JPH0251827A - スパッタ型イオン源 - Google Patents

スパッタ型イオン源

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JPH0251827A
JPH0251827A JP63200113A JP20011388A JPH0251827A JP H0251827 A JPH0251827 A JP H0251827A JP 63200113 A JP63200113 A JP 63200113A JP 20011388 A JP20011388 A JP 20011388A JP H0251827 A JPH0251827 A JP H0251827A
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Shigeto Matsuoka
茂登 松岡
Kenichi Ono
小野 堅一
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、試料基板上に各種材料の薄膜を形成したり、
または薄膜表面のエツチング、あるいは表面改質をする
ためのイオンを引き出す装置に関するものであり、特に
高密度プラズマによるスパッタリングを利用して各種イ
オンを高電流密度、高効率で連続して長時間安定に引き
出すための新規なスパッタ型イオン源に関するものであ
る。
[従来の技術] 従来から、プラズマ中で生じたイオンをグリッド等の引
出し機構を用いて引き出すいわゆるイオン源は、各種材
料や薄膜のエツチングや加工に各方面で広く用いられて
いる。中でも第13図に示すような熱電子放出用フィラ
メントを備えたカウフマン型イオン源がもっとも一般的
に用いられている。カウフマン型イオン源はプラズマ生
成室1の内部に熱電子放出用のフィラメント2を有し、
このフィラメント2を陰極としてプラズマ安定化磁界発
生用の電磁石3によって発生した磁界中で放電を起こさ
せることによりプラズマ4を発生させ、このプラズマ4
中のイオンを数枚の引出しグリッド5を用いてイオンビ
ーム6として引き出すものである。
従来のカウフマンイオン源に代表されるイオン源はプラ
ズマ生成用の熱電子をフィラメントを用いて取り出して
いるため、そのフィラメント材j1・かスパッタされ不
純物として引出しイオンに含まれてしまう。さらにプラ
ズマ生成用ガスとして酸素等の反応性ガスを用いた場合
には、その反応hガスがフィラメントと反応し、長時間
連続したイオン引出しができないという大きな欠点があ
った。しかも引出しイオンは計等のガスを原着としたも
のに限られていた。
金属イオン源として、アンテナ型マイクロ波型金屈イオ
ン源があるが、スパッタによるアンテナの消耗により長
時間連続してイオン引出しができず、しかも大面積にわ
たるイオン引出しができない。
また従来のイオン源においては、ブラ°ズマ中のガスや
粒子のイオン化が十分でなかった。
スパッタを利用して大電流イオン源を実現するにはプラ
ズマ密度を高密度に高効率に保つ必要がある。そのため
には、ターゲットから放出される2次電子(γ電子)を
効率的に閉じ込めることが重要であるが、上記の技術で
はこの2次電子の閉じ込めが不十分で、高エネルギー電
子のエネルギーを有効にプラズマに伝えることができす
、大電流スパッタ型イオン源技術として十分とは言い難
[発明が解決しようとする課題] イオン源として望まれる条件をまとめると、(1)大収
量(大イオン電流)であること、(2)不純物が少ない
こと、 (3)イオンのエネルギーが広い範囲にわたって制御で
きること、 (4)不活性ガスのみでなく金属イオン等の各種イオン
も取り出せること、 か挙げられる。
しかし、このような条件を満足するイオン源はこれまで
実現されていない。
本発明は従来の欠点を改善し、上記各条件を満たし得る
イオン源を提供することにある。
[課題を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明はガスを導入
してプラズマを発生させるプラズマ生成室と、プラズマ
生成室の端部に設けられたイオン引出し機構と、プラズ
マ生成室の内部の両端部に設けられたそれぞれスパッタ
リング材料よりなる第1および第2のターゲットと、第
1および第2のターゲットにそれぞれプラズマ生成室に
対して負の電位を印加する少なくとも1個の電源と、プ
ラズマ生成室の内部に設けられたプラズマ制御用電極と
、プラズマ生成室の内部に磁場を形成し、かつ第1およ
び第2のターゲラl−のうち一方のターゲットから出て
もう片方のターゲットに入る磁束を生成する手段とを備
えたことを特徴とずる。
出しが可能となる。
[作 用] 木発明は、低い圧力のガス中で高密度プラズマを発生さ
せ、そのプラズマを用いたスパッタを行い、そこで生し
たイオンを高電流密度、高効率に連続して引き出せるも
のである。すなわち本発明においては、プラズマ生成室
内の両端部にスパッタリング材料からなるターゲットを
設置し、プラズマ生成室の周囲に設けた1ift石によ
ってターゲットの一方から他方へ通ずる磁束を発生せし
めると共に、ターゲットにプラズマ生成室に対して負の
電位を印加す゛ることによって、ターゲットから放出さ
れる2次電子(γ電子)をプラズマ中に反射する電界の
ミラー効果を用い、ターゲット間に形成されている磁界
の閉じ込め効果を利用して低加速電圧、高密度プラズマ
を容易に生成できる。本発明によれば高速電子のエネル
ギーがさらに有効にプラズマに伝えられ、結果として、
より高効率の高密度プラズマ生成、ひいては大電流イオ
ン引[実施例] 以下に図面を参照して木発明の詳細な説明する。
第1図は本発明によるスパッタ型イオン源の実施例の断
面図である。
プラズマ生成室7にはプラズマを生成するため″のガス
か導入口8から導入されるようになっている。プラズマ
生成室7の一端部にはイオン引出し用グリッド9が設け
られている。本実施例ではグリッド9は2枚の多孔グリ
ッド9Aおよび9Bからなり、各グリッドは絶縁体10
を介してプラズマ生成室の底部をなす壁7Aに取付けら
れ、グリッド9Aおよび9Bには電源11Aおよび11
8から電圧が印加される。そのとき9八にはプラズマ生
成室7から負の電位を、9Bには接地電位から負の電位
を与えた方が望ましい。プラズマ生成室7の内部の他端
部には平板状のターゲット12が、グリッド9の近傍に
は円筒状のターゲット13が設けられている。タケソト
12は水冷可能な金属製支持体12Aに゛取り外し可能
に固定され、支持体12八はねじM12Bによってプラ
ズマ生成室7の上部の壁7Bに固定される。支持体12
Aと壁7Bとは絶縁体12cによって絶縁されている。
同様にターゲット13は水冷可能な金属製支持体13A
に取り外し可能に固定され、支持体+3Aは絶縁体13
Bを介してねじM13Gによって壁7Cに固定される。
支持体12Aおよび13Aのそれぞれの突出端部120
および13Dは電極を兼ね、直流電源14および15か
らターゲット12および13にプラズマ生成室7に対し
て負の電圧を印加することができる。プラズマ生成室7
には電源28からの正の電位を印加するのが好ましい。
プラズマ生成室側のグリッド9Aにはプラズマ生成室7
に対して−数十■から一200Vの電圧を印加しておく
と、グリッドに加速されたイオンがグリッド上に堆積し
た膜を取り除く効果がある。
プラズマ生成室7の内側には、プラズマ制御用電極とし
ての円筒状のアノード電極30を設け、このアノード3
0には電源29からプラズマ生成室7に対して正の電位
を与えておく。30Aは絶縁体である。このアノード3
0の印加電位によってプラズマ電位が制御でき、結果と
してイオンの引出し効率を改善できる。
プラズマ生成室7の外周には、プラズマ生成室の内部に
611界を形成するためのMJ、 6i1石16か設け
られている。電磁石16が発生する磁束17が両ターケ
ッ1−面を横切り、磁束が一方のターケラ1への表mj
′からでて他方の表面に入るように、1E1石16およ
びターゲット12と13の位否を定める。プラズマ生成
室は水冷可能とするのが望ましい。ターゲット12およ
び13の側面をプラズマから保護するために、プラズマ
生成室の内面にはシールド7Dおよび7Eを設けること
が好ましい。
プラズマ生成室7内を高真空に排気した後、ガス導入口
8からガスを導入して、電磁石16による磁界中でター
ゲット12.13に印加する電圧を増加すると放電を生
しプラズマが発生する。プラズマ中のイオンをイオンビ
ーム18として引き出すことができる。ターゲット間の
磁束はターゲット表面から生成された2次電子(γ電子
)が磁界に垂直方向に散逸するのを防ぎ、さらにプラズ
マを閉じ込める効果をもち、その結果低ガス圧中で高密
度プラズマが生成される。
第2図は第1図に示したイオン源を利用した薄膜形成装
置の一例の断面図である。イオン引出し用グリッド9を
挟んで試料室19がプラズマ生成室7と結合されている
。試料室19とプラズマ生成室7とは絶縁するのがよい
。試料室19にはガス導入口20かもガスを導入するこ
とができ、排気系21によって高真空に排気することが
できる。試料室19内には基板22を保持するための基
板ホルダ23が設けられ、基板ホルダ23とイオン引出
しグリッド9との間に開閉可能なシャッタ24が設けら
れている。基板ホルダ23にはヒータを内蔵して基板を
加熱できるようにするのが好ましく、また基板22に直
流あるいは交流の電圧を印加して膜形成中の基板へのバ
イアス電圧の印加、基板のスパッタクリーニングが可能
なように構成するのが望ましい。
プラズマの生成にF’llを与える要因は、プラズマ生
成室のガス圧、ターゲットへの没入電力、磁場分布、タ
ーゲット間距離等である。
引出したイオンのエネルギーは主にプラズマ生成室7と
イオン引出しグリッド9に印加する電圧の相対差、ある
いは円筒状アノードに印加した電位である加速電圧によ
り制御することかできる。
第3図に、第2図に示した@膜形成装置における磁束方
向の磁場分布の例を示した。FIIl場は発11kbn
場であ・る。
ここで本発明のイオン源における高密度プラズマ生成の
原理を第4図により詳細に説明する。
プラズマ生成室にガスを導入し、ターゲット12、13
に負の電圧を印加して、ガス中に放電を生ぜしめ、ガス
を電離する。負電圧VaおよびVa’  を印加された
ターゲットに高速イオンが衝突するとそのターゲット表
面から高速の2次電子(γ電子)25が放出される。こ
のターゲットから放出されたγ電子25は両ターゲット
の電界で反射され、両ターゲット間に走る磁束17の回
りをサイクロトン運動しなからターゲット間を往復運動
する。両ターゲット12.13の電界はγ電子に対して
ミラーとして作用する。γ電子はそのエネルギーが磁束
の束縛エネルギーより小さくなるまで両ターゲット間に
閉じ込められ、その間中性粒子との衝突によりイオン化
が促進される。また、そのターゲット間を往復する高速
の電子流(電子ビーム)はプラズマとの相互作用により
中性粒子の電離を一層加速する。以上のように、低いガ
ス圧中でも高密度のプラズマを生成できる。
本発明の装置では、10−’Torr台のより低いガス
圧でも放電が安定に形成でき、高速イオン引出しを実現
している。
次に、実施例のイオン源を用いてへβイオンを引出し、
膜を形成した結果について説明する。試料室19の真空
度を5 X 10−’Torrまで排気した後、Arガ
スを毎分2.5cc、および5ccのフロー速度で導入
しプラズマ生成室7内のガス圧を5 x 10−’To
rrおよび1 x 1O−3Torrとして放電させた
時の放電特性を第5図に示す。ここでは平板状ターゲラ
]・12に印加する電圧を一300Vに固定している。
いずれもある電圧から放電電流が雪崩的に増加する定電
流放電特性を示し、高密度プラズマの増殖が行われてい
ることを示してい・る。本発明のイオン源では、円筒状
ターゲット13と平板状ターゲット12に印加する電圧
は第5図に示した例のように、それらか異なる場合でも
十分高密度なプラズマ生成が・できる。また、それらの
電圧が同しである場合でも十分高効率なプラズマ生成が
実現できる。円筒状のへ℃ターゲット13に没入する電
力を300〜600Wとしてスパッタを行った。第6図
にイオン3出し特性の例を示した。このとき円筒状アノ
ード30にはプラズマ生成室に対して+70Vの電位を
印加している。横軸のイオン引出し電圧はプラズマ生成
室7に印加した電圧に円筒状アノードに印加した電圧を
加えた値である。引出しイオンのエネルギーを300e
Vに固定し、基板ホルダを加熱しないで常温で膜形成を
行った結果、1〜12nm/minの堆積速度で長時間
連続して安定に効率よ< l膜を堆積できた。
このときアノードに電圧を印加しない場合に・くらべて
イオン引出し量がおよそ20%向上した。また、アノー
ドに印加する電圧のみによっても引出しイオンのエネル
ギーが114御できることがら、イオンエネルギーの制
御性によりすぐれている。
第7図に本発明によるイオン源の他の実施例の断面図を
、′1iJ8図にこのイオン源を利用した薄膜形成装置
の一例の断面図を示す。
未実施例のイオン源は、スパッタを行うためのターゲッ
トが2個の円筒状ターゲット13および26である点が
第1図に示した実施例と異なっている。ターゲット26
は水冷可能な金属製支持体26Aに取外し可能に固定さ
れ、支持体28Aはねじ蓋26Bによって壁7Cに固定
され、かつ絶縁体26Gによって壁7Cから絶縁されて
いる。支持体26Aの突出端部26Dは電極を兼ね、電
源27からターゲット26にプラズマ生成室に対して負
の電圧が印加される。電磁石16による磁束はターゲッ
ト26および13の一方の表面から出て他方の表面に入
る。
第9図に本実施例における磁束方向の磁場強度分布の一
例を示す。磁場は発散磁場である。
第10図に示すように、本実施例においても負電圧Va
、 Va’ が印加されているターゲットに高速イオン
が衝突するとそのターゲット表面から高速の2次電子(
γ電子)25が放出される。このターゲットから放出さ
れたγ電子25は両ターゲットの電界で反射され、両タ
ーゲット間に走る磁束17の回りをサイクロトン運動し
ながらターゲット間を往復運動する。そして先に説明し
たのと全く同様に本実施例においても低いガス圧中で高
密度のプラズマを生成することができる。
次に、本実施例のスパッタ型イオン源を用いてA℃イオ
ンを引出し、膜を形成した結果について説明する。試料
i19の真空度を5 x 10−’Torrまで排気し
た後、A「ガスを毎分5cc、およびlccのフロー速
度で導入しプラズマ生成室7内のガス圧を5x 10−
’Torrおよび8 X 10−’Torrとして放電
させた時の放電特性を第11図に示す。ここでは両日筒
状ターゲットに印加する電圧を同じ値にしている。
いずれもある電圧から放電電流が雪崩的に増加する定電
流放電特性を示し、高密度プラズマの増殖が行われてい
ることを示している。本発明のスパッタ型イオン源では
、円筒状ターゲット13および26に印加する電圧は第
11図に示した例のように、それらが同じ場合でも、ま
たそれらが異なる場合でも十分高密度なプラズマ生成が
できる。
第12図にAIlイオンの引出し特性の例を示す。
円筒状のA、12ターゲツト13および26に投入する
電力を300〜600Wとしてスパッタを行った。この
とぎ円筒状アノード30にはプラズマ生成室に対して+
70Vの電位を印加している。横軸のイオン引出し電圧
はプラズマ生成室7に印加した電圧に円筒状アノードに
印加した電圧を加えた値である。引出しイオンのエネル
ギーを300eVに固定し、基板ホルダを加熱しないで
常温で膜形成を行った結果、1〜12r++n/min
の堆積速度で長時間連続して安定に効率よ<  i膜を
堆積できた。
このときアノードに電圧を印加しない場合にくらべてイ
オン引出し量がおよそ20%向上した。また、アノード
に印加する電圧のみによっても引出しイオンのエネルギ
ーが制御できることから、イオンエネルギーの制御性に
よりすぐれている。
また導入するガスとしてほとんどの反応性ガスを用いる
ことかできるため、それにより反応スパッタを利用した
イン引出しにより化合物膜の形成も実現できる。
またターゲットとしては平板状ターゲットや円筒状ター
ゲットの代わりにリング状ターゲットを用いることもで
きる。
さらに、以上示した実施例では、電磁石16によってプ
ラズマ生成室内に形成される磁界の最大値が500G以
上の値としているが、これは100G程度でも十分高密
度なプラズマ生成が実現できる。
以上の実施例では必要な磁場を電磁石によって得ている
が、これは種々の永久磁石を用いて、あるいはそれらを
組み合わせて形成しても全く同様の効果をもつことは明
らかである。
一方、上記各実施例では、プラズマ制御用のアノード電
極として円筒状のアノードを用いているが、これは平板
状や線状のアノードを用いてもよく、同様の効果をもち
その形状によらない。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、高密度プラズマ
を利用したスパッタを用いて、低いガス圧中で高効率の
イオン引出しを連続して長時間安定に実現することがで
きる。本発明によるイオン源は、損傷の少ない良質の膜
を低基板温度で高速度、高安定に連続形成することや材
料表面改質、あるいはエツチングにも応用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のスパッタ型イオン源の実施例の断面図
、 !iS2図は第1図のスパッタ型イオン源を適用した薄
膜形成装置の一例の断面図、 第3図は第2図に示された本発明のスパッタ型イオン源
の実施例における磁束方向の磁場強度分布を示す図、 第4図は本発明のスパッタ型イオン源の高密度プラズマ
生成機構を説明する図、 第5図は第1図のスパッタ型イオン源においてターゲッ
トを八λとしたときの放電特性の一例を示す図、 第6図はイオン引出し特性の一例を示す図、第7図は本
発明のスパッタ型イオン源の他の実施例の断面図、 第8図は第7図のスパッタ型イオン源を適用した7t9
膜形成装置の一例の断面図、 第9図は第8図に示されたスパッタ型イオン源の実施例
における磁束方向の磁場強度分布を示す図、 第10図は本発明のスパッタ型イオン源の高密度プラズ
マ生成機構を説明する図、 第11図は第7図のスパッタ型イオン源においてターゲ
ットをAj2としたときの放電特性の一例を示す図、 第12図はイオン引出し特性の一例を示す図、第13図
は従来のカウフマン型イオン源の概要な示す断面図であ
る。 1・・・プラズマ生成室、 2・・・フィラメンl−1 3・・・プラズマ安定化lIf& 6,1石、4・・−
プラズマ、 5・・・イオン引出し用グリッド、 6・・・イオンビーム、 7・・・プラズマ生成室、 8・・・ガス導入口、 9・・・イオン引出し用グリッド、 10・・・絶縁体、 目A、11B、+4.15,27,28.29・・・電
源、12・・・平板状ターゲット、 13、26・・・円筒状ターゲット、 16・・・電磁石、 17・・・磁束、 18・・・イオンビーム、 19・・・試料室、 22・・・基板、 23・・・基板ボルダ− 24・t・シャッター 25−・−2次電子、 30・・・円筒状アノード。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)ガスを導入してプラズマを発生させるプラズマ生成
    室と、 前記プラズマ生成室の端部に設けられたイオン引出し機
    構と、 前記プラズマ生成室の内部の両端部に設けられたそれぞ
    れスパッタリング材料よりなる第1および第2のターゲ
    ットと、 該第1および第2のターゲットにそれぞれ前記プラズマ
    生成室に対して負の電位を印加する少なくとも1個の電
    源と、 前記プラズマ生成室の内部に設けられたプラズマ制御用
    電極と、 前記プラズマ生成室の内部に磁場を形成し、かつ前記第
    1および第2のターゲットのうち一方のターゲットから
    出てもう片方のターゲットに入る磁束を生成する手段と
    を備えたことを特徴とするスパッタ型イオン源。
JP20011388A 1988-02-08 1988-08-12 スパッタ型イオン源 Expired - Fee Related JPH0721993B2 (ja)

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EP89102042A EP0328033B1 (en) 1988-02-08 1989-02-06 Thin film forming apparatus and ion source utilizing plasma sputtering
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0449448U (ja) * 1990-08-30 1992-04-27

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JPH0449448U (ja) * 1990-08-30 1992-04-27

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