JPH0251002A - 光学的変位量測定装置 - Google Patents
光学的変位量測定装置Info
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- JPH0251002A JPH0251002A JP20012988A JP20012988A JPH0251002A JP H0251002 A JPH0251002 A JP H0251002A JP 20012988 A JP20012988 A JP 20012988A JP 20012988 A JP20012988 A JP 20012988A JP H0251002 A JPH0251002 A JP H0251002A
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- JP
- Japan
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- light
- emitting element
- light emitting
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- coherent
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- Pending
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、ポジションセンサ、光ディスク検査装置等、
高精度で物体の変位量を測定する光学的変位量測定装置
に関するものである。
高精度で物体の変位量を測定する光学的変位量測定装置
に関するものである。
（従来の技ｔｌｆ）
第３図は、従来の光学的変位量測定装置の構成を示して
いる。同図において、１１はＬＥＤ光源であり、コリメ
ートレンズ１２によって平行光にされている。１３は測
定対象であり、上記平行光の一部を遮断している。１４
は上記平行光と光軸を合わせて配置された受光素子であ
り、１５は上記受光素子に当たる光量を電気信号に変換
するセンサー用回路である。
いる。同図において、１１はＬＥＤ光源であり、コリメ
ートレンズ１２によって平行光にされている。１３は測
定対象であり、上記平行光の一部を遮断している。１４
は上記平行光と光軸を合わせて配置された受光素子であ
り、１５は上記受光素子に当たる光量を電気信号に変換
するセンサー用回路である。
次に、動作について説明する。測定対象物が任意の位置
からΔＸ動くと、受光素子に当たる光量もΔＰだけ変化
し、この光量変化量へＰはセンサー用回路によりΔＶと
して検出され、測定対象物の変化量ΔＸと電圧変化量Δ
Ｖが線形であれば、ΔＶよりΔＸの量が算出できる。
からΔＸ動くと、受光素子に当たる光量もΔＰだけ変化
し、この光量変化量へＰはセンサー用回路によりΔＶと
して検出され、測定対象物の変化量ΔＸと電圧変化量Δ
Ｖが線形であれば、ΔＶよりΔＸの量が算出できる。
（発明が解決しようとする課題）
上記従来の光学的変位量測定装置では、第４図に示すよ
うに、光源にＬＥＤ光を使用しているため、多種の波長
光が混合した光であり、コリメートレンズにより完全に
平行光とすることができない。そのため、センサー光が
発光源から離れるに従って回りに広がり、発光素子と受
光素子の距離を大きくできない欠点があった。
うに、光源にＬＥＤ光を使用しているため、多種の波長
光が混合した光であり、コリメートレンズにより完全に
平行光とすることができない。そのため、センサー光が
発光源から離れるに従って回りに広がり、発光素子と受
光素子の距離を大きくできない欠点があった。
さらに、センサー光の光強度分布は緩やかであリ、微小
な変位量まで測定できない欠点があった。
な変位量まで測定できない欠点があった。
本発明の目的は、従来の欠点を解消し、微小な変位量ま
で測定でき、かつ発光素子と受光素子の距離を木きくす
ることができ、取付位置の自由度を高めた優れた光学的
変位量測定装置を提供することである。
で測定でき、かつ発光素子と受光素子の距離を木きくす
ることができ、取付位置の自由度を高めた優れた光学的
変位量測定装置を提供することである。
（課題を解決するための手段）
本発明の光学的変位量測定装置は、光を発光する発光素
子と、この発光素子より発光された光を平行光にするレ
ンズと、この平行光を遮る測定対象物と、この測定対象
物により変化する光量を検知する受光部と、変化した光
量を電気信号に変換する回路からなり１発光素子の光源
にコヒーレント光を用いるものである。
子と、この発光素子より発光された光を平行光にするレ
ンズと、この平行光を遮る測定対象物と、この測定対象
物により変化する光量を検知する受光部と、変化した光
量を電気信号に変換する回路からなり１発光素子の光源
にコヒーレント光を用いるものである。
（作 用）
本発明は１発光源にコヒーレント光を用いることにより
、コリメートレンズ後の光を完全な平行光にすることが
でき、かつ光強度分布を急峻にすることができるため１
発光素子と受光素子の距離を大きくすることができ、取
付位置の自由度が高められ、さらに微小な変位量まで高
い精度で測定することができる。
、コリメートレンズ後の光を完全な平行光にすることが
でき、かつ光強度分布を急峻にすることができるため１
発光素子と受光素子の距離を大きくすることができ、取
付位置の自由度が高められ、さらに微小な変位量まで高
い精度で測定することができる。
（実施例）
本発明の一実施例を第１図および第２図に基づいて説明
する。
する。
第１図は、本発明の光学的変位量測定装置の要部構成図
である。同図において、１はコヒーレント光源であり、
コリメートレンズ２によって完全な平行光にされている
。３は測定対象物であり、前記平行光の一部を遮断して
いる。４は平行光と光軸を合わせて配置された受光素子
であり、測定対象物３の動きに応じて受光素子４に当た
る平行光の光量も変化する。５は受光素子４に当たる光
量を電気信号に変換するセンサー用回路である。
である。同図において、１はコヒーレント光源であり、
コリメートレンズ２によって完全な平行光にされている
。３は測定対象物であり、前記平行光の一部を遮断して
いる。４は平行光と光軸を合わせて配置された受光素子
であり、測定対象物３の動きに応じて受光素子４に当た
る平行光の光量も変化する。５は受光素子４に当たる光
量を電気信号に変換するセンサー用回路である。
第２図は、同機構のコヒーレント光強度分布を示してい
る。
る。
このように、本実施例によれば１発光素子にコヒーレン
ト光を用いることで、急峻な光強度分布を利用でき、微
小な変位量まで測定することができる。また、コリメー
トレンズによって完全な平行光とすることができるので
、発光素子と受光素子の距離を大きくすることができ、
取付位置の自由度が高められ、感度も高めることができ
る。
ト光を用いることで、急峻な光強度分布を利用でき、微
小な変位量まで測定することができる。また、コリメー
トレンズによって完全な平行光とすることができるので
、発光素子と受光素子の距離を大きくすることができ、
取付位置の自由度が高められ、感度も高めることができ
る。
（発明の効果）
本発明によれば、発光素子にコヒーレント光を用いるこ
とにより、微小な変位量まで測定でき、かつコリメート
レンズにより完全な平行光とすることができ、高精度、
かつ発光素子と受光素子の取付位置の自由度の高い優れ
た光学的変位量測定装置が得られ、その実用上の効果は
大である。
とにより、微小な変位量まで測定でき、かつコリメート
レンズにより完全な平行光とすることができ、高精度、
かつ発光素子と受光素子の取付位置の自由度の高い優れ
た光学的変位量測定装置が得られ、その実用上の効果は
大である。
第１図は本発明の一実施例における光学的変位量測定装
置の要部構成図、第２図は同機構のコヒーレント光強度
分布図、第３図は従来の光学的変位量測定装置の要部構
成図、第４図は同機構のＬＥＤ光強度分布図である。 １・・・コヒー、レント光源、 ２・・・コリメート
レンズ、 ３・・・測定対象物、 ４・・・受光素子、
５・・・センサー用回路。 第１図 ３測を対ψ物 コヒーし）ト１１ ２コリメートレン入 第 図 第 図
置の要部構成図、第２図は同機構のコヒーレント光強度
分布図、第３図は従来の光学的変位量測定装置の要部構
成図、第４図は同機構のＬＥＤ光強度分布図である。 １・・・コヒー、レント光源、 ２・・・コリメート
レンズ、 ３・・・測定対象物、 ４・・・受光素子、
５・・・センサー用回路。 第１図 ３測を対ψ物 コヒーし）ト１１ ２コリメートレン入 第 図 第 図
Claims (1)
- 光を発光する発光素子と、前記発光素子より発光され
た光を平行光にするレンズと、前記平行光を遮る測定対
象物と、前記測定対象物により変化する光量を検知する
受光部と、変化した光量を電気信号に変換する回路から
なり、前記発光素子の光源にコヒーレント光を用いるこ
とを特徴とする光学的変位量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20012988A JPH0251002A (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | 光学的変位量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20012988A JPH0251002A (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | 光学的変位量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0251002A true JPH0251002A (ja) | 1990-02-21 |
Family
ID=16419292
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20012988A Pending JPH0251002A (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | 光学的変位量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0251002A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100462541B1 (ko) * | 2002-07-23 | 2004-12-17 | 아이앤아이스틸 주식회사 | 선반의 공작물 지지장치 |
-
1988
- 1988-08-12 JP JP20012988A patent/JPH0251002A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100462541B1 (ko) * | 2002-07-23 | 2004-12-17 | 아이앤아이스틸 주식회사 | 선반의 공작물 지지장치 |
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