JPH0245380A - 半導体装置の包装体 - Google Patents
半導体装置の包装体Info
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- JPH0245380A JPH0245380A JP63188716A JP18871688A JPH0245380A JP H0245380 A JPH0245380 A JP H0245380A JP 63188716 A JP63188716 A JP 63188716A JP 18871688 A JP18871688 A JP 18871688A JP H0245380 A JPH0245380 A JP H0245380A
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- Japan
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- moisture
- film
- resin
- sealed
- qfp
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 230000035699 permeability Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 abstract description 11
- 239000011347 resin Substances 0.000 abstract description 11
- 229920005989 resin Polymers 0.000 abstract description 11
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 3
- GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L cobalt dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Co+2] GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L 0.000 abstract description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 6
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は樹脂封止型半導体装置の包装体に関する。
従来、樹脂封止型半導体装置の1つであるクワッドフラ
ットパッケージ(以下QFPという)を出荷する際の包
装状態は、第3図の断面図のように示され、QFPIを
トレー2の収納部に収納し、そのトレー2を多段に重ね
た後に湿気を透さないフィルム3によって密封包装し、
ダンボール箱5に入れていた。
ットパッケージ(以下QFPという)を出荷する際の包
装状態は、第3図の断面図のように示され、QFPIを
トレー2の収納部に収納し、そのトレー2を多段に重ね
た後に湿気を透さないフィルム3によって密封包装し、
ダンボール箱5に入れていた。
上述した従来のQFPの包装方法では、QFPlのトレ
ー2をダンボール箱5に詰めなり、輸送するうちにフィ
ルム3が破れたり、またその密封自体が不完全であるこ
とがしばしばあった。このフィルムが破れたり密封が不
完全であると、前述のようにQFPの樹脂が空気中の水
分を吸収し、半田付は時の熱で樹脂にクラックを生じる
。しかし、従来の包装方法は、密封が不完全であったり
フィルムが破れていても、破れた穴が小さければ包装の
外観を見ただけではわからず、また非常にわかりづらい
欠点があった。従って、フィルムが破れていることに気
付かず半田付けし、樹脂にクラックが発生する事故がし
ばしば起った。
ー2をダンボール箱5に詰めなり、輸送するうちにフィ
ルム3が破れたり、またその密封自体が不完全であるこ
とがしばしばあった。このフィルムが破れたり密封が不
完全であると、前述のようにQFPの樹脂が空気中の水
分を吸収し、半田付は時の熱で樹脂にクラックを生じる
。しかし、従来の包装方法は、密封が不完全であったり
フィルムが破れていても、破れた穴が小さければ包装の
外観を見ただけではわからず、また非常にわかりづらい
欠点があった。従って、フィルムが破れていることに気
付かず半田付けし、樹脂にクラックが発生する事故がし
ばしば起った。
このフィルムの破れが原因の半田付は時の樹脂のクラッ
クを防ぐためには、全ての樹脂封止型半導体装置を半田
付は前に高温保管(例えば125℃ 6時間)し、樹脂
に吸収された水分を乾燥させる必要があった。この労力
は大変なものであるが、密封状態が良否がわからない以
上、樹脂のクラックを防止するためにやむを得ず全数、
高温保管をしなければならない場合もあった。その 結
果、高温炉に出し入れする際に大量のリード曲りをする
ような事故も発生していた。この高温保管は、もし密封
状態の良いことが確認できれば不必要なことである。
クを防ぐためには、全ての樹脂封止型半導体装置を半田
付は前に高温保管(例えば125℃ 6時間)し、樹脂
に吸収された水分を乾燥させる必要があった。この労力
は大変なものであるが、密封状態が良否がわからない以
上、樹脂のクラックを防止するためにやむを得ず全数、
高温保管をしなければならない場合もあった。その 結
果、高温炉に出し入れする際に大量のリード曲りをする
ような事故も発生していた。この高温保管は、もし密封
状態の良いことが確認できれば不必要なことである。
この一般にQFPをプリント基板に実装する際、赤外線
リフローやペイバーフェイズソルダリング等の方法によ
り、QFP全体を加熱して半田付けをするがQFPを密
封包装していなければ、QFPの樹脂が空気中の水分を
吸収することになる。QFPをプリント基板へ半田付け
する時の熱によりQFPに吸収された水分が気化し、Q
FPの樹脂にクラックを生じ、半導体装置の信頼性を大
きく損なう。そのためQFPの密封包装が、特にQFP
のような表面実装型の樹脂封止型半導体装置の包装にあ
たっては高信頼性を維持するうえに不可欠であった。
リフローやペイバーフェイズソルダリング等の方法によ
り、QFP全体を加熱して半田付けをするがQFPを密
封包装していなければ、QFPの樹脂が空気中の水分を
吸収することになる。QFPをプリント基板へ半田付け
する時の熱によりQFPに吸収された水分が気化し、Q
FPの樹脂にクラックを生じ、半導体装置の信頼性を大
きく損なう。そのためQFPの密封包装が、特にQFP
のような表面実装型の樹脂封止型半導体装置の包装にあ
たっては高信頼性を維持するうえに不可欠であった。
本発明の目的は、このような欠点を除き、フィルムの密
封が不完全であったりフィルムが破れてQFP包装内の
雰囲気の湿度が高くなった場合にも、吸湿状態を見ただ
けでわかるように半導体装置の包装体を提供することに
ある。
封が不完全であったりフィルムが破れてQFP包装内の
雰囲気の湿度が高くなった場合にも、吸湿状態を見ただ
けでわかるように半導体装置の包装体を提供することに
ある。
本発明の半導体装置の包装体の構成は、少くとも樹脂封
止型半導体装置と吸湿した時に異った色表示をする湿度
ラベルとを透湿度10g/m2/24Hr以下のフィル
ムによって包み密封包装したことを特徴とする。
止型半導体装置と吸湿した時に異った色表示をする湿度
ラベルとを透湿度10g/m2/24Hr以下のフィル
ムによって包み密封包装したことを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の斜視図である。QFPlは
トレー2に入れられ、トレー2は数段に重ねられている
。湿度ラベル4が重ねられたトレー2の上に置かれてい
て、QFPIとトレー2と湿度ラベル4全体をフィルム
3によって乾燥雰囲気内で密封包装している。
トレー2に入れられ、トレー2は数段に重ねられている
。湿度ラベル4が重ねられたトレー2の上に置かれてい
て、QFPIとトレー2と湿度ラベル4全体をフィルム
3によって乾燥雰囲気内で密封包装している。
このように包装すると、密封が不完全であったりフィル
ム3が破れたりしていると、雰囲気中の湿気によって湿
度ラベル4の色が変わるので、目で見ただけでQFPI
の樹脂が水分を吸収しているか否かがわかる。従って、
湿度ラベル4の色が変わった包装のQFPIだけ選択し
て高温保管すれば良く、最少限の労力で、信頼度の高い
樹脂封止型半導体装置を得ることができる。
ム3が破れたりしていると、雰囲気中の湿気によって湿
度ラベル4の色が変わるので、目で見ただけでQFPI
の樹脂が水分を吸収しているか否かがわかる。従って、
湿度ラベル4の色が変わった包装のQFPIだけ選択し
て高温保管すれば良く、最少限の労力で、信頼度の高い
樹脂封止型半導体装置を得ることができる。
さらに、また高温炉に出し入れする際に発生するリード
曲り不良も最少限にとどめることができる。
曲り不良も最少限にとどめることができる。
このような湿度ラベル4としては、ラベルの表面に塩化
コバルトを塗布したものを使用することができ、この湿
度ラベルは乾燥時には青、吸湿するとピンク色を呈する
ので、見ただけで容易に密封状態を知ることができる。
コバルトを塗布したものを使用することができ、この湿
度ラベルは乾燥時には青、吸湿するとピンク色を呈する
ので、見ただけで容易に密封状態を知ることができる。
また、本実施例に使用するフィルム3としては、その目
的から透湿度10g/m2/24Hr以下のフィルムで
あることが望ましい。
的から透湿度10g/m2/24Hr以下のフィルムで
あることが望ましい。
第2図は本発明の第2の実施例を説明する断面図である
。本実施例は湿度ラベル4がフィルム3の内側に貼られ
た状態を示している。この実施例では、湿度ラベル4が
フィルム3に貼られているため、輸送中に湿度ラベル4
が包装内を動くことがなく、従ってフィルム3を開ける
とすぐに湿度ラベル4を見ることができる利点がある。
。本実施例は湿度ラベル4がフィルム3の内側に貼られ
た状態を示している。この実施例では、湿度ラベル4が
フィルム3に貼られているため、輸送中に湿度ラベル4
が包装内を動くことがなく、従ってフィルム3を開ける
とすぐに湿度ラベル4を見ることができる利点がある。
本発明において、湿度ラベル4はこれら実施例に限られ
るものでなくフィルムによる密封包装内であればどこに
あってもよい。またパッケージもQFPに限られるもの
でなく、樹脂封止型半導体装置であれば何でもよい。ま
た本発明は、少くとも樹脂封止型半導体装置の湿度ラベ
ルとを密封包装していれば良いが、トレー等信の物も同
時に密封包装しても良いことは明らかである。
るものでなくフィルムによる密封包装内であればどこに
あってもよい。またパッケージもQFPに限られるもの
でなく、樹脂封止型半導体装置であれば何でもよい。ま
た本発明は、少くとも樹脂封止型半導体装置の湿度ラベ
ルとを密封包装していれば良いが、トレー等信の物も同
時に密封包装しても良いことは明らかである。
以上説明したように本発明は、密封包装した湿度ラベル
の色の変化をチエツクすることによって、プリント基板
に半導体装置を半田付は実装する前のフィルムの密封状
態が一目でわかるため、密封状態の悪い包装品のみを選
択して高温保管することができ、最少の労力で半導体装
置の樹脂クラックを防止することができる。又、高温保
管する際に生じるリード曲がりも密封状態の悪い包装品
のみに限定されるので、半導体装置の信頼性を向上する
ことができる。
の色の変化をチエツクすることによって、プリント基板
に半導体装置を半田付は実装する前のフィルムの密封状
態が一目でわかるため、密封状態の悪い包装品のみを選
択して高温保管することができ、最少の労力で半導体装
置の樹脂クラックを防止することができる。又、高温保
管する際に生じるリード曲がりも密封状態の悪い包装品
のみに限定されるので、半導体装置の信頼性を向上する
ことができる。
第1図は本発明の第1の実施例の斜視図、第2図は本発
明の第2の実施例の断面図、第3図は従来の包装状態の
一例を示す断面図である。 1・・・樹脂封止型半導体装置、2・・・トレー、3・
・・フィルム、4・・・湿度ラベル、5・・・ダンボー
ル箱。
明の第2の実施例の断面図、第3図は従来の包装状態の
一例を示す断面図である。 1・・・樹脂封止型半導体装置、2・・・トレー、3・
・・フィルム、4・・・湿度ラベル、5・・・ダンボー
ル箱。
Claims (1)
- 少くとも樹脂封止型半導体装置と吸湿した時に異った色
表示をする湿度ラベルとを透湿度10g/m^2/24
Hr以下のフィルムによって包み密封包装したことを特
徴とする半導体装置の包装体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63188716A JPH0245380A (ja) | 1988-07-27 | 1988-07-27 | 半導体装置の包装体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63188716A JPH0245380A (ja) | 1988-07-27 | 1988-07-27 | 半導体装置の包装体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0245380A true JPH0245380A (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=16228537
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63188716A Pending JPH0245380A (ja) | 1988-07-27 | 1988-07-27 | 半導体装置の包装体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0245380A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011526359A (ja) * | 2008-06-18 | 2011-10-06 | テクノロジアン ツッツキムスケスクス ヴィティティ | インジケーター |
-
1988
- 1988-07-27 JP JP63188716A patent/JPH0245380A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011526359A (ja) * | 2008-06-18 | 2011-10-06 | テクノロジアン ツッツキムスケスクス ヴィティティ | インジケーター |
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