JPH025365Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は、被測定物を挟むように対向させた
接触子を被測定物に接触させ、接触子の位置を検
出することにより被測定物の径を測定するように
した寸法測定器についてのものである。

マシニングセンターなどで使用するボーリング
ヘツドでは、マシニングセンターに装着する前に
ボーリングヘツドに取り付けたチツプの軌跡を調
べ、間接的に切削円の内径を測定する。このよう
にして測定した切削円の内径とボーリングヘツド
を登録しておけば、加工穴径とボーリングヘツド
を対応させることができる。

この考案は、このような場合に使用する寸法測
定器についてのものである。

［従来の技術］ 次に、従来技術による寸法測定器の構成を第１
図により説明する。

第１図の１は被測定物、２Ａ〜２Ｆは接触子、
３Ａと３Ｂは接触子２Ａ〜２Ｆを取り付けるアー
ム、４は検出器である。

被測定物１は中心軸１１を中心に回転できる構
造になつており、測定部１２の径を測定する。被
測定物１が例えばボーリングヘツドなどの場合
は、測定部１２が被測定物１の回転によるチツプ
の仮想切削円になる。

接触子２Ａ〜２Ｆには、それぞれ次のような関
係をもたせながらアーム３Ａ，３Ｂに取り付け
る。

すなわち、接触子２Ａ，２Ｂ、接触子２Ｃ，２
Ｄ、接触子２Ｅ，２Ｆの各接触面がそれぞれ対向
するように配置するとともに、中心軸１１からの
距離をお互いにほぼ等しくする。

中心軸１１と接触子２Ａ，２Ｂの距離をD₁、
中心軸１１と接触子２Ｃ，２Ｄの距離をD₂、中
心軸１１と接触子２Ｅ，２Ｆの距離をD₃とすれ
ば、D₁＞D₂＞D₃にする。

すなわち、アーム３Ａ，３Ｂの端部３１側から
距離Ｄの大きい順に各接触子を配列する。これ
は、次の理由による。

被測定物１を回転させ、被測定物１に各接触子
を近づけていくと、測定部１２の径が大きいとき
は接触子２Ａ，２Ｂの接触面に測定部１２を接触
させることができる。測定部１２の径が小さいと
きは奥の方に取り付けた接触子２Ｃ，２Ｄまたは
２Ｅ，２Ｆの接触面に測定部１２を接触させるこ
とができる。

測定部１２に接触した接触子は、測定部１２の
径に対応して検出器４内にある支点を中心に回転
する。したがつて、この回転による接触子の移動
距離を差動トランスなどで検出すれば、測定部１
２の径を測定することができる。

次に、第１図の平面図を第２図により説明す
る。

第２図の４Ａ，４Ｂは支点、４Ｃ，４Ｄは検出
部である。

アーム３Ａは支点４Ａを中心に回転し、アーム
３Ｂは支点４Ｂを中心に回転する。

被測定物１に対向する接触子２Ａ，２Ｂなどが
接触すると、アーム３Ａ，３Ｂが外側に拡がるよ
うに回転する。したがつて、アーム３Ａ，３Ｂの
移動距離を検出部４Ｃ，４Ｄで検出すれば、測定
部１２の径を測定することができる。

［考案が解決しようとする課題］ 第１図の寸法測定器では、例えば測定部１２が
接触子２Ａ，２Ｂに接触しているとき、隣りの接
触子２Ｃ，２Ｄに測定部１２が接触すると、正確
な測定ができなくなる。このため、アーム３Ａ側
については接触子２Ａ，２Ｃ，２Ｅ間の距離をあ
まり短くすることができない。アーム３Ｂ側につ
いても同じである。したがつて、接触子２Ａ〜２
Ｆの数が増えると、アーム３Ａ，３Ｂを保持する
のが困難になつてくるという問題がある。

また、第２図から明らかなように、接触子２Ａ
と接触子２Ｅでは支点４Ａからの距離が違うの
で、測定部１２が接触子２Ａに接触したときと接
触子２Ｅに接触したときでは、アーム３Ａの回転
半径が違つてくる。このため、検出部４Ｃの検出
感度を接触子２Ａと接触子２Ｅに対応して調節し
なければならないという問題がある。

他の接触子や検出部４Ｄ側についても、同じよ
うな調節が必要になる。

この考案は、第１図のアーム３Ａ，３Ｂを中心
軸１１と平行になるように配置するとともに、各
接触子と支点４Ａ，４Ｂとの距離が等しくなるよ
うにタツチレバーをアーム３Ａ，３Ｂに連結する
ようにして、従来技術の問題を解決しようとする
ものである。

［課題を解決するための手段］ この目的を達成するために、この考案では、被
測定物１の中心軸１１と平行に配置される第１の
アーム３Ａと、第１のアーム３Ａとともに中心軸
１１を挟む形で配置され、かつ被測定物１の中心
軸１１と平行に配置される第２のアーム３Ｂと、
被測定物１の中心軸１１を挟み、かつ被測定物１
の中心軸１１に対向して第１のアーム３Ａに配置
される第１の接触子群と、被測定物１の中心軸１
１を挟み、かつ被測定物１の中心軸１１に対向し
て第２のアーム３Ｂに配置される第２の接触子群
と、第１のアーム３Ａに連結される第１のタツチ
レバー５Ａと、第２のアーム３Ｂに連結される第
２のタツチレバー５Ｂと、第１のタツチレバー５
Ａに第１の支点４Ａを介して連結される第１の検
出部４Ｃと、第２のタツチレバー５Ｂに第２の支
点４Ｂを介し連結される第２の検出部４Ｄとを備
える。

次に、この考案による寸法測定器の構成を第３
図により説明する。

第３図の５Ａ，５Ｂはタツチレバーであり、そ
の他の部分は第１図と同じものである。

第３図では、被測定物１の中心軸１１と平行
に、かつ中心軸１１を挟むようにアーム３Ａ，３
Ｂを配置する。アーム３Ａ，３Ｂには、中心軸１
１を挟んで対向するように接触子２Ａ〜２Ｆを取
り付ける。

接触子２Ａ〜２Ｆの相互の関係と被測定物１の
関係は第１図の場合と同じである。

タツチレバー５Ａの一端はアーム３Ａに連結さ
れ、タツチレバー５Ａの他端は検出器４内の支点
４Ａを介して検出部４Ｃに連結される。同じよう
に、タツチレバー５Ｂの一端はアーム３Ｂに連結
され、タツチレバー５Ｂの他端は検出器４内の支
点４Ｂを介して検出部４Ｄに連結される。

［作用］ 次に、第３図の側面図を第４図により説明す
る。

第４図には、アーム３Ａ、タツチレバー５Ａ、
支点４Ａ及び検出部４Ｃが図示されているが、反
対側にもう１組のアーム３Ｂ、タツチレバー５
Ｂ、支点４Ｂ及び検出部４Ｄがある。

第４図では、測定部１２が回転しながら第４図
の上から下へ移動する。測定部１２に接触した接
触子２Ａなどはアーム３Ａを紙面に垂直方向に回
転させる。

第４図によれば、アーム３Ａが中心軸１１と平
行に配置され、接触子２Ａ，２Ｃ，２Ｅと支点４
Ａとの距離が等しくなるようにタツチレバー５Ａ
をアーム３Ａに連結している。

したがつて、接触子２Ａ，２Ｃ，２Ｅによるア
ーム３Ａの回転は、支点４Ａに対しては同じ関係
になるので、接触子２Ａ，２Ｃ，２Ｅの位置によ
つて検出部４Ｃの検出感度を調節する必要はな
い。

［考案の効果］ この考案によれば、アームを中心軸と平行にな
るように配置するとともに、各接触子と支点との
距離が等しくなるようにタツチレバーをアームに
連結しているので、接触子の数を増やしても検出
器４の感度調整をしなくてもよい。

また、アームを被測定物と平行に配置している
ので、測定器全体を小型にすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来技術による寸法測定器の構成図、
第２図は第１図の平面図、第３図はこの考案によ
る寸法測定器の構成図、第４図は第３図の側面図
である。 １……被測定物、２Ａ〜２Ｆ……接触子、３
Ａ，３Ｂ……アーム、４……検出器、４Ａ，４Ｂ
……支点、４Ｃ，４Ｄ……検出部、５Ａ，５Ｂ…
…タツチレバー、１１……中心軸、１２……測定
部、３１……端部。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 被測定物１の中心軸１１と平行に配置される第
   １のアーム３Ａと、 第１のアーム３Ａとともに中心軸１１を挟む形
   で配置され、かつ被測定物１の中心軸１１と平行
   に配置される第２のアーム３Ｂと、 被測定物１の中心軸１１を挟み、かつ被測定物
   １の中心軸１１に対向して第１のアーム３Ａに配
   置される第１の接触子群と、 被測定物１の中心軸１１を挟み、かつ被測定物
   １の中心軸１１に対向して第２のアーム３Ｂに配
   置される第２の接触子群と、 第１のアーム３Ａに連結される第１のタツチレ
   バー５Ａと、 第２のアーム３Ｂに連結される第２のタツチレ
   バー５Ｂと、 第１のタツチレバー５Ａに第１の支点４Ａを介
   して連結される第１の検出部４Ｃと、 第２のタツチレバー５Ｂに第２の支点４Ｂを介
   し連結される第２の検出部４Ｄとを備えることを
   特徴とする寸法測定器。