JPH0250724A - 乱数発生方式及び単語テスト方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （り産業上の利用分野 本発明は、電子式辞書において単語情報をテスト問題と
して出力する単語テスト方式、及び、該単語テストに用
いて好適な乱数発生方式に関する。

（ロ）従来の技術 単語の学習を目的とした電子式辞書においては、単語の
つづり及び訳語の一方をテスト問題として出題し、学習
者にその他方を解答させたり、あるいはつづりの一部を
マスクした単語を出題し、マスク部分の文字を解答させ
る等、単語のテストを行えるものがあった。

このような単語のテストを行う場合、辞書メモリから記
憶順に単語を読出していては学習効果が上がらないので
、従来は、特開昭５８−２０２４７６号公報に開示され
ているように、乱数を発生させ、この乱数に基づき辞書
メモリをアドレス指定し、単語の読出しを行っていた。

（ハ）発明が解決しようとする課題 従来の単語テストに用いられていた乱数発生方式は、単
に乱数を発生する一般的な方式であったため、テスト時
に同一の単語が出題される可能性が高かった。又、テス
ト終了後−旦電源を遮断し、その後テストを再び行った
場合には、同一単語の出現の可能性はより高くなる傾向
にあり、あまり効率的な学習はできなかった。

（ニ）課題を解決するための手段 本発明は、複数の異なる乱数を記憶した固定乱数テーブ
ルと、該固定乱数テーブルのアドレスを指定する第１及
び第２のポインタとを備え、第２ポインタを循環的に順
次更新すると共に、該第２ポインタの１循環毎に前記第
１ポインタを順次更新し、前記第２ポインタの更新の度
に、前記第１ポインタが指定するアドレスの乱数と第２
ポインタが指定するアドレスの乱数との所定演算結果を
、乱数として発生するようにして同一の乱数値の発生を
極力抑えるものであり、この乱数に基づき辞書メモリの
アドレスを指定することにより、電子式辞書の単語テス
トにおける上記課題を解決するものである。

更に、本発明は、電源遮断時に前記第１及び第２のポイ
ンタの内容をバックアップメモリに記憶しておき、電源
投入時バックアップメモリに記憶されたポインタ内容を
読出し、この内容を基に上記乱数発生を行うことにより
、電源を一旦遮断した後の単語テストにおける上記課題
を解決するものである。

（＊）作用 本発明では、固定乱数テーブルのある乱数もしくはこの
乱数を用いた所定演算結果としての乱数が一度発生する
と、固定乱数テーブル内の異なる他の乱数もしくはこれ
ら乱数を用いた所定演算結果としての乱数が全て発生し
ない限り、同一の乱数は発生しなくなる。

（へ）実施例 第１図は、本発明の乱数発生方式及び単語テスト方式を
実現する実施例としての電子式辞書の構成を示すブロッ
ク図であり、（１）は文字キーの他に出題キー（２）、
解答キー（３）、終了キー（４）を備えたキーボード、
（５）は種々の処理を実行する処理部、（６）は複数の
単語についてその英語見出しと訳語を対応させて記憶し
た辞書メモリ、（７）はアドレス１〜１００までの１０
０の記憶エリアを有するＲＯＭにて構成され、１〜１０
０までの各々異なる１００個の数値を第２図に示すよう
にランダムな順に記憶した固定乱数テーブル、（８）及
び（９）は最大乱数値ＨＭＡＸ（＝１００）及び乱数テ
ーブル長ＴＭＡＸ（−１００）を各々記憶するメモリ、
（１０）及び（１１）は固定乱数テーブル（７）のアド
レスを指定する第１及び第２のポインタ、（１２）は電
源遮断時に第１及び第２のポインタの内容Ｐ１及びＰ２
を記憶しておくためのバックアップＲＡＭ、（１３）は
辞書メモリ（６）のレコードアドレスＲＰＯＩＮＴを記
憶するアドレスレジスタ、（１４）は表示制御部、（１
５）は表示器である。

本実施例では、第３・図のフローチャートに示すように
、出題キー（２）の押下の度に乱数発生が実行され、こ
の乱数発生は第４図のフローチャートで示すように行わ
れる。

即ち、出題キー（２）が押下される度に、先ず第２ポイ
ンタＰ２がインクリメントされ、Ｐ２が乱数テーブル（
７）の最終アドレス１００を越えていなければ、ポイン
タＰ１が指定するアドレスの乱数値ＲＴ（Ｐ　１　）と
ポインタＰ２が指定するアドレスの乱数値ＲＴ（Ｐ　２
　）との加算処理を実行する。最終アドレスを越えたと
きはポインタＰ２が循環するようにＰ２をｒｌ」とし、
ポインタＰ１をインクリメントする。そして、ポインタ
Ｐ１が最終アドレス１００を越えていなければ、同様に
ＲＴ（Ｐｉ）＋ＲＴ（Ｐ２）の加算処理を実行し、越え
たときはポインタＰ１を循環するように「０」にした後
、同様の加算処理を実行する。

次に、加算結果が最大乱数値ＲＭＡＸ（＝１００）を越
えたか否かの判定を行い、越えていなければ加算処理結
果をそのまま乱数として発生し、越えていれば、加算結
果からＲＭＡＸを減算し、減算結果を乱数として発生す
る。従って、１〜１００までの乱数が全て１度発生しな
い限り、同一の乱数が発生することはない。

又、本実施例は、このように発生された乱数をレコード
アドレスＲＰＯＩＮＴとしてアドレスレジスタ（１３）
にセットすると共に、バックアップＲＡＭ（１２）に第
１及び第２のポインタの内容Ｐ１及びＰ２を記憶するよ
うにしている。

レコードアドレスＲＰＯＩＮＴがセットされた後は、処
理部（５）は辞書メモリ（６）を検索し、セットされた
アドレスＲＰＯＩＮＴの単語情報を読出し、その英語見
出しを表示制御部（１４）を介してテスト問題として表
示器（１５）に表示する。学習者は表示されたテスト問
題の解答を頭に浮かべた後、解答キー（３）を押下する
と、その対訳が表示器（１５）に表示され、解答が正し
かったか否かのチエツクが行える。その後、引続き出題
キー（２）を押下すれば、同様に乱数が発生され、この
乱数をアドレスとして辞書メモリ（６）から単語情報が
読出され、表示器（１５）に次のテスト問題が表示され
る。

以上の単語テストでは、上述の乱数を辞書メモリ（６〉
のアドレスとして用いているため、同一の問題が出題さ
れる可能性が極めて小さくなる。

ところで、電源投入時には、処理部（５）は第５図のフ
ローチャートで示すように、バックアップＲＡＭ（１２
）から記憶されている内容Ｐ１及びＰ２を、各々第１ポ
インタ（１０）及び第２ポインタ（１１）にロードする
構成としているので、電源の遮断により乱数発生が初期
化されることはなく、連続した乱数発生が実行される。

（ト）発明の効果 本発明に依れば、同一の乱数が短かい間隔で複数回出現
することを極力抑えることが可能となり、この乱数発生
を用いた単語テストにおいては、同一の問題が頻繁に出
題されることがなくなる。又、電源を一旦遮断した後の
単語テストにおいても、同一問題が出題きれる可能性を
低く抑えることができる。依って、学習者はより効率的
な学習をすることができるようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を実現する電子式辞書の構成を示すブロ
ック図、第２図は固定乱数テーブルの内容を示す図、第
３図は単語テスト処理内容を示すフローチャート、第４
図は乱数発生処理内容を示すフローチャート、第５図は
電源投入時の処理内容を示すフローチャートである。 （１）・・・キーボード、　　（２）・・・出題キー　
　（５）・・・処理部、　（６）・・・辞書メモリ、　
（７）・・・固定乱数テーブル、　（１０）（１１）・
・・ポインタ、　（１３）・・・アドレスレジスタ、　
（１５）・・・表示器。 第１図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数の異なる乱数を記憶した固定乱数テーブルと
   、該固定乱数テーブルのアドレスを指定する第１及び第
   ２のポインタとを備え、第２ポインタを循環的に順次更
   新すると共に、該第２ポインタの１循環毎に前記第１ポ
   インタを順次更新し、前記第２ポインタの更新の度に、
   前記第１ポインタが指定するアドレスの乱数と第２ポイ
   ンタが指定するアドレスの乱数との所定演算結果を、乱
   数として発生することを特徴とした乱数発生方式。
2. （２）単語情報を記憶した辞書メモリと、電源遮断時に
   前記第１及び第２のポインタの内容を記憶しておくバッ
   クアップメモリとを備えた電子式辞書において、電源投
   入時前記バックアップメモリから前記第１及び第２のポ
   インタの内容を読出して請求項１記載の乱数発生を行い
   、該発生した乱数に基づき前記辞書メモリのアドレスを
   指定して単語情報を読出し、該単語情報をテスト問題と
   して出力することを特徴とした単語テスト方式。