JPH0250508B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0250508B2 JPH0250508B2 JP59278264A JP27826484A JPH0250508B2 JP H0250508 B2 JPH0250508 B2 JP H0250508B2 JP 59278264 A JP59278264 A JP 59278264A JP 27826484 A JP27826484 A JP 27826484A JP H0250508 B2 JPH0250508 B2 JP H0250508B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- annular
- industrial
- support
- specimen
- radiation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 41
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 21
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 18
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 3
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 4
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N (1s,3r,4e,6e,8e,10e,12e,14e,16e,18s,19r,20r,21s,25r,27r,30r,31r,33s,35r,37s,38r)-3-[(2r,3s,4s,5s,6r)-4-amino-3,5-dihydroxy-6-methyloxan-2-yl]oxy-19,25,27,30,31,33,35,37-octahydroxy-18,20,21-trimethyl-23-oxo-22,39-dioxabicyclo[33.3.1]nonatriaconta-4,6,8,10 Chemical compound C1C=C2C[C@@H](OS(O)(=O)=O)CC[C@]2(C)[C@@H]2[C@@H]1[C@@H]1CC[C@H]([C@H](C)CCCC(C)C)[C@@]1(C)CC2.O[C@H]1[C@@H](N)[C@H](O)[C@@H](C)O[C@H]1O[C@H]1/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/[C@H](C)[C@@H](O)[C@@H](C)[C@H](C)OC(=O)C[C@H](O)C[C@H](O)CC[C@@H](O)[C@H](O)C[C@H](O)C[C@](O)(C[C@H](O)[C@H]2C(O)=O)O[C@H]2C1 PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、環状被検体の断層像を作成する産業
用CTスキヤナに関する。
用CTスキヤナに関する。
この種のCTスキヤナは人体の断層像を撮影す
る医療診断用装置として広く用いられている。第
９図は従来のかかる医療診断用CTスキヤナを正
面からみた図であつて、具体的には固定フレーム
１に対して回転可能に支持された筒形回転フレー
ム２にＸ線管３とＸ線検出器４が対向する様に設
置され、一方、基台または床上にテーブル５を設
置してこれに被検体６を載置させた後、回転フレ
ーム２の開口部７にセツテイングしている。８は
Ｘ線管側スリツト、９は検出器側スリツト、１０
はＸ線管３から放射されたフアン状Ｘ線ビームを
示す。
る医療診断用装置として広く用いられている。第
９図は従来のかかる医療診断用CTスキヤナを正
面からみた図であつて、具体的には固定フレーム
１に対して回転可能に支持された筒形回転フレー
ム２にＸ線管３とＸ線検出器４が対向する様に設
置され、一方、基台または床上にテーブル５を設
置してこれに被検体６を載置させた後、回転フレ
ーム２の開口部７にセツテイングしている。８は
Ｘ線管側スリツト、９は検出器側スリツト、１０
はＸ線管３から放射されたフアン状Ｘ線ビームを
示す。
しかして、以上のようなスキヤナ本体を走査し
て被検体６のデータを収集する場合、例えば制御
コンソール、CPU、データ収集部、画像再構成
処理部およびCRTデイスプレイ等を備えたデー
タ処理系１１から回転制御信号が出力され、これ
を受けて機構制御部１２は回転機構１３に回転駆
動信号を付与し、回転フレーム２を所定速度で連
続または間欠回転せしめる。この回転フレーム２
の回転角度は回転角検出器１４で検出され、この
検出信号は機構制御部１２自身で或いは機構制御
部１２を介してデータ処理系１１で受け取る。こ
のデータ処理系１１は回転角検出信号を受け取つ
てまたは所定のタイミングで放射線制御部１５に
放射線制御信号を与えてＸ線管３からフアン状Ｘ
線ビーム１０を照射させ、このとき被検体６を透
過してＸ線検出器４によつて検出されたＸ線吸収
データをデータ収集部で収集する。この収集デー
タは画像再構成処理部で画像処理されて被検体６
の断層像が作成される。
て被検体６のデータを収集する場合、例えば制御
コンソール、CPU、データ収集部、画像再構成
処理部およびCRTデイスプレイ等を備えたデー
タ処理系１１から回転制御信号が出力され、これ
を受けて機構制御部１２は回転機構１３に回転駆
動信号を付与し、回転フレーム２を所定速度で連
続または間欠回転せしめる。この回転フレーム２
の回転角度は回転角検出器１４で検出され、この
検出信号は機構制御部１２自身で或いは機構制御
部１２を介してデータ処理系１１で受け取る。こ
のデータ処理系１１は回転角検出信号を受け取つ
てまたは所定のタイミングで放射線制御部１５に
放射線制御信号を与えてＸ線管３からフアン状Ｘ
線ビーム１０を照射させ、このとき被検体６を透
過してＸ線検出器４によつて検出されたＸ線吸収
データをデータ収集部で収集する。この収集デー
タは画像再構成処理部で画像処理されて被検体６
の断層像が作成される。
ところで、以上のようなCTスキヤナを用いて
例えば第１０図のような環状被検体６の断層像を
作成する場合、図示１点鎖線で示す軌跡イをもつ
て両機器３，４等を回転させながら被検体６のデ
ータを取得するものであるため、これをデータ処
理系１１で画像再構成処理を行なつたとき、全体
の断面像に比較して実際の充実断面部６ａの画像
再構成処理部分は非常に小さくなり、それだけ充
実断面部６ａの分解能が低くなる。また、自動車
のタイヤの如き環状被検体６を検査する場合、そ
のタイヤ全体を外側から覆う必要があるため、回
転フレーム２が大きくなり、ひいてはCTスキヤ
ナ全体の大型化は避けられない。さらに、両機器
３，４間の距離が長くなると測定効率が低下する
問題がある。
例えば第１０図のような環状被検体６の断層像を
作成する場合、図示１点鎖線で示す軌跡イをもつ
て両機器３，４等を回転させながら被検体６のデ
ータを取得するものであるため、これをデータ処
理系１１で画像再構成処理を行なつたとき、全体
の断面像に比較して実際の充実断面部６ａの画像
再構成処理部分は非常に小さくなり、それだけ充
実断面部６ａの分解能が低くなる。また、自動車
のタイヤの如き環状被検体６を検査する場合、そ
のタイヤ全体を外側から覆う必要があるため、回
転フレーム２が大きくなり、ひいてはCTスキヤ
ナ全体の大型化は避けられない。さらに、両機器
３，４間の距離が長くなると測定効率が低下する
問題がある。
本発明は以上のような点に着目してなされたも
ので、環状被検体のデータを高分解能で取得で
き、放射線発生器と放射線検出器の距離を短かく
できて測定効率を高め得る産業用CTスキヤナを
提供することにある。
ので、環状被検体のデータを高分解能で取得で
き、放射線発生器と放射線検出器の距離を短かく
できて測定効率を高め得る産業用CTスキヤナを
提供することにある。
本発明は、ほぼＵ字状をなすアーム上に放射線
発生器と対向する様に放射線検出器を設置すると
ともに、前記放射線発生器の放射線ビーム照射方
向と平行をなす如く回転フレームを設けてこれに
環状被検体を保持する被検体保持機構を載置せし
め、回転フレームの回転によつて被検体の穴部を
放射線検出器がくぐる様に被検体を回転させるこ
とにより、環状被検体の一方の断層像を作成する
産業用CTスキヤナである。
発生器と対向する様に放射線検出器を設置すると
ともに、前記放射線発生器の放射線ビーム照射方
向と平行をなす如く回転フレームを設けてこれに
環状被検体を保持する被検体保持機構を載置せし
め、回転フレームの回転によつて被検体の穴部を
放射線検出器がくぐる様に被検体を回転させるこ
とにより、環状被検体の一方の断層像を作成する
産業用CTスキヤナである。
以下、本発明の一実施例について第１図ないし
第３図を参照して説明する。第１図および第２図
は産業用CTスキヤナの機械的構成を示す図、第
３図は同じくCTスキヤナの電気的構成を示す図
である。先ず、第１図および第２図において基台
２１の一端側上部には支柱２２が立設され、この
支柱２２にはほぼＵ字状に形成されたアーム２３
の一端側が固定されている。さらに、アーム２３
の一端側上部にはＸ線管またはRIの如き放射線
源等の放射線発生器２４が設置され、前記アーム
２３の他端側上部には多数の検出器素子が円弧状
をなす様に配列された放射線検出器２５が設置さ
れている。２６は放射線発生器２４から放射され
るフアン状放射線ビームを示す。
第３図を参照して説明する。第１図および第２図
は産業用CTスキヤナの機械的構成を示す図、第
３図は同じくCTスキヤナの電気的構成を示す図
である。先ず、第１図および第２図において基台
２１の一端側上部には支柱２２が立設され、この
支柱２２にはほぼＵ字状に形成されたアーム２３
の一端側が固定されている。さらに、アーム２３
の一端側上部にはＸ線管またはRIの如き放射線
源等の放射線発生器２４が設置され、前記アーム
２３の他端側上部には多数の検出器素子が円弧状
をなす様に配列された放射線検出器２５が設置さ
れている。２６は放射線発生器２４から放射され
るフアン状放射線ビームを示す。
３０は回転フレームであり、これは基台２１上
に回転中心として回転する様に載置されている。
この回転フレーム３０の回転伝達機構としては、
例えば基台２１の内部に回転駆動源３２が内蔵さ
れ、一方、回転フレーム３０の内側にリング状の
内歯歯車３０ａが形成され、回転駆動源３２の回
転軸に取着された歯車３３が内歯歯車３０ａに噛
合されて回転フレーム３０が回転する様になつて
いる。さらに、回転フレーム３０上で支柱２２と
は反対側に例えばＬ字状支持フレーム３４が固定
され、その縦片部３４ａ側の放射線発生器２４対
向側の上下部に対をなす支持アーム３５，３５が
突設されている。この支持アーム３５，３５の基
端部側はフレーム３４に対して固定設置してもよ
いが、例えばフレーム３４内に内装された互いに
逆方向のねじ山を刻設した昇降用送りねじ３６に
螺合されている。この対をなす支持アーム３５，
３５は例えばＬ字状に形成され、その端部側に両
端部に保持ローラ３７，…を設けた被検体保持ア
ーム３８，３８が設けられている。なお、このア
ーム３８，３８は支持アーム３５，３５に対して
固定でもよいが、例えばアーム３８，３８内部に
弾性部材を内装させて常にローラ３７，…が被検
体４０の穴部４０ａ内側を押圧するような構成で
もよい。
に回転中心として回転する様に載置されている。
この回転フレーム３０の回転伝達機構としては、
例えば基台２１の内部に回転駆動源３２が内蔵さ
れ、一方、回転フレーム３０の内側にリング状の
内歯歯車３０ａが形成され、回転駆動源３２の回
転軸に取着された歯車３３が内歯歯車３０ａに噛
合されて回転フレーム３０が回転する様になつて
いる。さらに、回転フレーム３０上で支柱２２と
は反対側に例えばＬ字状支持フレーム３４が固定
され、その縦片部３４ａ側の放射線発生器２４対
向側の上下部に対をなす支持アーム３５，３５が
突設されている。この支持アーム３５，３５の基
端部側はフレーム３４に対して固定設置してもよ
いが、例えばフレーム３４内に内装された互いに
逆方向のねじ山を刻設した昇降用送りねじ３６に
螺合されている。この対をなす支持アーム３５，
３５は例えばＬ字状に形成され、その端部側に両
端部に保持ローラ３７，…を設けた被検体保持ア
ーム３８，３８が設けられている。なお、このア
ーム３８，３８は支持アーム３５，３５に対して
固定でもよいが、例えばアーム３８，３８内部に
弾性部材を内装させて常にローラ３７，…が被検
体４０の穴部４０ａ内側を押圧するような構成で
もよい。
次に、CTスキヤナの電気的構成は、第３図に
示す如く人為的またはプログラムシーケンスに基
づいて各構成要素を統括制御する制御コンソール
４１を有し、これには機構制御部４２および放射
線制御部４３のほか、中央演算処理ユニツト（以
下、CPUと指称する）４４等が接続されている。
この機構制御部４２は、制御コンソール４１から
の指令に基づいて回転機構部即ち回転駆動源３２
や昇降用送りねじ３６の回転を制御する。放射線
制御部４３は、制御コンソール４１から動作指令
を受けて例えば放射線発生器２４がＸ線管の場合
には高電圧を供給し、RIのときにはシヤツタを
駆動制御する機能をもつている。CPU４４は、
制御コンソール４４から動作タイミング的な信号
を受けるが、通常、自身がプログラムを有し、放
射線検出器２５からデータ収集部４５を介して取
得したデータを用い、かつ画像再構成処理部４６
を用いて画像再構成処理を行ない、再構成画像を
作成する。４７はCRTデイスプレイ等の表示部
である。Ａはスキヤナ本体を示す。
示す如く人為的またはプログラムシーケンスに基
づいて各構成要素を統括制御する制御コンソール
４１を有し、これには機構制御部４２および放射
線制御部４３のほか、中央演算処理ユニツト（以
下、CPUと指称する）４４等が接続されている。
この機構制御部４２は、制御コンソール４１から
の指令に基づいて回転機構部即ち回転駆動源３２
や昇降用送りねじ３６の回転を制御する。放射線
制御部４３は、制御コンソール４１から動作指令
を受けて例えば放射線発生器２４がＸ線管の場合
には高電圧を供給し、RIのときにはシヤツタを
駆動制御する機能をもつている。CPU４４は、
制御コンソール４４から動作タイミング的な信号
を受けるが、通常、自身がプログラムを有し、放
射線検出器２５からデータ収集部４５を介して取
得したデータを用い、かつ画像再構成処理部４６
を用いて画像再構成処理を行ない、再構成画像を
作成する。４７はCRTデイスプレイ等の表示部
である。Ａはスキヤナ本体を示す。
次に以上のように構成された産業用CTスキヤ
ナの作用について説明する。本CTスキヤナによ
る被検体４０の検査は、第１０図に示すように環
状被検体の外側全周を走査するものではなく、第
４図のように環状被検体４０の穴部４０ａをくぐ
らしてハーフスキヤン（180゜＋フアン角）を行な
い、このとき取得されたデータを用いて画像構成
処理を行なうことにある。
ナの作用について説明する。本CTスキヤナによ
る被検体４０の検査は、第１０図に示すように環
状被検体の外側全周を走査するものではなく、第
４図のように環状被検体４０の穴部４０ａをくぐ
らしてハーフスキヤン（180゜＋フアン角）を行な
い、このとき取得されたデータを用いて画像構成
処理を行なうことにある。
先ず、制御コンソール４１から人為的操作また
はシーケンプログラムに基づいて初期位置設定の
ための信号が機構制御部４２に与えられる。ここ
で、機構制御部４２は、昇降用送りねじ３６を回
転させて支持アーム３５，３５を互いに相反する
方向に移動させてローラ３７，…により環状被検
体４０を確実に保持させ、さらに回転駆動源３
２、支持フレーム３４、支持アーム３５等を介し
て環状被検体４０を回転させて初期位置に設定す
る。
はシーケンプログラムに基づいて初期位置設定の
ための信号が機構制御部４２に与えられる。ここ
で、機構制御部４２は、昇降用送りねじ３６を回
転させて支持アーム３５，３５を互いに相反する
方向に移動させてローラ３７，…により環状被検
体４０を確実に保持させ、さらに回転駆動源３
２、支持フレーム３４、支持アーム３５等を介し
て環状被検体４０を回転させて初期位置に設定す
る。
しかして、以上のようにして初期設定した後、
制御コンソール４１から放射線制御部４３および
機構制御部４２にハーフスキヤンのための信号を
供給する。ここで、放射線制御部４３は放射線発
生器２４を駆動して連続的または間欠的にフアン
状放射線ビーム２６を被検体４０に照射し、一
方、回転フレーム３０は回転駆動源３２によつて
所定方向に間欠的または所定速度で連続的に180゜
＋フアン角だけ回転させる。
制御コンソール４１から放射線制御部４３および
機構制御部４２にハーフスキヤンのための信号を
供給する。ここで、放射線制御部４３は放射線発
生器２４を駆動して連続的または間欠的にフアン
状放射線ビーム２６を被検体４０に照射し、一
方、回転フレーム３０は回転駆動源３２によつて
所定方向に間欠的または所定速度で連続的に180゜
＋フアン角だけ回転させる。
一方、CPU４４は第５図に示すような流れに
そつてデータ処理を行なう。即ち、CPU４４は、
放射線検出器２５によつて検出されかつデータ収
集部４５で逐次収集されたデータ（ステツプＳ
１）を受け取ると、ステツプＳ２において前処理
を行なつた後、サイノグラムを作成するために自
身の画像メモリテーブルに放射線検出器２５の検
出器素子に対応するアドレスを指定して例えば第
６図に示す横方向即ちフアン角に格納してい
る。そして、回転角度θ方向に所定角度ずつ移し
ながら順次データを格納し、π＋0まで回転し
て□EBA′Cのサイノグラムを作成する。しかる
後、ハーフ補間処理を行なう。このハーフ補間処
理は、ハーフスキヤンによるサイノグラムでの未
収集領域について座標取りを行なうものであつて
（ステツプＳ３）、この座標取りのための座標変換
式は（−、θ−π＋2）による。そして、座
標取りしたデータをステツプＳ４の如く各未収集
領域に補間して完全なサイノグラムを作成する。
この場合のサイノグラムは、第６図より明らかな
ように〓ABCDがＡ→A′，Ｂ→B′，Ｃ→C′，Ｄ
→D′のごとく〓A′B′C′D′の位置に座標変換され
て全データがうめられたと等しい状態となる。こ
のようにしてハーフ補間を行なつて完全なサイノ
グラムを作成した後、サイノグラム上のデータを
用いて画像再構成処理を行ない、フアン状放射線
ビーム２６位置での環状被検体４０の断面像を作
成し、表示部４７に表示するものである。
そつてデータ処理を行なう。即ち、CPU４４は、
放射線検出器２５によつて検出されかつデータ収
集部４５で逐次収集されたデータ（ステツプＳ
１）を受け取ると、ステツプＳ２において前処理
を行なつた後、サイノグラムを作成するために自
身の画像メモリテーブルに放射線検出器２５の検
出器素子に対応するアドレスを指定して例えば第
６図に示す横方向即ちフアン角に格納してい
る。そして、回転角度θ方向に所定角度ずつ移し
ながら順次データを格納し、π＋0まで回転し
て□EBA′Cのサイノグラムを作成する。しかる
後、ハーフ補間処理を行なう。このハーフ補間処
理は、ハーフスキヤンによるサイノグラムでの未
収集領域について座標取りを行なうものであつて
（ステツプＳ３）、この座標取りのための座標変換
式は（−、θ−π＋2）による。そして、座
標取りしたデータをステツプＳ４の如く各未収集
領域に補間して完全なサイノグラムを作成する。
この場合のサイノグラムは、第６図より明らかな
ように〓ABCDがＡ→A′，Ｂ→B′，Ｃ→C′，Ｄ
→D′のごとく〓A′B′C′D′の位置に座標変換され
て全データがうめられたと等しい状態となる。こ
のようにしてハーフ補間を行なつて完全なサイノ
グラムを作成した後、サイノグラム上のデータを
用いて画像再構成処理を行ない、フアン状放射線
ビーム２６位置での環状被検体４０の断面像を作
成し、表示部４７に表示するものである。
従つて、以上のような構成によれば、環状被検
体４０の一方断面側のデータを取得することによ
り、環状被検体４０の断面像を効率よく測定でき
る。また、環状被検体４０の所望位置の周囲を非
常に小さい半径をもつて180゜＋フアン角をもつて
回転させてデータを取得するので、再構成処理画
像の分解能を改善することができる。また、比較
的大重量のＸ線管を使用する場合、本実施例の
CTスキヤナではＸ線管自体が固定であるので、
回転のための動力源を必要としないので有利であ
り、しかもＸ線管への高圧ケーブルの配線も容易
となる。同様に放射線検出器２５も固定であるの
で、放射線検出器２５を動かさずに済み、よつて
マイクロフオニツクノイズを低減することがで
き、多数の検出器素子の配線も容易となる。
体４０の一方断面側のデータを取得することによ
り、環状被検体４０の断面像を効率よく測定でき
る。また、環状被検体４０の所望位置の周囲を非
常に小さい半径をもつて180゜＋フアン角をもつて
回転させてデータを取得するので、再構成処理画
像の分解能を改善することができる。また、比較
的大重量のＸ線管を使用する場合、本実施例の
CTスキヤナではＸ線管自体が固定であるので、
回転のための動力源を必要としないので有利であ
り、しかもＸ線管への高圧ケーブルの配線も容易
となる。同様に放射線検出器２５も固定であるの
で、放射線検出器２５を動かさずに済み、よつて
マイクロフオニツクノイズを低減することがで
き、多数の検出器素子の配線も容易となる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるもので
はない。上記実施例は多数の検出器素子を密に配
列することを想定しているが、例えば第７図に示
すように多数の検出器素子２５ａ…を粗な状態で
配列するとともに、これらの検出器素子２５ａ…
の前面側にコリメータ５１を配置させたものでも
よい。この場合、データの抜けが生じるので、こ
れら検出器素子２５ａ…およびコリメータ５１等
を一体としてガイドレール５２に摺動可能に設
け、スライド機構５３によつて検出器素子等２５
ａ，５１を所定角度ずつスライドさせてデータを
検出する構成でもよい。
はない。上記実施例は多数の検出器素子を密に配
列することを想定しているが、例えば第７図に示
すように多数の検出器素子２５ａ…を粗な状態で
配列するとともに、これらの検出器素子２５ａ…
の前面側にコリメータ５１を配置させたものでも
よい。この場合、データの抜けが生じるので、こ
れら検出器素子２５ａ…およびコリメータ５１等
を一体としてガイドレール５２に摺動可能に設
け、スライド機構５３によつて検出器素子等２５
ａ，５１を所定角度ずつスライドさせてデータを
検出する構成でもよい。
この構成によれば、被検体４０を検査するのに
時間がかかるとともに余分な機構が増えるが、コ
リメータ５１を付けることができるために散乱線
を除去でき、かつ検出器素子２５ａ…間のクロス
トークを減少させることができる。
時間がかかるとともに余分な機構が増えるが、コ
リメータ５１を付けることができるために散乱線
を除去でき、かつ検出器素子２５ａ…間のクロス
トークを減少させることができる。
また、第７図は、アーム２３上に検出器素子２
５ａ…等をスライドする機構５３を設けたが、例
えば第８図に示すようにガイドレール５２をなく
し、アーム２３全体をアーム回転機構５４で微少
回転させる構成でもよい。この場合には発生器側
にもコリメータ５５を設置できるので、更に散乱
線は除去され、画質が向上する。また、支持アー
ム３５の長さが固定となつているが、被検体４０
の大きさに応じて自在に長さを可変することは当
然に行なうものである。その他、本発明はその要
旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
５ａ…等をスライドする機構５３を設けたが、例
えば第８図に示すようにガイドレール５２をなく
し、アーム２３全体をアーム回転機構５４で微少
回転させる構成でもよい。この場合には発生器側
にもコリメータ５５を設置できるので、更に散乱
線は除去され、画質が向上する。また、支持アー
ム３５の長さが固定となつているが、被検体４０
の大きさに応じて自在に長さを可変することは当
然に行なうものである。その他、本発明はその要
旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
以上詳記したように本発明によれば、タイヤの
如き環状被検体であつても放射線検出器が被検体
の穴部をくぐる様に該被検体を少なくとも180゜＋
フアン角分回転させてデータ取得し画像再構成処
理を行なうので、被検体の所望位置を小さい範囲
で回転させてデータを取得でき、画像の分解能が
上げられ、発生器と検出器間の距離を短かくして
効率よくデータを測定できる産業用CTスキヤナ
を提供できる。
如き環状被検体であつても放射線検出器が被検体
の穴部をくぐる様に該被検体を少なくとも180゜＋
フアン角分回転させてデータ取得し画像再構成処
理を行なうので、被検体の所望位置を小さい範囲
で回転させてデータを取得でき、画像の分解能が
上げられ、発生器と検出器間の距離を短かくして
効率よくデータを測定できる産業用CTスキヤナ
を提供できる。
第１図ないし第６図は本発明に係る産業用CT
スキヤナの一実施例を説明するためのもので、第
１図は主として機械的構成の一部断面して示す上
面図、第２図は主として機械的構成の正面図、第
３図は電気的構成を示すブロツク図、第４図はス
キヤン路を説明する図、第５図は収集データの処
理を示す流れ図、第６図はサイノグラムを作成す
るための説明図、第７図および第８図はそれぞれ
本発明の他の実施例を示す平面図、第９図は従来
のCTスキヤナの構成を示す模式図、第１０図は
従来のCTスキヤナにおけるスキヤン路を説明す
る図である。 ２３…アーム、２４…放射線発生器、２５…放
射線検出器、２５ａ…検出器素子、３０…回転フ
レーム、３１…回転軸、３２…回転駆動源、３４
…支持フレーム、３５…支持アーム、３６…送り
ねじ、３７…ローラ、３８…保持アーム、４０…
環状被検体、４０ａ…穴部、４１…制御コンソー
ル、４２…機構制御部、４３…放射線制御部、４
４…CPU、４５…データ収集部、４６…画像再
構成処理部。
スキヤナの一実施例を説明するためのもので、第
１図は主として機械的構成の一部断面して示す上
面図、第２図は主として機械的構成の正面図、第
３図は電気的構成を示すブロツク図、第４図はス
キヤン路を説明する図、第５図は収集データの処
理を示す流れ図、第６図はサイノグラムを作成す
るための説明図、第７図および第８図はそれぞれ
本発明の他の実施例を示す平面図、第９図は従来
のCTスキヤナの構成を示す模式図、第１０図は
従来のCTスキヤナにおけるスキヤン路を説明す
る図である。 ２３…アーム、２４…放射線発生器、２５…放
射線検出器、２５ａ…検出器素子、３０…回転フ
レーム、３１…回転軸、３２…回転駆動源、３４
…支持フレーム、３５…支持アーム、３６…送り
ねじ、３７…ローラ、３８…保持アーム、４０…
環状被検体、４０ａ…穴部、４１…制御コンソー
ル、４２…機構制御部、４３…放射線制御部、４
４…CPU、４５…データ収集部、４６…画像再
構成処理部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 放射線発生器と、アームの端部に設置され、
前記放射線発生器と対向するように複数の検出器
素子が配列された放射線発生器と、この放射線検
出器が環状被検体の穴部をくぐるように前記被検
体を保持して所定角度回転する被検体支持機構
と、この被検体支持機構によつて環状被検体を保
持回転させながら前記放射線検出器で検出された
データを用いて前記環状被検体の断面像を作成す
る画像作成手段とを備えたことを特徴とする産業
用CTスキヤナ。 ２ 被検体支持機構は、回転駆動源によつて回転
する回転フレームと、この回転フレーム上に固定
されたＬ字状支持フレームと、この支持フレーム
の前記放射線発生器側側部の上下部に突出するよ
うに取着された一対の支持アームと、この一対の
支持アームの端部に取着され、環状被検体の穴部
内側を保持する被検体保持部材とを有するもので
ある特許請求の範囲第１項記載の産業用CTスキ
ヤナ。 ３ 被検体支持機構によつて環状被検体を回転す
る角度は、少なくとも180゜＋フアン角である特許
請求の範囲第１項記載の産業用CTスキヤナ。 ４ 一対の支持アームの支持フレームへの支持機
構は、支持フレーム内に互いに逆方向のねじ山を
形成した送りねじを設け、この送りねじに一対の
支持アームの基端部側が螺合されてなるものであ
る特許請求の範囲第２項記載の産業用CTスキヤ
ナ。 ５ 画像作成手段は、環状被検体を少なくとも
180゜＋フアン角分回転させて収集データをサイノ
グラムにアドレスを指定して格納し、サイノグラ
ム上の未収集領域については収集データを用いて
座標変換によつて補間してサイノグラムを作成
し、このサイノグラムのデータを用いて画像再構
成処理を行なうものである特許請求の範囲第１項
記載の産業用CTスキヤナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59278264A JPS61155738A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 産業用ｃｔスキヤナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59278264A JPS61155738A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 産業用ｃｔスキヤナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61155738A JPS61155738A (ja) | 1986-07-15 |
| JPH0250508B2 true JPH0250508B2 (ja) | 1990-11-02 |
Family
ID=17594916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59278264A Granted JPS61155738A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 産業用ｃｔスキヤナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61155738A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0622610U (ja) * | 1992-08-26 | 1994-03-25 | 株式会社ニフコ | 部材取付用クリップ構造 |
| JP2005195494A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7515676B2 (en) * | 2006-04-28 | 2009-04-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method, apparatus, and computer program product for sinogram completion |
| FR3001802B1 (fr) * | 2013-02-04 | 2019-05-24 | Cyxplus | Dispositif et procede pour le controle non destructif de pneumatiques par tomographie |
-
1984
- 1984-12-27 JP JP59278264A patent/JPS61155738A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0622610U (ja) * | 1992-08-26 | 1994-03-25 | 株式会社ニフコ | 部材取付用クリップ構造 |
| JP2005195494A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61155738A (ja) | 1986-07-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4303830A (en) | Tomographic apparatus for producing transverse layer images of a radiography subject | |
| US6904119B2 (en) | Radiographic apparatus | |
| US4652758A (en) | Nuclear imaging tomography | |
| TWI531356B (zh) | 一種三維造影掃描系統 | |
| US5917876A (en) | Computed tomography scanner | |
| US5022060A (en) | High acquisition rate tomography by translational step rotation | |
| JP4718702B2 (ja) | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 | |
| JPH0313894B2 (ja) | ||
| US4817119A (en) | Method and apparatus for computerized tomographic scanning with plural intersecting sets of parallel radiation beams | |
| JP2933107B2 (ja) | Ｃｔ装置 | |
| US4686692A (en) | Computed tomography patient localization scanning | |
| JP2620467B2 (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JPH0250508B2 (ja) | ||
| GB2028053A (en) | Apparatus for use in tomography | |
| JP4175809B2 (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
| JPH11197145A (ja) | 患者前置コリメータの動作を制御する方法およびコンピュータ断層撮影システム | |
| JPH045454B2 (ja) | ||
| JP4149157B2 (ja) | 円錐型放射線ビーム及び螺旋状相対運動を有するコンピューター制御された断層撮影装置 | |
| JP2003169792A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JPS6348541B2 (ja) | ||
| JPS6275337A (ja) | リング状物体検査用ｃｔスキヤナ | |
| JPS6146141B2 (ja) | ||
| JPS6275772A (ja) | Ｃｔスキヤナ | |
| JPH07255713A (ja) | Ｃｔ装置 | |
| JPS60242348A (ja) | 産業用ｃｔスキヤナ |