JPH0253295A - Address generation circuit - Google Patents
Address generation circuitInfo
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- JPH0253295A JPH0253295A JP63205351A JP20535188A JPH0253295A JP H0253295 A JPH0253295 A JP H0253295A JP 63205351 A JP63205351 A JP 63205351A JP 20535188 A JP20535188 A JP 20535188A JP H0253295 A JPH0253295 A JP H0253295A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路に関し、特にアドレス生成回路
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and particularly to an address generation circuit.
従来、メモリーセルを順次選択する場合、アドレス生成
回路は第5図に示す構成となっていた。Conventionally, when sequentially selecting memory cells, an address generation circuit has a configuration shown in FIG.
この図では便宜上、メモリー要領は16ビツトとし、デ
ータを1ビツトずつ読み出す回路について示している。In this figure, for convenience, the memory size is assumed to be 16 bits, and a circuit for reading data bit by bit is shown.
工はカウンター人力パルス信号、A10、All、A1
2.A13は初期アドレス設定信号、A14.A15.
A16.Al1はカウンター出力信号、B1はカウンタ
、B2はYデコーダ、B3はXデコーダ、YO,Yl、
Y2.Y3はYセレクタ信号、WO,Wl、W2.W3
はワード線、Dはメモリー出力信号、To、Tl。The counter is a human pulse signal, A10, All, A1.
2. A13 is an initial address setting signal, A14. A15.
A16. Al1 is a counter output signal, B1 is a counter, B2 is a Y decoder, B3 is an X decoder, YO, Yl,
Y2. Y3 is a Y selector signal, WO, Wl, W2 . W3
is a word line, D is a memory output signal, To, Tl.
T2.T3はトランスファーゲート、MO,Ml。T2. T3 is a transfer gate, MO, Ml.
M2.M3.M4.M5.M6.M7.M8.M9、M
IO,Mll、Ml2.Ml3.Ml4゜Ml5はメモ
リーセルである。M2. M3. M4. M5. M6. M7. M8. M9, M
IO, Mll, Ml2. Ml3. Ml4°Ml5 are memory cells.
次に、この回路の動作を説明する。カウンタB1に初期
アドレスを設定した後、カウンターは入力パルス信号工
をカウントし、アドレス信号A14、A15.A16.
A17を発生する。このアドレス信号をYデコーダB2
およびXデコーダB3でデコードし、Yセレクタ信号Y
O,Yl、Y2、Y3とワード線WO,Wl、W2.W
3の信号を生成していた。Next, the operation of this circuit will be explained. After setting the initial address in the counter B1, the counter counts the input pulse signals, and the address signals A14, A15 . A16.
A17 is generated. This address signal is sent to Y decoder B2.
and decoded by X decoder B3, Y selector signal Y
O, Yl, Y2, Y3 and word lines WO, Wl, W2. W
3 signals were generated.
上述した従来のアドレス生成回路では、入力パルス信号
からカウンター出力まで最大4段の遅延があり、さらに
デコーダの遅延があるため、メモリーのアドレス設定に
長い時間がかかるという欠点がある。In the conventional address generation circuit described above, there is a maximum of four stages of delay from the input pulse signal to the counter output, and there is also a delay in the decoder, so there is a drawback that it takes a long time to set the memory address.
本発明のアドレス生成回路は、単一半導体基板上にワー
ド線、Yセレクタ信号によりアドレスが指定されるメモ
リーセルと、初期値設定が可能なシフトレジスタとを有
し、前記シフトレジスタの出力から前記ワード線、Yセ
レクタ信号を生成する。The address generation circuit of the present invention includes, on a single semiconductor substrate, a word line, a memory cell whose address is specified by a Y selector signal, and a shift register in which an initial value can be set, and from which the output of the shift register is connected to the Generate word line and Y selector signals.
次に本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図、第2図は本発明の一実施例のブロック図および
タイミング図である。1 and 2 are block diagrams and timing diagrams of one embodiment of the present invention.
便宜上、メモリー容量は16ビツトとし、メモリーのデ
ータを1ビツトずつ順に読み出す動作について説明する
。Φはアドレスを1つずつ進めるクロック信号、AO,
Al、A2.A3.A4゜A5.A6.A7は、メモリ
ーの初期アドレス設定信号、YO,Yl、Y2.Y3は
Yセレクタ信号、WO,Wl、W2.W3はメモリーノ
ワード線、Dはメモリー出力信号、So、SL、S2゜
S3.S4.S5.SS、S7はシフトレジスタ、To
、Tl、T2.T3はトランスファーゲート、Ml、M
2.M3.M4.M5.M6.M7.M8、M9.MI
O,Mll、Ml2.Ml3.Ml4、Ml5はメモリ
ーセルである。For convenience, the memory capacity is assumed to be 16 bits, and the operation of sequentially reading data from the memory one bit at a time will be described. Φ is a clock signal that advances the address one by one, AO,
Al, A2. A3. A4゜A5. A6. A7 is a memory initial address setting signal, YO, Yl, Y2 . Y3 is a Y selector signal, WO, Wl, W2 . W3 is a memory word line, D is a memory output signal, So, SL, S2°S3. S4. S5. SS, S7 are shift registers, To
, Tl, T2. T3 is a transfer gate, Ml, M
2. M3. M4. M5. M6. M7. M8, M9. M.I.
O, Mll, Ml2. Ml3. M14 and M15 are memory cells.
次に第1図、第2図を参照して、動作説明を行なう、シ
フトレジスタSo、SL、S2.S3゜S4.S5.S
6.S7はそれぞれ信号AO,A1、A2.A3.A4
.A5.A6.A7により初期値を設定される。Yセレ
クタ信号YO,Yl。Next, with reference to FIGS. 1 and 2, the operations of shift registers So, SL, S2, . S3゜S4. S5. S
6. S7 are the signals AO, A1, A2 . A3. A4
.. A5. A6. The initial value is set by A7. Y selector signals YO, Yl.
Y2.Y3.ワード線WO,Wl、W2.W3はそれぞ
れシフトレジスタSo、SL、S2.S3゜S4.S5
.S6.S7の出力信号であり、Yセレクタ信号Yl、
Yl、Y2.Y3はメモリーのYセレクタ信号に、ワー
ド線WO,Wl、W2゜W3はメモリーのワード線につ
ながっている。第2図では、SOと84がハイレベルに
一8L、S2、S3.S5,36.S7がロウレベルに
初期設定されている場合を示している。Y2. Y3. Word lines WO, Wl, W2. W3 are shift registers So, SL, S2 . S3゜S4. S5
.. S6. This is the output signal of S7, and the Y selector signal Yl,
Yl, Y2. Y3 is connected to the Y selector signal of the memory, and word lines WO, Wl, W2°W3 are connected to the word lines of the memory. In FIG. 2, SO and 84 are at high level - 8L, S2, S3 . S5, 36. This shows a case where S7 is initially set to low level.
シフトレジスタSO,Sl、S2.S3はクロック信号
Φの立ち下りで、それぞれ、クロック信号Φの立ち下り
前のシフトレジスタS3.So。Shift registers SO, Sl, S2. S3 is the falling edge of the clock signal Φ, and the shift registers S3 . So.
SL、S2のレベルをYセレクタ信号YO,Yl。The levels of SL and S2 are determined by Y selector signals YO and Yl.
Y2.Y3に出力する。同様に、シフトレジスタS5.
S6.S7は、Yセレクタ信号Y3の立ち下りで、それ
ぞれ、Yセレクタ信号Y3の立ち下り前のシフトレジス
タ84.S5.S6のレベルをワード線Wl、W2.W
3に出力する。ワード線WOの出力は、Yセレクタ信号
Y3の立ち下り後はシフトレジスタS4の入力が常にロ
ウレベルに設定しであるため、常にロウレベルである6
メモリーから読み出す値は、信号りである。第2図の初
期状態、つまり、Yセレクタ信号YOとワード線WOが
ハイレベルの状態では、トランスファーゲートTOが導
通し、ワード線によりメモリーセルMO,Ml、M2.
M3が選ばれているため、メモリー出力信号りにはメモ
リーセルMOの値が出力する。クロック信号Φの立ち下
りでYセレクタ信号YOはハイレベルからロウレベルに
、Yセレクタ信号Y1はロウレベルからハイレベルに変
化するため、この時はトランスファーゲートT1が導通
し、メモリー出力信号りにはメモリーセルM1の値が出
力する。Y2. Output to Y3. Similarly, shift register S5.
S6. S7 is at the falling edge of the Y selector signal Y3, and the shift registers 84 . S5. The level of S6 is set to word lines Wl, W2 . W
Output to 3. The output of the word line WO is always at a low level after the fall of the Y selector signal Y3 because the input of the shift register S4 is always set at a low level6.
The value read from memory is a signal. In the initial state of FIG. 2, that is, when the Y selector signal YO and the word line WO are at high level, the transfer gate TO is conductive and the word line is connected to the memory cells MO, M1, M2, .
Since M3 is selected, the value of the memory cell MO is output as the memory output signal. At the falling edge of the clock signal Φ, the Y selector signal YO changes from a high level to a low level, and the Y selector signal Y1 changes from a low level to a high level. The value of M1 is output.
このように、クロック信号Φの立ち下りで、メモリー出
力信号りにはメモリーセルMOからメモリーセルM15
までのメモリーの値が順次出力される。この時、アドレ
ス生成回路の遅延は、シフトレジスタの遅延のみとなっ
ている。In this way, at the falling edge of the clock signal Φ, the memory output signal changes from the memory cell MO to the memory cell M15.
The memory values up to the point are output sequentially. At this time, the delay of the address generation circuit is only the delay of the shift register.
第3図、第4図は本発明の他の実施例のブロック図、タ
イミング図である。第3図の第1図の実施例からの変更
点は、シフトレジスタS4.S5゜S6.S7のクロッ
ク信号、シフトレジスタ5O2SL、S2.S3のクロ
ック信号をそれぞれΦ。FIGS. 3 and 4 are block diagrams and timing diagrams of other embodiments of the present invention. The changes in FIG. 3 from the embodiment in FIG. 1 include shift register S4. S5゜S6. S7 clock signal, shift register 5O2SL, S2. The clock signal of S3 is Φ, respectively.
ワード線W3にした点、シフトレジスタSOの入力信号
をロ、ウレベル固定にした点、S4の入力をワード線W
3にした点である。The input signal of shift register SO is fixed at low and low levels, and the input of S4 is connected to word line W3.
This is why I gave it a 3.
この実施例では、シフトレジスタSOとシフトレジスタ
S4の初期値がハイレベルに、他のシフトレジスタの初
期値がロウレベルに設定された場合には、第4図に示す
ように、メモリー出力信号りが設定され、第2図の出力
と順序を変更することができる。In this embodiment, when the initial values of shift register SO and shift register S4 are set to high level and the initial values of other shift registers are set to low level, the memory output signal R is set as shown in FIG. settings and the output and order of FIG. 2 can be changed.
以上説明したように本発明は、アドレス生成回路をシフ
トレジスタで構成することにより、メモリーのアドレス
を入力クロック信号から最大シフトレジスタ2段の遅延
で設定でき、アドレス設定時間を短縮できる効果を奏す
る。As described above, the present invention has the effect that by configuring the address generation circuit with a shift register, the memory address can be set from the input clock signal with a maximum delay of two stages of shift registers, and the address setting time can be shortened.
A4.A5.A6.A7・・・初期アドレス設定信号、
YO,Yl、Y2.Y3.Y4・−・Yセレクタ信号、
WO,Wl、W2.W3・・・ワード線、D・・・メモ
リー出力信号、So、SL、S2.S3.S4.S5、
S6.S7・・・シフトレジスタ、MO,Ml。A4. A5. A6. A7...Initial address setting signal,
YO, Yl, Y2. Y3. Y4--Y selector signal,
WO, Wl, W2. W3...word line, D...memory output signal, So, SL, S2. S3. S4. S5,
S6. S7...Shift register, MO, Ml.
M2.M3.M4.M5.M6.M7.M8.M9、M
IO,Mll、Ml2.Ml3.Ml4゜Ml5・・・
メモリーセル、To、TI、T2.T3・・・トランス
ファーゲート。M2. M3. M4. M5. M6. M7. M8. M9, M
IO, Mll, Ml2. Ml3. Ml4゜Ml5...
Memory cell, To, TI, T2. T3...Transfer gate.
Claims (1)
ドレスが指定されるメモリーセルと、初期値設定が可能
なシフトレジスタとを有し、前記シフトレジスタの出力
から前記ワード線、Yセレクタ信号を生成するアドレス
生成回路。A single semiconductor substrate includes a word line, a memory cell whose address is specified by a Y selector signal, and a shift register in which an initial value can be set, and the word line and Y selector signal are generated from the output of the shift register. address generation circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63205351A JPH0253295A (en) | 1988-08-17 | 1988-08-17 | Address generation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63205351A JPH0253295A (en) | 1988-08-17 | 1988-08-17 | Address generation circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH0253295A true JPH0253295A (en) | 1990-02-22 |
Family
ID=16505437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63205351A Pending JPH0253295A (en) | 1988-08-17 | 1988-08-17 | Address generation circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0253295A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007255352A (en) * | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Denso Corp | Method of inspecting fuel pump |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS49128644A (en) * | 1973-04-09 | 1974-12-10 | ||
JPS56130896A (en) * | 1980-03-13 | 1981-10-14 | Nec Corp | Serial memory device |
JPS61120251A (en) * | 1984-11-15 | 1986-06-07 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor video memory device |
-
1988
- 1988-08-17 JP JP63205351A patent/JPH0253295A/en active Pending
Patent Citations (3)
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JPS49128644A (en) * | 1973-04-09 | 1974-12-10 | ||
JPS56130896A (en) * | 1980-03-13 | 1981-10-14 | Nec Corp | Serial memory device |
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JP2007255352A (en) * | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Denso Corp | Method of inspecting fuel pump |
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