文字パターン用レジスタ、１２…レジス
タ制御回路、１３…書体線端飾り除去回路、１４
…細線化処理回路、１５…縮小変換回路、５１…
飾り形状マスク用シフトレジスタ、５２，５８…
AND回路、５３…飾り検出マスク用シフトレジ
スタ、５４…EX−OR回路、９１…横線分検出
回路、９２…縦線分検出回路、９３…８連結数算
出回路、９４…縦線分細線化回路、１２１…横方
向倍率メモリ、１２２…縦方向倍率メモリ、１２
３…間引き行列算出回路、１２４…OR回路。
Claims (1)
- １ 基本の大きさのドツトマトリクスで表わされ
る文字パターンを走査してその文字パターンの書
体線端飾りを除去する手段と、その書体線端飾り
除去手段により飾りを除去された文字パターンを
細める細線化手段と、その細線化手段により細線
化された文字パターンを黒ドツトの位置座標を縮
小倍率に応じて比例的に写像する縮小変換手段と
を有することを特徴とする文字パターン縮小装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58148013A JPS6039978A (ja) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | 文字パターン縮小装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58148013A JPS6039978A (ja) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | 文字パターン縮小装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6039978A JPS6039978A (ja) | 1985-03-02 |
| JPH0256679B2 true JPH0256679B2 (ja) | 1990-11-30 |
Family
ID=15443152
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58148013A Granted JPS6039978A (ja) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | 文字パターン縮小装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6039978A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01310967A (ja) * | 1988-06-08 | 1989-12-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 文字パターン処理装置 |
| JP2004354767A (ja) * | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Sharp Corp | 文字図形表示装置、文字図形表示方法、プログラムおよび記録媒体 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5342512A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-18 | Nec Corp | Video transmitter |
-
1983
- 1983-08-15 JP JP58148013A patent/JPS6039978A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5342512A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-18 | Nec Corp | Video transmitter |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6039978A (ja) | 1985-03-02 |
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